最新SPC培訓(xùn)教材-完整版課件

SPC應(yīng)用技術(shù)1a1a

課程大綱第一部分：SPC技術(shù)概述第二部分：SPC相關(guān)統(tǒng)計(jì)學(xué)原理與概念第三部分：管制圖的原理、制作及圖形分析第四部分：制程能力分析第五部分：SPC應(yīng)用實(shí)務(wù)第六部分：測量系統(tǒng)分析2a 課程大綱2a第一部分：SPC技術(shù)概述

1.1品質(zhì)觀念的發(fā)展史程：

◆操作員的品質(zhì)管制 ◆領(lǐng)班的品質(zhì)管制 ◆檢驗(yàn)員的品質(zhì)管制 ◆統(tǒng)計(jì)品質(zhì)管制 ◆全面品管 3a第一部分：SPC技術(shù)概述3a1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念

可能出問題的地方 一定會(huì)出問題4a1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念4a不可能出問題的地方也可能出問題1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念5a不可能出問題的1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念5a品質(zhì)是“習(xí)慣”出來的1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念6a1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念6a不要認(rèn)為一個(gè)小小的缺點(diǎn)沒關(guān)系，反正不會(huì)影響使用1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念7a1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念7a不要認(rèn)為最便宜的原材料就會(huì)給企業(yè)帶來最低的成本1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念8a1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念8a不要認(rèn)為百分百全檢，品質(zhì)就一定很好了1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念9a1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念9a1.3SPC的定義及歷程

SPC：StatisticalProcessControl 統(tǒng)計(jì)制程控制/統(tǒng)計(jì)過程管制

利用統(tǒng)計(jì)學(xué)的原理對(duì)制造業(yè)制程中的品質(zhì)進(jìn)行管制，以達(dá)到第一次就把品質(zhì)做好。（在有大量數(shù)據(jù)產(chǎn)生的地方都可利用）10a1.3SPC的定義及歷程10aQC統(tǒng)計(jì)方法的工作程序整理觀察判斷組織協(xié)調(diào)

歸納分析專業(yè)技術(shù)收集數(shù)據(jù)數(shù)、表圖形特征值統(tǒng)計(jì)規(guī)律主要問題提高質(zhì)量11a收數(shù)、表統(tǒng)主提11a2. 變異的特殊原因與一般原因◆變異:

沒有兩件產(chǎn)品/特性是完全相同的，任何過程都存在許多引起變因的原因，產(chǎn)品間的差異及產(chǎn)品與標(biāo)準(zhǔn)間的差距總是存在的，這種差異叫變異?！糇儺惍a(chǎn)生的原因：普通原因和特殊原因普通原因：（共同原因/非機(jī)遇性原因CommonCause)制程中變異因素是在統(tǒng)計(jì)的管制狀態(tài)下，其產(chǎn)品特性有固定的分布。特殊原因：（機(jī)遇性原因SpecialCause)制程中變異因素不在統(tǒng)計(jì)的管制狀態(tài)下，其產(chǎn)品特性沒有固定的分布。

12a2. 變異的特殊原因與一般原因12a普通原因變異的曲線圖：預(yù)測范圍時(shí)間目標(biāo)值線特殊原因變異的曲線圖：預(yù)測范圍時(shí)間目標(biāo)值線13a普通原因變異的曲線圖：預(yù)測范圍時(shí)間目標(biāo)值線特殊原因變異的曲線◆過程控制的概念:

a.首先當(dāng)出現(xiàn)變差的特殊原因時(shí)提供統(tǒng)計(jì)信號(hào)，從而對(duì)這些特殊原因采取適當(dāng)?shù)拇胧?或是消除或是保留)；b.通過對(duì)系統(tǒng)采取措施從而減少變差的普通原因；提高過程能力，使產(chǎn)品符合規(guī)范。14a◆過程控制的概念: 14a3.SPC的作用與實(shí)質(zhì)：就是利用統(tǒng)計(jì)的工具，識(shí)別企業(yè)生產(chǎn)過程中的變差，從而消除機(jī)遇性變差（特殊原因引起），采取系統(tǒng)的管理措施消除變差的普通原因來改進(jìn)過程的能力。15a3.SPC的作用與實(shí)質(zhì)：15a第二部分：SPC相關(guān)統(tǒng)計(jì)學(xué)原理與概念

1.數(shù)據(jù)的種類：a.計(jì)量值型數(shù)據(jù)：尺寸、重量、化學(xué)成份、電壓等以物理單位表示，具有連續(xù)性的數(shù)據(jù)。連續(xù)型隨機(jī)變量b.計(jì)數(shù)值型數(shù)據(jù)：以特性分類、計(jì)算具有相同特性的個(gè)數(shù)，是為間斷性數(shù)據(jù)。離散型隨機(jī)變量是以計(jì)產(chǎn)品的件數(shù)或點(diǎn)數(shù)的表示方法。16a第二部分：SPC相關(guān)統(tǒng)計(jì)學(xué)原理與概念 16a2.分布及正態(tài)分布：a.分布：各事件所產(chǎn)生的頻次會(huì)趨近于一個(gè)客觀機(jī)率，只要有足夠多的測量值，則測量值會(huì)趨向于一個(gè)可預(yù)測的狀態(tài)，這種狀態(tài)就叫分布。b.正態(tài)分布:以數(shù)學(xué)公式訂定，其分布與平均值呈絕對(duì)的對(duì)稱且具有常見的鐘型，是實(shí)踐中最常見的一種分布，如產(chǎn)品的長度、寬度、重量、高度、測量的誤差等都近似服從正態(tài)分布。17a2.分布及正態(tài)分布：17a2.14%0.13%2.14%0.13%13.6%13.6%34.13%34.13%2σ1σX3σ1σ3σ2σ正態(tài)分布圖18a2.14%0.13%2.14%0.13%13.6%13.6%c.中央極限定理：不論母群體是否正態(tài)分布，但在其中抽取n個(gè)樣品的平均數(shù)而組成的群體，則此群體非常接近正態(tài)分布。d.正態(tài)分布的判定：如果某一個(gè)量的變化受到許多隨機(jī)因素的影響，這種影響的總后果是各個(gè)因素的疊加，而且這些因素中沒有任何一個(gè)起主導(dǎo)作用，那么這個(gè)量就是一個(gè)服從正態(tài)分布的隨機(jī)變量。2.分布及正態(tài)分布：19ac.中央極限定理：2.分布及正態(tài)分布：19a

3.SPC的基本概念：1).均值（數(shù)學(xué)期望）：平均值 離散型變量均值： 連續(xù)型變量均值：2).方差:3).標(biāo)準(zhǔn)差：4).全距：20a3.SPC的基本概念：20a5).中位數(shù):M6).眾數(shù)： M07).不良率： P

8).不良數(shù)： NP9).缺點(diǎn)數(shù)： C

10).單位缺點(diǎn)(缺點(diǎn)率)： U11).百萬分之不良： PPM 3.SPC的基本概念：21a5).中位數(shù):M3.SPC的基本概念：21a12).管制上限(控制上限): UCL13).管制中心線(控制中心線)： CL14).管制下線(控制下限)： LCL

15).規(guī)格上限： USL16).規(guī)格中心線： SL

17).規(guī)格下限： LSL18).偏移度： Ca3.SPC的基本概念：22a12).管制上限(控制上限): UCL3.SPC的基本概念19).制程能力指數(shù):Cp表示制程特性的一致性程度。越大越集中，越小越分散。20)制程能力指數(shù)（Cpk）：直接反映制程能力，值越大越好。通?？蛻舳家驝pk在1.33以上。

3.SPC的基本概念：23a19).制程能力指數(shù):Cp3.SPC的基本概念4.SPC列管對(duì)象：1）品質(zhì)特性：影響產(chǎn)品規(guī)格的因素（生產(chǎn)條件）、產(chǎn)品屬性分類、產(chǎn)品規(guī)格。2）制程角度：不合格率最高、成本最高、安規(guī)問題。3）檢驗(yàn)角度：破壞性產(chǎn)品、無法于后工程檢驗(yàn)、檢驗(yàn)成本很高。24a4.SPC列管對(duì)象：24a第三部分：管制圖的原理、制作及圖形分析 X-R 平均數(shù)全距 不良率管制圖 P-chart計(jì)量：X-б 平均值標(biāo)準(zhǔn)差 計(jì)數(shù)值：不良數(shù)管制圖 NP-chartX-Rm 個(gè)別值移動(dòng)全距 缺點(diǎn)數(shù) C-chartMo-R 中位值、全距管制圖 單位缺點(diǎn)數(shù) U-chart(一）Xbar-R平均數(shù)全距管制圖1.簡介：是SPC計(jì)量值部份最重要、最常用的管制圖之一。可以使我們很好地了解制程品質(zhì)的進(jìn)展?fàn)顟B(tài)（發(fā)展趨勢）。分為：1）解析管制圖：根據(jù)實(shí)際量測出來的數(shù)據(jù)，經(jīng)過計(jì)算出管制圖上下限之后畫出。

