超聲檢測習題及答案

-.z.一、判斷題第一單元（物理基礎）1、波動過程中能量傳播是靠相鄰兩質點的相互碰撞來完成的。（F）2、波只能在彈性介質中產生和傳播。（F）3、由于機械波是由機械振動產生的，所以波動頻率等于振動頻率。（O）4、由于機械波是由機械振動產生的，所以波長等于振幅.。（F）5、傳聲介質的彈性模量越大，密度越小，聲速就越高。（O）6、物體作諧振動時，在平衡位置的勢能為零。（O）7、一般固體介質中的聲速隨溫度的升高而增大。（F）8、由端角反射率試驗結果推斷，使用K≥1.5的探頭探測單面焊焊縫根部未焊透缺陷，靈敏度較低，可能造成漏檢。（O）9、超聲波擴散衰減的大小與介質無關。（O）10、超聲波的頻率越高，傳播速度越快。（F）11、介質能傳播橫波和表面波的必要條件是介質具有切變彈性模量。（O）12、頻率相同的縱波，在水中的波長大于在鋼中的波長。（F）13、既然水波能在水面?zhèn)鞑?，則超聲表面波也能在液體表面?zhèn)鞑ァ＃‵）14、因為超聲波是由機械振動產生的，所以超聲波在介質中的傳播速度即為質點的振動速度。（F）15、如材質相同，細鋼棒（直徑<λ）與鋼鍛件中的聲速相同。（F）16、在同種固體材料中，縱、橫波聲速之比為常數。（O）17、不同的固體介質，彈性模量越大，密度越大，則聲速越大。（F）18、表面波在介質表面作橢圓振動，橢圓的長軸平行于波的傳播方向。（F）19、波的疊加原理說明，幾列波在同一介質中傳播并相遇時，都可以合成一個波繼續(xù)傳播。（F）20、在超聲波傳播方向上，單位面積、單位時間通過的超聲能量叫聲強。（F）21、超聲波的能量遠大于聲波的能量，1MHz的超聲波的能量相當于1KHz聲波能量的100萬倍。（O）22、聲壓差2倍，則兩信號的分貝差為6dB（分貝）。（F）23、材料的聲阻抗越大，超聲波傳播時衰減越大。（F）24、平面波垂直入射到界面上，入射聲壓等于透射聲壓和反射聲壓之和。（F）25、平面波垂直入射到界面上，入射能量等于透射能量和反射能量之和。（O）26、超聲波的擴散衰減與波型、聲程和傳播介質、晶粒度有關。（F）27、對同一材料而言，橫波的衰減系數比縱波大得多。（O）28、界面上入射聲束的折射角等于反射角。（F）29、當聲束以一定角度入射到不同介質的界面上，會發(fā)生波型轉換。（O）30、在同一固體材料中，傳播縱、橫波時聲阻抗不一樣。（O）31、聲阻抗是衡量介質聲學特性的主要參數，溫度變化對材料的聲阻抗無任何影響。（F）32、超聲波垂直入射到界面時，聲強反射率與聲強透射率之和等于1.（O）33、超聲波垂直入射到異質界面時，界面一側的總聲壓等于另一側的聲壓。（O）34、超聲波垂直入射到Z2>Z1的界面時，聲強透射率大于1，說明界面有增強聲壓的作用。（F）35、超聲波垂直入射到異質界面時，當底面全反射時，聲壓往復透射率與聲強透射率在數值上相等。（O）36、超聲波垂直入射時，界面兩側介質聲阻抗差愈小，聲壓往復透射率愈低。（F）37、當鋼中的氣隙（如裂紋）厚度一定時，超聲波頻率增加，反射波高也隨之增加。（O）38、超聲波傾斜入射到異質界面時，同種波型的反射角等于入射角。（F）39、超聲波傾斜入射到異質界面時，同種波型的折射角總是大于入射角。（F）40、超聲波以10°角入射到水/鋼界面，反射角等于10°。（O）41、超聲波入射到鋼/水界面時，第一臨界角約為14.5°。（F）42、第二介質中折射的橫波平行于界面時的縱波入射角為第一臨界角。（F）43、如果有機玻璃/鋁界面的第一臨界角大于有機玻璃/鋼界面的第一臨界角，則前者的第二臨界角也一定大于后者。（F）44、只有當第一介質為固體介質時，才會有第三臨界角。（O）45、橫波入射至鋼/空氣界面時，入射角30°左右時，橫波聲壓反射率最低。（O）46、超聲波入射到C1<C2的凹曲界面時，其透射波發(fā)散。（F）47、超聲波入射到C1>C2的凸曲界面時，其透射波聚焦。（O）48、以有機玻璃做聲透鏡的水浸聚焦探頭，有機玻璃/水界面為凹曲面。（O）49、介質的聲阻抗愈大，引起的超聲波的衰減愈嚴重。（F）50、聚焦探頭輻射的聲波，在材質中的衰減小。（F）51、超聲波探傷中所指的衰減僅為材料對聲波的吸收作用。（F）52、超聲平面波不存在材質衰減。（F）第二單元（聲場特征及規(guī)則反射體反射）1、超聲波頻率越高，近場區(qū)的長度就越大。（O）2、對同一個直探頭來說，在鋼中的近場區(qū)長度比在水中的近場區(qū)長度大。（F）3、在近場區(qū)內由于波的干涉探傷定位和定量都不準。（O）4、探頭頻率越高，聲束擴散角越小。（O）5、超聲波探傷的實際聲場中的聲束軸線上不存在聲壓為零的點。（O）6、聲束指向性不僅與頻率有關，而且與波型有關。