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文檔簡介

電子連接器可靠性及其測試方法

1整理ppt一、產(chǎn)品的可靠性“可靠性”譯自英文“Reliability”,日本人將之譯為“信賴性”,指在給定條件下、規(guī)定期間中,一個(gè)產(chǎn)品執(zhí)行某種功能的可能性。開始發(fā)展于第二次世界大戰(zhàn)期間,發(fā)展歷程如下:1,真空管時(shí)代二戰(zhàn)期間,美軍作戰(zhàn)的戰(zhàn)斗機(jī)使用的通信設(shè)備中半數(shù)以上無法使用,經(jīng)過詳細(xì)調(diào)查發(fā)現(xiàn)幾乎都為真空管不良引起。但對(duì)真空管進(jìn)行品質(zhì)全面檢查時(shí),從進(jìn)料、生產(chǎn)、出貨整個(gè)過程都完全達(dá)到圖面要求的規(guī)格水準(zhǔn)。此時(shí)才發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品還需要考慮堅(jiān)固耐用,并將其導(dǎo)入設(shè)計(jì)規(guī)范和圖面中,開始以制造不易故障的產(chǎn)品為目標(biāo)。2,阿波羅計(jì)劃將可靠性技術(shù)導(dǎo)入阿波羅計(jì)劃中,使原本落后于前蘇聯(lián)的太空計(jì)劃,因阿波羅登月成功而后來居上、一舉成名。2整理ppt一、產(chǎn)品的可靠性3,1965年IEC(國際電氣標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì))設(shè)立《可靠性技術(shù)》委員會(huì)。1975年正式發(fā)表《可靠性和可維護(hù)性》規(guī)范(Reliability&Maintainability)4,可靠性技術(shù)引入日本約在1960年前后,最成功的例子是日本新干線。到目前為止,新干線已累積運(yùn)行近10億公里,足可環(huán)繞地球25,000圈以上,從未發(fā)生重大事故。可靠性包括三個(gè)方面的要素1,給定的條件,亦即使用條件或環(huán)境條件2,規(guī)定的期間,亦即產(chǎn)品壽命3,要求的性能,性能或故障的定義3整理ppt二、產(chǎn)品品質(zhì)與可靠性產(chǎn)品品質(zhì)技術(shù)特性產(chǎn)品特性功能方面實(shí)用方面尺寸配合使用特性(性能)堅(jiān)固耐用維修容易可靠性可維護(hù)性狹義品質(zhì)廣義可靠性Q、C、DQ:Quality;C:Cost;D:Delivery4整理ppt三、電子連接器的可靠性1,簡介連接器的可靠性考慮如下幾種因素:

A、產(chǎn)品設(shè)計(jì)和產(chǎn)品制造的材料

B、操作環(huán)境

C、功能要求

應(yīng)用的環(huán)境,特別是溫度、濕度、腐蝕性,決定了哪些自身的失效機(jī)理會(huì)發(fā)生作用,而連接器功能的要求,決定了怎樣的失效程度是允許的。2,可靠性評(píng)估的程序連接器可靠性評(píng)估程序包括如下內(nèi)容:

A、決定應(yīng)用的可接受的標(biāo)準(zhǔn),包括端子電阻和其它的失效模式。按照應(yīng)用的重要性確認(rèn)發(fā)生作用的失效機(jī)理并分類。

B、開發(fā)測試程序處理預(yù)測的應(yīng)用中的失效機(jī)理,排列并分等級(jí)。

C、定下加速因子(規(guī)定X天暴露的A試驗(yàn)相當(dāng)于Y年的B項(xiàng)應(yīng)用),如有可能,做特別的測試。

D、根據(jù)從鑒定程序得來的數(shù)據(jù),作適當(dāng)?shù)臄?shù)據(jù)分析和數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)處理。

E、評(píng)估可靠性

以上的步驟依賴于工程上的判斷。連接器的制造商和用戶應(yīng)該對(duì)鑒定程序的內(nèi)容和方法一致同意認(rèn)可。

5整理ppt三、電子連接器的可靠性3,連接器的定義從功能上定義:

電子連接器:在一個(gè)電子系統(tǒng)中的兩個(gè)子系統(tǒng)之間提供一個(gè)可分離的連接,而又不會(huì)對(duì)系統(tǒng)的性能產(chǎn)生不可接受的影響。

可分離性是我們要使用連接器的理由,方便對(duì)一個(gè)系統(tǒng)的子系統(tǒng)或零件的維修、升級(jí)。

同時(shí),這種連接對(duì)系統(tǒng)的性能不能產(chǎn)生任何不可接受的影響。例如信號(hào)的吸收、衰減、

電力的損耗。

可分離和不可接受的的限度的要求,決定于連接器的具體應(yīng)用要求。從結(jié)構(gòu)上定義:連接器有四個(gè)結(jié)構(gòu)性的元素,它們是:

A、端子(間)的接觸界面

B、端子的表面處理

C、端子的簧片

D、連接器的殼體

請(qǐng)參考圖1-1。

6整理ppt三、電子連接器的可靠性連接器的結(jié)構(gòu)端子(間)的接觸界面端子的表面處理端子的簧片連接器的殼體圖17整理ppt三、電子連接器的可靠性A、端子(間)的接觸界面端子間的接觸界面決定了端子的電阻、連接器的壽命(性能不失效的情況下插撥次數(shù))

和失效的發(fā)生。

端子間的接觸界面有兩種形式:

可分離性接觸------連接器的每次插入時(shí)形成的聯(lián)接

永久性接觸------連接器固定在子系統(tǒng)上的點(diǎn),這些點(diǎn)是當(dāng)作永久連接的。B、端子的表面處理端子的表面處理有兩個(gè)主要功能:

a、保護(hù)端子簧片的基材不生銹

b、優(yōu)化端子間的接觸界面

端子的表面處理主要分為兩大類:

a、貴金屬表面處理

我們所講的貴金屬即惰性金屬。主要有金(Au)、鈀(Pd)及其合金。

b、非貴金屬的表面處理

錫是最常用的非貴金屬表面處理,因?yàn)樗谋砻嫜趸瘜雍苋菀自谶B接器插入過程

中被破壞掉。

8整理ppt三、電子連接器的可靠性C、端子的簧片端子簧片提供如下三個(gè)功能:

a、傳輸電力或信號(hào)

b、提供端子正向力來建立和維持可分離的端子接觸界面

c、提供永久性端子接觸界面的連接點(diǎn)D、連接器殼體(HOUSING)連接器殼體提供如下四項(xiàng)功能:

a、端子間的電氣絕緣

b、固定端子的幾何位置,利于插入和尺寸穩(wěn)定

c、為端子提供機(jī)械保護(hù)和支撐

d、將端子從應(yīng)用環(huán)境中隔離開來,減少對(duì)腐蝕的敏感

9整理ppt三、電子連接器的可靠性4,連接器的電阻R總體電阻=R(永久性接觸)+R(體電阻)+R(接觸電阻) 公式1如圖2所示的連接器,通過測量兩個(gè)PCB板的引線可以測量連接器的整體電阻。電阻范圍大約為2~20微歐姆。電阻包含三個(gè)方面:

a、永久性接觸界面的電阻的范圍為幾個(gè)至幾十個(gè)微歐;

b、體電阻是端子彈簧片的電阻,圖2指的是公型彈簧片和母型彈簧片的電阻,取決于彈簧片的材料、幾何形狀,其范圍也一般為幾至幾十微歐。

C、可分離式的接觸電阻一般只有幾個(gè)微歐或更低。

低的和穩(wěn)定的電阻是連接器的一個(gè)主要要求之一,永久性接觸電阻和體電阻是穩(wěn)定的,總體電阻的不穩(wěn)定是由接觸電阻引起的。R(接觸電阻)=R(集中電阻)+R(膜層電阻) 公式2