用途：主要用來對(duì)產(chǎn)品初期品質(zhì)進(jìn)行測定和監(jiān)控，以了解在現(xiàn)有環(huán)境中品質(zhì)的制程能力。2）制程管制圖：根據(jù)之前的歷史數(shù)據(jù)，也可以根據(jù)經(jīng)驗(yàn)或相似的各項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)，并以此為依據(jù)作為今后管制圖的管制界限。 以之前較好或標(biāo)準(zhǔn)的管制界限來衡量近期的品質(zhì)狀況。25a第三部分：管制圖的原理、制作及圖形分析25a2.圖形制作：1）數(shù)據(jù)收集：確定子組大小、頻率、小組數(shù)的大小a.子組大小：選擇子組應(yīng)使得一個(gè)子組內(nèi)各樣本之間的出現(xiàn)變差的機(jī)會(huì)小。b.應(yīng)注意：子組樣本的容量應(yīng)穩(wěn)定。c.頻率：子組間的時(shí)間間隔。d.子組數(shù)的大?。喊?00個(gè)或更多單值讀數(shù)的25個(gè)或更多子組的數(shù)據(jù)26a2.圖形制作：26a2）將數(shù)據(jù)列表，并計(jì)算各組數(shù)據(jù)的平均數(shù)及全距 Xi= Ri=每組中最大-每組中最小值

3）計(jì)算出平均數(shù)和全距的中心線與管制上下線： XCL= RCL=每組量測數(shù)值總和每組樣本數(shù)X1+X2+…+XKR1+R2+…+RtK2.圖形制作：27a2）將數(shù)據(jù)列表，并計(jì)算各組數(shù)據(jù)的平均數(shù)及全距每組量測數(shù)值總和管制上下限有兩種算法:第一種:計(jì)算法:(嚴(yán)格按照管制圖的原理來做)a計(jì)算出標(biāo)準(zhǔn)差: b.計(jì)算管制上、下限Xб= XUCL=XCL+3Xб XLCL=XCL-3Xб Rб= RUCL=RCL+3Rб RLCL=RCL-3Rб第二種:查表法: XUCL= XLCL= RUCL= RLCL= <案例1>28a管制上下限有兩種算法:28a<案例1>29a<案例1>29a30a30a4）制作圖形：

圖形分四個(gè)部分： 一個(gè)品質(zhì)記錄說明區(qū)； 一個(gè)品質(zhì)指標(biāo)說明區(qū)； 一個(gè)平均數(shù)管制圖區(qū)； 一個(gè)全距管制圖區(qū)。 <案例1圖> 31a4）制作圖形：31a32a32aX-R圖制作步驟及注意事項(xiàng)總結(jié)：

1、確定控制對(duì)象。2、取預(yù)備數(shù)據(jù)。3、計(jì)算Xbar、Ri。4、計(jì)算中心線。5、計(jì)算R圖控制線并作圖。6、將預(yù)備數(shù)據(jù)并繪在R圖中，并對(duì)狀態(tài)進(jìn)行判斷。7、計(jì)算X圖控制線并作圖。8、計(jì)算過程能力指數(shù)并檢驗(yàn)其是否滿足技術(shù)要求。9、進(jìn)行日常管理。

33aX-R圖制作步驟及注意事項(xiàng)總結(jié)：33a課堂實(shí)兵演練

34a課堂實(shí)兵演練34a3.圖形分析：

※1）注意規(guī)格界限與管制界限之間的比較。

可分三種狀態(tài)：包含關(guān)系交叉關(guān)系不相干

2）超出管制界限

35a3.圖形分析：35a3）連續(xù)幾點(diǎn)上升或下降可認(rèn)定是有某種趨勢，表明是一種系統(tǒng)原因在推動(dòng)這種趨勢，4）連續(xù)幾點(diǎn)在管制線上方或下方一般設(shè)定3點(diǎn)或5點(diǎn)以上，但有時(shí)候由于產(chǎn)品的特性可能有周期性，可設(shè)定更多點(diǎn)。

3.圖形分析：36a3）連續(xù)幾點(diǎn)上升或下降3.圖形分析：36a5）連續(xù)幾點(diǎn)一升一降

一般為5點(diǎn)或7點(diǎn)，但有時(shí)候由于產(chǎn)品的特性可能有周期性，可設(shè)定更多點(diǎn)。此種狀態(tài)分兩種：一是越變?cè)酱?；二是越變?cè)缴佟?）連續(xù)幾點(diǎn)在3倍的標(biāo)準(zhǔn)差以外一般為3點(diǎn)，但有時(shí)候也要注意當(dāng)品質(zhì)非常好而考慮成本放松的變化，建議點(diǎn)數(shù)不要設(shè)定更大。3.圖形分析：37a5）連續(xù)幾點(diǎn)一升一降3.圖形分析：37a7）連續(xù)幾點(diǎn)中有幾點(diǎn)在2倍標(biāo)準(zhǔn)差以外一般初始為連續(xù)7點(diǎn)中有3點(diǎn)在2倍標(biāo)準(zhǔn)差以外，但有時(shí)候也可根據(jù)產(chǎn)品特性可能有周性而設(shè)更多點(diǎn)，如連續(xù)9點(diǎn)中有4點(diǎn)在2倍標(biāo)準(zhǔn)差以外。此種狀況反應(yīng)出制程能力開始下降，一般屬于系統(tǒng)問題，但暫時(shí)還不算嚴(yán)重，要多多注意監(jiān)控，3.圖形分析：38a7）連續(xù)幾點(diǎn)中有幾點(diǎn)在2倍標(biāo)準(zhǔn)差以外3.圖形分析：38a8）連續(xù)幾點(diǎn)中有幾點(diǎn)在1倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi)一般為連5點(diǎn)中有3點(diǎn)在1倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi)，但有時(shí)候也可根據(jù)產(chǎn)品特性可能有周期性而設(shè)更多點(diǎn)。此種狀況反應(yīng)品質(zhì)朝較好方向發(fā)展，所以只要注意監(jiān)控，并把相關(guān)重要參數(shù)記錄下來，以利于做標(biāo)準(zhǔn)化。9）連續(xù)幾點(diǎn)在中心線兩側(cè)，但未在1倍標(biāo)準(zhǔn)差之內(nèi)一般為連續(xù)5點(diǎn)在中心線兩側(cè)，但未在1倍標(biāo)準(zhǔn)差之內(nèi)，但有時(shí)候也可根據(jù)產(chǎn)品特性可能有周性而設(shè)更多點(diǎn)。此種狀況反應(yīng)品質(zhì)可能雖然穩(wěn)定，但能力不夠或整體向上或下移動(dòng)少許，多屬系統(tǒng)原因，應(yīng)加強(qiáng)系統(tǒng)改善。3.圖形分析：39a8）連續(xù)幾點(diǎn)中有幾點(diǎn)在1倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi)3.圖形分析：39a圖形分析還應(yīng)注意：1）平均數(shù)管制圖看是否偏離方向，全距管制圖看穩(wěn)定程度。所以平均數(shù)管制圖是波動(dòng)越小越好，全距管制圖是越往下越好，表示每組數(shù)據(jù)中變異越少。2）當(dāng)平均數(shù)管制圖有連續(xù)3點(diǎn)上升或下降，而R圖沒有較大波動(dòng)時(shí)，則表示制程中有某個(gè)因素正在慢慢朝某個(gè)方向發(fā)生變化。3）當(dāng)平均數(shù)管制圖沒有較大幅度變化，而全距管制圖有出現(xiàn)連續(xù)3點(diǎn)上升，則表示機(jī)臺(tái)有較大松動(dòng)。4)所有圖形分析，都需要同以前在相同條件下做比較分析，并盡可能尋找可能的周期性變化趨勢，同時(shí)去驗(yàn)證一到兩次。40a圖形分析還應(yīng)注意：40a統(tǒng)計(jì)過程診斷（SPD）StatisticalProcessDiagnosisSPD診斷案例41a統(tǒng)計(jì)過程診斷（SPD）41a

（二）Xbar-σ平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差管制圖1.意義：當(dāng)每組樣本數(shù)較大(n>10)時(shí)，全距R容易受個(gè)別值影響較大，而標(biāo)準(zhǔn)差相對(duì)較小，所以σ成為過程變異性更有效的指標(biāo)，此時(shí)一般用Xbar-S(σ)代替Xbar-R.。2.制圖的區(qū)別之處：①計(jì)算每組數(shù)據(jù)的Xbar及σ（s）：②計(jì)算管制中心線：③計(jì)算管制上、下限 管制圖標(biāo)準(zhǔn)差： a.計(jì)算法： SUCL= SLCL= b.查表法： SUCL= SLCL=3.圖形分析:與Xbar-R基本相同42a（二）Xbar-σ平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差管制圖42aXbar—S管制圖檢驗(yàn)站別：PQC-1

頁次：1/1頁產(chǎn)品名稱：陶瓷電容產(chǎn)品編號(hào)：B4022-33管制特性：腳寬時(shí)間：2001/10/1~2001/10/16樣本數(shù):5規(guī)格上限：10.5規(guī)格下限：9.5規(guī)格水準(zhǔn)：3

USLSLLSLXUCLXBARXLCLSUCLSBARSLCLCaCpCpkPPM

10.5109.510.119.9989.8910.1580.0490-0.0042.5392.5290組數(shù)123456789101112131415平均值10.00610.0089.9869.99210.00610.0789.99410.0449.929.94109.9810.0129.99610.002全距0.080.050.070.10.110.10.1980.070.20.10.20.40.030.050.02標(biāo)準(zhǔn)差0.0340.0190.0330.040.0420.0390.0710.0290.0840.0550.10.1480.0130.0210.00843a檢驗(yàn)站別：PQC-1