（O）7、超聲波的波長越長，聲束擴散角就越大，發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力也就越強。（F）8、因為超聲波會擴散衰減，所以檢測則應盡可能在近場區(qū)進行。（F）9、因為超聲場近場區(qū)內有多個聲壓為零的點，所以探傷時在近場區(qū)缺陷往往會漏檢。（F）10、如果超聲波頻率不變，晶片面積越大，近場區(qū)的長度越短。（F）11、面積相同，頻率相同的圓晶片和方晶片，超聲場的近場區(qū)長度一樣長。（O）12、面積相同，頻率相同的圓晶片和方晶片，其聲束指向角相同。（F）13、晶片尺寸相同，超聲場的近場長度愈短，聲束指向性愈好。（F）14、聲波輻射的超聲波能量主要集中在主聲束內。（O）15、實際聲場和理想聲場在遠場區(qū)軸線上聲壓分布基本一致。（O）16、探傷采用低頻率探頭是為了改善聲束指向性，提高探傷靈敏度。（F）17、與圓盤源不同，矩形波源的縱波聲場有兩個不同的半擴散角。（O）18、在超聲場的為擴散區(qū)，可將聲源輻射的超聲波看成平面波，平均聲壓不隨距離的增加而改變。（O）19、斜角探傷橫波聲場中假想聲源的面積大于實際聲源面積。（F）20、頻率和晶片尺寸相同時，橫波聲束指向性比縱波好。（O）21、200mm處Ф4的長橫孔的回波聲壓比100mm處Ф2的長橫孔的回波聲壓低。（O）22、球孔的回波聲壓隨距離的變化規(guī)律與平底孔相同。（O）23、同聲程理想大平底面與平底孔回波聲壓的比值隨頻率的提高而減小。（O）24、軸類工件外圓徑向檢測時，曲底面回波聲壓與同聲程的理想大平底面相同。（O）25、對空心圓柱體在內孔探傷時，曲底面回波聲壓與同聲程的理想大平底面低。（F）第三單元儀器設備和器材1、超聲波探傷中，發(fā)射超聲波是利用正壓電效應，接收超聲波是利用逆壓電效應。2、增益100dB就是信號強度放大100倍。（F）3、與鋯鈦酸鉛相比，石英作為壓電材料有性能穩(wěn)定、機電耦合系數高、壓電轉換能量損失小等優(yōu)點。（F）4、與普通探頭相比，聚焦探頭的分辨力較高。（O）5、使用聚焦透鏡能提高靈敏度和分辨力，但減小了探測*圍。（O）6、點聚焦探頭比線聚焦探頭靈敏度高。（O）7、雙晶探頭只能用于縱波檢測。（F）8、B型顯示能夠展現(xiàn)工件內缺陷的埋藏深度。（O）9、C型顯示能夠展現(xiàn)工件內缺陷的長度和寬度，但不能展現(xiàn)深度。（O）10、通用AVG曲線采用的距離是以近場區(qū)長度為單位的歸一化距離，適用于不同規(guī)格的探頭。（O）11、在通用AVG曲線上，可直接查得缺陷的實際聲程和當量尺寸。（F）12、A型顯示探傷儀，利用DGS曲線板可直觀顯示缺陷的當量尺寸缺陷深度。（O）13、衰減器是用來調節(jié)探傷靈敏度的，衰減器讀數越大，靈敏度越高。（F）14、多通道探傷儀是由多個或多對探頭同時工作的探傷儀。（F）15、探傷儀的發(fā)射電路亦稱為觸法電路。（F）16、探傷儀的發(fā)射電路可產生幾百伏到上千伏的電脈沖去激勵探頭晶片振動。（O）17、探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工件探傷面上掃查的電路。（F）18、探傷儀發(fā)射電路中的阻尼電阻值愈大，發(fā)射強度愈弱。（F）19、調節(jié)探傷儀的“深度細調”旋鈕時，可連續(xù)改變掃描線掃描速度。（O）20、調節(jié)探傷儀的“抑制”旋鈕時，抑制越大，儀器的動態(tài)*圍越大。（F）21、調節(jié)探傷儀的“延遲”旋鈕時，掃描線上回波信號的距離也隨之改變。（F）22、不同壓電晶體材料中聲速不一樣，因此不同壓電材料的頻率常數也不相同。（O）23、不同壓電晶體材料的頻率常數不一樣，因此不同壓電材料制作的探頭其標稱頻率不可能相同。（F）24、壓電晶片的壓電應變常數（d33）大，則說明晶片接收性能好。（F）25、壓電晶片的壓電電壓常數（g33）大，則說明晶片接收性能好。（O）26、探頭中壓電晶片背面加吸收塊是為了提高機械品質因子θm，減少機械能損耗。（F）27、工件表面比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護晶片，宜選用硬保護膜。（F）28、斜探頭楔塊前部和上部開消聲槽的目的是使超聲波反射回晶片處，減少聲能損失。（F）29、由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭只能進行縱波探傷。（F）30、雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠，覆蓋區(qū)愈大。