雙絞線(xiàn)銅纜測(cè)試_第1頁(yè)
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1、綜合布線(xiàn)技術(shù)與工程綜合布線(xiàn)技術(shù)與工程綜合布線(xiàn)系統(tǒng)測(cè)試主要主要內(nèi)內(nèi)容容認(rèn)證測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 認(rèn)證測(cè)試參數(shù)認(rèn)證測(cè)試參數(shù)驗(yàn)收測(cè)試儀表驗(yàn)收測(cè)試儀表測(cè)試類(lèi)型測(cè)試類(lèi)型 認(rèn)證測(cè)試模型認(rèn)證測(cè)試模型光纖鏈路測(cè)試光纖鏈路測(cè)試 現(xiàn)場(chǎng)認(rèn)證測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)認(rèn)證測(cè)試綜合布線(xiàn)系統(tǒng)基構(gòu)成綜合布線(xiàn)系統(tǒng)基構(gòu)成1 1、綜綜合布合布線(xiàn)線(xiàn)系系統(tǒng)統(tǒng)基本基本構(gòu)構(gòu)成成綜綜合布合布線(xiàn)線(xiàn)系系統(tǒng)統(tǒng)基本基本構(gòu)構(gòu)成成應(yīng)應(yīng)符合符合圖圖要求要求。注:配注:配線(xiàn)線(xiàn)子系子系統(tǒng)統(tǒng)中可以中可以設(shè)設(shè)置集合點(diǎn)置集合點(diǎn)(CP點(diǎn)點(diǎn)),也可不,也可不設(shè)設(shè)置集合點(diǎn)置集合點(diǎn)。2 2、綜綜合布合布線(xiàn)線(xiàn)子系子系統(tǒng)構(gòu)統(tǒng)構(gòu)成成綜綜合布合布線(xiàn)線(xiàn)子系子系統(tǒng)構(gòu)統(tǒng)構(gòu)成成應(yīng)應(yīng)符合符合圖圖8 8要求

2、要求。3 3、信道、信道與與永久永久鏈鏈路以及路以及CPCP鏈鏈路路綜合布線(xiàn)系統(tǒng)信道應(yīng)由最長(zhǎng)90m水平纜線(xiàn)、最長(zhǎng)10m的跳線(xiàn)和設(shè)備纜線(xiàn)及最多4個(gè)連接器件組成,永久鏈路則由90m水平纜線(xiàn)及3個(gè)連接器件組成。連接方式如圖10所示。圖108.48.4 認(rèn)證測(cè)試模型認(rèn)證測(cè)試模型 1、基本鏈路模型(90+2+2=94m)-承包商鏈路 8.48.4 認(rèn)證測(cè)試模型認(rèn)證測(cè)試模型 2、通道模型 (100m)-用戶(hù)鏈路 B+C=90m, A+D+E=10m , A+B+C+D+E=100m 8.48.4 認(rèn)證測(cè)試模型認(rèn)證測(cè)試模型 3、永久鏈路模型 (90m) 8.1 測(cè)試類(lèi)型1 驗(yàn)證測(cè)試n驗(yàn)證測(cè)試又稱(chēng)為隨工測(cè)試,

3、是邊施工邊測(cè)試,主要檢測(cè)線(xiàn)纜質(zhì)量和安裝工藝,及時(shí)發(fā)現(xiàn)并糾正所出現(xiàn)的問(wèn)題,不至于等到工程完工時(shí)才發(fā)現(xiàn)問(wèn)題而重新返工,耗費(fèi)不必要的人力、物力和財(cái)力。 n驗(yàn)證測(cè)試不需要使用復(fù)雜的測(cè)試儀,只要能測(cè)試接線(xiàn)圖和線(xiàn)纜長(zhǎng)度的測(cè)試儀。 2 認(rèn)證測(cè)試n認(rèn)證測(cè)試又稱(chēng)為驗(yàn)收測(cè)試,是所有測(cè)試工作中最重要的環(huán)節(jié),是在工程驗(yàn)收時(shí)對(duì)布線(xiàn)系統(tǒng)的全面檢驗(yàn),是評(píng)價(jià)綜合布線(xiàn)工程質(zhì)量的科學(xué)手段。 8.1 測(cè)試類(lèi)型2 認(rèn)證測(cè)試認(rèn)證測(cè)試分為自我認(rèn)證測(cè)試和第三方認(rèn)證測(cè)試 n自我認(rèn)證測(cè)試 自我認(rèn)證測(cè)試由施工方自行組織,按照設(shè)計(jì)所要達(dá)到的標(biāo)準(zhǔn)對(duì)工程所有鏈路進(jìn)行測(cè)試,確保每一條鏈路都符合標(biāo)準(zhǔn)要求。 n第三方認(rèn)證測(cè)試委托第三方對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行驗(yàn)收測(cè)試,以

