高級考試章節(jié)解釋射線

承壓設備無損檢測

第2部分：射線檢測

范圍（1.1-1.3）與JB/T4730.2-2005標準相比有較大的變化進一步明確了射線膠片照相所包含的焊接接頭的形式1、理解：（1）適用對象包括承壓設備金屬焊接接頭的X射線和Y射線照相檢測技術和質量分級（2）檢測的金屬材料包括；鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金和鈦及鈦合金、鎳及鎳合金（3）焊接接頭包括了3種形式。對接、管座角焊縫和管板焊縫2、應用：透照厚度范圍鋼和鎳小于等于400mm、銅小于等于80mm、鋁2mm-80mm、鈦2mm-50mm3、注意：如承壓設備的其它金屬材料、支承件或結構件也采用該標準時應在檢測報告中注明《參照》同時應有委托方的確認。2、規(guī)范性引用文件1、該標準共應用了12最新版本的相關標準2、原470標準應用了10個相關標準3、有一些標準是相同的，但也引進了一些全新的標準1、理解：（1）NB/T47013直接引用了文件中的某些條款（2）在工作中要執(zhí)行這些標準中的有關規(guī)定。例如觀片燈的主要性能應符合GB/T19802的有關規(guī)定。2、應用：（1）除NB/T47013外，以上12個標準也是我們編制檢測通用工藝和管理規(guī)定的主要依據。（2）凡注明日期的引用文件在注明日期之內使用本標準，不注明日期的最新版本使用本標準3、注意：（1）凡從事射線檢測的單位或部門應有這12個標準的原件（2）當某些條款與NB/T47013不相符時，以NB/T47013規(guī)定的內容為準。（GB標準除外）3、術語和定義3.1透照厚度W；射線照射方向上材料的公稱厚度，多層透照時，透照厚度為通過的各層材料公稱厚度之和。（1）理解；所謂射線照射方向上即與主射線垂直。（2）應用；一般在雙壁雙影或雙壁單影以及帶夾套工件透照時采用透照厚度如?57×3.5mm,透照厚度是7mm,?219×7mm,透照厚度為14mm,夾套厚度10mm,焊接頭厚度是12mm,透照厚度22mm（以透照厚度確定靈敏度，評級仍采用單壁公稱厚度）（3）注意；當壁厚不等時已薄工件為準，但選擇射線能量時要考慮厚的一面以及焊縫的余高和墊板的厚度。

3.2、工件至膠片的距離b；沿射線束中心測定的工件受檢部位射線源側表面與膠片之間的距離。（1）理解；b等于L2（2）應用；計算幾何不清晰度（34）（3）注意；計算b厚度時要考慮焊縫余高，雙壁雙影時為管子的外徑+2余高，雙壁單影時為管子公稱厚度的+1余高，3.3、射線源至工件的距離f；沿射線束中心測定的工件受檢部位射線源與受檢工件近源側表面之間的距離。（1）理解；f等于L1（2）應用；計算幾何不清晰度，環(huán)焊縫透照次數（3）注意；只有采當用內透法時f值可以減小。中心50﹪，偏心20﹪而且與技術級別無關3.4、焦距F；沿射線束中心測定的射線源與膠片之間的距離。（1）理解；F=f＋b（2）應用；計算曝光量，采用其它方式透照環(huán)向對接接頭（3）注意當用X射線機時要考慮窗口到焦點的距離。3.5、射線源尺寸d；射線源的有效焦點尺寸（1）理解；X光機所提供的焦點尺寸是有效焦點尺寸（2）應用；計算幾何不清晰度3.6、圓形缺陷；長寬比不大于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷（1）理解；小于和等于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷均屬于圓形缺陷（2）應用；在檢測報告缺陷性質一欄中，凡長寬比小于和等于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷均應稱作圓形缺陷（3）注意；當圓形缺陷的長徑大于1/2板厚時應注明其尺寸3.7條形缺陷；長寬比大于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷（1）理解；凡長寬比大于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷均屬于條形缺陷（2）應用；在檢測報告缺陷性質一欄中，凡長寬比大于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷均應稱作條形缺陷（3）注意；在管對接接頭評級中，內凹、咬邊不屬于條形缺陷3.8、透照厚度比K;一次透照長度范圍內，射線束穿過母材的最大厚度與最小厚度之比（1）理解；透照厚度比K值即橫向裂紋撿出角（2）應用；計算縱向焊接接頭一次透照長度和環(huán)向焊接接頭的透照次數（3）注意；對100mm＜D0≤400mm的環(huán)向焊接接頭可放寬≤1.2與技術級別有關（僅限A級和AB級）3.9、一次透照長度（新增加的內容）符合標準規(guī)定的單次曝光檢測長度（1）理解：一次透照長度與焦距和K值有關（2）應用：對平板對接焊接接頭F值（或f值越大一次透照長度越大，對管子環(huán)向焊接接頭采用雙壁單影時F值（或f值越大一次透照長度越?。?）注意：一次透照長度與焦距和K值有關與檢測的技術級別有關3.10、底片評定范圍；本部分規(guī)定底片上必須觀測和評定的范圍（1）理解；以兩搭接標記之間的距離為長，焊縫加焊縫兩側熱影響區(qū)為寬的范圍。對小徑管而言應是黑度大于1.5(AB級）或黑度大于大于2.0（B級）部分（2）應用；評片時評定范圍以外的缺陷不作為該片的評定依據，但要在備注欄中注明。當缺陷延伸到評定范圍以外時也應計算其尺寸和數量。（3）注意；丁字焊口的縱、環(huán)部分焊縫也應進行評定。3.11、缺陷評定區(qū)；在質量分級評定時，為評價缺陷數量和密集程度而設置的一定尺寸區(qū)域。可以是正方形或長方形。（1）理解；缺陷評定區(qū)系指條形缺陷和圓形缺陷。評定區(qū)尺寸選取只與母材的公稱厚度有關，與技術級別無關。（43、44）（2）應用；按不同性質的缺陷和母材的公稱厚度選擇評定區(qū)，測量時評定區(qū)應與焊縫平行在圓形缺陷評定區(qū)內存在條形缺陷時要綜合評級（3）對小徑管圓形缺陷評定區(qū)按10mm×10mm3.12、雙膠片透照技術（新增加的內容）（1）理解；采用雙膠片透照技術是使用兩張膠片和三片增感屏進行透照，而且在觀片燈上把兩張膠片疊加起來進行觀察的技術（2）應用：采用雙膠片技術時應選用兩張等級相同或相近的膠片（3）采用雙膠片透照技術與檢測的技術級別無關3.13小徑管；外直徑D0小于或等于100mm的管子（1）理解；小徑管外直徑的上限為100mm,下限應理解為5mm（7.1.1評級中規(guī)定壁厚≥2mm）（2）應用；小徑管的透照次數與技術級別無關（3）注意；由于結構原因不能進行間隔角度多次透照時，必須合同雙方商定，可不在強調間隔角度，但應采取有效措施擴大缺陷的檢出范圍，并在報告中對有關情況進行說明4、一般要求

