標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 17626.31-2021 是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),專注于電磁兼容性(EMC)領(lǐng)域的試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)。該標(biāo)準(zhǔn)具體針對(duì)交流電源端口的寬帶傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn),旨在為電子設(shè)備和系統(tǒng)提供一個(gè)統(tǒng)一的測(cè)試方法,以評(píng)估它們?cè)谠馐軄碜噪娫淳€的寬帶電磁干擾時(shí)的抵抗能力。
標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容概覽
-
適用范圍:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了如何對(duì)設(shè)備或系統(tǒng)的交流電源端口進(jìn)行寬帶傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試。適用于使用交流電源供電、額定電壓不超過1000V的電氣及電子設(shè)備,幫助確保這些設(shè)備在電磁干擾環(huán)境下能正常運(yùn)行,不發(fā)生誤動(dòng)作或性能下降。
-
術(shù)語(yǔ)和定義:首先明確了與試驗(yàn)相關(guān)的專業(yè)術(shù)語(yǔ),確保讀者對(duì)測(cè)試中的概念有準(zhǔn)確理解。
-
試驗(yàn)配置:詳細(xì)說明了試驗(yàn)的環(huán)境條件、試驗(yàn)設(shè)備(如信號(hào)發(fā)生器、耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)、放大器等)的設(shè)置方法,以及被測(cè)設(shè)備(EUT)的正確連接方式,確保測(cè)試條件的一致性和可重復(fù)性。
-
試驗(yàn)程序:
- 預(yù)處理:可能包括對(duì)EUT的基本功能檢查,確保其初始狀態(tài)符合測(cè)試要求。
- 騷擾信號(hào)施加:規(guī)定了騷擾信號(hào)的頻率范圍、幅值、持續(xù)時(shí)間等參數(shù),以及施加騷擾的方式和步驟。
- 評(píng)價(jià)指標(biāo):定義了如何評(píng)估EUT在受試過程中的性能,包括功能、性能參數(shù)的變化,以及是否出現(xiàn)錯(cuò)誤或失效情況。
-
試驗(yàn)結(jié)果的判定:基于EUT在試驗(yàn)過程中的表現(xiàn),標(biāo)準(zhǔn)提供了判定合格與否的準(zhǔn)則。通常,如果EUT能在規(guī)定的騷擾水平下維持正常工作,即視為通過測(cè)試。
-
報(bào)告要求:要求測(cè)試機(jī)構(gòu)或?qū)嶒?yàn)室詳細(xì)記錄試驗(yàn)過程、使用的設(shè)備參數(shù)、EUT的響應(yīng)以及最終結(jié)論,以便于追溯和審核。
重要性
此標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于確保電子電器產(chǎn)品的電磁兼容性至關(guān)重要,有助于制造商提升產(chǎn)品質(zhì)量,滿足國(guó)內(nèi)外市場(chǎng)準(zhǔn)入要求,同時(shí)保護(hù)設(shè)備免受外界電磁干擾的影響,保障用戶安全和系統(tǒng)穩(wěn)定性。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2021-12-31 頒布
- 2022-07-01 實(shí)施
文檔簡(jiǎn)介
ICS3310020
CCSL.06.