（F）31、斜探頭前部磨損較多時，探頭的K值將變大。(F)32、利用IIW試塊上ф50mm孔與兩側面的距離，僅能測定直探頭盲區(qū)的大致*圍.(O)33、當斜探頭對準IIW2試塊上R50曲面時，熒光屏上的多次反射回波是等距離的.(F)34、中心切槽的半圓試塊，其反射特點是多次回波總是等距離出現(xiàn).(O)35、與IIW試塊相比CSK-1A試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭分辨力.(O)36、調節(jié)探傷儀的“水平”旋鈕，將會改變儀器的水平線性.(F)37、測定儀器的“動態(tài)*圍”時，應將儀器的“抑制”、“深度補償”旋鈕置于“關”的位置.(O)38、盲區(qū)與始波寬度是同一概念.(F)39、測定組合靈敏度時，可先調節(jié)儀器的“抑制”按鈕，使點噪聲電平≤10%，再進行測試.(F)40、測定“始波寬度”時，應將儀器的靈敏度調至最大.(F)41、為提高分辨力，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強度應盡量調得低一些.(O)42、脈沖重復頻率的調節(jié)與被探工件厚度有關，對厚度大的工件，應采用較低的重復頻率。.(O)43、雙晶探頭主要應用于近表面缺陷的探測.(O)44、溫度對斜探頭折射角有影響，當溫度升高時，折射角將變大.(O)45、目前使用最廣泛的測厚儀是共振式測厚儀.(F)46、在鋼中折射角為60o的斜探頭，用于探測鋁時，其折射角將變大.(F)47、“發(fā)射脈沖寬度”就是指發(fā)射脈沖的持續(xù)時間.(O)48、軟保護膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響.(O)49、水浸聚焦探頭探傷工件時，實際焦距比理論計算值大。（F）50、聲束指向角較小且聲束截面較窄的探頭稱作窄脈沖探頭.(F)第四單元超聲檢測工藝4.1多次底波法缺陷撿出靈敏度低于缺陷回波法.(O)4.2穿透法的最大優(yōu)點是不存在盲區(qū)，但小缺陷容易漏檢.(O)4.3穿透法的靈敏度高于脈沖反射法.(F)4.4串列法探傷適用于檢查垂直于探側面的平面缺陷.(O)4.5“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好.(F)4.6所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的.(F)4.7當量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸.(F)4.8半波高度發(fā)用來測量大小于聲束截面的缺陷的尺寸.(F)4.9串列式雙探頭法探傷即為穿透法.(F)4.10厚焊縫采用串列法掃描時，如焊縫余高磨平，則不存在死區(qū).(F)4.11曲面工件探傷時，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好.(O)4.12實際探傷中，為提高掃查速度減少雜波的干擾，應將探傷靈敏度適當降低.(F)4.13采用當量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實際尺寸.(O)4.14只有當工件中缺陷在各個方向的尺寸均大于聲束截面時，才能采用測長法確定缺陷長度.(F)4.15絕對靈敏度法測量缺陷指示長度時，測長靈敏度高，測得的缺陷長度大.(O)4.16當工件內存在較大的內應力時，將使超聲波的傳播速度及方向發(fā)生變化.(O)4.17超聲波傾斜入射至缺陷表面時，缺陷反射波高隨入射角的增大而增高.(F)第五單元超聲檢測應用5.1鋼板探傷時，通常只根據缺陷波情況判定缺陷.(F)5.2當鋼板中缺陷大于聲束截面時，由于缺陷多次反射波互相干涉容易出現(xiàn)“疊加效應”.(F)5.3厚鋼板探傷中，若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，說明缺陷的尺寸一定較大.(O)5.4較薄鋼板采用底波多次法探傷時，如出現(xiàn)“疊加效應”，說明鋼板中缺陷尺寸一定很大.(F)5.5復合鋼板探傷時，可以從母材一側探傷，也可從復合材料一側探傷.(O)5.6直探頭置于非重皮側的鋼板表面檢測，容易發(fā)現(xiàn)鋼板中的重皮缺陷.(F)5.7小徑管的主要缺陷是平行于管軸的徑向缺陷，一般利用橫波進行軸向掃查探測.(F)5.8小徑管水浸聚焦法探傷時，應使探頭的焦點落在與聲束軸線垂直的管心線上.(O)5.9鋼管作手工接觸法周向探傷時，應從順、逆時針兩個方向各探傷一次。