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1、AccoTestSTS 8200測(cè)試系統(tǒng)根底培訓(xùn)(5)自檢與校準(zhǔn) Rev1.0New ValuedMulti-site Analog/Mixed Signal Tester主要內(nèi)容系統(tǒng)自檢系統(tǒng)校準(zhǔn)系統(tǒng)自檢什么是系統(tǒng)自檢,檢查哪些內(nèi)容 系統(tǒng)自檢:是對(duì)系統(tǒng)各部分硬件模塊的主要功能和根本精度進(jìn)展的檢測(cè),系統(tǒng)自檢是在測(cè)試主機(jī)的內(nèi)部完成的。檢查的內(nèi)容:1.檢查測(cè)試機(jī)臺(tái)中的硬件電路板能否存在2.對(duì)各硬件電路板進(jìn)展硬件版本核對(duì)3.檢查電路板功能和精度能否合格什么時(shí)候做系統(tǒng)自檢1.測(cè)試機(jī)啟動(dòng)時(shí),系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)進(jìn)展自檢2.每次做calibration之前,必需自檢3.假設(shè)測(cè)試結(jié)果有異常,疑心測(cè)試機(jī)存在缺點(diǎn)時(shí),建議對(duì)

2、測(cè)試機(jī)做自檢*假設(shè)不勾選 選擇框,可以設(shè)置取消測(cè)試機(jī)啟動(dòng)時(shí)自動(dòng)進(jìn)展自檢。點(diǎn)擊Check即可進(jìn)展自檢上圖為Check結(jié)果,自檢不經(jīng)過(guò)的板子會(huì)顯示FAIL紅色字體;經(jīng)過(guò)顯示OK。如何看自檢數(shù)據(jù),自檢數(shù)據(jù)保管途徑 下面以O(shè)VI40 為例簡(jiǎn)單闡明如何看自檢數(shù)據(jù)標(biāo)注1顯示電路板的稱號(hào)、編號(hào)、版本號(hào)標(biāo)注2顯示自檢工程闡明:FVMV是恒壓測(cè)壓,F(xiàn)VMI是 恒壓測(cè)流,F(xiàn)IMV是恒流測(cè)壓,F(xiàn)IVI恒流測(cè)流。每 種任務(wù)方式下給出不同的電流電壓量程檔位標(biāo)注3測(cè)試結(jié)果合格的上、下限標(biāo)注4測(cè)試結(jié)果的單位電壓和電流標(biāo)注5通道號(hào)標(biāo)注6理想值target)標(biāo)注7Fail數(shù)據(jù)標(biāo)示符,表示該工程的自檢結(jié)果Fail標(biāo)注8自檢結(jié)果。

3、只需通道中有一項(xiàng)檢測(cè)結(jié)果前標(biāo)注* 號(hào),那么表示該通道自檢結(jié)果為Fail;通道中一切 項(xiàng)都沒(méi)有*號(hào),那么表示該通道自檢結(jié)果Pass舉例闡明以FVMV方式為例如下圖,在FVMV方式下,丈量一個(gè)理想值為-1V的電壓值,上、下限值分別為-1.0200 和-0.9800。Ch0、測(cè)到的值分別是-1.008,在上、下限值之內(nèi),因此相應(yīng)的通道自檢正常。自檢結(jié)果存儲(chǔ)途徑: 自檢數(shù)據(jù)的默許存儲(chǔ)途徑是: C:AccoTestSTS8200CheckData系統(tǒng)校準(zhǔn)什么是系統(tǒng)校準(zhǔn)系統(tǒng)校準(zhǔn):利用外部?jī)x表對(duì)系統(tǒng)的各個(gè)硬件資源進(jìn)展準(zhǔn)確的丈量,并根據(jù)丈量結(jié)果對(duì)系統(tǒng)進(jìn)展補(bǔ)償。在此根底上,利用校準(zhǔn)參數(shù)對(duì)系統(tǒng)硬件再進(jìn)展一次全面的