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T1762631—2021/IEC61000-4-312016
.:
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)
第31部分交流電源端口寬帶傳導(dǎo)騷擾
:
抗擾度試驗(yàn)
Electromagneticcompatibility—Testingandmeasurementtechniques—
Part31ACmainsortsbroadbandconducteddisturbanceimmunittest
:py
IEC61000-4-312016ElectromaneticcomatibilitEMC—
[:,gpy()
Part4-31Testinandmeasurementtechniues—ACmainsorts
:gqp
broadbandconducteddisturbanceimmunittestIDT
y,]
2021-12-31發(fā)布2022-07-01實(shí)施
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T1762631—2021/IEC61000-4-312016
.:
目次
前言
…………………………Ⅲ
引言
…………………………Ⅴ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術(shù)語(yǔ)和定義
3………………1
概述
4………………………3
試驗(yàn)等級(jí)
5…………………3
試驗(yàn)設(shè)備以及電平設(shè)置程序
6……………5
試驗(yàn)信號(hào)發(fā)生器
6.1……………………5
耦合去耦網(wǎng)絡(luò)
6.2/………………………6
通用要求
6.2.1………………………6
用于受試端口的
6.2.2CDND………………………6
用于非受試線纜的耦合去耦網(wǎng)絡(luò)
6.2.3/(CDN)……………………7
試驗(yàn)系統(tǒng)的驗(yàn)證
6.3……………………9
通用要求
6.3.1………………………9
試驗(yàn)信號(hào)發(fā)生器平坦度的驗(yàn)證程序
6.3.2…………9
使用變壓器夾具的插入損耗驗(yàn)證程序
6.3.3CDND………………9
注入耦合系統(tǒng)的插入損耗
6.3.4……………………11
試驗(yàn)電平設(shè)置程序
6.4…………………12
通用要求
6.4.1………………………12
的端輸出電平的設(shè)置
6.4.2CDNDEUT…………12
試驗(yàn)布置及注入方法
7……………………13
試驗(yàn)布置
7.1……………13
單個(gè)單元組成的
7.2EUT……………13
多個(gè)單元組成的
7.3EUT……………14
和的端接
7.4CDNCDND……………15
試驗(yàn)程序
8…………………16
試驗(yàn)結(jié)果評(píng)價(jià)
9……………17
試驗(yàn)報(bào)告
10………………17
附錄資料性功率譜密度試驗(yàn)電平的測(cè)量不確定度
A()………………19
概述
A.1………………19
試驗(yàn)方法的不確定度報(bào)告
A.2………………………19
通用符號(hào)
A.2.1………………………19
被測(cè)量的定義
A.2.2…………………19
被測(cè)量的不確定度影響因素
A.2.3…………………19
Ⅰ
GB/T1762631—2021/IEC61000-4-312016
.:
擴(kuò)展不確定度的輸入量和計(jì)算示例
A.2.4…………20
測(cè)量不確定度的計(jì)算表達(dá)式及其應(yīng)用
A.3…………21
附錄資料性首選寬帶源的選擇原理關(guān)于試驗(yàn)信號(hào)生成的信息
B()———……………22
概述
B.1…………………22
有限帶寬寬帶信號(hào)產(chǎn)生原理
B.2………………………22
概述
B.2.1……………22
真隨機(jī)噪聲的產(chǎn)生
B.2.2()…………22
偽隨機(jī)噪聲序列
B.2.3………………23
脈沖
B.2.4……………26
方案
B.2.5OFDM……………………28
首選的寬帶源
B.3………………………30
參考文獻(xiàn)
……………………31
Ⅱ
GB/T1762631—2021/IEC61000-4-312016
.:
前言
本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定
GB/T1.1—2020《1:》
起草
。
本文件是電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)的第部分已經(jīng)發(fā)布了以下
GB/T17626《》31。GB/T17626
部分
:
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)抗擾度試驗(yàn)總論
———GB/T17626.1—2006;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.2—2018;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.3—2016;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.4—2018;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌沖擊抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.5—2019();