(O)5.10鋼管水浸探傷時，水中加入適量活性劑是為了調節(jié)水的聲阻抗，改善透聲性.(F)5.11鋼管水浸探傷時，如鋼管中無缺陷，熒光屏上只有始波和界面波.(O)5.12檢測厚鋼板中的小缺陷時，不會出現(xiàn)“疊加效應”.(O)第六單元6.1對軸類鍛件探傷，一般來說以縱波直探頭從徑向探測效果最佳.(O)6.2使用斜探頭對軸類鍛件作圓柱面軸向探測時，探頭應用正反兩個方向掃查.(O)6.3對餅形鍛件，采用直探頭作徑向探測時最佳的探傷方法.(F)6.4調節(jié)鍛件探傷靈敏度的底波法，其含義是鍛件掃查過程中依據底波變化情況評定鍛件質量等級.(F)6.5鍛件探傷中，如缺陷引起底波明顯下降或消失時，說明鍛件中存在較嚴重的缺陷.(O)6.6鍛件探傷時，如缺陷被探傷人員判定為白點，則應按密集缺陷評定鍛件等級.(F)6.7直探頭在圓柱形軸類鍛件外園探傷時發(fā)現(xiàn)的游動回波都是裂紋回波。（F）6.8用鍛件大平底調靈敏度時，如底面有污物將會使底波下降，這樣調節(jié)的靈敏度將偏低，缺陷定量將會偏小。（F）6.9鑄鋼件超聲波探傷，一般以縱波直探頭為主.(O)第七單元超聲檢測應用7.1焊縫橫波探傷中，裂紋等危害性缺陷的反射波幅一般很高.(O)7.2焊縫橫波探傷時，如采用直射法，可不考慮結構反射、變型波等干擾回波的影響.(F)7.3采用雙探頭串列法掃查焊縫時，位于焊縫深度方向任何部位的缺陷，其反射波均出現(xiàn)在熒光屏上同一位置.(O)7.4焊縫探傷時所用斜探頭，當楔塊底面前部磨損較大時，其K值將變小.(O)7.5焊縫橫波探傷時常采用液態(tài)偶合劑，說明橫波可以通過液態(tài)介質薄層.(F)7.6當焊縫中的缺陷與聲束成一定角度時，探測頻率較高時，缺陷回波不易被探頭接收.(O)7.7.焊縫橫波探傷在滿足靈敏度要求的情況下，應盡量選用大K值探頭.(O)7.8斜探頭環(huán)繞掃除時，回波高度幾乎不變，則可判斷為點狀缺陷.(O)7.9由于管座角焊縫中危害最大的缺陷是未溶合和裂紋等縱向缺陷，因此一般以縱波直探頭探測為主.(O)7.10裂縫探傷中，裂紋的回波比較尖銳，探頭轉動時，波很快消失.(F)二、選擇題1.1、以下關于諧振動的敘述，哪一條是錯誤的（A）A、諧振動就是質點在作勻速圓周運動。B、任何復雜振動都可視為多個諧振動的合成。C、在諧振動動中，質點在位移最大處受力最大，速度為零。D、在諧振動動中，質點在平衡位置速度大，受力為零。1.2、超聲波在彈性介質中傳播時，下面哪句話是錯誤的（C）A、介質由近及遠，一層一層地振動B、能量逐層向前傳播C、遇到障礙物的尺寸只要大于聲束寬度就會全部反射D、遇到很小的缺陷會產生繞射1.3、超聲波是頻率超出人耳聽覺的彈性機械波，其頻率*圍約為：（A）A、高于20000HZB、1－10MHZC、高于200HZD、0.25－15MHZ1.4、在金屬材料的超聲波探傷中，使用最多的頻率*圍是：（C）A、10－25MHZB、1-1000KHZC、1-5MHZD、大于20000MHZ1.5機械波的波速取決于（D）A、機械振動中質點的速度B、機械振動中質點的振幅C、機械振動中質點的振動頻率D、彈性介質的特性1.6在同種固體材料中，縱波聲速CL，橫波聲速CS，表面波聲速CR之間的關系是：（C）A、CR>CS>CLB、CS>CL>CRC、CL>CS>CRD、以上都不對1.7在下列不同類型超聲波中，哪種波的傳播速度隨頻率的不同而改變（B）A、表面波B、板波C、疏密波D、剪切波1.8超聲波入射到異質界面時，可能發(fā)生（D）A、反射B、折射C、波型轉換D、以上都是1.9超聲波在介質中的傳播速度與（D）有關、A、介質的彈性B、介質的密度C、超聲波波型D、以上全部1.10在同一固體材料中，縱、橫波聲速相比，與材料的（C）有關？A、密度B、彈性模量C、泊松比D、以上全部1.11質點振動方向垂直于波的傳播方向的波是：（B）A、縱波B、橫波C、表面波D、蘭姆波1.12在流體中可傳播：（A）A、縱波B、橫波C、縱波、橫波及表面波D、切變波1.13超聲縱波、橫波和表面波速度主要取決于：（C）A、頻率B、傳聲介質的幾何尺寸C、傳聲材料的彈性模量和密度D、以上全都不全面，須視具體情況而定1.14超聲波聲速c、波長λ與頻率f之間的關系為：（A）A、c=λfB、f=λcC、λ=cfD、c=λf21.15鋼中超聲縱波聲速為590000cm/s,若頻率為10MHZ則其波長：（C）A、59mmB、5.9mmC、0.59mmD、2.36mm1.16下面哪種超聲波的波長最短（A）A、水中傳播的2MHZ縱波B、鋼中傳播的2.5MHZ橫波C、鋼中傳播的5MHZ縱波D、鋼中傳播的2MHZ表面波1.17一般認為表面波作用于物體的深度大約為（C）A、半個波長B、一個波長C、兩個波長D、3.7個波長1.18鋼中表面波的能量大約在距表面多深的距離會降低到原來的1/25.