（三）中位數(shù)全距管制圖（M-R）1意義： 優(yōu)點(diǎn)：可產(chǎn)生與Xbar-R圖相同的作用（結(jié)論），中位數(shù)易于使用，并不要求很多計(jì)算，使車間工人易于接受控制圖方法。

缺點(diǎn)：中位數(shù)在統(tǒng)計(jì)意義上沒有均值理想。2圖形制作：①中位數(shù)的算法：先將數(shù)據(jù)按大小順序排列，再取中間的一個(gè)數(shù)據(jù)。②計(jì)算管制中心線及管制上、下限 中心線：直按取各組中位數(shù)的平均值Xm=Xmcl= 中位數(shù)管制圖標(biāo)準(zhǔn)差：Xmσ= XmUCL=XmCL+3Xmσ XmLCL=XmCL-3Xmσ 3圖形分析：同Xbar-R 44a（三）中位數(shù)全距管制圖（M-R）44a案例45a案例45aXm-R中位數(shù)全距管制圖檢驗(yàn)站別：PQC-1

頁次：1/1頁產(chǎn)品名稱：陶瓷電容產(chǎn)品編號(hào)：B40211-33管制特性：腳寬時(shí)間：2001/10/1~2001/10/16樣本數(shù):5規(guī)格上限：10.5規(guī)格下限：9.5規(guī)格水準(zhǔn)：3

USLSLLSLXmUCLXmBARXmLCLSUCLSBARSLCLCaCpCpkPPM

10.5109.510.0739.9939.9130.4010.1190-0.0042.5392.5290組數(shù)123456789101112131415是位數(shù)1010.019.98101010.061010.049.99.9101010.011010全距0.080.050.070.10.110.10.1980.070.20.10.20.40.030.050.02標(biāo)準(zhǔn)差0.0340.0190.0330.040.0420.0390.0710.0290.0840.0550.10.1480.0130.0210.00846a檢驗(yàn)站別：PQC-1

（四）X-Rm（個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖）1.意義：

以不分組的方式描點(diǎn)作管制圖，要求每次或每組的樣本數(shù)為1。在計(jì)量值中，當(dāng)每次取樣數(shù)為1時(shí)，不能用以上三種管制圖。使用場合： ①一次只能收集到一個(gè)樣本數(shù)據(jù)，如損耗率； ②制程的品質(zhì)極為均勻，不需要多取樣本，如液體濃度、PH值等； ③取得測定值既費(fèi)時(shí)成本又高，如復(fù)雜的化學(xué)分析及破壞性試驗(yàn)等。2.應(yīng)注意：

①X-Rm在檢查過程變化時(shí)不如Xbar-R圖敏感 ②X-Rm圖不能區(qū)分過程的零件間重復(fù)性，因此在很多情況下最好還是使用 常規(guī)的了組樣本容量較?。?-4）的Xbar-R圖。47a（四）X-Rm（個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖）47a3.圖形制作：①移動(dòng)全距的計(jì)算：Ri=|Xi-X（I-m）|；當(dāng)I-m〈1時(shí)，Ri=|SL-Xi| 移動(dòng)位置值m：指組距Ri要用當(dāng)前一個(gè)數(shù)據(jù)減去前面第n個(gè)位置的數(shù)據(jù)。通常是由產(chǎn)品的相關(guān)性來定的。 如果是前后點(diǎn)有相關(guān)性，則m=1； 如果是前后兩點(diǎn)間有相關(guān)性，則m=2。

②計(jì)算各中心線及管制上、下限 X= 個(gè)別值管制圖：XUCL= XCL= Rm= XLCL= 移動(dòng)全距管制圖： RmUCL= RmCL= RmLCL= 〈例5〉4.圖形分析：同Xbar-R分析方法。

48a3.圖形制作：48a案例49a案例49aX-Rm管制圖檢驗(yàn)站別：PQC-1

頁次：1/1頁產(chǎn)品名稱：211芯片產(chǎn)品編號(hào)：B34223-221管制特性：厚度分析時(shí)間：2001/11/1~2001/11/15樣本數(shù):1規(guī)格上限：3.1規(guī)格下限：2.9規(guī)格水準(zhǔn)：3

USLSLLSLXUCLXBARXLCLRmUCLRmBARRmLCLCaCpCpkPPM

3.132.93.1413.0122.8830.1230.04500.120.6380.62123054組數(shù)123456789101112131415X值2.953.043.012.973.073.053.093.083.013.063.022.982.962.972.92全距0.080.050.070.10.110.10.1980.070.20.10.20.40.030.050.02標(biāo)準(zhǔn)差0.050.090.030.040.100.020.040.010.070.050.040.060.020.010.0550a檢驗(yàn)站別：PQC-1

計(jì)數(shù)值型控制圖（五）P-chart不良率管制圖1.意義：利用管制圖的原理對(duì)產(chǎn)品不良率進(jìn)行管制，是SPC計(jì)數(shù)值型最常用最主要的分析圖之一。特點(diǎn)：①可以掌握某產(chǎn)品或類別或生產(chǎn)線等取樣母體的不良率狀況，了解本系統(tǒng)在正常情況下的不良狀況，有助于做成本分析；②對(duì)于突發(fā)事件（特殊原因）影響程度及時(shí)了解；③便于預(yù)測下一階段的不良率。51a計(jì)數(shù)值型控制圖51a一般應(yīng)用在如下場合：單個(gè)產(chǎn)品在某一工序的不良率 單個(gè)產(chǎn)品在某幾工序的不良率 多個(gè)產(chǎn)品在某同一工序的不良率 多個(gè)產(chǎn)品在某同幾工序的不良率 單個(gè)客戶某一產(chǎn)品的不良率 單個(gè)客戶部分產(chǎn)品的不良率 單個(gè)客戶全部產(chǎn)品的不良率 多個(gè)客戶同一產(chǎn)品的不良率 關(guān)鍵原料各供貨商所供產(chǎn)品的不良率關(guān)鍵原料部分供貨商所供產(chǎn)品的不良率52a一般應(yīng)用在如下場合：52a同一產(chǎn)品在不同部門或生產(chǎn)線的不良率同一部門或生產(chǎn)線生產(chǎn)不同產(chǎn)品的不良率不同班次所生產(chǎn)產(chǎn)品不良率某些班次所生產(chǎn)產(chǎn)品不良率不同檢驗(yàn)人員所檢驗(yàn)的不良率某些檢驗(yàn)人員所檢驗(yàn)的不良率不同時(shí)期限的不良率不同機(jī)臺(tái)的生產(chǎn)的不良率 等等一般應(yīng)用在如下場合：53a同一產(chǎn)品在不同部門或生產(chǎn)線的不良率一般應(yīng)用在如下場合：53a2.圖形制作：①計(jì)算管制中心線 CL=Pbar=不良數(shù)之和/檢驗(yàn)數(shù)之和 ②計(jì)算管制上、下線a.各組檢驗(yàn)數(shù)相同，有兩種算法： 第一種（原理法）： UCL= LCL= 第二種（經(jīng)驗(yàn)法）：注：當(dāng)LCL計(jì)算出來曾負(fù)數(shù)時(shí)，應(yīng)改為0。P-chart各組檢驗(yàn)數(shù)相同各組檢驗(yàn)數(shù)相差較大各組檢驗(yàn)數(shù)相差不大各組檢驗(yàn)數(shù)不同54aP-chart各組檢驗(yàn)數(shù)相同各組檢驗(yàn)數(shù)相差較大各組檢驗(yàn)數(shù)相差b.各組檢驗(yàn)數(shù)不同： 第一種：各組檢驗(yàn)數(shù)相差較大,最大檢驗(yàn)數(shù)與最小檢驗(yàn)數(shù)之間超過20% CL= UCLi= LCLi= 其中：UCLi、LCLi:表示對(duì)應(yīng)第I組數(shù)據(jù)的管制上、下限。 注：各點(diǎn)管制界限不一定相同。 第二種：各組檢驗(yàn)數(shù)相差較小，低于20%時(shí) UCL= LCL= 注：各點(diǎn)管制界限默認(rèn)近似相等?！蠢?〉2.圖形制作：55ab.各組檢驗(yàn)數(shù)不同：2.圖形制作：55a56a56a說明：當(dāng)檢驗(yàn)數(shù)認(rèn)為相同時(shí)57a說明：當(dāng)檢驗(yàn)數(shù)認(rèn)為相同時(shí)57a說明：當(dāng)檢驗(yàn)數(shù)認(rèn)為不同時(shí)P管制圖檢驗(yàn)站別：貼片產(chǎn)品編號(hào)：B4022-33

組數(shù)：9產(chǎn)品名稱：陶瓷電容時(shí)間：2001/5/1~2001/5/10樣本數(shù):5規(guī)格上限：10.5規(guī)格下限：9.5組數(shù)123456789

批量15000100001100010010001200010001000010000

檢驗(yàn)數(shù)315200315100100031580200200

不良數(shù)847047155

不良數(shù)％2.5422.2200.42.221.252.52.5

58a說明：當(dāng)檢驗(yàn)數(shù)認(rèn)為不同時(shí)檢驗(yàn)站別：貼片產(chǎn)品編號(hào)：B40223.圖形分析：1)當(dāng)點(diǎn)已跑出管制界限