射線檢測的一般要求除應符合NB/T47013.1的有關規(guī)定外，還應符合下列規(guī)定。4.1射線檢測人員4.1.1從事射線檢測人員上崗前應進行輻射安全知識的培訓，并有關法規(guī)要求取得相應證書。4.1.2射線檢測人員未經矯正或經矯正的近（距）視力和遠（距）視力應不低于5.0（小數記錄值為1.0）,測試方法應符合GB11533的規(guī)定。從事評片的人員應每年檢查一次視力。1、理解：取相應資格證的對象2、應用：（1）對已取得國家質檢總局或要取得國家質檢總局所頒發(fā)的無損檢測資質單位的從事射線照相人員均應有相應資格證（2）對其他單位（制造、安裝和檢驗）現場操作人員相應資格證3、注意：從事評片人員每年的視力檢查情況應存檔4.2、檢測設備和器材a、X射線和加速器b、γ射線4.2.2射線膠片4.2.2.1膠片系統按照GB/T19348分為六類，即C1、C2、C3、C4、C5和C6C1為最高類別，C6為最低類別。（新增加內容）膠片系統的特性指標見附錄B（資料性附錄）。4.2.2.2膠片制造商應對所生產的膠片進行系統性能測試并提供類別和參數。膠片處理方法、設備和化學藥劑可按照GB/T19384.2的規(guī)定，用膠片制造商提供的預先曝光膠片測試片進行測試和控制。。1、理解：（1）按膠片系統進行分類，不是按膠片的感光速度分類。膠片系統包括了膠片、增感屏和沖洗條件。（2）檢測的技術級別與膠片的類別有關。2、應用：選擇的原則（1）A級和AB級檢測技術不得低于C5類、B級檢測技術不得低于C4類（2）采用γ射線或高能射線照相必須采用C4類或更高類別的膠片，。3、注意：（1）當對Rm≥540MPa高強鋼，X射線照相時應選擇T4類或更高類別的。(2)不得使用過期的膠片4.2.3、觀片燈

觀片燈的主要性能應符合GB/T19802的有關規(guī)定。觀片燈的最大亮度應能滿足評片的要求。1、理解：（1）觀片燈的主要性能指標除了亮度以外還包括:亮度的均勻性、外殼溫度、噪聲、絕緣程度等（2）觀片燈亮度和照度的關系，即140000lx——45000cd/m22、應用：當底片評定范圍內的黑度≤2.5時，觀片燈的亮度不應低于9400cd/m2、當底片評定范圍內的黑度2.5＜D≤4時觀片燈的亮度不應低于100000cd/m23、注意：生產觀片燈的廠家所提供的亮度指標應用cd/m2表示。4.2.4、黑度計（光學密度計）4.2.4.1黑度計可測的最大黑度應不小于4.5，測量值的誤差應不超過±0.05。4.2.4.2黑度計至少每6個月校驗一次。校驗方法可參照附錄B（資料性附錄）的規(guī)定進行。1、理解：與4730相比較增加了底片的黑度值

2、應用：黑度計屬于自校驗儀器，不是強制校驗設備，而標準黑度片也不是要強制檢驗的。黑度計的校驗應有記錄并有校驗者和審核者簽字，保存到下一校驗周期。在首次工作前或連續(xù)工作8小時之后要要在擬測量的黑度范圍內選擇兩點進行檢查3、注意：校準黑度計用的標準黑度片必須在有效期內，標準黑白密度片至少有8個一定間隔的黑度基準，黑度范圍能覆蓋0.3-4.53.5增感屏射線檢測一般應使用金屬增感屏或不用增感屏。增感屏的選用應符合表1的規(guī)定

1、理解：（1）X射線照相，能量在500KV以下增感屏的材料應是鉛，鉛屏的厚度不涉及技術級別只與射線能量有關（2）如采用Se-75或Ir-192，增感屏的厚度與技術級別有關。（3）如采用Co60或高能X射線（4MeV以下）選擇增感屏所用的材料和厚度均與技術級別有關。2、應用：（1）前屏和后屏的厚度可以相同也可以不同（2）如采用Se-75和Ir-192射線照相，AB級或B級檢測技術，前屏和后屏的厚度均不能小于0.1mm。3、注意：（1）AB級或B級檢測技術使用前屏≤0.03mm真空包裝膠片時，另有規(guī)定。（2）X射線小于100KV或使用Tm170可以不用前屏4.2.7像質計4.2.7.1、底片影像質量可以采用線型像質計也可以采用孔型像質計進行測定，線型像質計和孔型像質計的規(guī)格型號要滿足相關標準的規(guī)定4.2.7.2像質計的材料、材料代號和不同材料的像質計適用的工件材料范圍應符合表2的規(guī)定。1、理解：取消了象質指數“Z”的概念，用線徑或線號、孔號或孔徑表示底片的靈敏度。2、應用：（1）應根據檢測技術級別、透照方式和像質計擺放的位置及公稱厚度（T）透照厚度（W）確定像質計靈敏度（2）以低原子序數材料制作的像質計可以用于高原子序數材料制成的工件照相。即鐵（Fe）像質計可以用于鎳（Ni）、銅（Cu）材料的照相，但不能用于鈦（Ti）、鋁（AI）材料的照相。3、注意：在實際工作中不提倡同時使用線型像質計和孔型像質計4.2.8、暗室安全照射時間的規(guī)定（1）理解：該標準對暗室安全照射的時間作出了明確的規(guī)定，暗室安全照射時間的確定應按附錄D進行（2）應用：采用曝光前、曝光后、潮濕膠片曝光后照射試驗著三種形式使用的器材包括階梯試塊、遮光卡和計時器（3）注意：安全燈采用最亮的一檔，并按實際情況記錄膠片距安全燈的距離和角度照射時間取t1t2t3時間中最少時間的一半4.3、檢測技術等級4.3.1-4.3.3、與4730的敘述有變化但變化不大4.3.4承壓設備在用檢測中，由于結構、環(huán)境、射線設備等方面限制,檢測的某些條件不能滿足AB級射線檢測技術的要求時,經檢測方技術負責人批準,在采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片）后可采用A級技術進行射線檢測，但應同時采用其他無損檢測方法進行補充檢測。1、理解：（1）承壓類設備的制造、安裝、在用的檢測技術級別一般不應低于AB級（2）承壓設備在用檢測特殊情況下可以采用A級檢測技術（3）當檢測中某些條件不能滿足AB級（或B級）時若檢測靈敏度達到了AB級檢測技術的要求，可以認為按AB級檢測技術進行了（4）必須經合同雙方商定（5）有效措施一般包括：高類別膠片、提高底片黑度、采用最佳透照方式、最大限度的控制散亂射線等措施。2、應用：（1）可以在施工方案上合同雙方簽字確認（2）在作業(yè)指導書上合同雙方簽字確認3、注意：底片靈敏度必須達到相應技術級別的規(guī)定。對在用設備如采用A級檢測技術應補充其他檢測方法進行檢測。返修焊縫應采用AB級或達到AB級靈敏度4.4、檢測工藝文件（新增加內容））4.4.1、檢測工藝文件包括檢測工藝規(guī)程和檢測作業(yè)指導書4.4.2、工藝規(guī)程工藝規(guī)程的編寫要求無損檢測通用工藝規(guī)程應根據相關法規(guī)、產品標準。有關的技術文件和JB/T4730的本部分的要求，并針對檢測機構的特點和檢測能力進行編制。無損檢測通用工藝應涵蓋本單位（制造、安裝或檢測單位）產品的范圍。不能把原標準照抄一遍.（現舉例說明）a、增感屏的材料和厚度b、小徑管透照時像質計的擺放位置c、搭接標記、返修標記、擴探標記的規(guī)定d、不同透照厚度允許的最高X射線管電壓e、射線源至工件表面的距離f、小徑管應選用的像質計等。注意；1、本單位沒有的檢測設備無需編寫該設備的通用工藝（如高能射線、C0-60）2、如檢測單位所從事的檢測工程項目牽扯的其他標準（如長輸管線、或中石油管線檢測）,必須在檢測通用工藝中涵蓋SY4056《射線》和SY4065《超聲》標準中的有關內容及相關規(guī)定。4.4.3、作業(yè)指導書（1）理解：應根據工藝規(guī)程和檢測的具體對象編寫作業(yè)指導書（2）應用:作業(yè)指導書其內容除了滿足NB/T47013.1的要求外還要包括編制依據、被檢工件的類型、檢測儀器設備、檢測技術與工藝等9個方面的內容（3）注意（1）作業(yè)指導書要有文件編號和作業(yè)指導書的編號（2）對首次使用的作業(yè)指導書要進行工藝驗證4.5輻射安全防護4.5.1放射衛(wèi)生防護應符合GB18871、GBZ117和GBZ132