(B)A、五個波長B、一個波長C、1/10波長D、0.5波長1.19脈沖反射法超聲波探傷主要利用超聲波傳播過程中的（B）A、散射特性B、反射特性C、透射特性D、擴散特性1.20超聲波在彈性介質中傳播時有（D）A、質點振動和質點移動B、質點振動和振動傳遞C、質點振動和能量傳播D、B和C1.21超聲波在彈性介質中的速度是（B）A、質點振動的速度B、聲能的傳播速度C、波長和傳播時間的乘積D、以上都不是1.22若頻率一定，下列哪種波型在固體彈性介質中傳播的波長最短：（D）A、剪切波B、壓縮波C、橫波D、瑞利表面波1.23材料的聲速和密度的乘積稱為聲阻抗，它將影響超聲波（B）A、在傳播時的材質衰減B、從一個介質到達另一個介質時在界面上的反射和透射C、在傳播時的散射D、擴散角大小1.24聲阻抗是：（C）A、超聲振動的參數B、界面的參數C、傳聲介質的參數D、以上都不對1.25當超聲縱波由水垂直射向鋼時，其聲壓透射率大于1，這意味著：（D）A、能量守恒定律在這里不起作用B、透射能量大于入射能量C、A與B都對D、以上都不對1.26當超聲縱波由鋼垂直射向水時，其聲壓透射率小于0，這意味著：（B）A、透射能量大于入射能量B、反射超聲波振動相位與入射聲波互成180oC、超聲波無法透入水中D、以上都不對1.27垂直入射到異質界面得超聲波束的反射聲壓和透射聲壓：（C）A、與界面兩邊材料的聲速有關B、與界面兩邊材料的密度有關C、與界面兩邊材料的聲阻抗有關D、與入射聲波波型有關1.28在液浸探傷中，哪種波會迅速衰減：（C）A、縱波B、橫波C、表面波D、切變波1.29超聲波傳播過程中，遇到尺寸與波長相當的障礙物時，將發(fā)生（B）A、只繞射，無反射B、既反射，又繞射C、只反射，無繞射D、以上都有可能1.30在同一固體介質中，當分別傳播縱、橫波時，它的聲阻抗將是（C）A、一樣B、傳播橫波時大C、傳播縱波時大D、無法確定1.31超聲波垂直入射到異質界面時，反射波與透過波聲能的分配比例取決于（C）A、界面兩側介質的聲速B、界面兩側介質的衰減系數C、界面兩側介質的聲阻抗D、以上全部1.32在同一界面上，聲強透射率T與聲壓反射率r之間的關系是（B）A、T=r2B、T=1-r2C、T=1+rD、T=1-r1.33在同一界面上，聲強反射率R與聲強透過率T之間的關系是（D）A、R+T=1B、T=1-RC、R=1-TD、以上全對1.34超聲波傾斜入射至異質界面時，其傳播方向的改變主要取決于（B）A、界面兩側介質的聲阻抗B、界面兩側介質的聲速C、界面兩側介質衰減系數D、以上全部1.35傾斜入射到異質界面的超聲波束的反射聲壓與透射聲壓與哪一因素有關（D）A、反射波波型B、入射角度C、界面兩側的聲阻抗D、以上都是1.36縱波垂直入射水浸法超聲波探傷，若工件底面全反射，計算底面回波聲壓公式為（A）A、B、C、D、1.37一般地說，如果頻率相同，則在粗晶材料中穿透能力最強的振動波型為：（B）A、表面波B、縱波C、橫波D、三種波型的穿透力相同1.38不同振動頻率，而在鋼中有最高聲速的波型是：（A）A、0.5MHZ的縱波B、2.5MHZ的橫波C、10MHZ的爬波D、5MHZ的表面波1.39在水/鋼界面上，水中入射角為17o，在鋼中傳播的主要振動波型為：（B）A、表面波B、橫波C、縱波D、B和C1.40當超聲縱波由有機玻璃以入射角15o射向鋼界面時，可能存在：（D）A、反射縱波B.反射橫波C.折射縱波和折射橫波D.以上都有1.41如果將用于鋼的K2探頭區(qū)探測鋁(CFe=3.23km/s,CAL=3.10km/s),則K值會（B）A、大于2B、小于2C、仍等于2D、還需其他參數才能確定1.42如果超聲縱波由水以20o入射到鋼界面，則在鋼中橫波折射角為：（A）A、約48oB、約24oC、39oD、以上都不對1.43第一臨界角是：（C）A、折射縱波等于90o時的橫波入射角B、折射橫波等于90o時的縱波入射角C、折射縱波等于90o時的縱波入射角D、入射縱波接近90o時的折射角1.44第二臨界角是：（B）A、縱波折射角等于90o時的橫波入射角B、橫波折射角等于90o時的縱波入射角C、縱波折射角等于90o時的縱波入射角D、縱波入射角接近90o時的折射角1.45要在工件中得到純橫波，探頭入射角α必須：（C）A、大于第二臨界角B、大于第一臨界角C.在第一、第二臨界角之間D.小于第二臨界角1.46一般均要求斜探頭楔塊材料的縱波速度小于被檢材料的縱波聲速，因為只有這樣才有可能：（A）A、在工件中得到純橫波B、得到良好的聲束指向性C、實現(xiàn)聲束聚焦D、減少近場區(qū)的影響1.47縱波以20o入射角自水入射至鋼中，下圖中哪一個聲束路徑是正確的？