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文檔簡介
第一章測試有關透明介質對光吸收的描述正確的是
A:只與光波頻率有關
B:只與介質材料有關
C:與入射光波無關
D:不僅與介質材料有關,而且也與光波頻率有關
答案:C光柵光譜儀修正選用
A:鈉光燈
B:汞燈
C:氫燈
D:溴鎢燈
答案:B光柵光譜儀的色散功能是通過反射光柵實現(xiàn)的。
A:對
B:錯
答案:A入射光過強時,會導致光電倍增管出現(xiàn)“雪崩效應”。
A:錯
B:對
答案:B介質吸收系數(shù)與波長的關系曲線稱為吸收曲線
A:對
B:錯
答案:A光通過不同厚度的同種材料后的透射光強是相同的。
A:錯
B:對
答案:A同樣厚度的不同材質的材料對同一波長光的吸收一般是不相同的
A:對
B:錯
答案:A測量介質的吸收系數(shù)是通過測量介質的光譜透射率來實現(xiàn)的
A:錯
B:對
答案:B測量介質吸光度時,需要選擇同種材質不同厚度的樣品
A:3個即可
B:不需要
C:2個即可
D:1個即可
答案:A光電倍增管輸出電流與入射到光電倍增管上的光強之間滿足
A:反比關系
B:指數(shù)規(guī)律
C:正比關系
D:負指數(shù)規(guī)律
答案:C第二章測試在調整好分光計、液體槽中液面保持正常高度并保證聲源面與液體槽端面嚴格平行的條件下,觀察到的超聲光柵衍射條紋不清晰,應調整超聲波的頻率使衍射條紋清晰。
A:對
B:錯
答案:A在超聲光柵實驗裝置中,鋯鈦酸鉛陶瓷片(PZT晶體)的作用是在高頻電信號激勵下產生超聲波。
A:錯
B:對
答案:B用鈉燈做作為超聲光柵衍射的光源時,可觀察到不同顏色的衍射條紋。
A:對
B:錯
答案:B用汞燈做作為超聲光柵衍射的光源時,可觀察到不同顏色的衍射條紋。
A:錯
B:對
答案:B調整超聲波頻率時,超聲光柵衍射條紋的清晰程度會發(fā)生變化。
A:錯
B:對
答案:B超聲光柵衍射的各級衍射光的頻率是不同的。
A:錯
B:對
答案:B超聲駐波形成的超聲光柵,柵面在空間是不隨時間移動的。
A:對
B:錯
答案:A超聲光柵的光柵常數(shù)等于超聲波的波長。
A:錯
B:對
答案:B光波通過超聲光柵發(fā)生的衍射現(xiàn)象被稱為聲光衍射,聲光衍射現(xiàn)象是光波與液體中超聲波相互作用的結果。
A:對
B:錯
答案:A超聲光柵實驗中,關于分光計直接測量的物理量,下列說法正確的是
A:測量入射光波長
B:測量超聲波長
C:測量光柵常數(shù)
D:測量衍射條紋的衍射角
答案:D第三章測試在泵浦氙燈電壓小于能量閾值電壓的條件下,調節(jié)泵浦氙燈的電壓,測量脈沖固體激光器輸出激光能量的能量讀數(shù)不會發(fā)生變化。
A:對
B:錯
答案:AGaAs測量磁場時利用霍爾效應,即霍爾電壓與磁場成正比,其前提是?