的有關規(guī)定。4.5.2現場進行Ｘ射線檢測時，應按GBZ117的規(guī)定劃定控制區(qū)和管理區(qū)、設置警告標志。檢測工作人員應佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。4.5.3現場進行γ射線檢測時，應按GBZ132的規(guī)定劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)、設置警告標志，檢測作業(yè)時，應圍繞控制區(qū)邊界測定輻射水平。檢測工作人員應佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。1、理解：（1）現場進行Ｘ射線檢測或進行γ射線檢測時對輻射防護提出了不同的要求。（2）在兩個標準都提出了輻射照射量的新名詞《比釋動能》和《空氣比釋動能率》，比釋動能是指不帶電粒子與物質相互作用，在單位質量的物質中釋放出來的所有帶電粒子的初始動能的總和。2、應用：（1）空氣比釋動能率用儀器可以測出（2）控制區(qū)、管理區(qū)、監(jiān)督區(qū)范圍的確定均根據空氣比釋動能率量值進行劃分的。3、注意：盡管兩個標準的某些條款內容相同或相近，但在使用中不能相互代替。5、檢測工藝及其選擇5.1、檢測時機5.1.1、檢測時機應滿足相關要求，還應滿足合同雙方商定的技術要求5.1.2、除非另有規(guī)定，射線檢測應在焊后進行。有延遲裂紋傾向的材料，至少應在焊接完成24h后進行射線檢測。1、理解：（1）除非另有規(guī)定系指設計圖紙的規(guī)定、制造方的規(guī)定或焊縫返修后焊接工藝的規(guī)定。（2）有延遲裂紋的材料一般指低合金高強鋼。2、應用：射線檢測工藝卡中應明確檢測時機3、注意：對于某些特殊的低合金高強鋼檢測時機可能是36小時或48小時5.2、檢測區(qū)（新增加的內容）1、理解：（（1）檢測區(qū)域寬度的確定應滿足相關標準、法規(guī)、規(guī)范、和設計要求外還應滿足合同雙方商定的其他技術要求（2）對非電渣焊的焊接接頭的檢測區(qū)域寬度作出了明確規(guī)定（3）對電渣焊焊接接頭的檢測區(qū)域寬度也作出了明確的規(guī)定2、應用：對非電渣焊檢測區(qū)域寬度是焊縫本身加上5mm電渣焊檢測區(qū)域寬度可采用打硬度和金相的方法進行確定3、注意：對于低合金高強鋼熱裂紋容易出現在熱影響區(qū)5.3、表面要求在射線檢測之前，對接焊接接頭的表面應經目視檢測并合格。表面的不規(guī)則狀態(tài)在底片上的影像不得掩蓋或干擾缺陷影像，否則應對表面作適當修整。1、理解：焊縫的外觀檢查一般由焊工檢查員進行。2、應用：（當底片上存在不影響評定的偽缺陷時應在底片評定原始記錄中注明。3、注意：所謂適當修整是指打磨或較淺補焊。5.4、膠片的選擇1、理解：（1）膠片的選擇與檢測的技術級別有關（2）當采用Y射線或高能射線照相以及抗拉強度下限值Rm≥540MPa高強度鋼時必須采用C4或更高類別的膠片而且與檢測的技術級別無關2、應用：當采用X射線照相時一般應選用C5類膠片，當采用Y射線照相時必須選擇C4類膠片5.5、透照布置5.5.1、膠片透照技術（新增加的內容）1、理解：（1）該標準允許采用單膠片透照技術也可以采用雙膠片透照技術（2）無論采用何種膠片透照技術均與檢測的技術級別無關2、應用：采用X射線管電壓≤100KV或采用Tm170射線源時不允許采用雙膠片透照技術3、注意：采用雙膠片透照技術時應選用兩張分類相同或相近的膠片5.5.2、透照方式5.5.2.1、應根據工件特點和技術條件的要求選擇適宜的透照方式。在可以實施的情況下應選用單壁透照方式,在單壁透照不能實施時才允許采用雙壁透照方式。典型的透照方式參見附錄E5.5.2.2、對管座角焊縫的透照方式作出了明確規(guī)定，采用內透法時對透照布置作出明確規(guī)定1、理解：（1）單壁透照最有利于發(fā)現缺陷，但并不是最便捷的透照方法。（2）對《在單壁透照不能實施時才允許采用雙壁透照方式》要有正確的理解，不能實施時主要針對工況條件和檢驗檢測單位的資源條件而言，不是指最佳的透照方式。2、應用（1）透照方式不能任意選取，在可以實施的情況下應選用單壁透照方式。在用設備）（2）管座角焊縫一般采用外透，如采用內透法時應選擇射線源放置在支管軸線上的透照布置（3、注意：其他方式透照環(huán)向對接接頭時，有不能實施的部位即陰影區(qū)。5.5.3、透照方向透照時射線束中心一般應垂直指向透照區(qū)中心，需要時也可選用有利于發(fā)現缺陷的方向透照。5.5.4、一次透照長度a）一次透照長度應以透照厚度比K進行控制。不同級別射線檢測技術和不同類型對接焊接接頭K值確定.整條環(huán)向對接焊接接頭所需的透照次數可參照附錄F的曲線圖確定采用源在內偏心透照（F＜D0/2）透照次數的規(guī)定C）對管座角焊縫、橢圓封頭、碟形封頭小r區(qū)的焊縫可以不采用K值確定，允許用黑度范圍缺定一次透照長度1、理解：一次透照長度與檢測技術級別有關。