除了后面7種狀況，如點(diǎn)已跑出管制界限，一般是指有特殊原因?qū)е虏涣汲霈F(xiàn)較大的變化。2）連續(xù)幾點(diǎn)在中心線上方或下方

這表明制程有偏移發(fā)生，如往上偏移，則表明不良率升高，如往下偏移則表明不良率下降。

59a3.圖形分析：59a3）連續(xù)幾點(diǎn)上升或下降這表明制程有一種趨勢發(fā)生，分向上和向下兩種。向上則表明不良率升高，向下則表明不良率下降。4）連續(xù)幾點(diǎn)互著一升一降也表明是一種趨勢，分為變化幅度變大、變小、不變。幅度變大，則表明制程越來越不穩(wěn)定；幅度變小，則表明制程越來越穩(wěn)定；不變則表明制程已經(jīng)是穩(wěn)定的，但要注意是否較大、是否全體都在可接受范圍內(nèi)，如否，則請(qǐng)采用系統(tǒng)問題的處理方式盡快處理。

3.圖形分析：60a3）連續(xù)幾點(diǎn)上升或下降3.圖形分析：60a5）連續(xù)幾點(diǎn)在3倍標(biāo)準(zhǔn)差以外 出現(xiàn)此狀況的原因一般為： a.剛剛采取過措施； b.制程某個(gè)參數(shù)發(fā)生突變； c.發(fā)生特殊問題，而未采取措施或沒有監(jiān)控；此狀況分為三種形式：①連續(xù)3點(diǎn)在管制界限上方。②連續(xù)3點(diǎn)在管制界限下方。③連續(xù)3點(diǎn)在管制界限外，但不在同一側(cè)。3.圖形分析：61a5）連續(xù)幾點(diǎn)在3倍標(biāo)準(zhǔn)差以外3.圖形分析：61a6）連續(xù)幾點(diǎn)中有幾點(diǎn)在2倍標(biāo)準(zhǔn)差以外

此狀況一般是用來表明一個(gè)狀態(tài)，一般表明制程不是很好，如有此狀況，則表明制程本身不是很好，要注意監(jiān)控，一般為系統(tǒng)原因。7）連續(xù)幾點(diǎn)中有幾點(diǎn)在中心線兩側(cè)之1倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi)

此狀況也是用來表明一個(gè)狀態(tài)，出現(xiàn)此狀況是一件好事，表明制程相對(duì)較穩(wěn)定，如成本不是很高或不能接受，可以繼續(xù)保持。8）連續(xù)幾點(diǎn)在中心線兩側(cè)，但未在一倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi)

此狀況也是用來表明一狀態(tài)，表明制程不算很好，有一定的差異。3.圖形分析：62a6）連續(xù)幾點(diǎn)中有幾點(diǎn)在2倍標(biāo)準(zhǔn)差以外3.圖形分析：62a（六）NP-chart不良數(shù)管制圖1.意義：表示不合格品的實(shí)際數(shù)量而不是與樣本的比率。是對(duì)不良率管制圖的一個(gè)補(bǔ)充。應(yīng)用要求為檢驗(yàn)數(shù)相同。一般應(yīng)用在以下幾種狀況下： ①在自動(dòng)化程度較高，人為因素相對(duì)較少，對(duì)不良分析是以計(jì)數(shù)為主； ②當(dāng)不良率相對(duì)較低時(shí)，用PPM不良率分析又較難時(shí)； ③各批檢驗(yàn)數(shù)相同，也可用不良數(shù)管制圖。2.圖形制作： ①計(jì)算平均不良數(shù)（管制中心線） np=CL= ②計(jì)算控制限 UCL= LCL= 注:用管制圖原理計(jì)算也可以3.圖形分析：完全類似P-chart，可以直接參照?！蠢?〉

各組不良數(shù)之和組數(shù)63a（六）NP-chart不良數(shù)管制圖各組不良數(shù)之和63a64a64a（七）U-chart單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖1.意義：是對(duì)P-chart的一種補(bǔ)充，是制造部門考核的一個(gè)較好工具。 注：同P-chart一樣，不需要檢驗(yàn)數(shù)相同。2.圖形制作： ①將收集的缺點(diǎn)數(shù)換算成單位缺點(diǎn)數(shù)： Ui=Ci/Ni 其中: Ui表示第i組數(shù)據(jù)單位缺點(diǎn)數(shù) Ci表示第I組數(shù)據(jù)缺點(diǎn)數(shù) Ni表示第I組數(shù)據(jù)檢驗(yàn)數(shù) ②計(jì)算管制中心線和上下限: Ubar=CL= UCL= LCL=3.圖形分析：同P-chart 〈例8〉 65a（七）U-chart單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖65a66a66a（八）缺點(diǎn)數(shù)管制圖(C-chart)1.意義：用來管制相對(duì)缺點(diǎn)數(shù)的變化狀況,是對(duì)U-chart的一種補(bǔ)充,它們的關(guān)系如同P-chart和NP-chart

注意:C-chart同不良數(shù)管制圖一樣,也要求檢驗(yàn)數(shù)相同才有意義。2.圖形制作： CL=Cbar= UCL= LCL=3.圖形分析：參照P圖，只不過分析的內(nèi)容是缺點(diǎn)數(shù)，而不是不良率?！蠢?〉 67a（八）缺點(diǎn)數(shù)管制圖(C-chart)67a68a68a（九）柏拉圖：1.意義：是SPC中非常重要的一種圖形，主要用來分析各種不良原因或缺點(diǎn)項(xiàng)目的重點(diǎn)部份，以便抓住在品質(zhì)方面要注意和改善的重點(diǎn)。2.使用場合：①全廠所有缺點(diǎn)；②某個(gè)或某幾個(gè)部門、生產(chǎn)線、機(jī)臺(tái)、人員等的所有缺點(diǎn)；③某個(gè)或某幾個(gè)產(chǎn)品的所有缺點(diǎn)；④某個(gè)或某幾個(gè)客戶所要之產(chǎn)品的所有缺點(diǎn)。69a（九）柏拉圖：69a3.用途：1）作為降低不良之依據(jù)；2）決定改善品質(zhì)的工作目標(biāo)3）確認(rèn)改善效果（改善前后之比較）4）應(yīng)用發(fā)掘現(xiàn)場的重要問題點(diǎn)5）確認(rèn)或調(diào)整特性要因圖6）用于整理報(bào)告或記錄70a3.用途：70a4.圖形制作：①將數(shù)據(jù)進(jìn)行分類；②把分類好的數(shù)據(jù)進(jìn)行匯總，由多到少進(jìn)行排序，并計(jì)算出類別所占百分比；③計(jì)算出各類之總和；④以總數(shù)和為左縱軸，以總數(shù)的十分之一為一單位格，各個(gè)類別為橫軸，以每一類別為一單位格，以100%的比例來做右邊的縱軸，之間幅度為10%為一單位格，在80%處畫一條橫虛線；⑤在橫軸上，按多到少的順序進(jìn)行每一單位格填寫，再根據(jù)每一類別的數(shù)量在畫出相應(yīng)高度的方格，最后從左邊第一方格右上角描第一點(diǎn)，第二方格右邊上面的第一點(diǎn)高度加本方格高度處描第二點(diǎn)，第三方格右邊上面的第二點(diǎn)高度加本方格高度處描第三點(diǎn)，以此類推，描到最后一點(diǎn)的100%處?！蠢?0〉 某電子廠在來料檢驗(yàn)中有如下數(shù)據(jù)71a4.圖形制作：71a72a72a73a73a第三步：以總數(shù)和為左縱軸，以總數(shù)的十分之一為一單位格，各個(gè)類別為橫軸，以每一類別為一單位格，以100%的比例來做右邊的縱軸，之間幅度為10%一單位格，在80%之處畫一條橫虛線。

74a第三步：以總數(shù)和為左縱軸，以總數(shù)的十分之一為一單位格，各個(gè)類第四步：在橫軸上，按多到少的順序進(jìn)行每一單位進(jìn)行填寫，再根據(jù)每一類別的數(shù)量在畫出相應(yīng)高度的方格，最后從左邊第一方格右上角描第一點(diǎn)，第二方格右邊上面的第一點(diǎn)高度加本方格高度處描第二點(diǎn)，第三方格右邊上面的第二高點(diǎn)高度加本方格高度處描第三點(diǎn)，以此類推，描到最后一點(diǎn)的100%處。75a第四步：在橫軸上，按多到少的順序進(jìn)行每一單位進(jìn)行填寫，再根據(jù)c.因果圖又叫魚刺圖，用來羅列問題的原因，并將眾多的原因分類、分層的圖形

XXXXY=f(x)

Y76ac.因果圖又叫魚刺圖，用來羅列問題的原因，Y76案例：某車間生產(chǎn)效率一直偏低，連續(xù)三個(gè)月均在定額指標(biāo)65%—75%之間。步驟一：特性為“生產(chǎn)效率低落”步驟二：找出大方向原因從5M1E方向著手。