4、測(cè)試,并顯示和存儲(chǔ)系統(tǒng)經(jīng)校準(zhǔn)后的實(shí)踐丈量精度。什么情況下做校準(zhǔn) 定期校準(zhǔn)建議至少每半年對(duì)測(cè)試機(jī)做一次校準(zhǔn)校準(zhǔn)需求的儀表六位半電表Keithley2000/Agilent34401通訊協(xié)議是RS232波特率為96008 bit 數(shù)據(jù)(不帶奇偶校驗(yàn))校準(zhǔn)盒正面銜接圖點(diǎn)擊Calibration進(jìn)入校準(zhǔn)界面點(diǎn)擊 紅圈標(biāo)注填寫測(cè)試機(jī)的編號(hào)(可不填黑圈規(guī)范2填寫操作人稱號(hào)(可不填點(diǎn)擊“OK進(jìn)入下一步校準(zhǔn)信息設(shè)置表示圖標(biāo)注1station選擇標(biāo)注2六位半表的型號(hào)標(biāo)注3六位半表的通訊協(xié)議,缺省值為RS-232標(biāo)注4RS-232的COM口,缺省值為com1標(biāo)注5六位半表的波特率,缺省值為9600標(biāo)注6校準(zhǔn)通訊端

5、口,直接運(yùn)用缺省值,無(wú)需輸入注:注有缺省值的標(biāo)注運(yùn)用缺省值即可校準(zhǔn)硬件類型與通道選擇校準(zhǔn)硬件類型、通道與量程選擇DVI 校準(zhǔn)結(jié)果顯示第一列No.:當(dāng)前硬件模塊校準(zhǔn)結(jié)果的數(shù)目序號(hào); 第二列V/I:檔位,有四種類型:MV、MI、FV、FI,其意義分別為: MV 電壓丈量,后面的數(shù)據(jù)單位為“V MI 電流丈量,后面的數(shù)據(jù)單位為“A FV 電壓輸出,后面的數(shù)據(jù)單位為“V FI 電流輸出,后面的數(shù)據(jù)單位為“A 第三列Range:當(dāng)前校準(zhǔn)的量程; 第四列Criterion :判據(jù)值; 第五列TargetValue :目的值。在“MV和“MI時(shí)表示數(shù)字表的丈量值,在“FV和“FI時(shí)那么表示設(shè)定的源的輸出值;

6、 第六列TestValue :測(cè)試值修正以后。在“MV和“MI時(shí)表示PVI 或DVI 的丈量值,在“FV和“FI時(shí)那么表示數(shù)字表的丈量值; 第七列Error :誤差,即 TestValue 與 TargetValue 的差再除以滿量程值的結(jié)果。假設(shè)結(jié)果超出了精度范圍,那么數(shù)據(jù)以紅色表示,如圖校準(zhǔn)結(jié)果失效顯表示圖 界面中的顯示數(shù)據(jù)將自動(dòng)保管在“系統(tǒng)軟件安裝途徑clbresult目錄下,文件名為“clb+“日期“_“時(shí)間“.txt,用戶也可以點(diǎn)擊 按鈕手動(dòng)保管顯示數(shù)據(jù)。 系統(tǒng)測(cè)試時(shí)可以運(yùn)用的補(bǔ)償數(shù)據(jù)被自動(dòng)保管在“系統(tǒng)軟件安裝途徑clbdata目錄下,文件名為“板類型“.clb。 測(cè)試過(guò)程中,程序自

7、動(dòng)在SUMMARY頁(yè)面顯示校準(zhǔn)信息報(bào)表,如以下圖:校準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)信息如何看校準(zhǔn)數(shù)據(jù)用系統(tǒng)自帶軟件翻開(kāi)用寫字板翻開(kāi).TXT文件為summary數(shù)據(jù)翻開(kāi).PRC文件為data數(shù)據(jù)用系統(tǒng)自帶軟件翻開(kāi)如下圖,點(diǎn)擊calibration點(diǎn)擊翻開(kāi)文件按鈕,即可翻開(kāi)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)summary數(shù)據(jù),顯示的是每個(gè)通道的總體情況,假設(shè)有fail項(xiàng),會(huì)顯示fail項(xiàng)的個(gè)數(shù)。假設(shè)結(jié)果超出了精度范圍,那么數(shù)據(jù)以紅色表示,如圖data數(shù)據(jù),顯示每個(gè)通道詳細(xì)校準(zhǔn)結(jié)果,fail的數(shù)據(jù)會(huì)顯示紅色,并帶星號(hào)以下圖是寫字板翻開(kāi)的summary校準(zhǔn)數(shù)據(jù),文件后綴是.txt以下圖是用寫字板翻開(kāi)的data數(shù)據(jù),文件后綴是.prc12345標(biāo)注1丈