A:以上都不正確
B:工作電流I不變
C:溫度相對穩(wěn)定
D:磁場垂直于霍爾芯片
答案:BCD在脈沖固體激光器輸出激光的條件下,調節(jié)泵浦氙燈的電壓,激光在黑色相紙上打出的燒蝕斑點大小會發(fā)生變化。
A:對
B:錯
答案:A調節(jié)泵浦氙燈的電壓,激光在黑色相紙上打出的燒蝕斑點大小不會發(fā)生變化。
A:對
B:錯
答案:B泵浦(pumping)是指給激光工作物質提供能量使其形成粒子數(shù)反轉的過程。
A:錯
B:對
答案:B愛因斯坦建立了光和物質相互作用的受激吸收理論,為激光器的發(fā)明奠定了理論基礎。
A:對
B:錯
答案:B脈沖固體激光器能長時間持續(xù)輸出穩(wěn)定的激光。
A:錯
B:對
答案:A固體激光器有連續(xù)和脈沖兩種工作方式。脈沖固體激光器輸出激光持續(xù)時間為毫秒級,功率為千瓦級。
A:對
B:錯
答案:A激光的理論基礎是愛因斯坦提出的光和物質的相互作用的受激吸收理論。
A:對
B:錯
答案:B愛因斯坦把光和物質的相互作用歸結為自發(fā)輻射、受激吸收和受激輻射三個基本過程。
A:錯
B:對
答案:B第四章測試用激光測量光速常用方法是將激光調制成光強按一定頻率周期性變化的調制光波,通過測量調制光波的波長和頻率來間接測量光速。
A:錯
B:對
答案:B測量半導體激光器的電光特性實驗中,當注入電流小于閾值電流時,從小到大調節(jié)注入電流,激光輸出功率隨電流增大急劇增大。
A:對
B:錯
答案:B激光光強調制方法一般有外調制和內調制兩種方法,激光相位差法測量光速采用的是通過注入電流調制的內調制方法。
A:錯
B:對
答案:B用激光測量光速常用方法是將激光調制成光強按一定頻率周期性變化的調制光波,使調制光的頻率遠遠大于光的頻率。
A:對
B:錯
答案:B激光光強調制方法一般有外調制和內調制兩種方法,激光相位差法測量光速采用的是通過注入電流調制的外調制方法。
A:錯
B:對
答案:A光速的測量方法主要有天文學方法、光行差法、旋轉齒輪法、旋轉鏡法、克爾盒法、微波諧振腔法、微波干涉儀法、激光測距法、非線性激光光譜法等。
A:對
B:錯
答案:A激光相位差法測量光速實驗中,關于相位差計的用途,下列說法正確的是
A:測量角錐棱鏡移動L距離時激光調制波傳播2L距離產生的相位差
B:測量角錐棱鏡在A位置時激光調制波的相位差
C:測量角錐棱鏡移動L距離時激光調制波傳播L距離產生的相位差
D:測量角錐棱鏡在B位置時激光調制波的相位差
答案:ABD激光光強調制波可用光電探測器接收轉換為電信號來測量,關于光電探測器輸出電信號的頻率,下列說法正確的為
A:等于光強調制波頻率的3倍
B:等于光強調制波頻率的2倍
C:等于光強調制波頻率的1倍
D:等于光強調制波頻率的4倍
答案:C用激光測量光速常用方法是將激光調制成光強按一定頻率周期性變化的調制光波,關于調制激光光強波的傳播速度,下列說法正確的為
A:小于光的傳播速度
B:大于光的傳播速度
C:不等于光的傳播速度
D:等于光的傳播速度
答案:D聲光效應獲得激光光拍頻波可采用行波法和駐波法,在本實驗中采用的是行波法。
A:錯
B:對
答案:A第五章測試微波諧振腔波長表是用來測量微波功率的微波器件,主要由諧振腔、輸入耦合、輸出耦合、監(jiān)視裝置和讀數(shù)裝置等部分組成。
A:錯
B:對
答案:A微波晶體檢波器由一段波導和裝在其中的微波二極管組成,可實現(xiàn)對微波信號的檢波功能。
A:對
B:錯
答案:A波導是常用的微波傳輸線之一,常見的空心金屬管波導有矩形和圓柱形兩種。
A:對
B:錯
答案:A微波測量系統(tǒng)通常由等效電源、測量裝置、指示儀器三部分組成。
A:對
B:錯