R(集中電阻)主要由接觸的面積及接觸面的表面處理有關(guān)

膜層主要有:

氧化物膜層,存在于大部分膜層

化學(xué)膜層,包含氯化物、硫化物、氮化物等,所處的環(huán)境有關(guān),是化學(xué)粘附

吸附膜層,通常為水和有機(jī)物,松散地吸附在表面

污染物層

因此,R(膜層電阻)主要與其使用的環(huán)境有關(guān)

圖3和4分別描述了集中電阻和膜層結(jié)構(gòu)。

10整理ppt三、電子連接器的可靠性圖2連接器電阻組成示意圖R(永久性接觸)R(永久性接觸)R(體電阻)R(體電阻)R(接觸電阻)11整理ppt三、電子連接器的可靠性圖3接觸電阻示意圖集中區(qū)域接觸點(diǎn)膜層12整理ppt三、電子連接器的可靠性圖4典型的覆蓋的膜層結(jié)構(gòu)金屬底層冷作硬化層氧化物層吸附物層污染物層13整理ppt三、電子連接器的可靠性5,連接器的功能連接器分為信號(hào)連接器和電源連接器這兩種連接器的功能要求是不同的。

14整理ppt三、電子連接器的可靠性6,連接器的應(yīng)用為了理解連接器的應(yīng)用AMP建立了六個(gè)等級(jí)來定義系統(tǒng)中不同的內(nèi)部連接,即電子封裝的六個(gè)等級(jí)。等級(jí)1:芯片內(nèi)部集成電路與金屬引腳之間的連接

主要由高速自動(dòng)的方法制造

非常特別

通常不是可分離的和可修補(bǔ)的

裝入到器件的封裝中

必須極端可靠

例如各種芯片

等級(jí)2:芯片與PCB之間的連接

通常必須能耐焊接的環(huán)境

相對(duì)來說,尺寸較小,通常不需要固定硬件

低的插撥次數(shù)要求

由專業(yè)人員服務(wù)

例如DIPSocket

例如PGA(PinGridArray,針陣列)370,mPGA478(Northwood)

15整理ppt三、電子連接器的可靠性6,連接器的應(yīng)用等級(jí)3:PCB之間的連接,通常有三種,即垂直板連接(mother/daughter,),平行板連接