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
———GB/T17626.6—2017;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波間諧波的測(cè)
———GB/T17626.7—2017、
量和測(cè)量?jī)x器導(dǎo)則
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.8—2006;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)脈沖磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.9—2011;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)阻尼振蕩磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.10—2017;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化的抗
———GB/T17626.11—2008、
擾度試驗(yàn)
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)振鈴波抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.12—2013;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)交流電源端口諧波諧間波及電網(wǎng)信
———GB/T17626.13—2006、
號(hào)的低頻抗擾度試驗(yàn)
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.14—2005;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計(jì)規(guī)范
———GB/T17626.15—2011;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度
———GB/T17626.16—20070Hz~150kHz
試驗(yàn)
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.17—2005;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)阻尼振蕩波抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.18—2016;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)橫電磁波波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾
———GB/T17626.20—2014(TEM)
度試驗(yàn)
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)混波室試驗(yàn)方法
———GB/T17626.21—2014;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)全電波暗室中的輻射發(fā)射和抗擾度
———GB/T17626.22—2017
測(cè)量
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)
———GB/T17626.24—2012HEMP
方法
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.27—2006;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn)
———GB/T17626.28—2006;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降短時(shí)中
———GB/T17626.29—2006、
斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電能質(zhì)量測(cè)量方法
———GB/T17626.30—2012;
Ⅲ
GB/T1762631—2021/IEC61000-4-312016
.:
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)第部分交流電源端口寬帶傳導(dǎo)騷
———GB/T17626.31—202131:
擾抗擾度試驗(yàn)
;
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)主電源每相電流大于的設(shè)備的
———GB/T17626.34—201216A
電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)
、。
本文件等同采用電磁兼容第部分試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)交流電
IEC61000-4-31:2016《(EMC)4-31:
源端口寬帶傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)
》。
本文件做了下列編輯性改動(dòng)
:
與現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)協(xié)調(diào)將標(biāo)準(zhǔn)名稱改為電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)第部分交流電源端口寬
