ICT測試原理培訓(xùn)培訓(xùn)課件

1、ICT測試原理培訓(xùn)ICT測試原理培訓(xùn)電阻測試 系統(tǒng)依標準值（STD_V）選取相應(yīng)大小的電流源。被測電阻愈大, 測試電流須更小, 以確保量回被測電阻兩端的電壓VO在規(guī)定的範圍(0.151.5V)之內(nèi).10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)2電阻測試 系統(tǒng)依標準值（STD_V）選取相應(yīng)大小的電流源。GUARDING原理 （隔離點的選擇,通過按F7或ALT+F7,或者加適當延時等修改後再按F7或ALT+F7由系統(tǒng)自動完成,絕大多數(shù)可達到效果. 經(jīng)驗表明,隔離點太多,測量值可能不穩(wěn)定. 一般選擇02個隔離點可以滿足要求,並且隔離點的選擇一般僅隔離一面. 如果按F7或ALT+F7後,系統(tǒng)選擇的隔離點太多,

2、則要重新作自動隔離,以找到一種隔離點較少且測量效果最好的方案.）10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)3GUARDING原理 （隔離點的選擇,通過按F7或ALT RX / R 量回的阻值 Rm = Rx * R / (Rx + R) Rx .量回的阻值 Rm = Rx * R / (Rx + R) Rx . 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)4 RX / R 量回的阻值 Rm = Rx * R / Rx / C 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)5Rx / C 10/1/2022ICT測試原理培訓(xùn)5Rx / C測試順序是: 放電, 充電和電壓測試. 如FIGURE 4示 .考慮到電容的分流,

3、 要先對其充電, 經(jīng)過T2以后, Ic0. 此時可量回準確的阻值. 故遇到R/C的情形, 釆用定電流源測試時, 須加DELAY TIME.且電容越大,延遲要更久,才能得到準確值. 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)6Rx / C測試順序是: 放電, 充電和電壓測試. 當C較大(級以上)時,當C較大(級以上)時, 若仍釆用定電流源方式, 則電容會將電流源分流,直至電容充飽時才成斷路, 這樣會消耗太久測量時間. 此時改以電壓源(0.2VDC)對電容充電, 迅速將電容加至0.2VDC (斷路), 再量回電流Ix值, 即可求得Rx,( RX = 0.2VDC/IX ) 在TR-518F系列測試儀中,

4、選擇MODE2: HIGH SPEED FOR R/C , 再加適量延時即可。10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)7當C較大(級以上)時,當C較大(級以上)時, 若仍釆用定EXAMPLE： 如果在被測電阻RX的相關(guān)電路中有電容存在 , 如FIGURE 10示 .通過設(shè)置虛地隔離點,可以提高測試速度, 見FIGURE 11, 12 . 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)8EXAMPLE： 如果在被測電阻RX的相關(guān)電Comparation：10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)9Comparation：10/1/2022ICT測試原理培訓(xùn)RX / D ( FIGURE 6 ) 推而廣之,電阻與帶P

5、N結(jié)的零件并聯(lián).( 包括D, ZEN, TR, FET, IC , etc ).10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)10RX / D ( FIGURE 6 ) 推而廣之,電MODE 0 MODE 1假設(shè) RX = 2k 若 IS = 500A 則 VR = IS * R = 500 * 10-6(A) * 2 * 103() = 1(V)此時D已導(dǎo)通, 將Rx兩端限壓至約0.7V.那么RM = 0.7(V) / (500 * 10-6(A) = 1.4 * 103() = 1.4k Rx .此時, 要改以低一檔電流源測試. 在TR-518F系列測試儀中為MODE1. 若 IS = 50A 則

