SPC最好的培訓(xùn)教程ppt課件

1、SPC Training for NDVCSPC 簡介SPC開展歷史西格瑪簡介Section One-簡介什么是制程(Process)? 操作方法環(huán)境設(shè)備資料有序的行為丈量的輸出目的時(shí)間操作員 將輸入轉(zhuǎn)化為輸出的一組有序的行為或操作什么是制程控制(Process Control)?減小制程輸出變異(Process Variation)所采取的行動(dòng)什么是統(tǒng)計(jì)制程控制(SPC)?控制圖的開展歷史SPC的運(yùn)用情況何時(shí)運(yùn)用SPC為什么要推行SPC過程變異緣由類別Control Chart：經(jīng)過觸發(fā)異常報(bào)警特殊緣由，監(jiān)控過程的穩(wěn)定性.Process Capability：在過程穩(wěn)定的根底上，計(jì)算過程才干

2、，并不斷提高.SPC Control 分類西格瑪程度與DPMO“六西格瑪代表著一種近似的完美，它僅允許百萬分之3.4的缺陷率，在關(guān)系到大多數(shù)顧客及股東的產(chǎn)品、效力和過程中，僅允許百萬分之3.4的缺陷率。 不同西格瑪程度之間的差別不單純是對半削減缺陷的數(shù)量。西格瑪程度每上升一級，缺陷的數(shù)量就呈指數(shù)級的減少。 以面積為例 以書刊錯(cuò)字校正為例 PPM 6 一粒鉆石大小 一間小型圖書館全部藏書中有1個(gè)錯(cuò)字 3.47 縫衣針針尖 好幾個(gè)大型圖書館藏書中有一個(gè)錯(cuò)字 0.019 3 普通商店面積 每頁書中有1.5個(gè)錯(cuò)字 668105 機(jī)座大小 一部百科全書中有一個(gè)錯(cuò)字 2331 中型工廠面積 每頁書中有17

3、0個(gè)錯(cuò)字 697700 4 一間客廳面積 一冊書每三十頁有一個(gè)錯(cuò)字 62102 巨型超市面積 每頁書中有25個(gè)錯(cuò)字 308700對6的感性認(rèn)識(shí)：正態(tài)分布簡介橫坐標(biāo)是數(shù)據(jù)從小到大的陳列，縱坐標(biāo)是每個(gè)一個(gè)數(shù)值出現(xiàn)的次數(shù)6和3的動(dòng)搖比較6西格瑪程度過程非常穩(wěn)定，集中在目的值附近，滿足客戶要求的才干很強(qiáng)，3西格瑪程度那么動(dòng)搖較大。根本定義及判異原那么計(jì)量型控制圖計(jì)數(shù)型控制圖Section Two-控制圖SPC 根本定義1. Sigma : Standard deviation (S): (規(guī)范差) 是對過程變異的衡量2. Center Line (CL): Average of the Process

4、 (中心線)3. UCL (Upper Control Limit): (上控制線) 4. LCL (Lover Control Limit): (下控制線)5. CPK (Process Capability Index) (制程才干系數(shù))6. CP (Process Capability) (制程才干, 散度.即正態(tài)分布曲線的開口度)7. LSL (Lower SPEC Limit): (制程規(guī)格下限, 通常為業(yè)界規(guī)范或客戶的要求)8. USL (Upper SPEC Limit): (制程才干上限，通常為業(yè)界規(guī)范或客戶的要求)9. X-BAR & R Chart: (均值/極值 控制圖)

5、10.均值: 一組數(shù)據(jù)的平均數(shù)11.極差：一組丈量值內(nèi)的最大值和最小值的差，用R表示控制圖各種上下限關(guān)系控制圖Control chart RulesControl Rules有能夠模具有一定磨損工藝整體有逐漸向上和向下趨勢能夠兩個(gè)工藝混在一同Control Rules上下控制限需求收緊控制圖選擇不合格件數(shù)不合格率Xbar-s單位產(chǎn)品上不合格點(diǎn)數(shù)Xbar-RI-MR不合格點(diǎn)數(shù)繪制均值極差圖雜質(zhì)含量批次雜質(zhì)含量批次雜質(zhì)含量批次5.9918.0567.091111.4614.35610.571111.4112.79611.14113.714.06614.251112.88123.43617.5811

6、14.5429.33725.31216.76212.1575.3127.2929.33712.05125.929.23716.251222.0524.8277.51129.336.84814.691312.5137.6783.691313.636.99818.04134.6433.9688.91310.34314.3817.05134.3947.08920.23149.6413.6999.381413.4349.6993.53145.51412.27914.27144.17420.1593.41149.7658.33104.38156.0756.23105.91513.7458.871031.