———,《31:
帶傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)
》;
和刪去了關(guān)于法文的注
———3.33.10;
圖中標(biāo)識(shí)距離的箭頭修改為指向?qū)嵨?/p>
———12“≥0.5m”;
將圖中書寫錯(cuò)誤的可調(diào)衰減器的英文縮寫更正為與文中敘述一致
———3“”“T1”“A1”,;
將表中合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度的符號(hào)uy更正為uy
———A.1()c();
表增加了注對(duì)表中推薦程度標(biāo)示符號(hào)進(jìn)行說明
———B.1,B.1。
請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任
。。
本文件由全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口
(SAC/TC246)。
本文件起草單位上海市計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院中國(guó)電力科學(xué)研究院
:、、
有限公司上海海關(guān)東南大學(xué)蘇州泰思特電子科技有限公司南京納特通信電子有限公司上海電器
、、、、、
科學(xué)研究所集團(tuán)有限公司
()。
本文件主要起草人趙文暉陳世鋼金善益李妮張嫻周忠元胡小軍商高平邢琳鄭軍奇
:、、、、、、、、、、
葛振杰徐鍇
、。
Ⅳ
GB/T1762631—2021/IEC61000-4-312016
.:
引言
電磁兼容性是電氣和電子設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不
能承受的電磁騷擾的能力電磁兼容問題是影響環(huán)境及產(chǎn)品質(zhì)量的重要因素之一其標(biāo)準(zhǔn)化工作已引
。,
起國(guó)內(nèi)外的普遍關(guān)注在這方面國(guó)際電工委員會(huì)制定的系列出版物是制造業(yè)信息
。,(IEC)IEC61000、
產(chǎn)業(yè)電工電氣工程及能源交通運(yùn)輸業(yè)社會(huì)事業(yè)及健康消費(fèi)品質(zhì)量安全等領(lǐng)域中的通用標(biāo)準(zhǔn)分為
、、、、,
綜述環(huán)境限值試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)安裝和減緩導(dǎo)則通用標(biāo)準(zhǔn)六大類我國(guó)已經(jīng)針對(duì)該系列出版物開
、、、、、。
展了國(guó)內(nèi)轉(zhuǎn)化工作并建立了相應(yīng)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)體系
,。
在該標(biāo)準(zhǔn)體系中電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)是關(guān)于電磁兼容領(lǐng)域試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)
,GB/T17626《》
方面的基礎(chǔ)性標(biāo)準(zhǔn)旨在描述傳導(dǎo)騷擾輻射騷擾等電磁兼容現(xiàn)象的抗擾度試驗(yàn)等內(nèi)容擬由個(gè)部分
,、,39
構(gòu)成
。
抗擾度試驗(yàn)總論目的在于提供電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)中有關(guān)試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)的使用性指導(dǎo)并對(duì)選
———。,
擇相關(guān)的試驗(yàn)提供通用的建議
。(GB/T17626.1—2006)
靜電放電抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟诮⑼ㄓ玫暮涂芍噩F(xiàn)的基準(zhǔn)以評(píng)估電氣和電子設(shè)備遭受靜
———。,
電放電時(shí)的性能
。(GB/T17626.2—2018)
射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟诮㈦姎怆娮釉O(shè)備受到射頻電磁場(chǎng)輻射時(shí)的抗擾度
———。、
評(píng)定依據(jù)
。(GB/T17626.3—2016)
電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟诮⑼ㄓ玫暮涂芍噩F(xiàn)的基準(zhǔn)以評(píng)估電氣和電子設(shè)
———。,
備的供電電源端口信號(hào)控制和接地端口在受到電快速瞬變脈沖群干擾時(shí)的抗擾度性能
、、。
(GB/T17626.4—2018)
浪涌沖擊抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟诮⑼ㄓ玫暮涂芍噩F(xiàn)的基準(zhǔn)以評(píng)估電氣和電子設(shè)備在受
———()。,
到浪涌沖擊時(shí)的抗擾度性能
()。(GB/T17626.5—2019)
射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn)以評(píng)估電氣和電子設(shè)
———。,
備在收到由射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾時(shí)的抗擾度性能
。(GB/T17626.6—2017)
