測試度量分析

度量與分析指南度量與分析指南第#頁共12頁致命：引起系統(tǒng)死機或系統(tǒng)崩潰的問題。文檔的評審和編碼沒有致命問題。嚴重：如果不改正將引起嚴重的功能障礙或無法得到預(yù)期結(jié)果的缺陷。一般：導(dǎo)致某一個重要/關(guān)鍵特性功能異常，但不會影響到其它特性的缺陷。提示：從操作或維護的角度發(fā)現(xiàn)的問題或建議。備注：對提示性問題不計入質(zhì)量目標(biāo)。文檔中的編輯錯誤，如錯別字、表述不清等；編程風(fēng)格規(guī)范方面的問題其嚴重程度定為“提示”。c.缺陷來源軟件需求缺陷：指在定義或確定軟件需求時所引入的錯誤。它包括在功能規(guī)格界面、設(shè)計和測試需求、以及規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的缺陷。概要設(shè)計缺陷：指在軟件概要設(shè)計中所引入的錯誤。它包括在功能描述、界面控制邏輯、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)、標(biāo)準(zhǔn)中所發(fā)現(xiàn)的缺陷。詳細設(shè)計缺陷:指在軟件詳細設(shè)計中所引入的錯誤。編碼缺陷：指在程序?qū)崿F(xiàn)或編碼時所引入的錯誤。它包括在程序邏輯、界面處理、數(shù)據(jù)定義、計算和標(biāo)準(zhǔn)中所發(fā)現(xiàn)的缺陷。測試計劃：指在測試用例或測試設(shè)計中所引入的錯誤。包括評審測試用例時發(fā)現(xiàn)的缺陷和測試時發(fā)現(xiàn)的測試用例錯誤。備注：對提示性問題不計入缺陷來源。在計算缺陷密度時不計算TP（測試計劃）類錯誤。3.2.5.2數(shù)據(jù)收集PM定期（建議每周）從CRLog和評審表單中收集缺陷數(shù)據(jù)，根據(jù)缺陷發(fā)現(xiàn)活動、缺陷來源和嚴重程度填入度量表中缺陷頁相應(yīng)單元；PM在每輪測試結(jié)束后，從缺陷跟蹤電子流中收集缺陷數(shù)據(jù)，根據(jù)缺陷發(fā)現(xiàn)活動、缺陷來源、嚴重程度填入度量表中缺陷頁相應(yīng)單元；PM在交付物基線化后，從配置庫中收集規(guī)模數(shù)據(jù)，填入度量表中規(guī)模頁的相應(yīng)單元。對基線化的CI進行更改后，在基線化后重新收集規(guī)模數(shù)據(jù)。3.2.5.3分析參考a.活動缺陷發(fā)現(xiàn)密度可以指出軟件質(zhì)量是否足以進入下一階段；可以判斷評審或測試活動是否有效地發(fā)現(xiàn)缺陷。確?；顒尤毕莅l(fā)現(xiàn)密度在質(zhì)量目標(biāo)控制范圍內(nèi)就是為了及早發(fā)現(xiàn)和修正缺陷，減少返工的工作，達到交付高質(zhì)量產(chǎn)品的目的。在每個活動過程中，缺陷發(fā)現(xiàn)密度與質(zhì)量目標(biāo)的偏差都說明一些變化，可能是過程的改進，更可能的還是過程質(zhì)量低劣。在缺陷發(fā)現(xiàn)密度超出控制限時，應(yīng)從過程、工程、人員和培訓(xùn)等方面進行偏差原因分析，必要時需要制定糾正和預(yù)防活動計劃。一般來說，低的缺陷發(fā)現(xiàn)密度可以表示高質(zhì)量的軟件，也可以表示低劣的評審或測試過程。任何時候，都可以對生命周期的所有活動進行分析，如果前期缺陷發(fā)現(xiàn)密度低于質(zhì)量目標(biāo)，而后期的缺陷發(fā)現(xiàn)密度高于質(zhì)量目標(biāo)，這說明項目組需要分析前期用于發(fā)現(xiàn)缺陷的過程；如果相反，更證實了早期發(fā)現(xiàn)缺陷的重要意義說明早期成熟的軟件過程和有效的質(zhì)量控制活動，當(dāng)然也可能是因為項目組成員健全的技能和經(jīng)驗水平。如果前期的活動缺陷發(fā)現(xiàn)密度都高于質(zhì)量目標(biāo)，這通常預(yù)示著后面將