采用源在內偏心透照（F＜D0/2）確定透照次數對管座角焊縫、橢圓封頭、碟形封頭小r區(qū)的焊縫用黑度范圍確定一次透照長度均與檢測的技術級別無關2、應用：會計算采用源在內偏心透照（F＜D0/2）透照次數，采用黑度確定一次透照長度時底片黑度應滿足5.16.1的要求3、注意：表3中的特殊規(guī)定5.5.5、有效評定區(qū)的搭接5.5.5.1、（新增加的內容）1、理解：主要是針對環(huán)向焊接接頭雙壁單影100％射線照相、源在外膠片在內，環(huán)焊縫100％射線照相時曝光次數和有效評定區(qū)重疊的要求（暗盒的搭接和有效評定區(qū)的搭接）2、應用：如計算出曝光次數是5.2次應取6次不能四舍五入，重疊部分一般不應小于10mm3、注意：采用雙壁單影100％透照縱焊縫時應附加ΔL長度才是有效區(qū)的評定范圍5.5.5.2、（新增加內容）1、理解：主要是針對采用源在內中心曝光100％透照環(huán)焊縫時的要求2、應用：兩個暗合的重疊部分不應小10mm且重疊部分的底片黑度應符合標準要求3、注意：搭接標記即可以放在射源測也可以放在膠片測5.5.6、小徑管透照5.5.6.1、小徑管環(huán)向對接接頭的透照次數小徑管環(huán)向對接焊接接頭100%檢測的透照次數：采用傾斜透照橢圓成像時，當T/Do≤0.12時,相隔90°透照2次。當T/Do＞0.12時,相隔120°或60°透照3次。垂直透照重疊成像時，一般應相隔120°或60°透照3次。1、理解：（1）雙壁雙影橢圓成像的實施原則，即T（壁厚）≤8mm、g（焊縫寬度）≤Do/4（?60×5mm）（2）小徑管的透照次數與管外徑和壁厚有關，與檢測技術級別無關（3）規(guī)定小徑管的透照次數的主要目的是控制透照厚度比2、應用：為控制影像的開口寬度應采用偏心距法3、注意：當Do≤20mm、T≥8mm、g＞Do/4重點檢查根部裂紋或未焊透時應采用垂直透照5.5.6.3、特殊情況1、理解：結構原因一般系指排管或盤管2、應用（1）擴大缺陷可檢出范圍的有效措施一般包括：雙膠片技術、適當提高管電壓、窗口加濾波板（2）經合同雙方同意，不強制限制間隔角度注意：無論采用何種有效措施或選擇最佳的透照工藝和透照布置均不能一次透照對焊縫進行全部檢測5.6、射線能量5.6.1在保證穿透力的前提下，X射線照相應盡量選用較低的管電壓。在采用較高管電壓時，應保證適當的曝光量。圖1規(guī)定了不同材料、不同透照厚度允許采用的最高Ｘ射線管電壓。5.6.2對截面厚度變化大的承壓設備，在保證靈敏度要求的前提下，允許采用超過圖1規(guī)定的Ｘ射線管電壓。但對鋼、銅及銅合金材料，鎳及鎳合金管電壓增量不應超過50kV；對鈦及鈦合金材料，管電壓增量不應超過40kV；對鋁及鋁合金材料，管電壓增量不應超過30kV。1、理解：（1）不同材料、不同透照厚度允許采用的最高Ｘ射線管電壓與檢測技術級別無關（2）控制Ｘ射線管電壓的目的是保證底片的對比度，避免影響小缺陷的檢出率。（3）截面厚度變化大（以AB級C5類膠片為基準，如較厚部位黑度為2.0，而較薄部位的黑度大于4.5）2、應用：（1）在能穿透工件的前提下，應盡量選擇較低的KV值（2）對截面厚度變化大的承壓設備，適當提高管電壓、利用中心指示器使射線束中心對準較厚部位、采用雙膠片技術、補償技術3、注意：選擇能量時必須考慮穿透厚度。5.6.3γ射線源和高能Ｘ射線適用的透照厚度范圍應符合表4的規(guī)定5.6.4、采用源在內中心透照方式，在保證像質計靈敏度達到5.16.2要求的前提下，允許γ射線最小透照厚度取表4下限值的二分之一。5.6.5、采用其他透照方式，在采取有效補償措施并保證像質計靈敏度達到5.16.2要求的前提下，經合同各方同意，A級,AB級技術的Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm，Se-75源的最小透照厚度可降至5mm。1、理解：（1）鼓勵和提倡采用源在內中心透照方式盡可能實現單壁透照，同時也有利于橫向裂紋的檢出（2）其他透照方式包括：雙壁雙影、雙壁單影、內透法F＞R、F＜R（3）經合同各方同意的主要目的是對‘放寬最小透照厚度’要慎重（4）其他透照方式‘放寬最小透照厚度’與技術級別有關（僅限于A級AB級）2、應用：（1）采用Ir-192源中心透照時最小透照厚度可為10mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm時，即使合同各方同意也不能實施。采用其他透照方式當透照厚度小20mm時，應經合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm時，即使合同各方同意也不能實施。（2）采用Se-75源中心透照時最小透照厚度可為5mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于5mm時，即使合同各方同意也不能實施。采用其他透照方式當透照厚度小10mm時，應經合同各方同意。如最小透照厚度小于5mm時，即使合同各方同意也不能實施。（3）有效補償措施包括：高類別的膠片、適當提高底片黑度、提高增感屏的厚度、散射線的屏蔽。3、注意：（1）最小透照厚度以公稱厚度計算。（2）合同各方同意：一般指在施工方案上或工藝文件上有甲方簽字認可，并存檔。5.7、射線源至工件表面的最小距離5.7.1所選用的射線源至工件表面的距離f應滿足下式的要求：－A級射線檢測技術：f≥7.5d·b2/3