生產(chǎn)效率低環(huán)境管理人員方法材料機(jī)器生產(chǎn)效率低77a案例：某車間生產(chǎn)效率一直偏低，連續(xù)三個(gè)月均在定額指標(biāo)65%—步驟三：找出形成大原因之小原因。環(huán)境管理人員溫度濕度薪資制度污染考核制度管理人員缺乏訓(xùn)練不足生手多變換多士氣不良高維修多場所亂沒有標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)常中斷工具不良多廠家多不足故障高方法材料機(jī)器品質(zhì)生產(chǎn)效率低開機(jī)率低78a步驟三：環(huán)境管理人員溫度濕度薪資制度污步驟四：找出主要原因，并把它圈起來。環(huán)境管理人員溫度濕度薪資制度污染考核制度管理人員缺乏訓(xùn)練不足生手多變換多士氣不良高維修多場所亂沒有標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)常中斷工具不良多廠家多不足故障高方法材料機(jī)器品質(zhì)生產(chǎn)效率低開機(jī)率低79a步驟四：環(huán)境管理人員溫度濕度薪資制度污染步驟五：主要原因進(jìn)行再分析。步驟六：依據(jù)提出之原因擬訂改善計(jì)劃，逐項(xiàng)進(jìn)行，直至取得成果。d.帕累托圖與腦力風(fēng)暴與魚刺圖之并聯(lián)缺乏訓(xùn)練計(jì)劃缺乏教導(dǎo)人員缺乏時(shí)間缺乏場所缺乏教材缺乏訓(xùn)練80a步驟五：缺乏訓(xùn)練計(jì)劃缺乏教導(dǎo)人員缺乏時(shí)間缺乏場所缺乏教材缺乏互動(dòng)教學(xué)方案Ⅰ

針對(duì)車間存在的各類質(zhì)量問題運(yùn)用帕累托圖+腦力風(fēng)暴+魚刺圖對(duì)車間存在的主要質(zhì)量問題進(jìn)行分析找主要原因并訂出改善計(jì)劃。81a互動(dòng)教學(xué)方案Ⅰ第四部分：制程能力分析（一）、制程能力指數(shù)（CPK）分析：主要就是利用CPK推移圖來了解某項(xiàng)產(chǎn)品的某一重要管制特性在一段時(shí)間內(nèi)的宏觀品質(zhì)變化狀態(tài)。CPK推移圖需要設(shè)定一CPK目標(biāo)值。1.CPK目標(biāo)值的設(shè)定:一般設(shè)定為1.33或1.54(6.9PPM)。也可根據(jù)實(shí)際情況，比如現(xiàn)品質(zhì)比較差在0.7左右。希望達(dá)到1.0(2700PPM)，就可設(shè)立目標(biāo)值為1.0。2.計(jì)算CPK值: 雙邊規(guī)格：CPK=（1-Ca）*Cp值越大表示制程能力越強(qiáng) 單邊規(guī)格：CPK=Cp82a第四部分：制程能力分析82a補(bǔ)充：

①Ca：準(zhǔn)確度，表示制程特性中心位置的偏移程度，值等于零表示不偏移，值越大表示偏移越大。 Ca=②Cp：精密度，表示制程特性的一致性程度，越大越集中。 Cp=3.CPK推移圖的描點(diǎn)制作4.〈例11〉83a補(bǔ)充：83a把上例的數(shù)據(jù)以每天為一點(diǎn)做出如下的圖形：84a把上例的數(shù)據(jù)以每天為一點(diǎn)做出如下的圖形：84a如以每周為一點(diǎn)，就只有3點(diǎn)，如下圖85a如以每周為一點(diǎn)，就只有3點(diǎn)，如下圖85a5.圖形分析:

主要是看每一個(gè)點(diǎn)與目標(biāo)值的比較狀況，和在這段時(shí)間內(nèi)品質(zhì)變化幅度的大小，以利于做品質(zhì)工作的總結(jié)。如某產(chǎn)品在連續(xù)生產(chǎn)的情況下，某項(xiàng)管制特性在連續(xù)2-3個(gè)月時(shí)間內(nèi)都達(dá)到或超過目標(biāo)值，建議則提升品質(zhì)目標(biāo)值；如在連續(xù)2-3個(gè)月內(nèi)CPK值達(dá)到2.0以上，可聯(lián)合品管、制造、工程開會(huì)討論是否可減少該項(xiàng)管制特性的檢驗(yàn)。（二）、制程能力指數(shù)與不良率的對(duì)應(yīng)關(guān)系86a5.圖形分析:86a87a87a第五部分：SPC之應(yīng)用一、如何選擇SPC控制圖：

確定要制定控制圖的特性使用單值圖X-MR是計(jì)量型數(shù)據(jù)嗎？性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣一例如：化學(xué)槽液批量油漆等？關(guān)心的是不合格品率—即“壞”零件的百分比嗎？關(guān)心的是不合格數(shù)即單位零件不合格數(shù)嗎？樣本容量是否恒定？樣本容量是否恒定？使用p圖使用u圖使用np或p圖使用c或u圖子組均值是否能很方便地計(jì)算？是不能方便地計(jì)算每個(gè)子組的S值？子組容量是否大于或等于9？使用中位數(shù)圖使用X-R圖使用X-R圖使用X-S圖是是是是是是是是是否否否否否否否否注：本圖假設(shè)測量系統(tǒng)已經(jīng)過評(píng)價(jià)并且是適用的88a第五部分：SPC之應(yīng)用確定要制定控制圖的特性使用單值圖X-M二.SPC運(yùn)作流程繼續(xù)生產(chǎn)描點(diǎn)繪圖該批生產(chǎn)完成入庫QE、生產(chǎn)主管、工程師分析QC抽樣檢驗(yàn)產(chǎn)品，并記錄數(shù)據(jù)QE分析品質(zhì)狀態(tài)圖及指標(biāo)繼續(xù)嚴(yán)密監(jiān)控并提醒生產(chǎn)部門管制圖異常該批第一組否連續(xù)5~10組否狀態(tài)圖異常否該批完成否是否超出要求檢看原始數(shù)據(jù)問題嚴(yán)重否通知產(chǎn)品工程師和生產(chǎn)部停止生產(chǎn)調(diào)整或整頓緊急研究對(duì)策及方案如有可能，填寫制程標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)記錄表是是是是是是否否否否否否否是89a二.SPC運(yùn)作流程繼續(xù)生產(chǎn)描點(diǎn)繪圖該批生產(chǎn)完成入庫QE、三、SPC運(yùn)作相關(guān)人員權(quán)責(zé)：90a三、SPC運(yùn)作相關(guān)人員權(quán)責(zé)：90a91a91a92a92a四、SPC通常失敗的原因分析：

1.分工不合理，沒有專門人員負(fù)責(zé)此事，或負(fù)責(zé)人員身兼多職，對(duì)此事意 識(shí)不強(qiáng)，時(shí)間一長便逐步放棄。 2.對(duì)此重視不夠，多半只是為了應(yīng)付客戶或應(yīng)付報(bào)表。 3.導(dǎo)入時(shí)未讓工程和生產(chǎn)一起參與，得不到相關(guān)人員配合，達(dá)不到效果。 4.抽樣計(jì)劃未制定好，導(dǎo)致抽樣出來的數(shù)據(jù)不能反映真實(shí)狀況。 5.相關(guān)人員不會(huì)分析，做出的圖形只是一種擺設(shè)。 6.相關(guān)人員對(duì)SPC誤解，得不到配合。93a四、SPC通常失敗的原因分析：93a五、SPC運(yùn)作成功需注意的事項(xiàng)：