(ParallelStacked,=)和同一平面內(nèi)連接(Planar,一一)。

插撥次數(shù)在幾十至上百次。

針的數(shù)目比較多,有超過1000,屬高密度連接器。

由于高的針數(shù)目,插撥力比較重要,有導(dǎo)向作用的硬件和鍵。

高速的能力支持板的處理速度,微毫秒、微微秒開關(guān),可控制的阻抗開始變得重要。

要求可維修性。

在系統(tǒng)的層次,是專業(yè)人員服務(wù),但用戶直接使用的情況在增長,因此要考慮堅(jiān)固性。

例如:AGP、PCI、DIMM、CardEdge系列。

等級(jí)4:子系統(tǒng)之間的連接,由于子系統(tǒng)之間能常都有一定的距離,因此一般都通過Cable和

Harness完成。

特別的結(jié)構(gòu),便于電纜的應(yīng)用。

插撥次數(shù)在幾百次。

由于用戶自行連接,要堅(jiān)固。

鎖緊結(jié)構(gòu)很平常,防止振動(dòng)或其它器件的移動(dòng)而造成的脫離接觸。

考慮EMI/RFI(電磁干擾)的情況增多了。

屏蔽和過濾的要求增多了。

例如UltraATACable,AMP-Latch,CT(CommonTermination)Cable,EI/MTEICable

16整理ppt三、電子連接器的可靠性6,連接器的應(yīng)用等級(jí)5:系統(tǒng)內(nèi)部子系統(tǒng)與I/O接口之間的連接

由于連接器的一半是在系統(tǒng)的外面,標(biāo)準(zhǔn)化很重要。

同樣的原因,要堅(jiān)固、易用。

考慮屏蔽、過濾和干涉很重要。

其它的要求同等級(jí)4。

例如:USB系列、IEEE1394系列、MODJK系列、D-Sub系列。

等級(jí)6:不同系統(tǒng)之間的連接,包括電纜組件、電源線組件、射頻同軸電纜組件及光纖

保留等級(jí)4及5的要求

堅(jiān)固變得很重要

插撥次數(shù)要求增加,幾百次甚至近千次。

由于更長的暴露的長度,屏蔽和過濾很重要

標(biāo)準(zhǔn)化是一個(gè)主要的考慮

工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)如RS232、RS-449、SCSI-1、SCSI-2、IEEE1394、IEEE802.3,

MIL-C-39012(與射頻同軸接插件有關(guān)),MIL-C-24308(與AMPLIMITE有關(guān)),

V35(系統(tǒng)內(nèi)連接和網(wǎng)絡(luò)工業(yè)有關(guān)),905及906(與光纖連接器有關(guān))。

例如AMPLIMITE線纜、USBCable、MODJKCABLE,各種同軸CABLE。

17整理ppt三、電子連接器的可靠性圖5電子封裝的六個(gè)等級(jí)18整理ppt三、電子連接器的可靠性7,連接器的可靠性A、定義在給定的應(yīng)用條件下,規(guī)定的期間內(nèi),保持規(guī)定的連接器電阻范圍的可能性。B、失效模式連接器電阻增大超出規(guī)定的范圍。C、失效機(jī)理腐蝕磨損端子正向力損失

19整理ppt三、電子連接器的可靠性8,連接器的失效機(jī)理A、腐蝕腐蝕主要與端子接觸界面和表面處理有關(guān)。腐蝕導(dǎo)致端子電阻增加的兩個(gè)主要機(jī)理為:一系列的膜層形成于接觸界面和腐蝕性的的物質(zhì)滲透至接觸界面而導(dǎo)致接觸區(qū)域減少必須要考慮的三個(gè)常見的腐蝕類型有:表面腐蝕指腐蝕膜層覆蓋在端子表面,如錫氧化物、鈀/鈀合金的氯化物腐蝕遷移指腐蝕性的物質(zhì)遷移至端子表面而到接觸區(qū)域。應(yīng)用的環(huán)境對(duì)腐蝕遷移很敏感,例如硫和氯存在的環(huán)境小孔腐蝕如果腐蝕遷移位置發(fā)生于一個(gè)小孔,一個(gè)小小的電鍍表面的不連續(xù)的孔,這種腐蝕機(jī)理叫小孔腐蝕。小孔本身不影響接觸電阻,而只有小孔變成腐蝕源頭時(shí),才會(huì)使接觸電阻下降。

20整理ppt三、電子連接器的可靠性B、磨損由于磨損的作用,增加了接觸界面對(duì)腐蝕的敏感性,通過對(duì)基材的表面處理,保護(hù)了基層和優(yōu)化了膜層表面,而磨損會(huì)使表面處理的功能喪失。影響磨損的因素

V=(KFnI)/H公式3V為每次循環(huán)磨損量,K為摩擦系數(shù),F(xiàn)n為正向力,I為滑入長度,H為接觸表面材料硬度。摩擦系數(shù)K,由幾何形狀、正向力、表面硬度、潤滑狀況和材料決定。正向力Fn,F(xiàn)n增加,增加了粘結(jié)和相應(yīng)的研磨的磨損,因而增加了磨損。滑入長度I,很明顯,I增加,磨損會(huì)增加,因此要限制插入深度。表面處理硬度H,影響接觸區(qū)域的面積,硬的和軟的表面處理的搭配的對(duì)拼,軟的磨損物質(zhì)會(huì)轉(zhuǎn)移至硬的表面,所以在連接器中,通常連接器對(duì)拼的兩個(gè)部分的電鍍材料是一樣的。小結(jié):磨損可以通過慎重地選擇合適的材料(表面硬度)控制正向力和使用潤滑劑來降至最低。