6、VR = IS * R = 50 * 10-6(A) * 2 * 103() =0.1(V)此時D仍處于截止狀態(tài), 故可量得正確的Rx值. 即 R M = 0.1(V) / (50 * 10-6(A) = 2 * 103() = 2(K) = Rx .結(jié)論：釆用低一檔電流源,可避免D的“限壓”.10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)11MODE 0 MODE 1假設(shè) RX = 2k此時, 另外,互換高低點(HI-PINLO-PIN). 即IS從DIODE的陰極注入, 亦可避免D的“限壓”. 互換高低點不可行的情況可能出現(xiàn)在以下連接電路. 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)12另外,互換高低點(

7、HI-PINLO-PIN). 即IS從RX/D/C而對于RX/D/C, 見FIGURE 7 .在TR-518F系列測試儀中,選擇MODE2: HIGH SPEED FOR R/C ,因電壓源為0.2VDC, 故D仍處于截止狀態(tài), 亦可避開D的“限壓”. 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)13RX/D/C而對于RX/D/C, 見FIGURE 7RX / L ( FIGURE 13 ) 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)14RX / L ( FIGURE 13 ) 10/1/2RX / L若仍以電流源量測Rx. 由于L的暫態(tài)為由“OPEN”至“SHORT”,其暫態(tài)時間不易控制, 而穩(wěn)態(tài)時電感相

8、當于“SHORT”,將電流源完全分流, 致Vx0, 此時, 須以AC來測量, 使得L呈現(xiàn)一阻抗值(愈大愈好). 再利用相位差即可計算出Rx, 見 FIGURE 14 . 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)15RX / L若仍以電流源量測Rx. 由于L的暫態(tài)為由“O四點測量 適用于小電阻的精確測量. ( 如為兩點測量,則RM = RAB RX ) 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)16四點測量 適用于小電阻的精確測量.10/1/2022ICT測電容測試 由OSC分別產(chǎn)生1kHZ / 10kHZ / 100kHZ / 1MHZ 的AC輸出信號, 其振幅均為固定(40mVrms) (FIGURE

9、 16 ) VS / IX = XC =1 / ( jCX )= 1 / ( 2f CX )量回IX 的振幅, 即可求得CX . 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)17電容測試 由OSC分別產(chǎn)生1kHZ / 10kHZ / 10DC法 (3F以上) 對于大電容, 若使用上述AC電壓源模式測試時, 將需要較低頻率來測試,從而增加ICT的測試時間. 另外,大電容交流阻抗很小, 如此無法判斷電容內(nèi)部是否有短路發(fā)生. 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)18DC法 (3F以上) 對于大電容, 若使用上述AC電壓源模此時須以DC測量, 見FIGURE 17 .測試順序 (FIGURE 18 ):在被測

10、電容上加載定電流, 然后通過測量其積分電壓, 計算其電容值. 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)19此時須以DC測量, 見FIGURE 17 .測試順序 (FCX / CCM = CX + C CX 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)20CX / CCM = CX + C CX 10/1CX / R ( FIGURE 19 ) 釆用AC常規(guī)法, 則因R的分流會使CM CX . 相位分離法 ( FIGURE 20 ) 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)21CX / R ( FIGURE 19 ) 釆用AC常規(guī)電感測試 AC法 ( FIGURE 21 )FIGURE 21AC信號源與電容同.

11、VS / IX = XL =jLX= 2f LX量回IX振幅, 即可求得LX 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)22電感測試 AC法 ( FIGURE 21 )10/1/2 DC法 此時, 電感相當于一個非常小的電阻, 在TR-518F系列測試儀中, 將TYPE設(shè)為R,即將其當作小電阻測試, 這樣亦可測出電感的漏件和斷路情形, 但對于內(nèi)部短接則不可測出, 比如TRANSFORMER內(nèi)部相鄰的兩匝線圈因絕緣不良而短接或者線圈匝數(shù)改變, 如仍以R方式, 則無法測試, 此時仍須用L方式較為有效. R方式可作為電感的一種輔助測試方式. 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)23 DC法 此時, 電感相