答案:A測量微波頻率的駐波法,通過測量波導波長來間接測量微波頻率。
A:對
B:錯
答案:A波導終端負載為短路片時,微波電磁場在波導中處于駐波分布狀態(tài)。
A:對
B:錯
答案:A根據波導終端負載的不同,微波電磁場在波導中的分布可有行波、駐波和混波三種狀態(tài)。
A:對
B:錯
答案:A微波在波導中傳播,當波導終端接匹配負載時,下列選項不正確的為
A:微波分布為混波狀態(tài)
B:微波分布為行波狀態(tài)
C:波導中存在反射電磁波
D:終端負載吸收部分微波功率
答案:BCD波導終端負載為匹配負載時,微波電磁場在波導中處于行波分布狀態(tài)。
A:對
B:錯
答案:A晶體檢波器是微波測量的基本器件,需要測量的微波信號通過晶體檢波器中的晶體二極管檢波后,轉換為直流或低頻電流信號送至指示器。
A:錯
B:對
答案:B第六章測試π線和σ線在垂直于磁場方向傳播時,看不到π線。
A:對
B:錯
答案:Bπ線和σ線在平行于磁場方向傳播時,都是圓偏振光。
A:對
B:錯
答案:B用F-P標準具測量得到的圓環(huán)條紋,以下說法正確的是
A:對同一級圓環(huán),波長長的譜線形成的圓環(huán)靠內
B:中央條紋級次最高
C:對同一級圓環(huán),波長長的譜線形成的圓環(huán)靠外
D:中央條紋級次最低
答案:AB用汞燈綠光分裂的π線測量荷質比時,測量結果與準確值相差很大,可能的原因是
A:透鏡的位置不對
B:在處理干涉圓環(huán)時,畫圓圈沒有畫準確
C:磁場強度測量值出錯
D:偏振片的方位角不對
答案:BC在垂直于磁場的方向上觀察塞曼效應時,旋轉偏振片看到的現(xiàn)象是
A:圓環(huán)直徑發(fā)生變化
B:圓環(huán)由9個變?yōu)?個再變?yōu)?個,交替出現(xiàn)
C:圓環(huán)無變化
D:圓環(huán)亮度發(fā)生變化
答案:BF-P標準具是
A:成像裝置
B:衍射裝置
C:干涉裝置
D:色散裝置
答案:Cπ線和σ線在垂直于磁場方向傳播時,是什么偏振態(tài)的光?
A:線偏振光
B:圓偏振光
C:部分偏振光
D:橢圓偏振光
答案:A汞燈綠光分裂的σ線以下說法正確的是
A:由磁量子數(shù)之差為0的能級躍遷產生
B:只能在平行磁場的方向上觀察到,在垂直磁場的方向上觀察不到
C:由磁量子數(shù)之差為正負1的能級躍遷產生
D:有六個波長
答案:CD汞燈的綠光的波長為
A:546.1nm
B:556.5nm
C:576.2nm
D:537.2nm
答案:A汞燈含有四個顏色的光,因此不是單色光,則四個顏色的光為
A:紅、黃、藍、紫
B:黃、綠、藍、紫
C:黃、綠、紅、紫
D:橙、紅、黃、綠
答案:B第七章測試核磁共振成像儀器由工控計算機、譜儀單元、磁體單元和梯度磁場單元構成
A:錯
B:對
答案:A核磁共振圖像重建的脈沖序列有
A:軟脈沖自旋回波SE序列
B:反轉恢復IR序列
C:硬脈沖自旋回波CPMG序列
D:硬脈沖錯ID序列
答案:ABCD核磁共振頻率測量選用
A:反轉回復IR序列
B:硬脈沖錯ID序列
C:硬脈沖自選回波CPMG序列
D:軟脈沖自選回波SE序列
答案:B核磁共振成像選用
A:反轉回復IR序列
B:軟脈沖自選回波SE序列
C:硬脈沖自選回波CPMG序列
D:硬脈沖錯ID序列
答案:B射頻線圈有兩個作用分別是產生射頻磁場提供核磁共振發(fā)生所需的能量和接收信號
A:錯
B:對
答案:B核磁共振成像儀器由工控計算機、射頻單元、磁體單元和成像單元構成
A:對
B:錯
答案:B不能發(fā)生核磁共振的原子核是
A:質子數(shù)為奇數(shù),質量數(shù)為偶數(shù)
B:質子數(shù)為偶數(shù),質量數(shù)為偶數(shù)
