集成邏輯電路的連接和驅動

1、集成邏輯電路的連接和驅動集成邏輯電路的連接和驅動 一、實驗目的一、實驗目的 1、掌握TTL、CMOS集成電路輸入電路與輸出電路的性質。 2、掌握集成邏輯電路相互銜接時應遵守的規(guī)則和實際銜接方法。二、實驗預習要求二、實驗預習要求 1、 自擬各實驗記錄用的數據表格，及邏輯電平記錄表格。 2、 熟悉所用集成電路的引腳功能。 3、認真復習知識要點所述內容。 三、實驗原理三、實驗原理 1、TTL電路輸入輸出電路性質 當輸入端為高電平時，輸入電流是反向二極管的漏電流，電流極小。其方向是從外部流入輸入端。當輸入端處于低電平時，電流由電源 VCC 經內部電路流出輸入端，電流較大，當與上一級電路銜接時，將決定上

2、級電路應具的負載能力。高電平輸出電壓在負載不大時為3.5V左右。低電平輸出時，允許后級電路灌入電流，隨著灌入電流的增加，輸出低電平將升高，一般LS系列TTL電路允許吸收后級20個LS系列標準門的灌入電流。最大允許低電平輸出電壓為0.4V。 2、CMOS電路輸入輸出電路性質 一般CC系列的輸入阻抗可高達1010，輸入電容在5pf以下，輸入高電平通常要求在3.5V以上，輸入低電平通常為1.5V以下。因CMOS電路的負載能力較小，僅可驅動少量的CMOS電路。當輸出端負載很輕時，輸出高電平將十分接近電源電壓；輸出低電平時將十分接近地電位。 在高速CMOS電路54/74HC系列中的一個子系列54/74H

3、CT，其輸入電平與TTL電路完全相同，因此在相互取代時，不需考慮電平的匹配問題。 3、集成邏輯電路的銜接 在實際的數字電路系統(tǒng)中總是將一定數量的集成邏輯電路按需要前后連接起來。這時，前級電路的輸出將與后級電路的輸入相連并驅動后級電路工作。這就存在著電平的配合和負載能力這兩個需要妥善解決的問題?？捎孟铝袔讉€表達式來說明連接時所要滿足的條件 VOH （前級） ViH （后級） VOL （前級） ViL （后級） IOH （前級） nIiH （后級） IOL （前級） nIIl （后級） n為后級門的數目 (1) TTL與TTL的連接 TTL集成邏輯電路的所有系列，由于電路結構形式相同，電平配合比較

4、方便，不需要外接元件可直接連接，不足之處是受低電平時負載能力的限制。表21列出了74系列TTL電路的扇出系數。表21(2) TTL驅動CMOS電路TTL電路驅動CMOS電路時，由于CMOS電路的輸入阻抗高，故此驅動電流一般不會受到限制，但在電平配合問題上，低電平是可以的，高電平時有困難，因為TTL電路在滿載時，輸出高電平通常低于CMOS電路對輸入高電平的要求，因此為保證TTL輸出高電平時，后級的CMOS電路能可靠工作，通常要外接一個提拉電阻R，如圖21所示，使輸出高電平達到3.5V以上，R的取值為 26.2K較合適，這時TTL后級的CMOS電路的數目實際上是沒有什么限制的。 圖21 TTL電路

5、驅動CMOS電路 (3) CMOS驅動TTL電路CMOS的輸出電平能滿足TTL對輸入電平的要求，而驅動電流將受限制，主要是低電平時的負載能力。表42列出了一般CMOS電路驅動TTL電路時的扇出系數，從表中可見，除了74HC系列外的其它CMOS電路驅動TTL的能力都較低。表22既要使用此系列又要提高其驅動能力時，可采用以下兩種方法： a、采用CMOS驅動器，如CC4049、CC4050是專為給出較大驅動能力而設計的CMOS電路。 b、幾個同功能的CMOS電路并聯(lián)使用，即將其輸入端并聯(lián)，輸出端并聯(lián)（TTL電路是不允許并聯(lián)的）。 (4) CMOS與CMOS的銜接 CMOS電路之間的連接十分方便，不需

6、另加外接元件。對直流參數來講，一個CMOS電路可帶動的CMOS電路數量是不受限制，但在實際使用時，應當考慮后級門輸入電容對前級門的傳輸速度的影響，電容太大時，傳輸速度要下降，因此在高速使用時要從負載電容來考慮。CMOS電路在10MHz以上速度運用時應限制在20個門以下。四、實驗設備與器件、實驗設備與器件 1、5V直流電源 2、邏輯電平開關 3、邏輯電平顯示器 4、邏輯筆 5、直流數字電壓表 6、直流毫安表 7、74LS002 CC4001 74HC00 電 阻： 100 470 3K 電位器： 47K 10K 4.7K 五、實驗內容五、實驗內容1、測試TTL電路74LS00及CMOS電路CC4

7、001的輸出特性 (a) (b) 圖22 74LS00與非門與CC4001或非門電路引腳排列 測試電路如圖23所示，圖中以與非門74LS00為例畫出了高、低電平兩種輸出狀態(tài)下輸出特性的測量方法。改變電位器RW 的阻值，從而獲得輸出特性曲線，R為限流電阻。 (a) 高電平輸出 (b) 低電平輸出 圖23 與非門電路輸出特性測試電路(1) 測試TTL電路74LS00的輸出特性 在實驗裝置的合適位置選取一個14P插座。插入74LS00，R取為100，高電平輸出時，RW取47K，低電平輸出時，RW 取10K，高電平測試時應測量空載到最小允許高電平(2.7V)之間的一系列點；低電平測試時應測量空載到最大

8、允許低電平(0.4V)之間的一系列點。(2) 測試CMOS電路CC4001的輸出特性 測試時R取為470，RW 取4.7K 高電平測試時應測量從空載到輸出電平降到4.6V為止的一系列點；低電平測試時應測量從空載到輸出電平升到0.4V為止的一系列點。 2、TTL電路驅動CMOS電路 用74LS00 的一個門來驅動CC4001的四個門，實驗電路如圖21，R取3K。測量連接3K與不連接3K電阻時74LS00的輸出高低電平及CC4001的邏輯功能，測試邏輯功能時，可用實驗裝置上的邏輯筆進行測試，邏輯筆的電源VCC 接5V，其輸入口1NPVT通過一根導線接至所需的測試點。 3、CMOS電路驅動TTL 電路， 電路如圖24所示，被驅動的電路用74LS00的八個門并聯(lián)。 電路的輸入端接邏輯開關輸出插口，八個輸出端分別接邏輯電平顯示的輸入插口。先用CC4001的一個門來驅動，觀測CC4001的輸出電平和74LS00的邏輯功能。 然后將CC4001的其余三個門，一個個并聯(lián)到第一個門上（輸入與輸入，輸出與輸出并聯(lián)），分別觀察CMOS的輸出電平及74LS00的邏輯功能。最后用1/4 74HC00代替1/4 CC4001，測試其輸出電平及系統(tǒng)