12、當于一個非常小的電阻, 在TR-5LX / R ( FIGURE 22 ) 相位分離法 ( FIGURE 23 ) 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)24LX / R ( FIGURE 22 ) 相位分離法 DIODE D ( 各種零件的PN結(jié), 包括D, ZEN,LED,TR, FET, SCR,TRIAC, PHOTO COUPLER, IC , etc ). 測試範圍: 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)25DIODE D ( 各種零件的PN結(jié), 包括D, ZEN齊納二極體(ZENER)的齊納電壓. 對于大于10V的齊納電壓, 當錯成齊納電壓為10V以下的齊納二極體時,應(yīng)在可測之列.

13、TR-518FR的最大測試電壓則為48V。對于TR-518F，TR-518FE測試儀, 由于系統(tǒng)最大僅提供10V以下電壓, 故齊納電壓的測試範圍為0.010V. 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)26齊納二極體(ZENER)的齊納電壓. 對于大于10V的齊納電 LED 此時, 將ACT_V及STD_V均設(shè)為2V或更高, 這樣可看到LED發(fā)光. 不然, 要適當延時, 亦可看見發(fā)光. 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)27 LED 此時, 將ACT_V及STD_V均設(shè)為2V或更高, 電容極性測試 測試方式: 以可程式電壓源, 對電容充電,直至充飽后, 再測量正向漏電流. 正常情況下,反向漏電流

14、會很大.據(jù)此可測插反情形.但實際中, 由于大量主,被動元件對電流的分流作用, 對電容的極性測試比較有限, 須小心試之 。 電容極性測試的另一方法是三端測試, 須在上方加一探針觸及殼體. 在電容的正負極加載直流電壓, 至充飽后測量殼體電壓. 由于正負極與殼體間的阻抗差異, 故對于插反的電容所測量到的殼體電壓會與正確時不同. 據(jù)此可判別電容的極性. 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)28 電容極性測試 測試方式: 以可程式電壓源, 對電容充電,DX / D 如FIGURE 24示, 兩個二極體(推而廣之,指PN結(jié))異向并聯(lián), 這時正,反兩方向所測量到的電壓均約為0.7V. 如以單步測試, 則可能

15、出現(xiàn)其中一顆DIODE漏件(或開路)或插反不可測的情況,故須釆用正,反向雙步測試.這樣,如有一顆漏件或插反, 則兩步當中必有一步測量結(jié)果遠大于0.7V. 而對于同向并聯(lián),雖然漏件(或開路)必不可測,但增加一步反向測試,則插反必可以測. 請注意: 釆用正,反向雙步測試有時甚至可偵出D錯件或元件不良.因此,建議在編制測試資料時,所有二極體均釆用正,反向雙步測試.方法如下:按CTRL+ENTER插入一步後,分別將Stand_V設(shè)置為9.9V, MODE為1, RPT為5/D, 如并聯(lián)大電容,則要足夠延時. 再按F8得Meas_V,然后以Meas_V修改Stand_V,設(shè)+/-Lm%為2030(不提倡

16、使用-1) 10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)29DX / D 如FIGURE 24示, 兩個二極體(推而DX / D10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)30DX / D10/1/2022ICT測試原理培訓(xùn)30 DX / C ( FIGURE 25 ) 測試方式: 以可程式電壓源加載電流, 對電容進行充電,在充飽后測量其電壓.TR-518F系列測試儀提供MODE0 ( 3mA ); MODE1 ( 20 fF (normal) 20 x 10-15F1/CT = 1/Cx + 1/CyCT = 0 fF = 0 x 10-15F10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)49IC pin open Cx 20 fF (normalEDIT:10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)50EDIT:10/1/2022ICT測試原理培訓(xùn)50EDIT:10/3/2022ICT測試原理培訓(xùn)51EDIT:10/1/2022ICT測試原理培訓(xùn)51指令樹狀結(jié)構(gòu)圖(Comma