（D）1.48用入射角為52o的斜探頭探測方鋼，下圖中哪一個聲束路徑是正確的？（D）1.49直探頭縱波探測具有傾斜底面的鍛鋼件，下圖中哪一個聲束路徑是正確的？（B）1.50第一介質為有機玻璃（CL=2700m/s）,第二介質為銅（CL=4700m/s，CS=2700m/s）,則第II臨界角為（D）A、B、C、D、以上都不對1.51用4MHZ鋼質保護膜直探頭經甘油耦合后，對鋼試件進行探測，若要能得到最佳透聲效果，其耦合層厚度為（甘油CL=1920m/s）（D）A、1.45mmB、0.20mmC、0.7375mmD、0.24mm1.52用直探頭以水為透聲楔塊使鋼板對接焊縫中得到橫波檢測，此時探頭聲束軸線相對于探測面的傾角*圍為：（B）A、14.7o~27.7oB、62.3o~75.3oC、27.2o~56.7oD、不受限制1.53有一不銹鋼復合鋼板，不銹鋼復合層聲阻抗Z1，基體鋼板聲阻抗Z2,今從鋼板一側以2.5MHZ直探頭直接接觸法探測，則界面上聲壓透射率公式為：（C）A、B、C、D、1.54由材質衰減引起的超聲波減弱db數等于：（A）A、衰減系數與聲程的乘積B、衰減系數與深度的乘積C、(為衰減系數，S為聲程)D、以上都不對1.55超聲波（活塞波）在非均勻介質中傳播，引起聲能衰減的原因是：（D）A、介質對超聲波的吸收B、介質對超聲波的散射C、聲束擴散D、以上全部1.56斜探頭直接接觸法探測鋼板焊縫時，其橫波：（D）A、在有機玻璃斜楔塊中產生B、從晶片上直接產生C、在有機玻璃與耦合層界面上產生D、在耦合層與鋼板界面上產生1.57制作凹曲面的聚焦透鏡時，若透鏡材料聲速為C1，第二透聲介質聲速為C2，則兩者材料應滿足如下關系：（A）A、C1>C2B、C1<C2C、C1=C2D、Z1=Z21.58當聚焦探頭聲透鏡的曲率半徑增大時，透鏡焦距將：（A）A．增大B．不變C．減小D．以上都不對1.59平面波在曲界面上透過情況，正確的圖是：（B）題1.59圖A、C1>C2B、C1>C2C、C1<C2D、C1<C21.60介質的吸收衰減與頻率的關系是（B）A、與頻率成反比B、與頻率成正比C、與頻率的平方成正比D、與頻率的平方成反比1.61由材料晶粒粗大而引起的衰減屬于：（B）A、擴散衰減B、散射衰減C、吸收衰減D、以上都是1.62與超聲頻率無關的衰減方式是（A）A、擴散衰減B、散射衰減C、吸收衰減D、以上都是1.63下面有關材料衰減的敘述、哪句話是錯誤的：(D)A、橫波衰減比縱波嚴重B、固體材料的衰減系數一般隨溫度上升而增大C、當晶粒度大于波長1/10時對探傷有顯著影響D、提高增益可完全克服衰減對探傷的影響2.1波束擴散角是晶片尺寸和傳播介質中聲波波長的函數，并且隨（B）A、頻率增加，晶片直徑減小而減少B、頻率或晶片直徑減小而增大C、頻率或晶片直徑減小而減小D、頻率增加，晶片直徑減小而增大2.2晶片直徑D=20mm的直探頭，在鋼中測得其零輻射角為10o，該探頭探測頻率約為（D）A、2.5MHZB、5MHZC、4MHZD、2MHZ2.3直徑Ф12mm晶片5MHZ直探頭在鋼中的指向角是（C）A、5.6oB、3.5oC、6.8oD、24.6o2.4Ф14mm，2.5MHZ直探頭在鋼中近場區(qū)為（B）A、27mmB、21mmC、38mmD、以上都不對2.5上題探頭的非擴散區(qū)長度約為（A）A、35mmB、63mmC、45mmD、以上都不對2.6在非擴散區(qū)內大平底距聲源距離增大1倍，其回波減弱（D）A、6dbB、12dbC、3dbD、0db2.7利用球面波聲壓公式（）得到的規(guī)則反射體反射聲壓公式應用條件是（D）A、近似正確B、基本正確C、正確D、以上都正確2.8在超聲探頭遠場區(qū)中（B）A、聲束邊緣聲壓較大B、聲束中心聲壓較大C、聲束邊緣與中心強度一樣D、聲壓與聲束寬度成正比2.9活塞波聲場，聲束軸線上最后一個聲壓極大值到聲源的距離稱為（A）A、近場長度B、未擴散區(qū)C、主聲束D、超聲場2.10下列直探頭，在鋼中指向性最好的是（C）A、2.5P20ZB、3P14ZC、4P20ZD、5P14Z2.11圓盤源軸線上的聲壓分布最后一個極小點的位置是（B）A、0.25NB、0.5NC、0.75ND、N2.22超聲場的未擴散區(qū)長度（C）A．約等于近場長度B．約等于近場長度0.6倍C．約等于近場長度1.6倍D．約等于近場長度3倍2.13遠場*圍的超聲波可視為（C）A、平面波B、柱面波C、球面波D、以上都不對2.14在探測條件相同的情況下，面積比為2的兩個平底孔，其反射波高相差（A）A．6dbB．12dbC．9dbD．