4、確保布線(xiàn)施工的質(zhì)量。這是對(duì)綜合布線(xiàn)系統(tǒng)驗(yàn)收質(zhì)量管理的規(guī)范化做法。 8.2 驗(yàn)證測(cè)試儀表驗(yàn)證測(cè)試儀表 u驗(yàn)證測(cè)試儀表具有最基本的連通性測(cè)試功能,主要檢測(cè)電纜通斷、短路、線(xiàn)對(duì)交叉等接線(xiàn)圖的故障 1、簡(jiǎn)易布線(xiàn)通斷測(cè)試儀n最簡(jiǎn)單的電纜通斷測(cè)試儀,包括主機(jī)和遠(yuǎn)端機(jī),測(cè)試時(shí),線(xiàn)纜兩端分別連接上主機(jī)和遠(yuǎn)端機(jī),根據(jù)顯示燈的閃爍次序就能判斷雙絞線(xiàn)8芯線(xiàn)的通斷情況 8.2 驗(yàn)證測(cè)試儀表驗(yàn)證測(cè)試儀表 2、MicroMapper(電纜線(xiàn)序檢測(cè)儀)n是小型手持式驗(yàn)證測(cè)試儀,可以方便地驗(yàn)證雙絞線(xiàn)電纜的連通性。包括檢測(cè)開(kāi)路、短路、跨接、反接以及串繞等問(wèn)題。 8.2 驗(yàn)證測(cè)試儀表驗(yàn)證測(cè)試儀表 3 3、MicroScanner

5、MicroScanner Pro Pro(電纜驗(yàn)證儀)(電纜驗(yàn)證儀) n可以檢測(cè)電纜的通斷、電纜的連接線(xiàn)序、電纜故障的位置,從而節(jié)省了安裝的時(shí)間和金錢(qián) 8.2 驗(yàn)證測(cè)試儀表驗(yàn)證測(cè)試儀表 4 4、FLUKE620 FLUKE620 n是一種單端電纜測(cè)試儀,進(jìn)行電纜測(cè)試時(shí)不需在電纜的另外一端連接遠(yuǎn)端單元即可進(jìn)行電纜的通斷、距離、串繞等測(cè)試 8.3 認(rèn)證測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)u 以TIA/EIA為例1. 1995年:TSB67 n定義了現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試用的兩種測(cè)試鏈路結(jié)構(gòu)。n定義了3、4、5類(lèi)鏈路需要測(cè)試的傳輸技術(shù)參數(shù)(包括4個(gè)參數(shù):接線(xiàn)圖、長(zhǎng)度、衰減和近端串音損耗)。n定義了在兩種測(cè)試鏈路下各技術(shù)參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)值(閾值)。

6、n定義了對(duì)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試儀的技術(shù)和精度要求。n現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試儀測(cè)試結(jié)果與試驗(yàn)室測(cè)試儀器測(cè)試結(jié)果的比較。8.3 認(rèn)證測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)2.1999年10月:TSB95 n為了保證5類(lèi)電纜信道能支持千兆以太網(wǎng) , TSB951004對(duì)5類(lèi)線(xiàn)附加傳輸性能指南提出了回波損 耗、等電平遠(yuǎn)端串音、等電平遠(yuǎn)端串音功率和、傳播時(shí)延和時(shí)延偏差等千兆以太網(wǎng)所要求的指標(biāo)。 3.1999年11月:568-A5 (568-A52000 )n定義增強(qiáng)5類(lèi)布線(xiàn) n568-A52000的所有測(cè)試參數(shù)都是強(qiáng)制性的,而不是像TSB-95那樣是推薦性的 n引入了3dB原則,3dB原則就是當(dāng)回波損耗小于3dB時(shí),可以忽略回波損耗(RL)。這一原則適用于T