7、321515.35518.71103.44158.98513.221024.7815一部分?jǐn)?shù)據(jù)繪制均值極差圖根據(jù)數(shù)據(jù)如何配置繪制均值極差圖選擇判異原那么繪制均值極差圖- 極差和均值圖都需求穩(wěn)態(tài)從圖中我們看出什么？接下來我們怎樣做？練習(xí)：用minitab繪制均值極差圖焊接力對于W7T是重要的目的，需求定期測試，將測試結(jié)果做均值極差圖SPC 小游戲流程：分成幾個(gè)小組，每個(gè)人折紙，消費(fèi)衣服，然后抽樣丈量衣服長度，每個(gè)小組產(chǎn)生一個(gè)衣服長度的平均數(shù)，衣服長度為y軸，小組號(hào)碼為x軸，描點(diǎn)，事先定好上下控制線，看哪些點(diǎn)在控制線之外，然后找出root cause。工具：兩種尺寸正方形紙含有變異尺寸，尺子控制圖

8、：均值極差圖 或單值挪動(dòng)極差 根據(jù)參與人數(shù)繪制SPC控制圖以及Process capability緣由分析假設(shè)有異常的地方分析緣由并改善計(jì)數(shù)型控制圖計(jì)數(shù)型控制圖-P圖，NP圖練習(xí)：二極控制造工藝，每天抽檢150個(gè)樣品，記錄不合格品數(shù)量，搜集一個(gè)月的數(shù)據(jù)，做NP圖和P圖。計(jì)數(shù)型控制圖-P圖計(jì)數(shù)型控制圖-NP圖計(jì)數(shù)型控制圖-U圖，C圖練習(xí)：在芯片的消費(fèi)過程中，假設(shè)芯片上有一個(gè)瑕疵，那么被以為是一個(gè)缺陷，每個(gè)班次抽取10個(gè)芯片進(jìn)展檢驗(yàn)，記錄每個(gè)班次的缺陷總數(shù)，搜集15個(gè)班次數(shù)據(jù)，做U圖，C圖。日期樣品數(shù)缺陷數(shù)1102621028310234101851032610407103581024910181

9、01028111016121014131024141035151030計(jì)數(shù)型控制圖-U圖計(jì)數(shù)型控制圖-C圖其他常見的控制圖累積和控制圖CUSUM: 以歷次觀測結(jié)果為根據(jù)，對觀測數(shù)據(jù)加以累積，對發(fā)現(xiàn)過程的小偏移特別有效 。指數(shù)加權(quán)挪動(dòng)平均控制圖EWMA:關(guān)注的是歷史數(shù)據(jù)的加權(quán)平均，可以有效控制長期過程的微小偏移。規(guī)范化控制圖Z-MR:當(dāng)過程輸出為不同規(guī)格的產(chǎn)品，相互之間的差別比較大但樣本量又比較小時(shí)選用該控制圖多種類，小批量根本定義及數(shù)據(jù)類型計(jì)量型過程才干分析計(jì)數(shù)型過程才干分析Section Three -過程才干分析Process Capability數(shù)據(jù)類型可以分為計(jì)量型數(shù)據(jù)和計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)。計(jì)

10、量型數(shù)據(jù)是屬于不可數(shù)集合的，普統(tǒng)統(tǒng)過丈量獲得，且有計(jì)量單位。比如(0,100，實(shí)數(shù)集，常見的有正態(tài)分布，指數(shù)分布，均勻分布等。工廠數(shù)據(jù)舉例：welding strength, case/ cover 尺寸計(jì)數(shù)型隨機(jī)變量只能夠出現(xiàn)可數(shù)型的實(shí)現(xiàn)值，比如自然數(shù)集合，0,100等等，常見的有二項(xiàng)分布，泊松分布等。工廠數(shù)據(jù)舉例：檢驗(yàn)208件產(chǎn)品，有8件不合格，檢驗(yàn)150件產(chǎn)品，有7件不合格。以小組為單位，列舉工廠各種數(shù)據(jù)類型，并進(jìn)展分類，粘貼到白板上，大家分享一下計(jì)量型數(shù)據(jù)過程才干指數(shù)CPCp 表示制程分布的緊致程度，要求過程要穩(wěn)定計(jì)量型數(shù)據(jù)制程才干指數(shù) Cpk雙邊CPK公式單邊CPK公式CPUCPL制