C:質子數(shù)為偶數(shù),質量數(shù)為奇數(shù)
D:質子數(shù)為奇數(shù),質量數(shù)為奇數(shù)
答案:B核磁化強度矢量M的變化程度取決于激勵脈沖的強度和持續(xù)時間。施加的射頻脈沖越強,持續(xù)時間越長,在射頻脈沖停止時,核磁化強度矢量M離開其平衡狀態(tài)越遠。
A:對
B:錯
答案:A90度射頻脈沖作用后,磁化強度矢量方向是
A:垂直X軸
B:垂直Y軸
C:平行Z軸
D:垂直Z軸
答案:D橫向弛豫取決于原子核與周圍自旋粒子之間的相互作用,因此橫向弛豫也稱自旋-自旋弛豫。
A:對
B:錯
答案:A第八章測試諧振腔波長表是微波測量系統(tǒng)中常用的微波器件,可用來測量波導中微波波長、頻率特性。
A:對
B:錯
答案:A穩(wěn)恒磁場的作用是
A:使信號周期性出現(xiàn)而容易分辨
B:提供能量使電子發(fā)生能級躍遷
C:使電子發(fā)生自旋共振
D:使能級分裂
答案:D電子自旋共振的弛豫時間和核磁共振相比
A:電子自旋共振沒有弛豫過程
B:核磁共振弛豫時間較長
C:電子自旋共振弛豫時間較長
D:相同
答案:B掃場和穩(wěn)恒磁場的方向
A:方向成周期性反轉
B:相反
C:垂直
D:一致
答案:A樣品在諧振腔中的位置處于微波磁場最大和電場最小處
A:對
B:錯
答案:A在外磁場中電子自旋能級的狀態(tài)是
A:分裂為兩個
B:出現(xiàn)新的能級
C:分裂為三個
D:發(fā)生簡并
答案:A掃場的作用是
A:使信號周期性出現(xiàn)而容易分辨
B:提供能量使電子發(fā)生能級躍遷
C:使電子發(fā)生自旋共振
答案:A在外磁場中電子自旋能級的狀態(tài)是
A:發(fā)生簡并
B:出現(xiàn)新的能級
C:分裂為三個
D:分裂為二個
答案:D電子自旋共振實驗中的掃場可以去掉
A:錯
B:對
答案:A微波電子自旋共振實驗中需要將樣品諧振腔調節(jié)為駐波模式
A:對
B:錯
答案:A第九章測試利用光泵磁共振實驗不能測量銣原子的豐度。
A:錯
B:對
答案:B觀察光抽運信號時掃場線圈加方波,觀察光泵磁共振信號時掃場線圈加方波。
A:對
B:錯
答案:B溫度升高則銣蒸汽的原子密度增大,導致銣原子能級分布的偏極化增大。
A:對
B:錯
答案:BD1σ+光一方面起到光抽運作用,另一方面起到光探測作用。
A:錯
B:對
答案:B銣燈的光譜中光強特別大的譜線有兩條(D1線和D2線)。
A:錯
B:對
答案:B從52P1/2到52S1/2躍遷產生的譜線稱為D1線,波長為794.76nm
A:錯
B:對
答案:B磁場中87Rb原子對D1σ+光的吸收使5S能級中的8個子能級除了MF=+2的子能級外,都可以吸收D1σ+光而躍遷到5P的有關子能級。
A:錯
B:對
答案:B如果光抽運信號始終無法出現(xiàn),可能的原因有
A:入射光不是線偏振光
B:接收探測器損壞
C:磁場設置時未過零
D:入射光不是圓偏振光
答案:BCD本裝置不能測量地磁場
A:對
B:錯
答案:B光泵磁共振實驗中研究的原子是
A:85Rb和83Rb
B:85Rb
C:87Rb和83Rb
D:87Rb和85Rb
答案:D第十章測試根據磁電阻定義式,磁電阻可分為正常磁電阻和反常磁電阻。
A:錯
B:對
答案:B正常磁電阻的特性是電阻隨外磁場增加而增加。
A:錯
B:對
答案:B實驗過程中更換不同的磁電阻材料后,不需要調零。
A:對
B:錯
答案:B不同磁電阻材料的電阻隨磁場的變化趨勢相同。
A:對
B:錯
答案:B各向異性磁電阻的磁化方向與電流密度方向完全平行或者垂直時,磁電阻的靈敏度很低。
A:對
B:錯
答案:A自旋閥巨磁電阻材料的特點不包括?