21整理ppt三、電子連接器的可靠性C、端子正向力損失對(duì)于連接器的失效,正向力的損失,會(huì)造成端子接觸界面的機(jī)械穩(wěn)定性降低,而機(jī)械穩(wěn)定性的降低又會(huì)引起接觸界面對(duì)機(jī)械或熱誘發(fā)的應(yīng)變的擾動(dòng)的敏感性提高,從而增加接觸電阻。正向力損失主要有兩個(gè)方面:永久變形。永久變形指端子梁由于塑性變形而偏離原始位置造成梁偏移減少,因此正向力降低。是由插拔過程中的過應(yīng)力,通常是因?yàn)椴徽_的或粗魯?shù)牟灏我鸬?,要通殼體和/或端子的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)來解決,例如增加導(dǎo)向結(jié)構(gòu)防過插入等。應(yīng)力松馳應(yīng)力松馳的結(jié)果是應(yīng)力S的減少,從而正向力下降。應(yīng)力松馳是不可避免的,只能控制,應(yīng)力松馳的速度與設(shè)計(jì)選擇的材料和施加的應(yīng)力及應(yīng)用環(huán)境的溫度有關(guān)。應(yīng)力松馳依賴于時(shí)間和溫度。

22整理ppt四、連接器可靠性要求的測試EnvironmentalTest(Thermal,Humid.)環(huán)境試驗(yàn)(耐熱、濕度)*Heat.*Temp.cycling.*Cold.*Humidity.耐熱、溫度循環(huán)測試、*Shower*Solderingheatresistance.耐濕、噴淋、焊錫耐熱測試EnvironmentalTest(Corrosion,Others)環(huán)境試驗(yàn)(腐蝕、其它)*SO2gas.*H2Sgas.*Saltspray.SO2氣體、H2S氣體、

*Weather.*Dust鹽霧、耐氣候性、耐灰塵ElectricalTest

電氣測試*Currentcycling.*Currentaging.電流循環(huán)、電流老化、

*Rushcurrent.

過度電流測試MechanicalTest

機(jī)械測試*Vibration.*Shock.*Durability.振動(dòng)、衝擊、耐久性、

*Frettingcorrosion摩擦腐蝕測試ChemicalTest

化學(xué)金屬測試*Solvent.*Flammability.*Oil.抗溶劑性、耐火性、耐油性、

*Stresscorrosioncracking. 應(yīng)力腐蝕開裂MixedTest

混合測試*Vibration+Humidity.振動(dòng)+耐濕23整理ppt四、連接器可靠性要求的測試ElectricalParameter

電氣特性*Low-levelTerminationresistance.

微歐姆的連接電阻*Voltagedrop.*Insulationresistance.絶緣電阻、耐壓、洩漏電流*Dielectricwithstandingvoltage.壓降、振蕩、瞬間斷電*Leakcurrent.*Chattering.*Electricaldiscontinuity.MechanicalParameter

機(jī)械方面的特性*Mate/Unmateforce.*RetentionForce.

插入/拔出力、保持力*Lockingstrength.*Stress-Straincurve.

鎖緊強(qiáng)度、應(yīng)力-應(yīng)變曲線*Torque.

扭力HighFrequency

高頻特性*Impedance.*Capacitance.

電磁抵抗、靜電容量、電磁誘導(dǎo)*Inductance.*Cross-talk.*VSWR.

回路間串話、電壓駐波比Chemical,Metallurgical

化學(xué)、金屬特性*Platingthickness.*Hardness.

*PH.

鍍金厚度、硬度、PH值A(chǔ)ppearance

外觀*Solderability.*Cross-section.