－AB級射線檢測技術：f≥10d·b2/3

－B級射線檢測技術：f≥15d·b2/3圖2是A級和B級射線檢測技術確定f的諾模圖，圖3是AB級射線檢測技術確定f的諾模圖。有效焦點尺寸d按附錄G的規(guī)定計算。5.7.2采用源在內中心透照方式周向曝光時，只要得到的底片質量符合5.16.1和5.16.2的要求，f值可以減小，但減小值不應超過規(guī)定值的50%。5.7.3采用源在內單壁透照方式時，只要得到的底片質量符合5.16.1和5.16.2的要求，f值可以減小，但減小值不應超過規(guī)定值的20%。5.7.4增加了管座角焊縫源在內中心透照f可以減小的規(guī)定5.7.5增加了管座角焊縫源在內偏心透照f可以減小的規(guī)定1、理解：（1）確定射線源至工件表面的最小距離與檢測技術級別有關。（2）鼓勵和提倡采用內透法特別是中心內透法。體現了采用單壁透照的原則。減少透照厚度，有利與檢驗缺陷；減少照射角，有利裂紋檢出。（3）f值的減小量與檢測的技術級別無關與透照方式有關2、應用：（1）由諾模圖中可直接得出射線源至工件表面最小距離（2）工件表面至膠片的距離應根據透照方式確定，同時應考慮焊縫余高和墊板（雙壁單影、單壁單影）的厚度3、注意：由諾模圖中給出的數據是射線源至工件表面的最小距離。5.7.6（新增加的內容）1、理解：在某些特定的條件下，標準、法規(guī)或技術設計文件中規(guī)定了幾何不清晰度的最大值（如膠片測的幾何不清晰度最大值0.025mm）2、應用：在實際工作中幾何不清晰度應按附錄H進行精確計算究竟是多少給出具體的數值3、注意：計算幾何不清晰度時應考慮焊縫的余高和墊板的厚度5.9、曝光量5.9.1Ｘ射線照相，當焦距為700mm時，曝光量的推薦值為：A級和AB級射線檢測技術不小于15mA·min；B級射線檢測技術不小于20mA·min。當焦距改變時可按平方反比定律對曝光量的推薦值進行換算。5.9.2采用γ射線源透照時,總的曝光時間應不少于輸送源往返所需時間的10倍。5.9.3（新增加的內容）對Co和Ir192射線源的曝光時間進行了明確的限定1、理解：（1）曝光量的大小與焦距有關（2）曝光量的選擇與檢測技術級別有關（3）采用γ射線源透照時，在某一時段焦距是在不斷變化，為保證底片質量，從而確定了總的曝光時間（4）為盡量減小底片灰霧度所以對Co和Ir192射線源的曝光時間進行了明確的限定2、應用（1）以AB級為例：當焦距700mm時，曝光量應大于或等于15mA·min、當焦距大于700mm時，當焦距小于700mm時，曝光量可小于或等于15mA·min、焦距改變時按平方反比定律對曝光量的推薦值進行換算。（2）Co的曝光時間不應超過12小時，Ir192的曝光時間不應超過8小時3、注意：對小口徑薄壁管采用方源透照時，強度不宜太大，不能采用多源捆綁式透照5.10、曝光曲線

5.10.1對每臺在用射線設備均應做出經常檢測材料的曝光曲線，依據曝光曲線確定曝光參數。5.10.2制作曝光曲線所采用的膠片、增感屏、焦距、射線能量等條件以及底片應達到的靈敏度、黑度等參數均應符合本部分的規(guī)定。5.10.3對使用中的曝光曲線，每年至少應校驗一次。射線設備更換重要部件或經較大修理后應及時對曝光曲線進行校驗或重新制作。5.10.4（新增加的內容）采用Y射線照相時可以用曝光尺計算曝光時間1、理解：（1）曝光曲線是針對X射線機（2）每臺X射線機必須有曝光曲線且不能混用（3）射線設備重要部件是指X射線管和高壓包2、應用：（1）曝光曲線橫坐標上的厚度應是穿透厚度（2）當實際拍片的條件與制作曝光曲線的條件不一致時，必須對曝光曲線作相應的修正。（3）針對Y射線源不在強調使用曝光曲線，允許采用曝光尺，適應實際檢測需要可執(zhí)行性強3、注意：曝光的校驗日期（至少每年一次）5.11無用射線和散射線屏蔽

5.11.1應采用金屬增感屏、鉛板、濾波板、準直器等適當措施，屏蔽散射線和無用射線，限制照射場范圍。鋼制承壓設備濾光板推薦的技術要求見附錄I5.11.2對初次制定的檢測工藝或當在使用中檢測工藝的條件、環(huán)境發(fā)生改變時,應進行背散射防護檢查。

檢查背散射防護的方法是：在暗盒背面貼附“B”鉛字標記，一般B鉛字的高度為13mm、厚度為1.6mm,按檢測工藝的規(guī)定進行透照和暗室處理。若在底片上出現黑度低于周圍背景黑度的“B”字影像，則說明背散射防護不夠,應增大背散射防護鉛板的厚度。若底片上不出現“B”字影像或出現黑度高于周圍背景黑度的“B”字影像，則說明背散射防護符合要求。1、理解：（1）金屬增感屏、鉛板、濾波板、準直器等是屏蔽和控制散射線的主要器件（2）屏蔽和控制散射線與檢測技術級別無關（3）背散射檢查的前提條件（初次制定的檢測工藝或當在使用中檢測工藝的條件、環(huán)境發(fā)生改變）2、應用：對不是初次制定的檢測工藝或在使用中檢測工藝的條件、環(huán)境未發(fā)生變化時，不用每次都進行背散射檢查在背散射輕微或后屏足以屏蔽背散射線時可不使用背散射防護鉛版3、注意：在薄工件或不用增感屏時，有時會出現黑度高于周圍背景黑度的“B”字影像5.12、像質計的使用