A:靈敏度高
B:低飽和
C:單位磁場電阻變化率高
D:各向異性
答案:D對于多層膜磁電阻材料,下列說法正確的是?
A:當外磁場方向改變時,材料電阻發(fā)生改變
B:當外磁場為足夠大時,材料電阻為零
C:當外磁場為零時,材料電阻最小
D:當外磁場為零時,材料電阻最大
答案:D自旋閥巨磁電阻材料中包含哪一層材料?
A:隔離層
B:氧化層
C:自由層
D:保護層
答案:ACD巨磁電阻效應中,電阻的變化率能達到多少?
A:0.5
B:0.01
C:0.0010
D:0.1
答案:D半導體內的載流子將受洛侖茲力作用,發(fā)生偏轉,在與電流平行的方向產生積聚電荷。
A:錯
B:對
答案:A第十一章測試實驗中測量到的是哪個壓電常數(shù)?
A:d33
B:d12
C:d23
D:d11
答案:A對于壓電材料,下列說法正確的是?
A:壓電效應是不可逆的
B:壓電材料必須經過極化處理后才能出現(xiàn)壓電性
C:壓電材料都是陶瓷材料
D:壓電參數(shù)是一個矢量
答案:B實驗中壓電陶瓷引起的形變尺度最接近那個?
A:nm
B:Fm
C:μm
D:m
答案:C壓電陶瓷是一種?
A:非晶體
B:多晶體
C:單晶體
D:液晶
答案:B目前,壓電材料的壓電常數(shù)最高可以到2000C/N。
A:錯
B:對
答案:A壓電材料可以被用于石油工業(yè)的測井中。
A:對
B:錯
答案:A壓電常數(shù)等于電流比外力。
A:錯
B:對
答案:A儀器中測量了那種壓電效應是?
A:逆壓電效應
B:弱壓電效應
C:強壓電效應
D:正壓電效應
答案:AD壓電常數(shù)等于電流比外力。
A:錯
B:對
答案:A麥克爾遜干涉儀調節(jié)過程中應該兩條光路同時調節(jié)。
A:錯
B:對
答案:A第十二章測試基組越大計算效果越好。
A:錯
B:對
答案:ADFT理論比HF方法更先進。
A:錯
B:對
答案:B電子的關聯(lián)效應是指電子與其他電子之間的相互作用。
A:對
B:錯
答案:A在計算軌道波函數(shù)時需要指定分子坐標。
A:錯
B:對
答案:BHOMO軌道是指最低未占據軌道。
A:對
B:錯
答案:BCF2Cl2分子的軌道類型為
A:a1,a2,E1,E2
B:a1,a2,b1,b2
C:b1,b2,σ1,σ2
D:b1,b2,E1,E2
答案:B密度泛函理論計算分子結構時,必須指定的是
A:基組
B:分子坐標
C:交換泛函
D:關聯(lián)泛函
答案:ABCD實驗中Gaussian09的用途是
A:計算分子軌道能量
B:計算分子軌道電子密度
C:計算分子中各原子間的鍵長
D:計算分子波函數(shù)
答案:ABCDHF方法中考慮了
A:僅考慮了電子之間的交換效應
B:僅考慮了電子之間的關聯(lián)效應
C:既考慮交換效應又考慮關聯(lián)效應
D:既未考慮交換效應又未考慮關聯(lián)效
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