7、IA和ISO的標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí),當(dāng)衰減小于4dB時(shí),可以忽略近端串?dāng)_值,但這一原則只適用于ISO11801:2002標(biāo)準(zhǔn)。 8.3 認(rèn)證測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)4. 568-Bn把參數(shù)“衰減”改名為“插入損耗” n把測(cè)試模型中的“基本鏈路”(Basic Link)重新定義為“永久鏈路”(Permanent Link) n568-B標(biāo)準(zhǔn)不認(rèn)可4對(duì)4類(lèi)雙絞線(xiàn)和5類(lèi)雙絞線(xiàn)電纜。 n接插線(xiàn)、設(shè)備線(xiàn)與跳線(xiàn)n距離變化 n安裝規(guī)則5. 568-B增編n如B.210標(biāo)準(zhǔn)中列出了6A類(lèi)布線(xiàn)從1500MHz帶寬的范圍內(nèi)信道的插入損耗、NEXT、PS NEXT、FEXT、ELFEXT、PS ELFEXT、回波損耗、ANEXT、PS AN

8、EXT、PS AELFEXT等指標(biāo)參數(shù)值。 接線(xiàn)圖接線(xiàn)圖Wire MapWire Mapu正確u開(kāi)路u短路u錯(cuò)對(duì)u反接u串繞u其它.長(zhǎng)度測(cè)量的報(bào)告長(zhǎng)度測(cè)量的報(bào)告u鏈路長(zhǎng)度的測(cè)量n長(zhǎng)度為繞線(xiàn)的長(zhǎng)度(并非物理距離)n繞對(duì)之間長(zhǎng)度可能有細(xì)微差別(對(duì)絞絞距的差別)u測(cè)試限n允許的最大長(zhǎng)度測(cè)量誤差為10n當(dāng)測(cè)試儀以“*”顯示長(zhǎng)度時(shí),則表示為臨界值,表明在測(cè)試結(jié)果接近極限時(shí)長(zhǎng)度測(cè)試結(jié)果不可信,要引起用戶(hù)和施工者注意。u長(zhǎng)度的標(biāo)準(zhǔn)為100米(通道)和90米(永久鏈路)n不要安裝超過(guò)100米的站點(diǎn)n特殊情況要有記錄8.6 現(xiàn)場(chǎng)認(rèn)證測(cè)試8.6.1 測(cè)試儀表的性能要求1測(cè)試儀的基本要求 精度是綜合布線(xiàn)測(cè)試儀的基礎(chǔ)

9、,所選擇的測(cè)試儀既要滿(mǎn)足永久鏈路認(rèn)證精度,又要滿(mǎn)足信道的認(rèn)證精度。測(cè)試儀的精度是有時(shí)間限制的,必須在使用一定時(shí)間后進(jìn)行校準(zhǔn)。 具有精確的故障定位和快速的測(cè)試速度并帶有遠(yuǎn)端器的測(cè)試儀。使用6類(lèi)電纜時(shí),近端串音應(yīng)進(jìn)行雙向測(cè)試,即對(duì)同一條電纜必須測(cè)試兩次,而帶有智能遠(yuǎn)端器的測(cè)試儀可實(shí)現(xiàn)雙向測(cè)試一次完成。 測(cè)試儀結(jié)果可以與PC連接在一起,把測(cè)試的數(shù)據(jù)傳送到PC,便于打印輸出與保存。8.6 現(xiàn)場(chǎng)認(rèn)證測(cè)試8.6.1 測(cè)試儀表的性能要求2.測(cè)試儀的精度要求(1)測(cè)試判斷臨界區(qū)(2)測(cè)試接頭誤差補(bǔ)償(3)自校表 3.測(cè)試速度要求nFLUKE DTX1800電纜認(rèn)證測(cè)試儀,最快9秒完成一條6類(lèi)鏈路測(cè)試。 4.

