ICT測試簡介課件

ICT測試簡介ENGALEXYIN2006/02/111ICT測試簡介ENGALEXYIN2006/ICT測試的定義ICT測試是ICT即在線測試儀（InCircuitTester）縮寫。2ICT測試的定義2ICT測試系統(tǒng)構(gòu)成1ICT測試機(jī)臺。含ICT測試軟體程式。2ICT測試治具針床。即常說的ICT治具。

3ICT測試系統(tǒng)構(gòu)成1ICT測試機(jī)臺。3ICT機(jī)臺介紹TRI518FRICT測試機(jī)臺4ICT機(jī)臺介紹TRI518FRICT測試機(jī)臺4ICT測試的內(nèi)容ICTTest主要是靠測試探針接觸PCBlayout出來的測試點(diǎn)來檢測1PCBA的線路開路，短路.2電阻測試3電容，電感測試4二極管，三極管測試5IC保護(hù)二極體，IC空焊測試。5ICT測試的內(nèi)容ICTTest主要是靠測試探針接觸PCICT測試原理1-1對電阻R測試采用固定電流源測試時；機(jī)臺測試出電阻兩端電壓值。

1-2當(dāng)使用電壓源測試時；機(jī)臺測試出通過測試零件的電流值。根據(jù)歐姆定律

R=U/I

1電阻的測量6ICT測試原理1-1對電阻R測試采用固定電流源測試時；ICT測試原理2電容的測量

2-1恒定交流電壓源：交流電壓一定Vs，

Vs/Ix=Zc=1/2πfCx

得：Cx=Ix/2πfVs

2-2直流恒定電流信號源：

C=ΔT/ΔV*I7ICT測試原理2電容的測量7ICT測試原理3電感的測量

3-1交恒定流電流源測量電感

Vs/Ix=Zl=2πfLx得

Lx=Vs/2πfIx

3-2將電感作為跳線測量。8ICT測試原理3電感的測量8ICT測試原理4二極管量測

4-1利用二極管正向?qū)▔航担韫芗s0.7V，鍺管約

0.2V，反向截止電壓無窮大特性進(jìn)行測試。

4-2對于穩(wěn)壓二極管可以測試其正向?qū)≒N結(jié)壓降，同時可以測試其反向穩(wěn)壓壓降。5三極管量測

5-1把三極管兩個PN結(jié)作為兩個二極管進(jìn)行測量。9ICT測試原理4二極管量測9ICT測試原理6IC保護(hù)二極體測量

測試原理：利用IC各引腳對IC地腳或電源腳存在的保護(hù)二極體對

IC引腳保護(hù)二極體進(jìn)行測試。

1可測試出IC保護(hù)二極體是否完好。

2被測試IC是否極反，移位。

10ICT測試原理6IC保護(hù)二極體測量10ICT測試原理7IC空焊測試

7-1TESTJET測試原理利用放置在治具上模的感測板(SensorPlate)壓貼在待測的IC上，（感測板的形狀和面積與待測IC外殼相同），利用量測感測板的銅箔與IC腳框（frame）之間的電容量偵測接腳的開路。系統(tǒng)由測試點(diǎn)送一個200mV,10KHz的信號到IC的接腳上，信號經(jīng)過ICframe與感測板之間的電容耦合(Coupling)到感測板上再經(jīng)過架在感測板上的放大器接到64Channel的Signalconditioningcard做選擇和放大信號的工作，最后接到系統(tǒng)的TestJetBoard去量測信號的強(qiáng)度。如果IC的接腳有開路情況系統(tǒng)會因偵測不到信號而得知其為開路。11ICT測試原理7IC空焊測試11ICT測試原理7-2TESTJET工作原理圖7-3可以測試內(nèi)容：

Testjet來測試元件由于生產(chǎn)引起的缺陷:開路,錯位,丟失。12ICT測試原理7-2TESTJET工作原理圖7-3ICT測試原理8電解電容三端測試

測量電容外殼對電容正極和負(fù)極阻抗不同。13ICT測試原理8電解電容三端測試13ICT測試原理9其他零件測試9-1晶振測量其電容9-2變壓器測量其電阻14ICT測試原理9其他零件測試14ICT測試原理10隔離點(diǎn)原理10-1當(dāng)出現(xiàn)如右圖的電路時候，用萬用表測量A點(diǎn)與B點(diǎn)之間電阻RX的數(shù)值為R=RX//（R1+R2）；10-2ICT測試時候，在G點(diǎn)選擇一隔離點(diǎn)，利用一OP放大器，將A點(diǎn)電勢傳送到G點(diǎn)，使A點(diǎn)與G點(diǎn)電勢相同。若在將A點(diǎn)電位Va，送到G點(diǎn)，令Vg=VaIr1=(Va-Vg)/R1∴Ir1=0Is=Ix∴Rx=Vx/Is