5.12.1、像質計放置原則線型像質計一般應放置在工件源側表面焊接接頭的一端（在被檢區(qū)長度的1/4左右位置）,金屬絲應橫跨焊縫，細絲置于外側。當一張膠片上同時透照多條焊接接頭時,像質計應放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處。a)單壁透照規(guī)定像質計放置在源側。雙壁單影透照規(guī)定像質計放置在膠片側。雙壁雙影透照像質計可放置在源側，也可放置在膠片側。b)單壁透照中，如果像質計無法放置在源側，允許放置在膠片側。c)單壁透照中像質計放置在膠片側時，應進行對比試驗。對比試驗方法是在射源側和膠片側各放一個像質計，用與工件相同的條件透照，測定出像質計放置在源側和膠片側的靈敏度差異，以此修正像質指數規(guī)定，以保證實際透照的底片靈敏度符合要求。d)當像質計放置在膠片側時，應在像質計上適當位置放置鉛字“F”作為標記，F標記的影像應與像質計的標記同時出現在底片上，且應在檢測報告中注明。5.12.2、像質計的數量原則上每張底片上都應有像質計的影像。當一次曝光完成多張膠片照相時，使用的像質計數量允許減少但應符合以下要求:a)環(huán)形對接焊接接頭采用源置于中心周向曝光時，至少在圓周上等間隔地放置3個像質計;b)球罐對接焊接接頭采用源置于球心的全景曝光時，至少在北極區(qū)、赤道區(qū)、南極區(qū)附近的焊縫上沿緯度等間隔地各放置3個像質計，在南、北極的極板拼縫上各放置1個像質計;c)一次曝光連續(xù)排列的多張膠片時，至少在第一張、中間一張和最后一張膠片處各放置一個像質計。5.12.3、小徑管對接焊縫小徑管使用通用線型像質計和專用（等徑金屬絲）像質計，金屬絲應垂直并橫跨焊縫放置。5.12.4、不等厚或不同材料的之間對接焊縫（新增加內容）5.12.5、管座角焊縫（新增加的內容）4.7.5如底片黑度均勻部位（一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)）能夠清晰地看到長度不小于10mm的連續(xù)金屬絲影像時，則認為該絲是可識別的。專用像質計至少應能識別兩根金屬絲使用階梯孔型像質計時底片可識別最小孔編號即使像質計靈敏度值，當階梯上有兩個孔是都要識別1、理解：（1）在像質計擺放原則中對1/4處是一個相對概念（2）根據透照方式的不同規(guī)定了像質計應的擺放位置（3）規(guī)定了允許減少的三種情況（環(huán)形焊縫周向曝光：≥3；連續(xù)多張一次曝光：≥3；球：≥3×3＋2）（4）小徑管即可以選用通用線型像質計也可以選用專用線型像質計（4）像質計的觀察一般在母材上而不是在焊縫上。（考慮深槽焊）（5）“F”標記的影像應與像質計的標記同時出現在底片上（像質計的標記是指像質計上的標準號）2、應用：（1）只有在單壁透照，象質計放在膠片測時才進行對比試驗，其他方式均不用做對比試驗。（2）像質計可放置在源側，也可放置在膠片側僅限于小徑管雙壁雙影時使用（3）“F”標記一般應放置在像質計標識的右上角。（4）當焊縫寬度較大時應加長金屬絲的長度，或適當移動像質計的位置。（5）當象質計放在膠片測時，應在檢驗報告像質計靈敏度一欄中注明注意：（1）厚度不同、材料類型不同的部位應分別采用與被檢材料厚度或類型相匹配的像質計并分別放置焊縫的相對應部位（2）管座角焊縫使用線型像質計，像質計盡可能的放置在黑度最小的區(qū)域（3）小徑管使用專用像質計時要看到2根5.13標記

5.13.1透照部位的標記由識別標記和定位標記組成。標記一般由適當尺寸的鉛（或其他適宜的重金屬）制數字、拼音字母和符號等構成。5.13.2識別標記一般包括：產品編號、對接焊接接頭編號、部位編號和透照日期。返修后的透照還應有返修標記,擴大檢測比例的透照應有擴大檢測標記。5.13.3定位標記一般包括中心標記和搭接標記。中心標記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編號的方向,一般用十字箭頭“↑→”表示。搭接標記是連續(xù)檢測時的透照分段標記，可用符號“↑”或其他能顯示搭接情況的方法表示。5.13.4-5.13.8新增加內容1、理解：（1）取消了搭接標記統稱定位標記（2）未對返修標記,擴大檢測比例的擴大檢測標記作出統一規(guī)定。（3）定位標記可以用“↑”表示也可以用其他符號表示（如1、2、或A、B、C）（3）（3）根據射線源、工件、膠片的相互位置按附錄J規(guī)定放置定位標記。2、應用：（1）應在工藝文件中對返修標記、擴大檢測標記以及搭接標記的符號作出明確規(guī)定。（2）小徑管雙壁雙影或垂直透照不用搭接標記。（3）除中心100％透照或連續(xù)多張一次曝光外，否則每張底片上均應有中心標記。（?20mm以下小徑管除外）3、注意：不是100％透照的焊接接頭也要放置搭接標記。（有效區(qū)段標記）5.13.4（新增加內容）焊縫內外余高磨平如何確定檢測區(qū)位置與寬度5.13.5（新增加內容）允許采用預曝光的方式獲得相關的識別標記5.13.6（新增加的內容）由于結構原因定位標記無法放置源測只能放置膠片測時的規(guī)定1、理解（1）底片不能確定檢測區(qū)和寬度范圍時必須作出標示，防止漏評（2）不強調使用鉛或其他重金屬進行標識，允許預曝光方式制作識別標記（3）定位標記放置在膠片測必須在記錄和報告中標注實際評定范圍2、應用：（1）使用鉛質窄條或細的鉛絲進行標識（2）采取有效措施保證標識以外的區(qū)域不被曝光（3）所有標記不應干擾評定區(qū)內的影像5.14、膠片處理和底片質量檢測