10、測(cè)試儀故障定位 5.其他要考慮的方面還有:測(cè)試儀應(yīng)支持近端串?dāng)_的雙向測(cè)試、測(cè)試結(jié)果可轉(zhuǎn)儲(chǔ)打印、操作簡(jiǎn)單且使用方便,以及支持其他類(lèi)型電纜的測(cè)試。 8.6 現(xiàn)場(chǎng)認(rèn)證測(cè)試8.6.2 認(rèn)證測(cè)試環(huán)境要求n無(wú)環(huán)境干擾 n測(cè)試溫度要求 n防靜電措施 8.6 現(xiàn)場(chǎng)認(rèn)證測(cè)試8.6.3 認(rèn)證測(cè)試儀選擇 n目前市場(chǎng)上常用的達(dá)到級(jí)精度的測(cè)試儀主要有:福祿克的Fluke DSP-4x00,F(xiàn)luke DTX系列,安捷倫的Agilent WireScope350線(xiàn)纜認(rèn)證測(cè)試儀,理想公司的LANTEK系列等產(chǎn)品。nDTX電纜認(rèn)證分析儀目前有DTX-LT,DTX-1200,DTX-1800三種型號(hào),前兩種型號(hào)測(cè)試頻率帶寬為3

11、50 MHz,DTX-1800測(cè)試帶寬高達(dá)900MHz; FLUKE DTX 1800 主機(jī)8.6.5 使用DTX測(cè)試雙絞線(xiàn)鏈路選擇選擇TIA/EIATIA/EIA標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試UTP CAT 6UTP CAT 6 永久鏈路為例介紹測(cè)試過(guò)程。永久鏈路為例介紹測(cè)試過(guò)程。1 連接被測(cè)鏈路。將測(cè)試儀主機(jī)和遠(yuǎn)端機(jī)連上被測(cè)鏈路,因?yàn)橛谰面溌窚y(cè)試,就必須用永久鏈路適配器連接,如左圖為永久鏈路測(cè)試連接方式,如果是信道測(cè)試,就使用原跳線(xiàn)連接儀表,如右圖為信道測(cè)試連接方式。 選擇選擇TIA/EIATIA/EIA標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試UTP CAT 6UTP CAT 6 永久鏈路為例介紹測(cè)試過(guò)程。永久鏈路為例

12、介紹測(cè)試過(guò)程。2 按綠鍵啟動(dòng)DTX ,如圖(左)所示,并選擇中文或中英文界面。3 選擇雙絞線(xiàn)、測(cè)試類(lèi)型和標(biāo)準(zhǔn)。(1)將旋鈕轉(zhuǎn)至 SETUP,如圖(中)所示;(2)選擇 “Twisted Pair”;(3)選擇 “Cable Type”;(4)選擇 “UTP”;(5)選擇 “Cat 6 UTP”;(6)選擇 “Test Limit”;(7)選擇 “TIA Cat 6 Perm. Link” ,如圖(右)所示。選擇選擇TIA/EIATIA/EIA標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試UTP CAT 6UTP CAT 6 永久鏈路為例介紹測(cè)試過(guò)程。永久鏈路為例介紹測(cè)試過(guò)程。4 按TEST鍵,啟動(dòng)自動(dòng)測(cè)試,最快9秒鐘完

13、成一條正確鏈路的測(cè)試。5 在 DTX 系列測(cè)試儀中為測(cè)試結(jié)果命名。測(cè)試結(jié)果名稱(chēng)可以是:(1)通過(guò) LinkWare預(yù)先下載;(2)手動(dòng)輸入;(3)自動(dòng)遞增;(4)自動(dòng)序列,如圖所示。選擇選擇TIA/EIATIA/EIA標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試UTP CAT 6UTP CAT 6 永久鏈路為例介紹測(cè)試過(guò)程。永久鏈路為例介紹測(cè)試過(guò)程。6 保存測(cè)試結(jié)果。測(cè)試通過(guò)后,按“SAVE”鍵保存測(cè)試結(jié)果,結(jié)果可保存于內(nèi)部存儲(chǔ)器和MMC 多媒體卡。7 故障診斷。測(cè)試中出現(xiàn)“失敗”時(shí),要進(jìn)行相應(yīng)的故障診斷測(cè)試。按故障信息鍵”(F1 鍵)直觀(guān)顯示故障信息并提示解決方法,再啟動(dòng)HDTDR和HDTDX功能,掃描定位故障。查