1.高層管理者的大力支持 ①在SPC推行初期。 ②在SPC運(yùn)作運(yùn)程中。 ③SPC正常運(yùn)作后。2.中層干部有能力分析各種SPC圖形，要有良好地品質(zhì)觀念，并且應(yīng)及時(shí)分析。SPC展現(xiàn)品質(zhì)，這樣會(huì)使高層支持SPC，使其功能發(fā)揮出來。94a五、SPC運(yùn)作成功需注意的事項(xiàng)：94a3. 做一份詳盡、全面、系統(tǒng)的SPC規(guī)劃，內(nèi)容包括：使用內(nèi)容、人員權(quán)責(zé)、運(yùn)作流程、問題處置流程。4．?dāng)?shù)據(jù)收集要真實(shí)、適時(shí)。5．針對(duì)不同人員做相應(yīng)完整的培訓(xùn)，增強(qiáng)有關(guān)人員對(duì)SPC的認(rèn)識(shí)和圖形分析能力。6．應(yīng)用SPC定期檢討品質(zhì)問題。7．客人參觀或考察，要盡量讓SPC展現(xiàn)品質(zhì)，這樣會(huì)使高層支持SPC，使其功能發(fā)揮出來。8．QE人員一定要及時(shí)認(rèn)真分析各種圖形。五、SPC運(yùn)作成功需注意的事項(xiàng)：95a3. 做一份詳盡、全面、系統(tǒng)的SPC規(guī)劃，內(nèi)容包括：使用內(nèi)容六．SPC系統(tǒng)運(yùn)作之重點(diǎn)：1．相關(guān)人員的教育訓(xùn)練；2．全面的一個(gè)系統(tǒng)規(guī)劃；3．適時(shí)收集數(shù)據(jù)和監(jiān)控圖形；4．問題改善和形成標(biāo)準(zhǔn)。96a六．SPC系統(tǒng)運(yùn)作之重點(diǎn)：96a97a97a第六部分：測量系統(tǒng)分析1．測量系統(tǒng)的組成：1.1概念：以確定實(shí)體或系統(tǒng)的量值大小為目標(biāo)的一整套作業(yè)。1.2組成：操作者設(shè)備軟件被測事物操作程序測量環(huán)境賦值數(shù)據(jù)（測量結(jié)果）98a第六部分：測量系統(tǒng)分析數(shù)據(jù)98a2、表征數(shù)據(jù)質(zhì)量的指標(biāo)1.1、偏倚（bias）:基準(zhǔn)值偏倚99a2、表征數(shù)據(jù)質(zhì)量的指標(biāo)基準(zhǔn)值偏倚991.2.變差（Variation）:用標(biāo)準(zhǔn)差σ或過程偏差PV表示。0.990.005PV=5.15σ100a1.2.變差（Variation）:用標(biāo)準(zhǔn)差σ或過程偏差PV偏倚及變差示意圖101a偏倚及變差示意圖101a3、測量系統(tǒng)的基本要求：3.1.要有足夠的分辨力（discrimination）指測量系統(tǒng)檢出并如實(shí)指示被測特性中極小變化的能力?！白銐颉钡暮x：a、測量系統(tǒng)的波動(dòng)比制造過程的波動(dòng)小，最多為后者的1/10b、測量系統(tǒng)的波動(dòng)小于公差限，最多為公差限的1/10102a3、測量系統(tǒng)的基本要求：102a3.2.要在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)保持統(tǒng)計(jì)穩(wěn)定性a、評(píng)價(jià)測量系統(tǒng)是否保持穩(wěn)定性的方法：XBAR-R控制圖。b、在考察測量系統(tǒng)穩(wěn)定性時(shí)，還要明確：(1)測量系統(tǒng)的外部條件是什么？(2)一個(gè)測量系統(tǒng)的穩(wěn)定性能保持多久？103a3.2.要在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)保持統(tǒng)計(jì)穩(wěn)定性103a3、測量系統(tǒng)要有線性測量系統(tǒng)的線性：指在其量程范圍內(nèi)，偏倚應(yīng)是基準(zhǔn)值的線性函數(shù)線性度=斜率bX過程變差PV偏倚較小偏倚較大基準(zhǔn)值基準(zhǔn)值觀測平均值位于量程較低部位觀測平均值位于量程較高部位104a3、測量系統(tǒng)要有線性偏倚較小偏倚較大基準(zhǔn)值基準(zhǔn)值觀測平均值位4、測量系統(tǒng)的波動(dòng)4.1、重復(fù)性(1)概念：是一個(gè)或多個(gè)操作者，采用同一種量具，多次重復(fù)測量同一種零件的同一特性時(shí)所獲得的測量值的變差。記為EV。(2)測量系統(tǒng)重復(fù)性計(jì)算的步驟a.考察測量過程是否穩(wěn)定，即測量過程的波動(dòng)是否僅由偶然原因引起（使用R圖法）。b.計(jì)算測量系統(tǒng)的重復(fù)性：EV=5.15σe

σe=R/d2*其中d2*不同于SPC中使用的d2.d2*的值依賴于重復(fù)測量次數(shù)m和g（操作者人數(shù)X零件個(gè)數(shù)），查表可得。105a4、測量系統(tǒng)的波動(dòng)105a4.2.再現(xiàn)性：(1)、概念：由不同操作者采用相同量具，測量同一零件的同一特性所得測量的均值的變差，記為AV。(2)、再現(xiàn)性估計(jì)的步驟：a、假設(shè)現(xiàn)在有K名操作者，測量n個(gè)零件，要求每名操作者對(duì)每個(gè)零件重復(fù)測量m次。記第i名操作者的測量數(shù)據(jù)如下：操作者A操作者B再現(xiàn)性106a4.2.再現(xiàn)性：操作者A操作者B再現(xiàn)性106a記每個(gè)操作者nm個(gè)測量值總平均為X，這樣就得K個(gè)總平均：X(1),X(2),X(3)……X(K)b、計(jì)算極差Ro與操作者的標(biāo)準(zhǔn)差Ro=Xmax-Xminσo=Ro/d2*107a107aC：再現(xiàn)性AV=[(5.15σo)–(5.15σe)/nm]4.3.零件之間的變差：任意兩個(gè)零件之間的差異。記為PV。PV=5.15σp

σp=Rp/d2*

Rp=Xmax-Xmin

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1108aC：再現(xiàn)性AV=[(5.15σo)–(5.15σe)5、測量系統(tǒng)的R&R特征數(shù)：(1)、測量數(shù)據(jù)的總標(biāo)準(zhǔn)差σT

σT=∫σp+σo+σe(2)、測量數(shù)據(jù)的總變差TVTV=∫(PV)+(AV)+(EV)(3)、R&R特征數(shù)(AV)+(EV)稱為測量系統(tǒng)重復(fù)性和再現(xiàn)性的平方,記為（R&R）R&R=∫(AV)+(EV)=5.15∫σo+σe

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2109a5、測量系統(tǒng)的R&R特征數(shù)：22222226、利用R&R特征數(shù)評(píng)價(jià)測量系統(tǒng)的接收準(zhǔn)則(a)、當(dāng)％R&R<10％時(shí)，測量系統(tǒng)可以接受；

(b)、當(dāng)％R&R>30％時(shí)，測量系統(tǒng)不能使用；(c)％R&R在10％-30％之間時(shí)，為模糊區(qū)域。應(yīng)考慮重要性，成本等因素決定是否接受。7、測量系統(tǒng)的分析與調(diào)整(1)、偏倚較大時(shí)應(yīng)注意事項(xiàng)；

(2)、非線性時(shí)應(yīng)注意事項(xiàng)；(3)如果重復(fù)性比再現(xiàn)性大；(4)、如果再現(xiàn)性比重復(fù)性大。110a6、利用R&R特征數(shù)評(píng)價(jià)測量系統(tǒng)的接收準(zhǔn)則110aSPC應(yīng)用技術(shù)111a1a

課程大綱第一部分：SPC技術(shù)概述第二部分：SPC相關(guān)統(tǒng)計(jì)學(xué)原理與概念第三部分：管制圖的原理、制作及圖形分析第四部分：制程能力分析第五部分：SPC應(yīng)用實(shí)務(wù)第六部分：測量系統(tǒng)分析112a 課程大綱2a第一部分：SPC技術(shù)概述

1.1品質(zhì)觀念的發(fā)展史程：

◆操作員的品質(zhì)管制 ◆領(lǐng)班的品質(zhì)管制 ◆檢驗(yàn)員的品質(zhì)管制 ◆統(tǒng)計(jì)品質(zhì)管制 ◆全面品管 113a第一部分：SPC技術(shù)概述3a1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念

可能出問題的地方 一定會(huì)出問題114a1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念4a不可能出問題的地方也可能出問題1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念115a不可能出問題的1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念5a品質(zhì)是“習(xí)慣”出來的1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念116a1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念6a不要認(rèn)為一個(gè)小小的缺點(diǎn)沒關(guān)系，反正不會(huì)影響使用1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念117a1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念7a不要認(rèn)為最便宜的原材料就會(huì)給企業(yè)帶來最低的成本1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念118a1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念8a不要認(rèn)為百分百全檢，品質(zhì)就一定很好了1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念119a1.2有關(guān)品質(zhì)的幾個(gè)重要觀念9a1.3SPC的定義及歷程

SPC：StatisticalProcessControl 統(tǒng)計(jì)制程控制/統(tǒng)計(jì)過程管制

利用統(tǒng)計(jì)學(xué)的原理對(duì)制造業(yè)制程中的品質(zhì)進(jìn)行管制，以達(dá)到第一次就把品質(zhì)做好。（在有大量數(shù)據(jù)產(chǎn)生的地方都可利用）120a1.3SPC的定義及歷程10aQC統(tǒng)計(jì)方法的工作程序整理觀察判斷組織協(xié)調(diào)

歸納分析專業(yè)技術(shù)收集數(shù)據(jù)數(shù)、表圖形特征值統(tǒng)計(jì)規(guī)律主要問題提高質(zhì)量121a收數(shù)、表統(tǒng)主提11a2. 變異的特殊原因與一般原因◆變異:

沒有兩件產(chǎn)品/特性是完全相同的，任何過程都存在許多引起變因的原因，產(chǎn)品間的差異及產(chǎn)品與標(biāo)準(zhǔn)間的差距總是存在的，這種差異叫變異?！糇儺惍a(chǎn)生的原因：普通原因和特殊原因普通原因：（共同原因/非機(jī)遇性原因CommonCause)制程中變異因素是在統(tǒng)計(jì)的管制狀態(tài)下，其產(chǎn)品特性有固定的分布。特殊原因：（機(jī)遇性原因SpecialCause)制程中變異因素不在統(tǒng)計(jì)的管制狀態(tài)下，其產(chǎn)品特性沒有固定的分布。

122a2. 變異的特殊原因與一般原因12a普通原因變異的曲線圖：預(yù)測范圍時(shí)間目標(biāo)值線特殊原因變異的曲線圖：預(yù)測范圍時(shí)間目標(biāo)值線123a普通原因變異的曲線圖：預(yù)測范圍時(shí)間目標(biāo)值線特殊原因變異的曲線◆過程控制的概念:

a.首先當(dāng)出現(xiàn)變差的特殊原因時(shí)提供統(tǒng)計(jì)信號(hào)，從而對(duì)這些特殊原因采取適當(dāng)?shù)拇胧?或是消除或是保留)；b.通過對(duì)系統(tǒng)采取措施從而減少變差的普通原因；提高過程能力，使產(chǎn)品符合規(guī)范。124a◆過程控制的概念: 14a3.SPC的作用與實(shí)質(zhì)：就是利用統(tǒng)計(jì)的工具，識(shí)別企業(yè)生產(chǎn)過程中的變差，從而消除機(jī)遇性變差（特殊原因引起），采取系統(tǒng)的管理措施消除變差的普通原因來改進(jìn)過程的能力。125a3.SPC的作用與實(shí)質(zhì)：15a第二部分：SPC相關(guān)統(tǒng)計(jì)學(xué)原理與概念