15ICT測試原理10隔離點(diǎn)原理15ICT測試原理

11ICT測試的盲點(diǎn)

ICT測試盲點(diǎn)就是ICT無法準(zhǔn)確測量之零件。

10-1當(dāng)小電容與大電容變連時候，小電容無法準(zhǔn)確測量。

10-2當(dāng)小電阻與大電阻并聯(lián)時候，小電阻無法被準(zhǔn)確測量。

10-3電感同二極體并聯(lián)時，二極體無法準(zhǔn)確測量。

10-4其它。16ICT測試原理11ICT測試的盲點(diǎn)16ICT治具1ICT治具結(jié)構(gòu)組成

1-1針板：用于固定測試針。

1-2載板：用于放置保護(hù)被測試PCBA。

1-3天板：固定于ICT機(jī)臺氣缸上壓合治具和被測試PCBA。17ICT治具1ICT治具結(jié)構(gòu)組成17ICT治具2評價ICT治具測試的參數(shù)

2-1植針率植針率=植針網(wǎng)絡(luò)數(shù)/PCBA總網(wǎng)絡(luò)數(shù)

2-2覆蓋率覆蓋率=可測試零件數(shù)/總零件個數(shù)18ICT治具2評價ICT治具測試的參數(shù)18ICT治具3ICT治具驗(yàn)收要求

3-1外型尺寸是否和要求一致，即長，寬，高（行程）。

3-2天板同底版結(jié)合是否穩(wěn)定，壓棒分布是否合理，是否有可能壓到PCBA上零件，線材。

3-3載板是否對零件引腳及PCBA上突起部分銑深度，寬度是否足夠，保證測試時不至于對PCBA零件造成可能的損傷。載板是否平整，無翹曲，同PCBA吻合。

3-4測試針的選擇和分布是否合理。

3-5定位是否合理，是否防呆。19ICT治具3ICT治具驗(yàn)收要求19CHECKICT程式的要求1是否所有BOM表中的零件都編入測試程式

對于不能測試的零件，無測試點(diǎn)的，盲點(diǎn)的分別做好相關(guān)說明，防止漏測。2所有零件的標(biāo)稱數(shù)值與實(shí)際是否一致

對于有并聯(lián)的零件做好相應(yīng)標(biāo)識別說明，便于對程式的讀解。3對與零件測量值范圍是否與零件要求一致。

注意精密電阻，及其他有規(guī)定誤差范圍的零件。4測試程式是否穩(wěn)定。20CHECKICT程式的要求1是否所有BOM表中的零件都編ICT測試中的誤判情況1ICT盲點(diǎn)。2PCB定位不準(zhǔn)，探針與PCB測試點(diǎn)接觸不良。3PCB上測試點(diǎn)/裸銅板/有機(jī)可焊保護(hù)劑/助焊劑/label/過穿孔綠油未打開/吃錫不良。4探針不良（如針頭鈍化、老化、阻抗過高……）5壓床行程不夠。6ICT自身故障21ICT測試中的誤判情況1ICT盲點(diǎn)。21TANKS2006/01/1222TANKS2006/01/122ICT測試簡介ENGALEXYIN2006/02/1123ICT測試簡介ENGALEXYIN2006/ICT測試的定義ICT測試是ICT即在線測試儀（InCircuitTester）縮寫。24ICT測試的定義2ICT測試系統(tǒng)構(gòu)成1ICT測試機(jī)臺。含ICT測試軟體程式。2ICT測試治具針床。即常說的ICT治具。

25ICT測試系統(tǒng)構(gòu)成1ICT測試機(jī)臺。3ICT機(jī)臺介紹TRI518FRICT測試機(jī)臺26ICT機(jī)臺介紹TRI518FRICT測試機(jī)臺4ICT測試的內(nèi)容ICTTest主要是靠測試探針接觸PCBlayout出來的測試點(diǎn)來檢測1PCBA的線路開路，短路.2電阻測試3電容，電感測試4二極管，三極管測試5IC保護(hù)二極體，IC空焊測試。27ICT測試的內(nèi)容ICTTest主要是靠測試探針接觸PCICT測試原理1-1對電阻R測試采用固定電流源測試時；機(jī)臺測試出電阻兩端電壓值。