可焊接性、斷面、外觀、感覺*Visual.*Feeling.24整理pptTerminationResistance

接觸阻抗

TestMethod

測定方法RAB二端點(diǎn)法四端點(diǎn)法mVRCDI2ProbeMethod二端點(diǎn)法*IncludeallresistancefromAtoBProbeanditscontactresistance,R.*Suitableforhighresistanceas1kΩ-2kΩ.4ProbeMethod四端點(diǎn)法*MeasureonlyR,betweenCandD.Notincludeprobeanditscontactresistance.*SuitableforlowresistanceasmΩlevel.四、連接器可靠性測試方法Tyco109-6EIA364-23A&IEC60512-2-125整理pptLowLevelTerminationResistance

低的接觸電阻

DryCircuit*ApplyingverylowvoltageandcurrentthoseaffectnooxidizedfilmbreakageatContactpoint.

Rt=Rb+Rc+RfTotalResistance

BulkResistance

ConstrictionResistance

FilmResistance

總電阻

體電阻

集中電阻

膜層電阻

ContactResistance

接觸電阻*Over50mVvoltageisrequiredtobreakthrough50?oxidizedfilmthickness.

*Drycircuit:50mV,50mAmaximum.根據(jù)AMP的理論為50mV以下、但I(xiàn)EC標(biāo)準(zhǔn)為20mV以下。*Lowlevelterminationresistance:Measuredby4ProbeMethodinDrycircuit.施加的電壓非常低或通過的電流非常小,而又不破壞接觸點(diǎn)的絶緣膜的電路叫干式電路,這種小的接觸電阻稱為

低的電阻。四、連接器可靠性測試方法26整理pptInsulationResistance

絶緣電阻*Resistancetoleakcurrentatappliedspecifieddirectvoltage.

以規(guī)定的直流電壓加在端子(CONTACT)間或端子和接地線間1分鐘、並測定得到的電阻。

**MΩminimumat500VDC,1minute.*Checkinsulationperformancebytheeffectofstain,deteriorationandoxidizing.

本試驗(yàn)測定絶緣特性。該特性受絶緣物質(zhì)的污染、退化、氧化及揮發(fā)成分的減少等原因而影響。*Mainlyaffectedbytemperature,humidity,andresidualelectriccharge.

影響絶緣電阻的主要因素有:溫度、濕度、殘留的電子、充電電流、測試儀及測定電路的設(shè)定參數(shù)、測試電壓、加壓的時(shí)間、等。

四、連接器可靠性測試方法Tyco109-28EIA364-21C&IEC60512-3-127整理pptDielectricWithStandingVoltage

耐壓*Applyspecifiedvoltagebetweencontacts.以規(guī)定的直流或交流電(1000VAC/1500VDC)加在端子(CONTACT)間或端子和接地線之間。

Noflashover(1mAMax.leakcurrent)at500VAC,1minute.*Checkworkinsafeatratedvoltage,passingovervoltageandspacingofcomponents.試驗(yàn)測定在額定電壓下是否安全動(dòng)作、過大電壓時(shí)是否能承受、零件間的間隔*Mainlyaffectedbytemperature,humidity,atmosphericpressure,featureandsoon.

影響耐壓的主要因素有溫度、濕度、大氣壓、電極的狀態(tài)及形狀、頻率、電磁波形、加壓時(shí)的上昇率及持續(xù)時(shí)間、試品的形狀、等)

四、連接器可靠性測試方法Tyco109-29EIA364-20B&IEC60512-4-128整理pptVibration

振動(dòng)*Addvibrationofspecifiedfrequency,accelerationorvibrationwidth,directionandperiod.

將連接器放在振動(dòng)測試器、以規(guī)定的頻率、振動(dòng)加速度或以固定的振幅、方向和周期進(jìn)行測試*Lowfrequency(10-55Hz):Normallytransportation,vehicleandtrain低頻率振動(dòng):為相當(dāng)於一般的輸送工具、汽車及火車的振動(dòng)頻率(10-55Hz)*Highfrequency(10-500,10-2000Hz):Airvehicle,missile,tank.高頻率振動(dòng):為相當(dāng)於飛機(jī)、導(dǎo)彈及液槽車的振動(dòng)頻率(10-500Hz、10-2000Hz)*Checkphysical/electricaleffectbyvibrationaselectricaldiscontinuity.測定在振動(dòng)中所受的機(jī)械和電方面的影響,特別是電流的瞬間中斷是否發(fā)生。*Mainlyaffectedasloosenessofcomponents,electricalnoisebyterminationresistancemutation,fatigueofmechanicandbreakdown.因振動(dòng)可能引起下列的影響:零件的鬆動(dòng)、電阻的變化所引起的電氣噪音、機(jī)械部分的疲勞和破壞、電流的瞬間中斷。