14、找故障后,排除故障,重新進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試,直至指標(biāo)全部通過(guò)為止。8 結(jié)果送管理軟件LinkWare。n當(dāng)所有要測(cè)的信息點(diǎn)測(cè)試完成后,將移動(dòng)存儲(chǔ)卡上的結(jié)果送到安裝在計(jì)算機(jī)上的管理軟件LinkWare進(jìn)行管理分析。LinkWare 軟件有幾種形式提供用戶(hù)測(cè)試報(bào)告,如下圖所示為其中的一種。8.6.4 測(cè)試結(jié)果描述u測(cè)試結(jié)果用通過(guò)(PASS)或失?。‵AIL)表示。 u長(zhǎng)度指標(biāo)用測(cè)量的最短線(xiàn)對(duì)的長(zhǎng)度表示測(cè)試結(jié)果;傳輸延遲和延遲偏離用每線(xiàn)對(duì)實(shí)測(cè)結(jié)果和比較結(jié)果顯示,對(duì)于NEXT、PSNEXT、衰減、ACR、ELFEXT、PSELEXT、和 RL等用dB表示的電氣性能指標(biāo),用余量和最差余量來(lái)表示測(cè)試結(jié)果。 u所

15、謂裕量(Margin),就是各性能指標(biāo)測(cè)量值與測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)極限值(Limit)的差值, 正裕量表示比測(cè)試極限值好,結(jié)果為PASS,負(fù)值表示比測(cè)試極限值差,結(jié)果為FAIL,裕量越大,說(shuō)明距離極限值越遠(yuǎn),性能越好。8.6.4 測(cè)試結(jié)果描述u 最差情況的裕量有兩種情況,一種是在整個(gè)測(cè)試頻率范圍(5E類(lèi)至100MHz,6類(lèi)至250MHz)上距離測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)極限值最近的點(diǎn),如左圖所示最差情況的裕量是3.8 dB,發(fā)生在約2.7MHz處;另一種是所有線(xiàn)對(duì)中裕量最差的線(xiàn)對(duì),如右圖所示,最差情況的裕量在12-78線(xiàn)對(duì)間,值為6.5 dB。最差裕量是綜合兩種情況來(lái)考慮。8.6.4 測(cè)試結(jié)果描述 線(xiàn)纜測(cè)試中線(xiàn)纜測(cè)試中Pa

16、ss/Fail的評(píng)估的評(píng)估 測(cè)試結(jié)果選擇選擇TIA/EIATIA/EIA標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試UTP CAT 6UTP CAT 6 永久鏈路為例介紹測(cè)試過(guò)程。永久鏈路為例介紹測(cè)試過(guò)程。9 打印輸出??蓮腖inkWare打印輸出,也可通過(guò)串口將測(cè)試主機(jī)直接連打印機(jī)打印輸出。u測(cè)試注意事項(xiàng)n認(rèn)真閱讀測(cè)試儀使用操作說(shuō)明書(shū),正確使用儀表。n測(cè)試前要完成對(duì)測(cè)試儀主機(jī)、輔機(jī)的充電工作并觀(guān)察充電是否達(dá)到80%以上。不要在電壓過(guò)低的情況下測(cè)試,中途充電可能造成已測(cè)試的數(shù)據(jù)丟失。n熟悉布線(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)和布線(xiàn)圖,測(cè)試過(guò)程也同時(shí)可對(duì)管理系統(tǒng)現(xiàn)場(chǎng)文檔、標(biāo)識(shí)進(jìn)行檢驗(yàn)。n發(fā)現(xiàn)鏈路結(jié)果為“Test Fail”時(shí),可能有多種原因造成,