8、量方式和量程檔標(biāo)注2丈量理想值標(biāo)注3實(shí)踐丈量值標(biāo)注4誤差 =理想值-實(shí)踐丈量值 /量程檔標(biāo)注5假設(shè)測(cè)試結(jié)果fail,會(huì)在fail值 后面加星號(hào),但不帶紅色校準(zhǔn)結(jié)果的保管途徑: C:AccoTestSTS8200clbresult 校準(zhǔn)補(bǔ)償數(shù)據(jù)的保管途徑: C:AccoTestSTS8200clbdata 校準(zhǔn)本卷須知何時(shí)更新校準(zhǔn)補(bǔ)償數(shù)據(jù)通道校準(zhǔn)勝利時(shí)更新其補(bǔ)償數(shù)據(jù),對(duì)于校準(zhǔn)fail的通道不更新校準(zhǔn)程序異常退出,會(huì)導(dǎo)致補(bǔ)償數(shù)據(jù)錯(cuò)誤,引起測(cè)試數(shù)據(jù)異常處理方案:刪除對(duì)應(yīng)電路板的補(bǔ)償數(shù)據(jù)clbdata文件夾內(nèi),并重新做校準(zhǔn)校準(zhǔn)界面只能開(kāi)一個(gè),否那么會(huì)導(dǎo)致通訊中斷處理方案:關(guān)掉多余界面注:校準(zhǔn)時(shí)建議將P

9、C機(jī),六位半電表,測(cè)試機(jī)的電源插在同一個(gè)接線板上, 否那么在某些情況下會(huì)導(dǎo)致小電流檔校準(zhǔn)不過(guò)動(dòng)手實(shí)驗(yàn)動(dòng)手做自檢和校準(zhǔn)對(duì)生成的數(shù)據(jù)進(jìn)展分析講解STS8200FVI10校準(zhǔn)闡明校準(zhǔn)需求的儀表六位半電表Keithley2000/Agilent34401通訊協(xié)議是RS232波特率為96008 bit 數(shù)據(jù)(不帶奇偶校驗(yàn))FVI10公用校準(zhǔn)板SU8127)校準(zhǔn)需求的程序目前的版本為1.0.0.6STS8200FVI10公用校準(zhǔn)板FVI10校準(zhǔn)板與六位半電表連線插座,分別對(duì)應(yīng)六 位半電表上V端的HI和LOW。留意與STS8200校準(zhǔn)盒區(qū)別:校準(zhǔn)盒是4個(gè)插座,與電表的V、4W端都要銜接FVI10校準(zhǔn)時(shí)切換檔

10、位的指示燈。SU8127最多支持8塊FVI10的校準(zhǔn),8個(gè)通道FVI0FVI7與8塊板子一一對(duì)應(yīng)。FVI0對(duì)應(yīng)機(jī)臺(tái)中的FVI10-01,F(xiàn)VI1對(duì)應(yīng)機(jī)臺(tái)中的FVI10-02,依次類推FVI10校準(zhǔn)步驟1.銜接校準(zhǔn)需求的硬件設(shè)備2. 點(diǎn)擊check進(jìn)展自檢,確認(rèn)所要校準(zhǔn)的FVI10 check pass3.點(diǎn)擊StationA,調(diào)入FVI10校準(zhǔn)程序,點(diǎn)擊test,開(kāi)場(chǎng)校準(zhǔn)注:其他資源板需求點(diǎn)擊Calibration直接進(jìn)展校準(zhǔn),F(xiàn)VI10的校準(zhǔn)過(guò)程與產(chǎn)品量產(chǎn)調(diào)用程序過(guò)程類似FVI10自檢OK以后,點(diǎn)擊StationA進(jìn)展校準(zhǔn)點(diǎn)擊load調(diào)用FVI10的公用校準(zhǔn)程序pgs格式FVI10校準(zhǔn)界面點(diǎn)擊test進(jìn)展校準(zhǔn)。Options:設(shè)置校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的保管途徑和文件名;將Test Control中的Stop Test After Failed Parameter勾選去掉。Edit:確認(rèn)校準(zhǔn)函數(shù)和調(diào)用的PGS。交付時(shí)已設(shè)置好FVI10校準(zhǔn)結(jié)果PGS闡明:0test_COMM:選擇Keithley2000/Agilent344011test_FV

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