四、連接器可靠性測試方法Tyco109-21EIA364-28D&IEC60512-6-429整理pptDiscontinuity

瞬間斷電

VoltageTime

BaseLevel(100mAxSampleResistance)TriggerLevel500mVDiscontinuityNondiscontinuityDiscontinuity

time

IntervalConceptofDiscontinuity500mV=5Ω100mA瞬間斷電的時(shí)間間隔四、連接器可靠性測試方法Tyco109-31EIA364-46A&IEC60512-2-530整理pptDiscontinuity

瞬間斷電

四、連接器可靠性測試方法Tyco109-31EIA364-46A&IEC60512-2-5固定電阻恒流源電壓偵測試樣標(biāo)準(zhǔn):電阻>=10ohms,持續(xù)時(shí)間>=1microsecond,則fail31整理pptPhysicalShock

物理沖擊*Addspecifiedacceleration,duration,wave,directionandtimes.將連接器放在衝擊測試器中以規(guī)定的衝擊加速度、持續(xù)時(shí)間、波形、衝擊方法及規(guī)定的回?cái)?shù)加以撞擊。

490m/s2(50G),Halfsignwave,11msec,X,Y,Z,normalandreverseddirection,3timeseach.*Checkadaptabilitywhentheconnectorappliedroughhandlingandtransportationandmilitaryuse.為測定在不細(xì)心的搬運(yùn)、運(yùn)送及軍事使用上可能發(fā)生的各種撞擊下、是否能承受。*Mainlyaffectedasloosenessofcomponents,electricalnoisebyterminationresistancemutation,mechanicalfatigue,breakdownandelectricdiscontinuity.因撞擊可能引起試品的破裂、松動(dòng)、電阻的變化所引起的電氣噪音、機(jī)械部分的疲勞和破壞、電流的瞬間中斷。 四、連接器可靠性測試方法Tyco109-26EIA364-27B&IEC60512-6-332整理pptPlating

電鍍*Method

以下列的方法測定鍍金厚度。X-ray,β-scope,MicroscopeX射線、β-scope、電子顯微鏡*PurposeofAuplatingCorrosionprotectivecovering,Decreaseterminationresistance,Heatresistance,Ornamentandsoon.防止腐蝕、減小電阻、耐熱及裝飾等目的。*PurposeofNiunderplatingProtectdiffusionsulfideofcontactmaterial(Cu,Ag)comethroughgoldplatingporous.Protectdiffusionofcontactmaterial(Cu,Zn)toAu.CuandZnareeasytodiffusetoAuandmakeoxidizedCuandZn.1)為防止端子材料(銅或銀)的硫化物通過鍍金的小孔而擴(kuò)散到鍍金表面。2)為防止端子材料(銅或鋅)擴(kuò)散到鍍金中。銅和鋅很容易擴(kuò)散至金中使銅和鋅氧化。數(shù)個(gè)月的保管後、被鋅氧化物、銅氧化物或銅硫化物覆蓋。

四、連接器可靠性測試方法33整理pptPorousofGoldplating4003005002001000102060708090304050PorousPlatingthickness[μinches]ConventionalHotCyanideGold多孔性多孔率鍍金厚度常規(guī)的熱氰化物金四、連接器可靠性測試方法Tyco109-14334整理pptSolderability