17、應(yīng)進(jìn)行復(fù)測(cè)再次確認(rèn)。8.6.6 DTX的故障診斷uDTX電纜認(rèn)證分析儀采用兩種先進(jìn)的故障定位分析方法 n高精度時(shí)域反射分析HDTDRn高精度時(shí)域串?dāng)_分析HDTDX8.6.6 DTX的故障診斷1 高精度時(shí)域反射分析n高精度時(shí)域反射(High Definition Time Domain Reflectometry,HDTDR)分析,主要用于測(cè)量長(zhǎng)度、傳輸時(shí)延(環(huán)路)、時(shí)延差(環(huán)路)和回波損耗等參數(shù),并針對(duì)有阻抗變化的故障進(jìn)行精確的定位,用于與時(shí)間相關(guān)的故障診斷。 n該技術(shù)通過(guò)在被測(cè)試線(xiàn)對(duì)中發(fā)送測(cè)試信號(hào),同時(shí)監(jiān)測(cè)信號(hào)在該線(xiàn)對(duì)的反射相位和強(qiáng)度來(lái)確定故障的類(lèi)型,通過(guò)信號(hào)發(fā)生反射的時(shí)間和信號(hào)在電纜中傳輸

18、的速度可以精確地報(bào)告故障的具體位置。 8.6.6 DTX的故障診斷2 高精度時(shí)域串?dāng)_分析n高精度時(shí)域串?dāng)_(High Definition Time Domain Crosstalk,HDTDX)分析,通過(guò)在一個(gè)線(xiàn)對(duì)上發(fā)出信號(hào)的同時(shí),在另一個(gè)線(xiàn)對(duì)上觀(guān)測(cè)信號(hào)的情況來(lái)測(cè)量串?dāng)_相關(guān)的參數(shù)以及故障診斷,以往對(duì)近端串音的測(cè)試僅能提供串?dāng)_發(fā)生的頻域結(jié)果,即只能知道串?dāng)_發(fā)生在哪個(gè)頻點(diǎn),并不能報(bào)告串?dāng)_發(fā)生的物理位置,這樣的結(jié)果遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿(mǎn)足現(xiàn)場(chǎng)解決串?dāng)_故障的需求。 n由于是在時(shí)域進(jìn)行測(cè)試,因此根據(jù)串?dāng)_發(fā)生的時(shí)間和信號(hào)的傳輸速度可以精確地定位串?dāng)_發(fā)生的物理位置。這是目前惟一能夠?qū)舜暨M(jìn)行精確定位并且不存在測(cè)試死

19、區(qū)的技術(shù)。 8.6.6 DTX的故障診斷3 故障診斷步驟(1)使用HDTDX診斷NEXT1)當(dāng)線(xiàn)纜測(cè)試不通過(guò)時(shí),先按“故障信息鍵”(F1 鍵)如圖所示,此時(shí)將直觀(guān)顯示故障信息并提示解決方法。8.6.6 DTX的故障診斷3 故障診斷步驟(1)使用HDTDX診斷NEXT 2)深入評(píng)估NEXT的影響,按“EXIT”鍵返回摘要屏幕。 3)選擇“HDTDX Analyzer”, HDTDX 顯示更多線(xiàn)纜和連接器的 NEXT 詳細(xì)信息。如下圖所示,左圖故障是58.4m集合點(diǎn)端接不良導(dǎo)致NEXT不合格,右圖故障是線(xiàn)纜質(zhì)量差,或是使用了低級(jí)別的線(xiàn)纜造成整個(gè)鏈路NEXT不合格。8.6.6 DTX的故障診斷3 故

20、障診斷步驟(2)使用HDTDR診斷RL1)當(dāng)線(xiàn)纜測(cè)試不通過(guò)時(shí),先按“故障信息鍵”(F1 鍵),此時(shí)將直觀(guān)顯示故障信息并提示解決方法。2)深入評(píng)估RL的影響,按“EXIT”鍵返回摘要屏幕。3)選擇“HDTDR Analyzer”, HDTDR 顯示更多線(xiàn)纜和連接器的 RL 詳細(xì)信息,如下圖所示,70.6m處RL異常。8.6.6 DTX的故障診斷4 故障類(lèi)型及解決方法n 電纜接線(xiàn)圖未通過(guò)。電纜接線(xiàn)圖和長(zhǎng)度問(wèn)題主要包括開(kāi)路、短路、交叉等幾種錯(cuò)誤類(lèi)型。開(kāi)路、短路在故障點(diǎn)都會(huì)有很大的阻抗變化,對(duì)這類(lèi)故障都可以利用HDTDR技術(shù)來(lái)進(jìn)行定位。故障點(diǎn)會(huì)對(duì)測(cè)試信號(hào)造成不同程度的反射,并且不同的故障類(lèi)型的阻抗變化