5.14.1、膠片的處理一般按膠片使用說明書的規(guī)定進行，可采用自動沖洗或手工沖洗方式處理,推薦采用自動沖洗方式處理。原則上采用廠家生產或推薦的沖洗配方和藥劑，并按照GB/T19348.2的規(guī)定經比較試驗證明的條件下，也可以采用其他廠家的配方和藥劑手工沖洗或自動沖洗應在8小時之內完成最長不應超過24小時1、理解：（1）手工沖洗方式處理是指槽洗不是盤洗（2）推薦采用自動沖洗方式處理的目的是盡量防止采用增加或減少顯影時間來控制底片的黑度。2、應用（1）在工藝文件中要明確膠片處理的方式和處理的條件。（2）曝光后的膠片要盡快暗室處理，控制和減少潛影衰退和灰霧增加帶來的底片質量影響。3、注意：采用控制和減小自動洗片機時要經常清洗防止產生劃傷。5.14.2、底片質量的檢驗（新增加的內容）1、理解（1）控制底片上硫代硫酸鹽離子的殘留濃度的目的是為了保證底片能長時間保存不至于發(fā)黃影響底片的后續(xù)跟蹤和評定（2）底片質量檢測主要是控制定影和底片水洗的環(huán)節(jié)2、應用：如經檢驗發(fā)現硫代硫酸鹽離子濃度大于0.050g/m21、停止暗室處理并采取糾正措施2、重新核查定影和沖洗的工序驗證其符合性3、重新處理所有含缺陷的底片5.14.3、膠片灰霧度測量（新增加內容）1、理解：（1）膠片的本底灰霧度的限值未發(fā)生變化（2）該標準增加了膠片灰霧度測量的周期和時機（3）增加了膠片灰霧度測量的周期和時機其目的是監(jiān)控膠片的儲存條件2、應用：膠片的儲存場所一般應配備空調和除濕機，膠片不能平放3、注意：應實時記錄儲存場所的溫度和濕度5.15評片要求

5.15.1評片一般應在專用的評片室內進行。評片室應整潔、安靜，溫度適宜,光線應暗且柔和。5.15.2評片人員在評片前應經歷一定的暗適應時間。從陽光下進入評片的暗適應時間一般為5min～10min；從一般的室內進入評片的暗適應時間應不少于30s。5.15.3評片時，底片評定范圍內的亮度應符合下列規(guī)定：當底片評定范圍內的黑度D≤2.5時，透過底片評定范圍內的亮度應不低于30cd/m2；當底片評定范圍內的黑度D＞2.5時,透過底片評定范圍內的亮度應不低于10cd/m2。

1、理解：增加評片暗適應過程規(guī)定的目的是光強的突然變化會使人的視覺靈敏度下降從而造成評片時的漏檢2、應用：（1）評片室不能全黑，一般要等于或略低于透過底片光的亮度。（2）觀片燈的亮度必須可以調節(jié)（3）觀片燈應有足夠的照明區(qū)一般是300×80mm（4）要用亮度度計測定透過底片后，可見光的強度是否達到標準的要求。5.16、底片質量

5.16.1.1單膠片透照技術，單底片觀察評定，底片評定范圍內的黑度D應符合下列規(guī)定

A級：1.5≤D≤4.5；

AB級：2.0≤D≤4.5；

B級：2.3≤D≤4.5。

5.16.1.2（新增加內容）雙膠片透照技術，雙膠片疊加觀察評定，對評定范圍內黑度的要求1、理解：（1）單膠片透照技術，底片評定范圍內的黑度與技術級別有關而雙膠片透照技術底片評定范圍內的黑度與檢測的技術級別也有關（38）（2）雙底片疊加觀察時任何單張底片黑度不應低于1.32、應用：（1）評片時每張底片均應測定其黑度值（2）黑度一般測三點即兩搭接標記的焊縫上各測一點，焊縫中心靠近焊縫母材部位測一點。（3）雙膠片疊加觀察時底片評定范圍的黑度必須滿足2.7≤D≤4.53、注意：應同時觀察、分析和保存每張底片5.16.1.3、用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時，AB級最低黑度允許降至1.5；B級最低黑度可降至2.0。1、理解：只有當用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時，黑度才可降低而且與技術級別有關（AB級最低黑度允許降至1.5；B級最低黑度可降至2.0）2、應用：小徑管無論采取何種透照方式黑度均可降低3、注意：小徑管有效評定范圍是用黑度確定的5.16.1.4（新增加的內容）對檢測區(qū)評定時的規(guī)定5.16.1.5（新增加的內容）對評定區(qū)最大黑度限值可以提高的規(guī)定1、理解：雙膠片透照技術2.7-4.5區(qū)域雙片疊加觀察，超過4.5的區(qū)域單片觀察應標識出這兩個區(qū)域黑度分別測量和記錄，采用單膠片透照技術某一檢測區(qū)黑度差值較大黑度不滿足標準要求需要透照兩次才能覆蓋檢測區(qū)應對每一次（即兩張底片）各自的有效評定區(qū)作出標識黑度分別測量和記錄2、應用：測量底片黑度時要初步確定最小和最大部位多點測量測量點不固定包括整個有效評定區(qū)3、注意：底片的黑度是范圍即最大值和最小值5.16.2底片的像質計靈敏度

單壁透照、像質計置于源側時應符合表5和表6的規(guī)定；雙壁雙影透照、像質計置于源側時應符合表7表8的規(guī)定；雙壁單影或雙壁雙影透照、像質計置于膠片側時應符合表9表10的規(guī)定。5.16.3其他要求底片評定范圍內不應存在干擾缺陷影像識別的水跡、劃痕、斑紋等偽缺陷影像。1、理解：底片的像質計靈敏度不僅與檢測技術級別有關，而且還與透照方式、公稱厚度、透照厚度有關。2、應用：（1）除單壁透照像質計放在膠片側外，其他形式的底片像質計靈敏度均可從表中查出（2）底片評定范圍以外的偽缺陷不屬于底片質量不合格的依據。3、注意：（1）當對接接頭兩邊的公稱厚度不等時以較薄為準。（2）底片的像質計靈敏度不能按穿透厚度計算。（3）雙膠片技術有一張底片有輕微的劃傷只要不影響底片的評定是允許的5.17、底片的保存對底片的保存條件提出了要求6承壓設備熔化焊對接焊接接頭射線檢測質量分級

6.1鋼、鎳、銅制承壓設備熔化焊對接焊接接頭射線檢測結果評定和質量分級6.1.1范圍本條規(guī)定適用于厚度為2mm～400mm，材質為碳素鋼、低合金鋼、奧氏體不銹鋼、鎳及鎳基合金制承壓設備，（增加了焊接接頭的形式）以及厚度為2mm～80mm銅及銅合金制承壓設備的熔化焊對接焊接接頭射線檢測的質量分級。管子和壓力管道環(huán)向對接焊接接頭射線檢測質量分級按照第6條的規(guī)定執(zhí)行

1、理解：（1）必須是對接接頭（2）適用厚度≤400mm、（鋼、鎳）≤

80mm（銅）2、應用：凡不在本標準規(guī)定的范圍之內，均不能按本標準進行質量分級。3、注意：厚度是指母材的公稱厚度。6.1.2缺陷類型對接焊接接頭中的缺陷按性質可分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷和圓形缺陷五類。6.1.3質量分級依據根據對接接頭中存在的缺陷性質、數量和密集程度，其質量等級可劃分為Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ級。6.1.4質量分級一般規(guī)定