11、程才干指數(shù)Cpk的幾何意義3良好的過程才干: 對于雙邊:圖形居中, 開口小. 對于單邊: 間隔規(guī)格線遠(yuǎn), 開口小.要求過程要穩(wěn)定且正態(tài)。過程才干評價(jià)計(jì)量型數(shù)據(jù)制程績效指數(shù)PP/PPK過程績效指數(shù)是從過程總動(dòng)搖的角度調(diào)查過程輸出滿足客戶要求的才干，有時(shí)也稱作長期過程才干指數(shù)。調(diào)查過程績效時(shí)不要求過程穩(wěn)定,異常數(shù)據(jù)也必需計(jì)算在內(nèi)。過程才干分析手動(dòng)計(jì)算假定G過程處于統(tǒng)計(jì)控制形狀.運(yùn)用控制圖，得到如下數(shù)據(jù)，平均值為4.03, 規(guī)范差為0.024，產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范為4+-0.1，根據(jù)這些信息計(jì)算該過程才干指數(shù)。LSL,USL,CP, CPL， CPU ，CPK?LSL=3.9, USL=4.1CP=(4.1

12、-3.9)/6*0.024=1.39CPL=(4.03-3.9)/3*0.024=1.81CPU=(4.1-4.03)/3*0.024=0.97CPK=0.97計(jì)量型數(shù)據(jù)CPK-minitab 運(yùn)用例子：雜質(zhì)含量數(shù)據(jù)，5個(gè)數(shù)據(jù)為一組，共25組，上控制限為24，求CPK計(jì)量制程才干指數(shù) Cp & Cpk & PP&PPK 根據(jù)數(shù)據(jù)如何配置計(jì)量制程才干指數(shù) 從結(jié)果中，我們能看出什么？計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)過程才干分析DPU單位缺陷計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)過程才干分析DPMO百萬時(shí)機(jī)之不良數(shù)計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)過程才干分析:西格瑪程度Sigma LevelInput Data輸入數(shù)據(jù)The process sigma score(wi

13、th -1.5 shift integrated)制程的“西格瑪思索了1.5個(gè)西格瑪?shù)钠朴?jì)數(shù)型數(shù)據(jù)過程才干練習(xí)：DPU/DPMO/西格瑪程度DPU=800/1000=0.8DPMO=0.8*1000000/10=80000Section Four-SPC 運(yùn)用實(shí)例控制圖SPC運(yùn)用控制圖是用來判別過程能否穩(wěn)定受控以及發(fā)現(xiàn)過程能否異常的重要工具。控制圖的運(yùn)用分為分析用控制圖和控制用控制圖。分析用控制圖利用點(diǎn)在控制范圍內(nèi)的分布或能否出界來判別過程能否穩(wěn)定，經(jīng)過對過程 的改良或排除異常緣由的異常點(diǎn)，最終得到一個(gè)穩(wěn)定受控的初始過程。先有點(diǎn)再有線。前面的內(nèi)容都是圍繞分析用控制圖展開的。控制用控制圖，在實(shí)

14、踐任務(wù)中的運(yùn)用更加重要，他的作用是把分子階段得到的穩(wěn)定的初始過程堅(jiān)持下去真正發(fā)揚(yáng)監(jiān)控作用。先有線再有點(diǎn)。分析用控制圖：分析過程能否穩(wěn)定分析才干能否到達(dá)？監(jiān)控用控制圖：延伸改善后的控制限實(shí)時(shí)監(jiān)控并及時(shí)呼應(yīng)排除特殊緣由提高過程才干控制圖SPC運(yùn)用的步驟：背景：一家汽車發(fā)動(dòng)機(jī)制造商專業(yè)消費(fèi)與發(fā)動(dòng)機(jī)氣缸相關(guān)的零部件，主要產(chǎn)品之一就是缸蓋的曲軸，其中一個(gè)孔徑必需滿足上限37, 下限33毫米的公差限。質(zhì)量經(jīng)理要求現(xiàn)場工程師了解下現(xiàn)有的工藝流程能否穩(wěn)定，能否可以穩(wěn)定地到達(dá)公差限的要求，假設(shè)滿足的話，對該關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)展控制。目前消費(fèi)線上有自動(dòng)丈量安裝，每次回自動(dòng)記錄5個(gè)產(chǎn)品的數(shù)據(jù)。假設(shè)他是現(xiàn)場工程師，他的方案如