21、是不同的,因此測(cè)試設(shè)備可以通過(guò)測(cè)試信號(hào)相位的變化以及相位的反射時(shí)延來(lái)判斷故障類(lèi)型和距離。當(dāng)然定位的準(zhǔn)確與否還受設(shè)備設(shè)定的信號(hào)在該鏈路中的標(biāo)稱(chēng)傳輸率(NVP)值影響。n 長(zhǎng)度問(wèn)題。長(zhǎng)度未通過(guò)的原因可能有:NVP設(shè)置不正確,可用已知長(zhǎng)度的好線(xiàn)纜校準(zhǔn)NVP;實(shí)際長(zhǎng)度超長(zhǎng);設(shè)備連線(xiàn)及跨接線(xiàn)的總長(zhǎng)過(guò)長(zhǎng)。8.6.6 DTX的故障診斷4 故障類(lèi)型及解決方法n 衰減(Attenuation)。信號(hào)的衰減同很多因素有關(guān),如現(xiàn)場(chǎng)的溫度、濕度、頻率、電纜長(zhǎng)度和端接工藝等。在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試工程中,在電纜材質(zhì)合格的前提下,衰減大多與電纜超長(zhǎng)有關(guān),通過(guò)前面的介紹很容易知道,對(duì)于鏈路超長(zhǎng)可以通過(guò)HDTDR技術(shù)進(jìn)行精確的定位。n

22、近端串音。產(chǎn)生原因:端接工藝不規(guī)范,如接頭處打開(kāi)雙絞部分超過(guò)推薦的13mm,造成了電纜絞距被破壞;跳線(xiàn)質(zhì)量差;不良的連接器;線(xiàn)纜性能差;串繞;線(xiàn)纜間過(guò)份擠壓等。對(duì)這類(lèi)故障可以利用HDTDX發(fā)現(xiàn)它們的故障位置,無(wú)論它是發(fā)生在某個(gè)接插件還是某一段鏈路。8.6.6 DTX的故障診斷4 故障類(lèi)型及解決方法n 回波損耗?;夭〒p耗是由于鏈路阻抗不匹配造成的信號(hào)反射。產(chǎn)生的原因:跳線(xiàn)特性阻抗不是 100;線(xiàn)纜線(xiàn)對(duì)的絞結(jié)被破壞或是有紐絞;連接器不良;線(xiàn)纜和連接器阻抗不恒定;鏈路上線(xiàn)纜和連接器非同一廠(chǎng)家產(chǎn)品;線(xiàn)纜不是 100 的(例如使用了120 線(xiàn)纜)等。知道了回波損耗產(chǎn)生的原因是由于阻抗變化引起的信號(hào)反射,

23、就可以利用針對(duì)這類(lèi)故障的HDTDR技術(shù)進(jìn)行精確定位了。 8.7 光纖鏈路測(cè)試u最新的光纖標(biāo)準(zhǔn)TIA TSB140已于2004年2月批準(zhǔn),它對(duì)光纖定義了兩個(gè)級(jí)別(Tier 1和Tier 2)的測(cè)試。 1 1)Tier 1Tier 1n等級(jí)1測(cè)試光纜的衰減(插入損耗)、長(zhǎng)度以及極性。進(jìn)行等級(jí)1測(cè)試時(shí),要使用光纜損耗測(cè)試設(shè)備(OLTS)如光功率計(jì)測(cè)量每條光纜鏈路的衰減,通過(guò)光學(xué)測(cè)量或借助電纜護(hù)套標(biāo)記計(jì)算出光纜長(zhǎng)度,使用OLTS或可見(jiàn)光源例如故障定位器(VFL)驗(yàn)證光纜極性。2 2)Tier 2Tier 2 n等級(jí)二測(cè)試包括等級(jí)一的測(cè)試參數(shù),還包括對(duì)每條光纜鏈路的OTDR追蹤,進(jìn)行故障定位.n等級(jí)2測(cè)