供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波間諧波的測(cè)量和測(cè)量?jī)x器導(dǎo)則目的在于規(guī)定可用于根據(jù)某些標(biāo)
———、。
準(zhǔn)給出的發(fā)射限值對(duì)設(shè)備逐項(xiàng)進(jìn)行試驗(yàn)對(duì)實(shí)際供電系統(tǒng)中諧波電流和電壓的測(cè)量的儀器
,。
(GB/T17626.7—2017)
工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟诮⑼ㄓ玫暮涂芍噩F(xiàn)的基準(zhǔn)以評(píng)估家用商業(yè)和工業(yè)用電氣
———。,、
和電子設(shè)備處于工頻連續(xù)和短時(shí)磁場(chǎng)中的抗擾度性能
()。(GB/T17626.8—2006)
脈沖磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟诮⑼ㄓ玫暮涂芍噩F(xiàn)的基準(zhǔn)以評(píng)估居住商業(yè)和工業(yè)用電氣
———。,、
和電子設(shè)備處于脈沖磁場(chǎng)中的抗擾度性能
。(GB/T17626.9—2011)
阻尼振蕩磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟诮⑼ㄓ玫暮涂芍噩F(xiàn)的基準(zhǔn)以評(píng)估中高壓變電站中電
———。,、
氣和電子設(shè)備處于阻尼振蕩磁場(chǎng)中的抗擾度性能
。(GB/T17626.10—2017)
電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟诮⑼ㄓ玫暮涂芍噩F(xiàn)的基準(zhǔn)以評(píng)估
———、。,
電氣和電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度性能
、。(GB/T17626.11—
2008)
振鈴波抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟诮⑼ㄓ玫暮涂芍噩F(xiàn)的基準(zhǔn)以評(píng)估在實(shí)驗(yàn)室中居住商業(yè)和工
———。,、
業(yè)用電氣和電子設(shè)備的抗擾度性能同樣也適用于發(fā)電站和變電站的設(shè)備
,。(GB/T17626.12—
2013)
交流電端口諧波諧間波及電網(wǎng)信號(hào)低頻抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟诮⑼ㄓ玫暮涂芍噩F(xiàn)的基準(zhǔn)
———、。,
Ⅴ
GB/T1762631—2021/IEC61000-4-312016
.:
以評(píng)估電氣和電子設(shè)備對(duì)諧波間諧波和電網(wǎng)信號(hào)頻率的低頻抗擾度性能
、。(GB/T17626.13—
2006)
電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟诮⑼ㄓ玫暮涂芍噩F(xiàn)的基準(zhǔn)以評(píng)估電氣和電子設(shè)備在受到
———。,
正和負(fù)的低幅值電壓波動(dòng)時(shí)的抗擾度性能
。(GB/T17626.14—2005)
閃爍儀功能和設(shè)計(jì)規(guī)范目的在于為所有實(shí)際的電壓波動(dòng)波形顯示正確的閃爍感知電平
———。。
(GB/T17626.15—2011)
共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟诮㈦姎夂碗娮釉O(shè)備經(jīng)受共模傳導(dǎo)騷擾
———0Hz~150kHz。
測(cè)試的通用和可重復(fù)性準(zhǔn)則
。(GB/T17626.16—2007)
直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟诮⑼ㄓ玫暮涂芍噩F(xiàn)的基準(zhǔn)用以在實(shí)驗(yàn)室條
———。,
件下對(duì)電氣和電子設(shè)備進(jìn)行來自于如整流系統(tǒng)和或蓄電池充電時(shí)疊加在直流電源上的紋波
/
電壓的抗擾度試驗(yàn)
。(GB/T17626.17—2005)
阻尼振蕩波抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟诮⑼ㄓ玫暮涂芍噩F(xiàn)的基準(zhǔn)以評(píng)估電氣和電子設(shè)備在受
———。,
到阻尼振蕩波時(shí)的抗擾度性能
。(GB/T17626.18—2016)
交流電源端口差模傳導(dǎo)騷擾和通信信號(hào)抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟诖_認(rèn)電氣和
———2kHz~150kHz。
電子設(shè)備在公用電網(wǎng)下工作時(shí)能承受來自諸如電力電子和電力線通信系統(tǒng)等的差模傳
(PLC)
導(dǎo)騷擾預(yù)計(jì)為第部分
。(19)
橫電磁波波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟诮o出波導(dǎo)的性能用于電磁兼
———(TEM)。TEM、
容試驗(yàn)的波導(dǎo)的確認(rèn)方法在波導(dǎo)中進(jìn)行輻射發(fā)射和抗擾度試驗(yàn)的試驗(yàn)布置步
TEM、TEM、
驟和要求
。(GB/T17626.20—2014)
混波室試驗(yàn)方法目的在于建立使用混波室評(píng)估電氣和電子設(shè)備在射頻電磁場(chǎng)中的性能和確
———。
定電氣電子設(shè)備的輻射發(fā)射等級(jí)的通用規(guī)范