1-2當(dāng)使用電壓源測試時；機(jī)臺測試出通過測試零件的電流值。根據(jù)歐姆定律

R=U/I

1電阻的測量28ICT測試原理1-1對電阻R測試采用固定電流源測試時；ICT測試原理2電容的測量

2-1恒定交流電壓源：交流電壓一定Vs，

Vs/Ix=Zc=1/2πfCx

得：Cx=Ix/2πfVs

2-2直流恒定電流信號源：

C=ΔT/ΔV*I29ICT測試原理2電容的測量7ICT測試原理3電感的測量

3-1交恒定流電流源測量電感

Vs/Ix=Zl=2πfLx得

Lx=Vs/2πfIx

3-2將電感作為跳線測量。30ICT測試原理3電感的測量8ICT測試原理4二極管量測

4-1利用二極管正向?qū)▔航担韫芗s0.7V，鍺管約

0.2V，反向截止電壓無窮大特性進(jìn)行測試。

4-2對于穩(wěn)壓二極管可以測試其正向?qū)≒N結(jié)壓降，同時可以測試其反向穩(wěn)壓壓降。5三極管量測

5-1把三極管兩個PN結(jié)作為兩個二極管進(jìn)行測量。31ICT測試原理4二極管量測9ICT測試原理6IC保護(hù)二極體測量

測試原理：利用IC各引腳對IC地腳或電源腳存在的保護(hù)二極體對

IC引腳保護(hù)二極體進(jìn)行測試。

1可測試出IC保護(hù)二極體是否完好。

2被測試IC是否極反，移位。

32ICT測試原理6IC保護(hù)二極體測量10ICT測試原理7IC空焊測試

7-1TESTJET測試原理利用放置在治具上模的感測板(SensorPlate)壓貼在待測的IC上，（感測板的形狀和面積與待測IC外殼相同），利用量測感測板的銅箔與IC腳框（frame）之間的電容量偵測接腳的開路。系統(tǒng)由測試點(diǎn)送一個200mV,10KHz的信號到IC的接腳上，信號經(jīng)過ICframe與感測板之間的電容耦合(Coupling)到感測板上再經(jīng)過架在感測板上的放大器接到64Channel的Signalconditioningcard做選擇和放大信號的工作，最后接到系統(tǒng)的TestJetBoard去量測信號的強(qiáng)度。如果IC的接腳有開路情況系統(tǒng)會因偵測不到信號而得知其為開路。33ICT測試原理7IC空焊測試11ICT測試原理7-2TESTJET工作原理圖7-3可以測試內(nèi)容：

Testjet來測試元件由于生產(chǎn)引起的缺陷:開路,錯位,丟失。34ICT測試原理7-2TESTJET工作原理圖7-3ICT測試原理8電解電容三端測試

測量電容外殼對電容正極和負(fù)極阻抗不同。35ICT測試原理8電解電容三端測試13ICT測試原理9其他零件測試9-1晶振測量其電容9-2變壓器測量其電阻36ICT測試原理9其他零件測試14ICT測試原理10隔離點(diǎn)原理10-1當(dāng)出現(xiàn)如右圖的電路時候，用萬用表測量A點(diǎn)與B點(diǎn)之間電阻RX的數(shù)值為R=RX//（R1+R2）；10-2ICT測試時候，在G點(diǎn)選擇一隔離點(diǎn)，利用一OP放大器，將A點(diǎn)電勢傳送到G點(diǎn)，使A點(diǎn)與G點(diǎn)電勢相同。若在將A點(diǎn)電位Va，送到G點(diǎn)，令Vg=VaIr1=(Va-Vg)/R1∴Ir1=0Is=Ix∴Rx=Vx/Is

37ICT測試原理10隔離點(diǎn)原理15ICT測試原理

11ICT測試的盲點(diǎn)

ICT測試盲點(diǎn)就是ICT無法準(zhǔn)確測量之零件。

10-1當(dāng)小電容與大電容變連時候，小電容無法準(zhǔn)確測量。

10-2當(dāng)小電阻與大電阻并聯(lián)時候，小電阻無法被準(zhǔn)確測量。

10-3電感同二極體并聯(lián)時，二極體無法準(zhǔn)確測量。

10-4其它。38ICT測試原理11ICT測試的盲點(diǎn)16ICT治具1ICT治具結(jié)構(gòu)組成

1-1針板：用于固定測試針。

1-2載板：用于放置保護(hù)被測試PCBA。

1-3天板：固定于ICT機(jī)臺氣缸上壓合治具和被測試PCBA。39ICT治具1ICT治具結(jié)構(gòu)組成17ICT治具2評價ICT治具測試的參數(shù)

2-1植針率植針率=植針網(wǎng)絡(luò)數(shù)/PCBA總網(wǎng)絡(luò)數(shù)

2-2覆蓋率覆蓋率=可測試零件數(shù)/總零件個數(shù)40ICT治具2評價ICT治具測試的參數(shù)18ICT治具3ICT治具驗(yàn)收要求

3-1外型尺寸是否和要求一致，即長，寬，高（行程）。

3-2