標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 14028-1992 半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)測試方法的基本原理》這一標(biāo)準(zhǔn)文件,詳細(xì)規(guī)定了對半導(dǎo)體集成電路中模擬開關(guān)性能進(jìn)行評估和測試的具體方法與基本理論。該標(biāo)準(zhǔn)旨在為行業(yè)內(nèi)提供統(tǒng)一的測試標(biāo)準(zhǔn)和程序,確保模擬開關(guān)產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性,便于生產(chǎn)商、用戶及檢測機(jī)構(gòu)之間有共同的語言和評判基準(zhǔn)。
標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容概覽:
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范圍:明確了本標(biāo)準(zhǔn)適用的對象,即各種類型的半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān),包括單刀單擲(SPST)、單刀雙擲(SPDT)等多種開關(guān)配置。
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引用標(biāo)準(zhǔn):列出了執(zhí)行本標(biāo)準(zhǔn)時(shí)需要參考的其他相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)或國際標(biāo)準(zhǔn),這些標(biāo)準(zhǔn)通常涉及基本術(shù)語定義、測試環(huán)境條件、電氣參數(shù)測量方法等。
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術(shù)語和定義:對模擬開關(guān)及其測試中涉及的關(guān)鍵術(shù)語給出了明確的定義,確保所有使用者對專業(yè)詞匯有統(tǒng)一的理解。
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測試環(huán)境:描述了進(jìn)行模擬開關(guān)測試時(shí)所需的環(huán)境條件,如溫度、濕度、電源穩(wěn)定性等,以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。
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測試項(xiàng)目與方法:
- 直流特性測試:包括導(dǎo)通電阻、截止隔離度、漏電流等參數(shù)的測量方法。
- 交流特性測試:涵蓋開關(guān)的切換速度、帶寬、信號完整性等指標(biāo)的評估。
- 可靠性測試:如使用壽命測試、溫度循環(huán)測試等,以驗(yàn)證模擬開關(guān)在長期使用或極端條件下的性能穩(wěn)定性和耐用性。
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測試設(shè)備與儀器:介紹了進(jìn)行上述測試所需的各種儀器儀表及其校準(zhǔn)要求,確保測試設(shè)備的準(zhǔn)確性和可靠性。
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測試步驟與程序:詳細(xì)說明了每個(gè)測試項(xiàng)目的具體操作流程,包括測試前的準(zhǔn)備工作、測試過程中的注意事項(xiàng)、數(shù)據(jù)記錄與分析方法等。
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數(shù)據(jù)處理與報(bào)告:規(guī)定了測試數(shù)據(jù)的處理規(guī)則、異常數(shù)據(jù)的處理方法以及測試報(bào)告的格式和內(nèi)容要求,以便于測試結(jié)果的標(biāo)準(zhǔn)化呈現(xiàn)和交流。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 14028-2018
- 1992-12-18 頒布
- 1993-08-01 實(shí)施
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GB/T 14028-1992半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)測試方法的基本原理-免費(fèi)下載試讀頁文檔簡介
UDC621.382L55中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T14028一92半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)測試方法的基本原理Generalprinciplesofmeasuringmethodsofanalogueswitchesforsemiconductorintegratedcircuits1992-12-18發(fā)布1993-08-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)測試方法的基本原理GB/T14028-92Ceneralprinciplesofmeasuringmethodsofanalogueswitchesforsemiconductorintegratedcircuits本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了MOS和結(jié)型場效應(yīng)半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)(以下簡稱器件或模擬開關(guān))電參數(shù)測試的基本原理。模擬開關(guān)與CMOS電路相同的靜態(tài)參數(shù)和動態(tài)參數(shù)測試可參照GB3834《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理》總的要求1.1若無特殊說明,測試期間,環(huán)境或參考點(diǎn)溫度偏離規(guī)定值的范圍應(yīng)符合器件詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定。1.2測試期間,應(yīng)避免外界干擾對測試精度的影響。測試設(shè)備引起的測試誤差應(yīng)符合器件詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定。1.3測試期間,施于被測器件的電參量的精度應(yīng)符合器件詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定、1.4被測器件與測試殺統(tǒng)連接或斷開時(shí),不應(yīng)超過器件的使用極限條件。1.5若有要求時(shí),應(yīng)按器件詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的順序接通電源。1.6若電參數(shù)值是由幾步測試的結(jié)果經(jīng)計(jì)算而確定時(shí),這些測試的時(shí)間間隔應(yīng)盡可能短。參數(shù)測試2.1模擬電壓工作范圍VA2.1.1目的在導(dǎo)通電流為額定值時(shí),測試模擬開關(guān)傳送的模擬電壓范圍。2.1.2測試原理圖V入測試原
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