1.數(shù)據(jù)的種類：a.計(jì)量值型數(shù)據(jù)：尺寸、重量、化學(xué)成份、電壓等以物理單位表示，具有連續(xù)性的數(shù)據(jù)。連續(xù)型隨機(jī)變量b.計(jì)數(shù)值型數(shù)據(jù)：以特性分類、計(jì)算具有相同特性的個(gè)數(shù)，是為間斷性數(shù)據(jù)。離散型隨機(jī)變量是以計(jì)產(chǎn)品的件數(shù)或點(diǎn)數(shù)的表示方法。126a第二部分：SPC相關(guān)統(tǒng)計(jì)學(xué)原理與概念 16a2.分布及正態(tài)分布：a.分布：各事件所產(chǎn)生的頻次會(huì)趨近于一個(gè)客觀機(jī)率，只要有足夠多的測量值，則測量值會(huì)趨向于一個(gè)可預(yù)測的狀態(tài)，這種狀態(tài)就叫分布。b.正態(tài)分布:以數(shù)學(xué)公式訂定，其分布與平均值呈絕對(duì)的對(duì)稱且具有常見的鐘型，是實(shí)踐中最常見的一種分布，如產(chǎn)品的長度、寬度、重量、高度、測量的誤差等都近似服從正態(tài)分布。127a2.分布及正態(tài)分布：17a2.14%0.13%2.14%0.13%13.6%13.6%34.13%34.13%2σ1σX3σ1σ3σ2σ正態(tài)分布圖128a2.14%0.13%2.14%0.13%13.6%13.6%c.中央極限定理：不論母群體是否正態(tài)分布，但在其中抽取n個(gè)樣品的平均數(shù)而組成的群體，則此群體非常接近正態(tài)分布。d.正態(tài)分布的判定：如果某一個(gè)量的變化受到許多隨機(jī)因素的影響，這種影響的總后果是各個(gè)因素的疊加，而且這些因素中沒有任何一個(gè)起主導(dǎo)作用，那么這個(gè)量就是一個(gè)服從正態(tài)分布的隨機(jī)變量。2.分布及正態(tài)分布：129ac.中央極限定理：2.分布及正態(tài)分布：19a

3.SPC的基本概念：1).均值（數(shù)學(xué)期望）：平均值 離散型變量均值： 連續(xù)型變量均值：2).方差:3).標(biāo)準(zhǔn)差：4).全距：130a3.SPC的基本概念：20a5).中位數(shù):M6).眾數(shù)： M07).不良率： P

8).不良數(shù)： NP9).缺點(diǎn)數(shù)： C

10).單位缺點(diǎn)(缺點(diǎn)率)： U11).百萬分之不良： PPM 3.SPC的基本概念：131a5).中位數(shù):M3.SPC的基本概念：21a12).管制上限(控制上限): UCL13).管制中心線(控制中心線)： CL14).管制下線(控制下限)： LCL

15).規(guī)格上限： USL16).規(guī)格中心線： SL

17).規(guī)格下限： LSL18).偏移度： Ca3.SPC的基本概念：132a12).管制上限(控制上限): UCL3.SPC的基本概念19).制程能力指數(shù):Cp表示制程特性的一致性程度。越大越集中，越小越分散。20)制程能力指數(shù)（Cpk）：直接反映制程能力，值越大越好。通?？蛻舳家驝pk在1.33以上。

3.SPC的基本概念：133a19).制程能力指數(shù):Cp3.SPC的基本概念4.SPC列管對(duì)象：1）品質(zhì)特性：影響產(chǎn)品規(guī)格的因素（生產(chǎn)條件）、產(chǎn)品屬性分類、產(chǎn)品規(guī)格。2）制程角度：不合格率最高、成本最高、安規(guī)問題。3）檢驗(yàn)角度：破壞性產(chǎn)品、無法于后工程檢驗(yàn)、檢驗(yàn)成本很高。134a4.SPC列管對(duì)象：24a第三部分：管制圖的原理、制作及圖形分析 X-R 平均數(shù)全距 不良率管制圖 P-chart計(jì)量：X-б 平均值標(biāo)準(zhǔn)差 計(jì)數(shù)值：不良數(shù)管制圖 NP-chartX-Rm 個(gè)別值移動(dòng)全距 缺點(diǎn)數(shù) C-chartMo-R 中位值、全距管制圖 單位缺點(diǎn)數(shù) U-chart(一）Xbar-R平均數(shù)全距管制圖1.簡介：是SPC計(jì)量值部份最重要、最常用的管制圖之一。可以使我們很好地了解制程品質(zhì)的進(jìn)展?fàn)顟B(tài)（發(fā)展趨勢）。分為：1）解析管制圖：根據(jù)實(shí)際量測出來的數(shù)據(jù)，經(jīng)過計(jì)算出管制圖上下限之后畫出。

用途：主要用來對(duì)產(chǎn)品初期品質(zhì)進(jìn)行測定和監(jiān)控，以了解在現(xiàn)有環(huán)境中品質(zhì)的制程能力。2）制程管制圖：根據(jù)之前的歷史數(shù)據(jù)，也可以根據(jù)經(jīng)驗(yàn)或相似的各項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)，并以此為依據(jù)作為今后管制圖的管制界限。 以之前較好或標(biāo)準(zhǔn)的管制界限來衡量近期的品質(zhì)狀況。135a第三部分：管制圖的原理、制作及圖形分析25a2.圖形制作：1）數(shù)據(jù)收集：確定子組大小、頻率、小組數(shù)的大小a.子組大?。哼x擇子組應(yīng)使得一個(gè)子組內(nèi)各樣本之間的出現(xiàn)變差的機(jī)會(huì)小。b.應(yīng)注意：子組樣本的容量應(yīng)穩(wěn)定。c.頻率：子組間的時(shí)間間隔。d.子組數(shù)的大?。喊?00個(gè)或更多單值讀數(shù)的25個(gè)或更多子組的數(shù)據(jù)136a2.圖形制作：26a2）將數(shù)據(jù)列表，并計(jì)算各組數(shù)據(jù)的平均數(shù)及全距 Xi= Ri=每組中最大-每組中最小值

3）計(jì)算出平均數(shù)和全距的中心線與管制上下線： XCL= RCL=每組量測數(shù)值總和每組樣本數(shù)X1+X2+…+XKR1+R2+…+RtK2.圖形制作：137a2）將數(shù)據(jù)列表，并計(jì)算各組數(shù)據(jù)的平均數(shù)及全距每組量測數(shù)值總和管制上下限有兩種算法:第一種:計(jì)算法:(嚴(yán)格按照管制圖的原理來做)a計(jì)算出標(biāo)準(zhǔn)差: b.計(jì)算管制上、下限Xб= XUCL=XCL+3Xб XLCL=XCL-3Xб Rб= RUCL=RCL+3Rб RLCL=RCL-3Rб第二種:查表法: XUCL= XLCL= RUCL= RLCL= <案例1>138a管制上下限有兩種算法:28a<案例1>139a<案例1>29a140a30a4）制作圖形：

圖形分四個(gè)部分： 一個(gè)品質(zhì)記錄說明區(qū)； 一個(gè)品質(zhì)指標(biāo)說明區(qū)； 一個(gè)平均數(shù)管制圖區(qū)； 一個(gè)全距管制圖區(qū)。 <案例1圖> 141a4）制作圖形：31a142a32aX-R圖制作步驟及注意事項(xiàng)總結(jié)：

1、確定控制對(duì)象。2、取預(yù)備數(shù)據(jù)。3、計(jì)算Xbar、Ri。4、計(jì)算中心線。5、計(jì)算R圖控制線并作圖。6、將預(yù)備數(shù)據(jù)并繪在R圖中，并對(duì)狀態(tài)進(jìn)行判斷。7、計(jì)算X圖控制線并作圖。8、計(jì)算過程能力指數(shù)并檢驗(yàn)其是否滿足技術(shù)要求。9、進(jìn)行日常管理。

143aX-R圖制作步驟及注意事項(xiàng)總結(jié)：33a課堂實(shí)兵演練

144a課堂實(shí)兵演練34a3.圖形分析：

※1）注意規(guī)格界限與管制界限之間的比較。

可分三種狀態(tài)：包含關(guān)系交叉關(guān)系不相干

2）超出管制界限

145a3.圖形分析：35a3）連續(xù)幾點(diǎn)上升或下降可認(rèn)定是有某種趨勢，表明是一種系統(tǒng)原因在推動(dòng)這種趨勢，4）連續(xù)幾點(diǎn)在管制線上方或下方一般設(shè)定3點(diǎn)或5點(diǎn)以上，但有時(shí)候由于產(chǎn)品的特性可能有周期性，可設(shè)定更多點(diǎn)。