3db2.15在探測條件相同的情況下，孔徑比為4的兩個球形人工缺陷，其反射波高相差（B）A、6dbB、12dbC、24dbD、18db2.16在探測條件相同的情況下，直徑比為2的兩個實心圓柱體，其曲底面回波相差（C）A、12dbB、9dbC、6dbD、3db2.17外徑為D，內徑為d的實心圓柱體，以相同的靈敏度在內壁和外圓探測，如忽略耦合差異，則底波高度比為（D）A、1B、C、D、2.18同直徑的平底孔在球面波聲場中距聲源距離增大1倍,則回波減弱:（B）A、6dbB、12dbC、3dbD、9db2.19同直徑的長橫孔在球面波聲場中距聲源距離增大1倍則回波減弱:（D）A、6dbB、12dbC、3dbD、9db2.20在球面波聲場中大平底距聲源距離增大1倍回波減弱:（A）A、6dbB、12dbC、3dbD、9db2.21對于柱面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是（D）A、增大6dbB、減少6dbC、增大3dbD、減少3db2.22對于球面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是（B）A、增大6dbB、減少6dbC、增大3dbD、減少3db2.23比Ф3mm平底孔回波聲壓小7db的同聲程平底孔直徑是：（B）A、Ф1mmB、Ф2mmC、Ф4mmD、Ф0.5mm2.24比Ф3mm長橫孔回波聲壓小7db的同聲程長橫孔直徑是：（A）A、Ф0.6mmB、Ф1mmC、Ф2mmD、Ф0.3mm2.25以下敘述中哪一條不是聚焦探頭的優(yōu)點（C）A、靈敏度高B、橫向分辨率高C、縱向分辨率高D、探測粗晶材料時信噪比高2.26以下敘述中，哪一條不是聚焦探頭的缺點（C）A、聲束細，每次掃查探測區(qū)域小，頻率低B、每只探頭僅適宜探測*一深度*圍缺陷，通用性差C、由于聲波的干涉作用和聲透鏡的球差，聲束不能完全匯聚一點D、以上都是3.1A型掃描顯示中，從熒光屏上直接可獲得的信息是（C）A、缺陷的性質和大小B、缺陷的形狀和取向C、缺陷回波的大小和超聲傳播的時間D、以上都是3.2A型掃描顯示，“盲區(qū)”是指（C）A、近場區(qū)B、聲束擴散角以外區(qū)域C、始脈沖寬度和儀器阻塞恢復時間D、以上均是3.3A型掃描顯示中，熒光屏上垂直顯示大小表示：（A）A、超聲回波的幅度大小B、缺陷的位置C、被探材料的厚度D、超聲傳播時間3.4A型掃描顯示中，水平時基線代表：（C）A、超聲回波的幅度大小B、探頭移動距離C、聲波傳播時間D、缺陷尺寸大小3.5脈沖反射式超聲波探傷儀中，產生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做（C）A．發(fā)射電路B．掃描電路C．同步電路D．顯示電路3.6脈沖反射式超聲波探傷儀中，產生時基線的電路單元叫做（A）A．掃描電路B．觸發(fā)電路C．同步電路D．發(fā)射電路3.7發(fā)射電路輸出的電脈沖，其電壓通?？蛇_（A）A、幾百伏到上千伏B、幾十伏C、幾伏D、1伏3.8發(fā)射脈沖的持續(xù)時間叫：（A）A、始脈沖寬度B、脈沖周期C、脈沖振幅D、以上都不是3.9探頭上標的2.5MHZ是指：（B）A．重復頻率B．工作頻率C．觸發(fā)脈沖頻率D．以上都不對3.10影響儀器靈敏度的旋紐有：（D）A．發(fā)射強度和增益旋鈕B．衰減器和抑制C．深度補償D．以上都是3.11儀器水平線性的好壞直接影響（C）A．缺陷性質判斷B．缺陷大小判斷C．缺陷的精確定位D．以上都對3.12儀器的垂直線性好壞會影響（A）A．缺陷的當量比較B．AVG曲線面板的使用C．缺陷的定位D．以上都對3.13接受電路中，放大器輸入端接收的回波電壓約有（D）A．幾百伏B．100V左右C．10V左右D．0.001~1V3.14同步電路每秒鐘產生的觸發(fā)脈沖數為（B）A．1―2個B．數十個到數千個C．與工作頻率有同D．以上都不對3.115調節(jié)儀器面板上的“抑制”旋鈕會影響探傷儀的（D）A．垂直線性B．動態(tài)*圍C．靈敏度D．以上全部3.16放大器的不飽和信號高度與缺陷面積成比例的*圍叫做放大器的:（B）A．靈敏度*圍B．線性*圍C．分辨力*圍D．選擇性*圍3.17單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出，這是因為（C）A．近場干擾B．材質衰減C．盲區(qū)D．折射3.18同步電路的同步脈沖控制是指（D）A．發(fā)射電路在單位時間內重復發(fā)射脈沖次數B．掃描電路每秒鐘內重復掃描次數C．探頭晶片在單位時間內向工件重復輻射超聲波次數D．以上全部都是表示探傷儀與探頭組合性能的指標有（B）A．水平線性、垂直線性、衰減器精度B．