GB/T 6462-2005金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法

ICS25.220.20A29中華人民共和國國家標準GB/T6462-2005/ISO1463:2003代替GB/T6462—1986金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法Metallicandoxidecoatings-Measurementofcoatinginckness-Microscopicalmethod（ISO1463:2003,IDT)2005-06-23發(fā)布2005-12-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標準化管理委員會

GB/T6462-2005/IS01463:2003三次前言范圍規(guī)范性引用文件23術(shù)語和定義4原理5影響測量不確定度的因素6橫斷面的制備………78測量的不確定度9附錄A（資料性附錄）關(guān)于橫斷面制備和測量的指南附錄B（資料性附錄）橫斷面的斜度和齒狀結(jié)構(gòu)覆蓋層的測量附錄C（資料性附錄)室溫下使用的典型的浸蝕劑

GB/T6462-2005/IS01463:2003本標準等同采用ISO1463.2003《金屬和氧化物覆蓋層度測量顯微鏡法》英文版）本標準等同翻譯ISO1463:2003。為了便于使用，本標準做了下列編輯性修改：·本國際標準？一詞改為·本標準"；b·該國·一詞改為·國家?：C）用用小數(shù)點·.·代替作為小數(shù)點的運號·,；d）刪除國際標準的前言。本標準代替（B/T6462—1986《金屬和氧化物覆蓋層橫斷面厚度顯微鏡測量方法》。與GB/T6462-1986相比主要變化如下：標標準名稱改為《金屬和氧化物覆蓋層厚度測量品微鏡法》增加了測址方法的適用范圍(第1章)增加了規(guī)范性引用文件（第2章）增加了局部厚度定義(第3章)；增加了附錄B。本標準的附錄A、附錄B、附錄C為資料性附錄。本標準由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。本標準由全國金屬與非金屬覆蓋層標準化技術(shù)委員會(SAC/TC57)歸口。本標準負責起草單位：武漢材料保護研究所、寧波永新光學股份有限公司本標準主要起草人：張德忠、曾麗珠、陳曉帆、王成。本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：GB/T6462-1986。

GB/T6462-2005/IS01463:2003金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法1范圍本標準規(guī)定了運用光學顯微鏡檢測橫斷面,以測量金屬覆蓋層、氧化膜層和釉瓷或玻璃塘瓷覆蓋層的局部厚度的方法。警告：應用本標準可能涉及到危險的材料、操作和裝置的使用。本標準沒有提出使用過程中的任何健康危害和安全問題。在運用本標準前，使用者有責任根據(jù)國家或當?shù)氐囊?guī)定制定合適的健康和安全條例，并采取相應的措施2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標準.然而，鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標準。GB/T12334金屬和其他非有機覆蓋層關(guān)于厚度測量的定義和一般規(guī)則(idtISO2064)術(shù)語和定義GB/T12334確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本標準局部厚度10Calthickness在參比面內(nèi)進行規(guī)定次數(shù)厚度測量的平均值原理從待測件上切割一塊試樣.鑲嵌后.采用適當?shù)募夹g(shù)對橫斷面進行研磨、拋光和浸蝕，。用校正過的標尺測量覆蓋層橫斷面的厚度。?。河薪?jīng)驗的金相學家對這些技術(shù)很熟悉，對于經(jīng)驗不足的操作者.第5章和附錄A中給出了一些指南。，影響測量不確定度的因素5.1表面粗糙度如果覆蓋層或覆蓋層基體表面是粗糙的，那么與覆蓋層橫斷面接觸的一條或兩條界面線是不規(guī)則的，以致不能精確測量(見A.5)。5.2橫斷面的斜度如果橫斷面不垂直于待測覆蓋層平面,那么測量的厚度將大于真實厚度。例如：垂直度偏差10°.將產(chǎn)生1.5%的誤差。注：附錄B中B.1提供了關(guān)于傾斜橫斷面的指南5.3覆蓋層變形鑲嵌試樣和制備橫斷面的過程中.過高的溫度和壓力將使軟的或低熔點的覆蓋層產(chǎn)生有害變形;在制備脆性材料橫斷面時,過度的打磨也同樣會產(chǎn)生變形。5.4覆蓋層邊緣倒角如