6.1.4.1Ⅰ級對接焊接接頭內不允許存在裂紋、未熔合、未焊透和條形缺陷。6.1.4.2Ⅱ級和Ⅲ級對接焊接接頭內不允許存在裂紋、未熔合和未焊透。6.1.4.3對接焊接接頭中缺陷超過Ⅲ級者為Ⅳ級。6.1.4.4除綜合評級外當各類缺陷評定的質量級別不同時，以質量最差的級別作為對接焊接接頭的質量級別。6.1.5圓形缺陷的質量分級

6.1.5.1圓形缺陷用圓形缺陷評定區(qū)進行質量分級評定，圓形缺陷評定區(qū)為一個與焊縫平行的矩形，其尺寸見表8。圓形缺陷評定區(qū)應選在缺陷最嚴重的區(qū)域。6.1.5.2在圓形缺陷評定區(qū)內或與圓形缺陷評定區(qū)邊界線相割的缺陷均應劃入評定區(qū)內。將評定區(qū)內的缺陷按表9的規(guī)定換算為點數，按表10的規(guī)定評定對接焊接接頭的質量級別。

1、理解：（1）特種設備對接接頭內的缺陷分為5種即裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷和圓形缺陷。（2）以對接接頭中存在缺陷的性質、數量和密集程度進行質量分級與技術級別無關。2、應用：（1）圓形缺陷評定區(qū)的尺寸要根據公稱厚度確定。（2）在確定圓形缺陷嚴重部位的數量時，評定區(qū)應與焊縫平行。（3）圓形缺陷的長徑大于T/2時應注明其尺寸3、注意：必須與圓形缺陷評定區(qū)邊界線相割的缺陷才能劃入評定區(qū)內6.1.5.3由于材質或結構等原因,進行返修可能會產生不利后果的對接焊接接頭，各級別的圓形缺陷點數可放寬1點～2點。6.1.5.4對致密性要求高的對接焊接接頭，制造方底片評定人員應考慮將圓形缺陷的黑度作為評級的依據。通常將黑度大的圓形缺陷定義為深孔缺陷,當對接焊接接頭存在深孔缺陷時，其質量級別應評為Ⅳ級。6.1.5.5當缺陷的尺寸小于表11的規(guī)定時，分級評定時不計該缺陷的點數。質量等級為Ⅰ級的對接焊接接頭和母材公稱厚度T≤5mm的Ⅱ級對接焊接接頭，不計點數的缺陷在圓形缺陷評定區(qū)內不得多于10個，超過時對接焊接接頭質量等級應降低一級。

1、理解：（1）圓形缺陷放寬的原則（2）致密性要求高的對接焊接接頭是指一旦泄漏將會發(fā)生起火、爆炸或嚴重污染環(huán)境的焊接接頭。（3）制造方底片評定人員：（包括檢驗檢測，設備制造或安裝單位的評片人員）2、應用：（1）圓形缺陷的放寬不能是普遍現象只能是個別現象，如果對圓形缺陷放寬應在檢測報告的附件中說明圓形缺陷的實際點數，以及放寬的理由和依據。（2）只有對薄板焊接接頭評定時當圓形缺陷的黑度明顯大于母材的黑度時才能定義為深孔（并在報告中注明）3、注意：監(jiān)檢人員以及第三方抽檢一般不考慮將圓形缺陷的黑度作為評級的依據。6.1.6條形缺陷的質量分級

條形缺陷按表12的規(guī)定進行分級評定。1、理解：（1）條形評定區(qū)的寬度與母材的公稱厚度有關（T≤25mm.4mm、100mm≥T＞25mm.6mm、T＞100mm.8mm（2）對條形缺陷的累計長度規(guī)定了最小值（3）T為公稱厚度2、應用：（1）當測定條形缺陷的累計長度時，條形評定區(qū)應與焊縫平行（２)應用條形評定區(qū)的目的是確定當底片上有多處條形缺陷時，根據間距大小確定是否為一組或兩組（3）凡在同一直線的條狀缺陷應根據間距的情況是否按單個條狀缺陷處理.（相鄰缺陷的間距大于較短缺陷時除外）圖1、23、注意：當母材公稱厚度不等時取薄板的厚度值。6.1.7綜合評級

6.1.7.1在圓形缺陷評定區(qū)內同時存在圓形缺陷和條形缺陷時，應進行綜合評級。6.1.7.2綜合評級的級別如下確定：對圓形缺陷和條形缺陷分別評定級別，將兩者級別之和減一作為綜合評級的質量級別。1、理解：只有在圓形缺陷評定區(qū)內存在條狀缺陷時才進行綜合評級。2、應用：對缺陷進行綜合級，應在檢測報告?zhèn)渥谥凶⒚?、注意：綜合評級后只要大于Ⅲ級者均為Ⅳ級

6.2鋁制承壓設備熔化焊對接焊接接頭射線檢測質量分級

6.2.1范圍本條規(guī)定適用于厚度為2mm～80mm鋁及鋁合金承壓設備的熔化焊對接焊接接頭射線檢測的質量分級。5.2.2缺陷類型（略）5.2.3質量分級依據（略）6.3鈦及鈦合金制承壓設備熔化焊對接焊接接頭射線檢測質量分級

6.3.1范圍本條規(guī)定適用于厚度為2mm～50mm，材質為鈦及鈦合金的熔化焊對接焊接接頭射線檢測的質量分級。6.3.2缺陷類型（略）6.3.3質量分級依據（略）

7承壓設備管子及壓力管道熔化焊環(huán)向對接焊接接頭射線檢測質量分級7.1鋼、鎳、銅承壓設備管子及壓力管道熔化焊環(huán)向對接焊接接頭射線檢測質量分級7.1.1范圍本條適用于壁厚T≥2mm碳素鋼、低合金鋼、奧氏體不銹鋼、鎳及鎳基合金、銅及銅合金承壓設備管子及壓力管道的熔化焊環(huán)向對接焊接接頭射線檢測的質量分級。1、理解：（1）必須是環(huán)向對接接頭（2）接頭的壁厚應大于或等于2mm（3）對管子的外徑沒設上限2、應用：承壓設備管子及壓力管道系指無縱向焊縫的管道。對于采用鋼板卷管制作壓力管道縱向焊縫的評定應按6.1條的規(guī)定進行3、注意：螺旋管焊縫的質量評級應由合同各方商定。7.1.2缺陷類型

對接焊接接頭中的缺陷按性質可分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷、圓形缺陷、根部內凹、根部咬邊等七類。1、理解：把根部內凹、根部咬邊外觀缺陷也納入評級范圍之