。(GB/T17626.21—2014)
全電波暗室中的輻射發(fā)射和抗擾度測(cè)量目的在于規(guī)定在同一個(gè)全電波暗室內(nèi)進(jìn)行輻射發(fā)射
———。
和輻射抗擾度的通用確認(rèn)程序受試設(shè)備的試驗(yàn)布置要求和全電波暗室測(cè)量方法
、。
(GB/T17626.22—2017)
和其他輻射騷擾防護(hù)裝置的試驗(yàn)方法目的在于通過描述試驗(yàn)的基本原理
———HEMP。HEMP,
以及防護(hù)元件試驗(yàn)的理論基礎(chǔ)試驗(yàn)概念試驗(yàn)配置所需設(shè)備試驗(yàn)程序數(shù)據(jù)處理等重要概
()、、、、
念預(yù)計(jì)為第部分
。(23)
傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)方法目的在于規(guī)定傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)方
———HEMP。HEMP
法包括電壓擊穿和電壓限制特性的試驗(yàn)以及電壓和電流快速變化時(shí)的殘余電壓的測(cè)量方
,,
法
。(GB/T17626.24—2012)
設(shè)備和系統(tǒng)抗擾度試驗(yàn)方法目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn)用于評(píng)估遭受
———HEMP。,
輻射環(huán)境及其在電源天線信號(hào)線和控制線上產(chǎn)生的傳導(dǎo)瞬態(tài)騷擾時(shí)的電氣和
HEMP、、I/O
電子設(shè)備性能預(yù)計(jì)為第部分
。(25)
三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟跒殡姎夂碗娮釉O(shè)備在受到不平衡的供電電壓時(shí)的抗擾
———。
度評(píng)價(jià)建立參考
。(GB/T17626.27—2006)
工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟跒殡姎夂碗娮釉O(shè)備在受到工頻頻率變化時(shí)的抗擾度評(píng)價(jià)
———。
提供依據(jù)
。(GB/T17626.28—2006)
直流電源輸入端口電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟诮⒃u(píng)價(jià)直流電氣
———、。、
電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化時(shí)的抗擾度的通用準(zhǔn)則
、。(GB/T17626.29—
2006)
電能質(zhì)量測(cè)量方法目的在于規(guī)定交流供電系統(tǒng)中電能質(zhì)量參數(shù)測(cè)量方法及測(cè)量結(jié)果
———。50Hz
的解釋
。(GB/T17626.30—2012)
交流電源端口寬帶傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟诮⑼ㄓ玫幕鶞?zhǔn)以評(píng)估電氣和電子
———。,
Ⅵ
GB/T1762631—2021/IEC61000-4-312016
.:
設(shè)備交流電源端口在遭受有意和或無意寬帶信號(hào)源產(chǎn)生的傳導(dǎo)騷擾時(shí)的抗擾度
/。
(GB/T17626.31—2021)
高空核電磁脈沖模擬器概述目的在于提供國(guó)際上現(xiàn)有的系統(tǒng)級(jí)模擬器以
———(HEMP)。HEMP
及它們作為抗擾度試驗(yàn)與驗(yàn)證設(shè)備時(shí)所需要的相關(guān)信息預(yù)計(jì)為第部分
。(32)
高功率瞬態(tài)參數(shù)測(cè)量方法目的在于給出高功率電磁瞬態(tài)響應(yīng)波形的測(cè)量方法和特征參數(shù)的
———。
信息預(yù)計(jì)為第部分
。(33)
主電源每相電流大于的設(shè)備的電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟诮?/p>
———16A、。
立評(píng)價(jià)電氣和電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化時(shí)的抗擾度的通用準(zhǔn)則
、。
(GB/T17626.34—2012)
高功率電磁模擬器概述目的在于提供國(guó)際上現(xiàn)有的系統(tǒng)級(jí)窄帶窄譜和
———(HPEM)。HPEM()
寬帶寬譜亞超寬譜和超寬譜模擬器以及它們作為抗擾度試驗(yàn)與驗(yàn)證設(shè)備時(shí)所需要的相關(guān)
(、)
信息預(yù)計(jì)為第部分
。(35)
設(shè)備和系統(tǒng)的抗擾度試驗(yàn)?zāi)康脑谟跒樵u(píng)估設(shè)備和系統(tǒng)對(duì)有意電磁干擾源的抗擾度提
———IEMI。
供了確定試驗(yàn)水平的方法預(yù)計(jì)為第部分
。(36)
諧波發(fā)射試驗(yàn)系統(tǒng)校準(zhǔn)與驗(yàn)證協(xié)議目的在于為制造商終端用戶獨(dú)立實(shí)驗(yàn)室其他組織機(jī)
———。、、、
構(gòu)提供系統(tǒng)化指導(dǎo)以規(guī)定一定諧波電流發(fā)射范圍內(nèi)適用的合規(guī)狀態(tài)預(yù)計(jì)為第部分
,。(37)
電壓波動(dòng)和閃爍合規(guī)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試
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