可焊接性為測定端子的焊接性和連接器的焊接性。*Checkbymicroscope(10times).以下列的條件進(jìn)行測試後、以10倍放大鏡觀察焊錫的表面的付著情形。*MethodSolder:60%Sn-40%Pb焊錫:60%錫ー40%鉛

Flux:Alpha100Flux:ALPHA100(AquaticwhiteRosin:25%,IPO:75%)Soldertemp.:235±5℃溫度:235±5℃

Duration:5sec.持續(xù)時(shí)間:5秒四、連接器可靠性測試方法Tyco109-1135整理pptStressCorrosionCracking

應(yīng)力腐蝕破裂*Copperalloy,especiallyBrassisoccurredStressCorrosionCrackinginAmmonia(氨)

atmosphere.AmmoniaWater(28%)ConnectorDesiccator*MethodExposematedcontact(connector)intheatmosphereofAmmoniagason28%Ammoniawater40minutes.StressCorrosionCrackcertainlyoccurredtoBrasswhichhastensilestressinhumidair.四、連接器可靠性測試方法銅合金,特別是黃銅,容易在氨的環(huán)境中發(fā)生應(yīng)力腐蝕開裂暴露已配插的端子或連接器于28%氨水的氨氣環(huán)境中40分鐘在潮濕空氣中有拉應(yīng)力的黃銅肯定會(huì)有應(yīng)力腐蝕開裂36整理pptSaltSpray

鹽霧試驗(yàn)Method*Spray5%densitysaltwateronconnector.

將5%的鹽水以噴霧器噴淋至連接器中。Purpose*Checkqualityofplatingthicknessandporosity.為電鍍質(zhì)量、特別是厚度及多孔性的評(píng)估。Method

*Exposespecimeninchamberwhichset40℃temp.

將試樣在40℃或60℃,90-95%

and90~95%humidityforspecifiedduration.的恒溫恒濕槽中、

放置規(guī)定的所要実験時(shí)間。Purpose

*Checkdeteriorationofmaterialsbymoistureabsorption.判斷絶縁材料的吸濕度。

Thematerialwhichiseasytoabsorbmoistureiseasytogetphysical,mechanicalandelectricaldeterioration.MainlyaffecttoInsulationresistanceandterminationresistance.HSG的絶縁度劣化、因端子的腐蝕而造成電阻変大。

四、連接器可靠性測試方法Tyco109-510137整理pptHumidity(Constant)

濕度(常態(tài)下)Method

*Exposespecimeninchamberwhichset40℃temp.

將試樣在40℃或60℃,90-95%

and90~95%humidityforspecifiedduration.的恒溫恒濕槽中、

放置規(guī)定的所要実験時(shí)間。Purpose

*Checkdeteriorationofmaterialsbymoistureabsorption.判斷絶縁材料的吸濕度。

Thematerialwhichiseasytoabsorbmoistureiseasytogetphysical,mechanicalandelectricaldeterioration.MainlyaffecttoInsulationresistanceandterminationresistance.HSG的絶縁度劣化、因端子的腐蝕而造成電阻変大。

Method*Exposespecimeninchamberwhichset40℃temp.and90~95%humidityforspecifiedduration.將試樣在40℃或60℃,90-95%濕度的恒溫恒濕槽中放置規(guī)定的時(shí)間。

Purpose*Checkdeteriorationofmaterialsbymoistureabsorption.

判斷絶緣材料因吸濕而引起的劣化。Thematerialwhichiseasytoabsorbmoistureiseasytogetphysical,mechanicalandelectricaldeterioration.MainlyaffecttoInsulationresistanceandterminationresistance.容易吸濕的材料很容易會(huì)物理、機(jī)械、絶緣性劣化、因端子的腐蝕而造成電阻變大。四、連接器可靠性測試方法Tyco109-5106(Moistureabsorption)38整理pptHumidityandTemperatureCycling

濕度和溫度周期Method*Exposespecimen10cyclesinchamberwhichissetasfollow;樣品置于恒溫恒濕箱中,按如下的設(shè)定循環(huán)十

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