3.圖形分析：146a3）連續(xù)幾點(diǎn)上升或下降3.圖形分析：36a5）連續(xù)幾點(diǎn)一升一降

一般為5點(diǎn)或7點(diǎn)，但有時(shí)候由于產(chǎn)品的特性可能有周期性，可設(shè)定更多點(diǎn)。此種狀態(tài)分兩種：一是越變?cè)酱?；二是越變?cè)缴佟?）連續(xù)幾點(diǎn)在3倍的標(biāo)準(zhǔn)差以外一般為3點(diǎn)，但有時(shí)候也要注意當(dāng)品質(zhì)非常好而考慮成本放松的變化，建議點(diǎn)數(shù)不要設(shè)定更大。3.圖形分析：147a5）連續(xù)幾點(diǎn)一升一降3.圖形分析：37a7）連續(xù)幾點(diǎn)中有幾點(diǎn)在2倍標(biāo)準(zhǔn)差以外一般初始為連續(xù)7點(diǎn)中有3點(diǎn)在2倍標(biāo)準(zhǔn)差以外，但有時(shí)候也可根據(jù)產(chǎn)品特性可能有周性而設(shè)更多點(diǎn)，如連續(xù)9點(diǎn)中有4點(diǎn)在2倍標(biāo)準(zhǔn)差以外。此種狀況反應(yīng)出制程能力開始下降，一般屬于系統(tǒng)問題，但暫時(shí)還不算嚴(yán)重，要多多注意監(jiān)控，3.圖形分析：148a7）連續(xù)幾點(diǎn)中有幾點(diǎn)在2倍標(biāo)準(zhǔn)差以外3.圖形分析：38a8）連續(xù)幾點(diǎn)中有幾點(diǎn)在1倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi)一般為連5點(diǎn)中有3點(diǎn)在1倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi)，但有時(shí)候也可根據(jù)產(chǎn)品特性可能有周期性而設(shè)更多點(diǎn)。此種狀況反應(yīng)品質(zhì)朝較好方向發(fā)展，所以只要注意監(jiān)控，并把相關(guān)重要參數(shù)記錄下來，以利于做標(biāo)準(zhǔn)化。9）連續(xù)幾點(diǎn)在中心線兩側(cè)，但未在1倍標(biāo)準(zhǔn)差之內(nèi)一般為連續(xù)5點(diǎn)在中心線兩側(cè)，但未在1倍標(biāo)準(zhǔn)差之內(nèi)，但有時(shí)候也可根據(jù)產(chǎn)品特性可能有周性而設(shè)更多點(diǎn)。此種狀況反應(yīng)品質(zhì)可能雖然穩(wěn)定，但能力不夠或整體向上或下移動(dòng)少許，多屬系統(tǒng)原因，應(yīng)加強(qiáng)系統(tǒng)改善。3.圖形分析：149a8）連續(xù)幾點(diǎn)中有幾點(diǎn)在1倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi)3.圖形分析：39a圖形分析還應(yīng)注意：1）平均數(shù)管制圖看是否偏離方向，全距管制圖看穩(wěn)定程度。所以平均數(shù)管制圖是波動(dòng)越小越好，全距管制圖是越往下越好，表示每組數(shù)據(jù)中變異越少。2）當(dāng)平均數(shù)管制圖有連續(xù)3點(diǎn)上升或下降，而R圖沒有較大波動(dòng)時(shí)，則表示制程中有某個(gè)因素正在慢慢朝某個(gè)方向發(fā)生變化。3）當(dāng)平均數(shù)管制圖沒有較大幅度變化，而全距管制圖有出現(xiàn)連續(xù)3點(diǎn)上升，則表示機(jī)臺(tái)有較大松動(dòng)。4)所有圖形分析，都需要同以前在相同條件下做比較分析，并盡可能尋找可能的周期性變化趨勢，同時(shí)去驗(yàn)證一到兩次。150a圖形分析還應(yīng)注意：40a統(tǒng)計(jì)過程診斷（SPD）StatisticalProcessDiagnosisSPD診斷案例151a統(tǒng)計(jì)過程診斷（SPD）41a

（二）Xbar-σ平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差管制圖1.意義：當(dāng)每組樣本數(shù)較大(n>10)時(shí)，全距R容易受個(gè)別值影響較大，而標(biāo)準(zhǔn)差相對(duì)較小，所以σ成為過程變異性更有效的指標(biāo)，此時(shí)一般用Xbar-S(σ)代替Xbar-R.。2.制圖的區(qū)別之處：①計(jì)算每組數(shù)據(jù)的Xbar及σ（s）：②計(jì)算管制中心線：③計(jì)算管制上、下限 管制圖標(biāo)準(zhǔn)差： a.計(jì)算法： SUCL= SLCL= b.查表法： SUCL= SLCL=3.圖形分析:與Xbar-R基本相同152a（二）Xbar-σ平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差管制圖42aXbar—S管制圖檢驗(yàn)站別：PQC-1

頁次：1/1頁產(chǎn)品名稱：陶瓷電容產(chǎn)品編號(hào)：B4022-33管制特性：腳寬時(shí)間：2001/10/1~2001/10/16樣本數(shù):5規(guī)格上限：10.5規(guī)格下限：9.5規(guī)格水準(zhǔn)：3

USLSLLSLXUCLXBARXLCLSUCLSBARSLCLCaCpCpkPPM

10.5109.510.119.9989.8910.1580.0490-0.0042.5392.5290組數(shù)123456789101112131415平均值10.00610.0089.9869.99210.00610.0789.99410.0449.929.94109.9810.0129.99610.002全距0.080.050.070.10.110.10.1980.070.20.10.20.40.030.050.02標(biāo)準(zhǔn)差0.0340.0190.0330.040.0420.0390.0710.0290.0840.0550.10.1480.0130.0210.008153a檢驗(yàn)站別：PQC-1

（三）中位數(shù)全距管制圖（M-R）1意義： 優(yōu)點(diǎn)：可產(chǎn)生與Xbar-R圖相同的作用（結(jié)論），中位數(shù)易于使用，并不要求很多計(jì)算，使車間工人易于接受控制圖方法。

缺點(diǎn)：中位數(shù)在統(tǒng)計(jì)意義上沒有均值理想。2圖形制作：①中位數(shù)的算法：先將數(shù)據(jù)按大小順序排列，再取中間的一個(gè)數(shù)據(jù)。②計(jì)算管制中心線及管制上、下限 中心線：直按取各組中位數(shù)的平均值Xm=Xmcl= 中位數(shù)管制圖標(biāo)準(zhǔn)差：Xmσ= XmUCL=XmCL+3Xmσ XmLCL=XmCL-3Xmσ 3圖形分析：同Xbar-R 154a（三）中位數(shù)全距管制圖（M-R）44a案例155a案例45aXm-R中位數(shù)全距管制圖檢驗(yàn)站別：PQC-1

頁次：1/1頁產(chǎn)品名稱：陶瓷電容產(chǎn)品編號(hào)：B40211-33管制特性：腳寬時(shí)間：2001/10/1~2001/10/16樣本數(shù):5規(guī)格上限：10.5規(guī)格下限：9.5規(guī)格水準(zhǔn)：3

USLSLLSLXmUCLXmBARXmLCLSUCLSBARSLCLCaCpCpkPPM

10.5109.510.0739.9939.9130.4010.1190-0.0042.5392.5290組數(shù)123456789101112131415是位數(shù)1010.019.98101010.061010.049.99.9101010.011010全距0.080.050.070.10.110.10.1980.070.20.10.20.40.030.050.02標(biāo)準(zhǔn)差0.0340.0190.0330.040.0420.0390.0710.0290.0840.0550.10.1480.0130.0210.008156a檢驗(yàn)站別：PQC-1

（四）X-Rm（個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖）1.意義：

以不分組的方式描點(diǎn)作管制圖，要求每次或每組的樣本數(shù)為1。在計(jì)量值中，當(dāng)每次取樣數(shù)為1時(shí)，不能用以上三種管制圖。使用場合： ①一次只能收集到一個(gè)樣本數(shù)據(jù)，如損耗率； ②制程的品質(zhì)極為均勻，不需要多取樣本，如液體濃度、PH值等； ③取得測定值既費(fèi)時(shí)成本又高，如復(fù)雜的化學(xué)分析及破壞性試驗(yàn)等。2.應(yīng)注意：

①X-Rm在檢查過程變化時(shí)不如Xbar-R圖敏感 ②X-Rm圖不能區(qū)分過程的零件間重復(fù)性，因此在很多情況下最好還是使用 常規(guī)的了組樣本容量較小（2-4）的Xbar-R圖。157a（四）X-Rm（個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖）47a3.圖形制作：①移動(dòng)全距的計(jì)算：Ri=|Xi-X（I-m）|；當(dāng)I-m〈1時(shí)，Ri=|SL-Xi| 移動(dòng)位置值m：指組距Ri要用當(dāng)前一個(gè)數(shù)據(jù)減去前面第n個(gè)位置的數(shù)據(jù)。通常是由產(chǎn)品的相關(guān)性來定的。 如果是前后點(diǎn)有相關(guān)性，則m=1； 如果是前后兩點(diǎn)間有相關(guān)性，則m=2。

②計(jì)算各中心線及管制上、下限 X= 個(gè)別值管制圖：XUCL= XCL= Rm= XLCL= 移動(dòng)全