24、試需要使用光時(shí)域反射計(jì)OTDR . 8.7.1 光功率計(jì)測(cè)衰減u 引起光纖鏈路損耗的原因主要有:n材料原因。光纖純度不夠和材料密度的變化太大。n光纜的彎曲程度。包括安裝彎曲和產(chǎn)品制造彎曲問(wèn)題,光纜對(duì)彎曲非常敏感。n光纜接合以及連接的耦合損耗。這主要由截面不匹配、間隙損耗、軸心不匹配和角度不匹配造成n不潔或連接質(zhì)量不良。低損耗光纜的大敵是不潔凈的連接,灰塵阻礙光傳輸,手指的油污影響光傳輸,不潔凈光纜連接器可擴(kuò)散至其它連接器。u 對(duì)已敷設(shè)的光纜,可用插損法來(lái)進(jìn)行衰減測(cè)試,即用一個(gè)功率計(jì)和一個(gè)光源來(lái)測(cè)量?jī)蓚€(gè)功率的差值。第一個(gè)是從光源注入到光纜的能量,第二個(gè)是從光纜段的另一端的射出的能量。測(cè)量時(shí)為確定

25、光纖的注入功率,必須對(duì)光源和功率計(jì)進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)后的結(jié)果可為所有被測(cè)光纜的光功率損耗測(cè)試提供一個(gè)基點(diǎn),兩個(gè)功率的差值就是每個(gè)光纖鏈路的損耗。8.7.1 光功率計(jì)測(cè)衰減1光纖衰減測(cè)試準(zhǔn)備工作1)確定要測(cè)試的光纜;2)確定要測(cè)試光纖的類(lèi)型;3)確定光功率計(jì)和光源與要測(cè)試的光纜類(lèi)型匹配;4)校準(zhǔn)光功率計(jì);5)確定光功率計(jì)和光源處于同一波長(zhǎng)。2 測(cè)試設(shè)備 n包括光功率計(jì),光源,參照適配器(耦合器),測(cè)試用光纜跳線(xiàn)等。8.7.1 光功率計(jì)測(cè)衰減3 光功率計(jì)校準(zhǔn)n校準(zhǔn)光功率計(jì)的目的是確定進(jìn)入光纖段的光功率大小,校準(zhǔn)光功率計(jì)時(shí),用兩個(gè)測(cè)試用光纜跳線(xiàn)把功率計(jì)和光源連接起來(lái),用參照適配器把測(cè)試用光纜跳線(xiàn)兩端連接

26、起來(lái)。4 光纖鏈路的測(cè)試n測(cè)試光纖鏈路的目的是要了解光信號(hào)在光纖路徑上傳輸衰減,該衰減與光纖鏈路的長(zhǎng)度、傳導(dǎo)特性、連接器的數(shù)目、接頭的多少有關(guān)。(1)測(cè)試按下圖所示進(jìn)行連接。(2)測(cè)試連接前應(yīng)對(duì)光連接的插頭、插座進(jìn)行清潔處理,防止由于接頭不干凈帶來(lái)附加損耗,造成測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。向主機(jī)輸入測(cè)量損耗標(biāo)準(zhǔn)值。(4)操作測(cè)試儀,在所選擇的波長(zhǎng)上分別進(jìn)行兩個(gè)方向的光傳輸衰耗測(cè)試。(5)報(bào)告在不同波長(zhǎng)下不同方向的鏈路衰減測(cè)試結(jié)果?!巴ㄟ^(guò)”與“失敗”。(6)單模光纖鏈路的測(cè)試同樣可以參考上述過(guò)程進(jìn)行,但光功率計(jì)和光源模塊應(yīng)當(dāng)換為單模的。8.7.1 光功率計(jì)測(cè)衰減8.5.2衰減測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)1 綜合布線(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)衰減的要求nANSI/TIA/EIA 568-B.3和GB50312-2007對(duì)光纖信道的衰減值作了具體要求。光纖鏈路包括光纖、連接器件和熔接點(diǎn),其中光連接器件可以為工作區(qū)TO、電信間FD、設(shè)備間BD、CD的SC、ST、SFF小型光纖連接器件連接器件。光纜可以為水平光纜、建筑物主干光纜和建筑群主干光纜。n衰減計(jì)算公式光纖鏈路損耗=光纖損耗+連接器件損耗+光纖連接點(diǎn)損耗 光纖損耗=光纖損耗系數(shù)(dBkm)光纖長(zhǎng)度(km) 連接器件損耗=連接器件損耗個(gè)連接

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