15、何？大家討論下，如何實(shí)現(xiàn)質(zhì)量經(jīng)理的一切要求？控制圖SPC運(yùn)用的步驟：a. 確定初始過程能否穩(wěn)定stable：顯然，這里適用于均值-極差控制圖，運(yùn)用Minitab實(shí)現(xiàn)該過程。選擇數(shù)據(jù)孔徑15從圖可以看出，均值圖和極差圖均無異常，特殊緣由的檢驗(yàn)也沒有問題，闡明過程是穩(wěn)定受控的?？刂茍DSPC運(yùn)用的步驟：b. 判別過程能否到達(dá)技術(shù)穩(wěn)態(tài)capability。接下來進(jìn)展過程才干分析，運(yùn)用MINITAB實(shí)現(xiàn)過程才干的分析。選擇數(shù)據(jù)孔徑15。從圖可以過程才干缺乏，經(jīng)分析緣由是自動(dòng)丈量安裝的Gr&r達(dá)不到要求，改善方案是對自動(dòng)丈量安裝進(jìn)展改造，當(dāng)Gr&r改善OK后重新搜集數(shù)據(jù)控制圖SPC運(yùn)用的步驟：a-1,b-

16、1. 判別過程能否到達(dá)stable &capability, 對改善后搜集的數(shù)據(jù)進(jìn)展穩(wěn)態(tài)和過程才干分析，運(yùn)用MINITAB實(shí)現(xiàn)該分析。選擇數(shù)據(jù)孔徑1-15-1從圖可以過程才干滿足要求，留意記得保管均值以及sigma值控制圖SPC運(yùn)用的步驟：c. 實(shí)現(xiàn)后續(xù)的過程監(jiān)控 monitor：控制用控制圖可以用來對過程進(jìn)展監(jiān)控。繪制控制用控制圖的關(guān)鍵是實(shí)現(xiàn)確定控制圖上的三條控制線：中心線和上下控制限，選擇孔徑1-25-2。利用穩(wěn)態(tài)的數(shù)據(jù)規(guī)范監(jiān)控后續(xù)搜集到的數(shù)據(jù)，判別能否有異常，假設(shè)有的話記錄緣由，并執(zhí)行改善方案?？刂茍DSPC運(yùn)用的步驟：d.實(shí)時(shí)在線監(jiān)控real-time用控制用控制圖實(shí)現(xiàn)消費(fèi)流程的實(shí)時(shí)在線

17、監(jiān)控。將孔徑1-35-3的數(shù)據(jù)copy到孔徑1-25-2的數(shù)據(jù)下面。Minitab 簡易功能時(shí)間在線監(jiān)控，點(diǎn)擊制造完成的控制用控制圖為當(dāng)前窗口，右擊該圖形選擇“自動(dòng)更新圖形。控制圖SPC運(yùn)用-匯總NONO Q&AMinitab: Capability Ratio(Cp, CPL, CPU, Cpk)Formulas for computing calculations of StDev(Within) Capability Standard DeviationNote: Because the average moving range is used to estimate StDev(Wit

18、hin), the order of the data is critical由于挪動(dòng)極差平均值用來估計(jì)規(guī)范差，所以數(shù)據(jù)的順序非常的關(guān)鍵Average Moving Range :Capability Sigma :For subgroup size = 1Average Moving Range :i=index of the subgroupj=number of observation in the ith subgroupCapability Sigma :For subgroup size 1Minitab calculates Performance Ratios (Ppk, Pp) by dividing by StDev(Overall):The Total Standard Deviation or StDev(Overall) is calculated as:Minitab approximates the dispersion parameter, StDev(Overall) by calculating the stan