靈敏度余量、盲區(qū)、遠場分辨力C．動態(tài)*圍、頻帶寬度、探測深度D．垂直極限、水平極限、重復頻率3.20使儀器得到滿幅顯示時Y軸偏轉板工作電壓為80V，現(xiàn)晶片接收到的缺陷信號電壓為40mv，若要使此缺陷以50%垂直幅度顯示，儀器放大器應有多大增益量？（C）A．74dBB．66dBC．60dBD．80dB3.21脈沖反射式超聲波探傷儀同步脈沖的重復頻率決定著：（C）A．掃描長度B．掃描速度C．單位時間內重復掃描次數D．鋸齒波電壓幅度3.22線聚焦探頭聲透鏡的形狀為（C）A．球面B．平面C．柱面D．以上都可以3.23探頭的分辨力：（B）A．與探頭晶片直徑成正比B．與頻帶寬度成正比C．與脈沖重復頻率成正比D．以上都不對3.24當激勵探頭的脈沖幅度增大時：（B）A．儀器分辨力提高B．儀器分辨力降低，但超聲強度增大C．聲波穿透力降低D．對試驗無影響3.25探頭晶片背面加上阻尼塊會導致：（D）A．Q降低，靈敏度提高B．Q值增大，分辨力提高C．Q值增大，盲區(qū)增大D．Q值降低，分辨力提高3.26為了從換能器獲得最高靈敏度：（C）A．應減小阻尼塊B．應使用大直徑晶片C．應使壓電晶片在它的共振基頻上激勵D．換能器頻帶寬度應盡可能大3.27超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度：（A）A．取決于探頭、高頻脈沖發(fā)生器和放大器B．取決于同步脈沖發(fā)生器C．取決于換能器機械阻尼D．隨分辨力提高而提高3.28換能器尺寸不變而頻率提高時：（C）A．橫向分辨力降低B．聲束擴散角增大C．近場長度增大D．指向性變鈍3.29一般探傷時不使用深度補償是因為它會：（B）A．影響缺陷的精確定位B．影響AVG曲線或當量定量法的使用C．導致小缺陷漏檢D．以上都不對3.30晶片共振波長是晶片厚度的（A）A．2倍B．1/2倍C．1倍D．4倍3.31已知PZT-4的頻率常數是2000m/s，2.5MHz的PZT-4晶片厚度約為：（A）A．0.8mmB．1.25mmC．1.6mmD．0.4mm3.32在毛面或曲面工件上作直探頭探傷時，應使用：（B）A．硬保護膜直探頭B．軟保護膜直探頭C．大尺寸直探頭D．高頻直探頭3.33目前工業(yè)超聲波探傷使用較多的壓電材料是：（C）A．石英B．鈦酸鋇C．鋯鈦酸鉛D．硫酸鋰3.34雙晶直探頭的最主要用途是：（A）A．探測近表面缺陷B．精確測定缺陷長度C．精確測定缺陷高度D．用于表面缺陷探傷3.35超聲波探傷儀的探頭晶片用的是下面哪種材料：（C）A．導電材料B．磁致伸縮材料C．壓電材料D．磁性材料3.36下面哪種材料最適宜做高溫探頭：（D）A．石英B．硫酸鋰C．鋯鈦酸鉛D．鈮酸鋰3.37下面哪種壓電材料最適宜制作高分辨率探頭：（C）A．石英B．鋯鈦酸鉛C．偏鈮酸鉛D．鈦酸鋇3.38下列壓電晶體中哪一種作高頻探頭較為適宜（B）A．鈦酸鋇B．鈮酸鋰C．PZTD．鈦酸鉛3.39表示壓電晶體發(fā)射性能的參數是（C）A．壓電電壓常數g33B．機電耦合系數KC．壓電應變常數d33D．以上全部3.40下面關于橫波斜探頭的說法哪一句是錯誤的（C）A．橫波斜探頭是由直探頭加透聲斜楔組成B．斜楔前面開槽的目的是減少反射雜波C．超聲波在斜楔中的縱波聲速應大于工件中的橫波聲速D．橫波是在斜楔與工件的交面上產生3.41窄脈沖探頭和普通探頭相比（D）A．Q值較小B．靈敏度較低C．頻帶較寬D．以上全部3.42采用聲透鏡方式制作聚焦探頭時，設透鏡材料為介質1，欲使聲束在介質2中聚焦，選用平凹透鏡的條件是（C）A．Z1>Z2B．C1<C2C．C1>C2D．Z1<Z23.43探頭軟保護膜和硬保護膜相比，突出優(yōu)點是（C）A．透聲性能好B．材質衰減小C．有利消除耦合差異D．以上全部3.44接觸式聚焦方式按聚焦方式不同可分為（D）A．透鏡式聚焦B．反射式聚焦C．曲面晶片式聚焦D．以上都對3.45以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點（A）A．探測*圍大B．盲區(qū)小C．工件中近場長度小D．雜波少3.46以下哪一條，不屬于雙晶探頭的性能指標（D）A．工作頻率B．晶片尺寸C．探測深度D．近場長度3.47斜探頭前沿長度和K值測定的幾種方法中，哪種方法精度最高：（A）A．半圓試法和橫孔法B．雙孔法C．直角邊法D．不一定，須視具體情況而定3.48超聲探傷系統(tǒng)區(qū)別相鄰兩塊缺陷的能力稱為：（D）A．檢測靈敏度B．時基線性C．垂直線性D．分辨力3.49用以標定或測試超聲探傷系統(tǒng)的，含有模擬缺陷的人工反射體的金屬塊叫：（C）A．晶體準直器B．測角器C．參考試塊D．工件3.50對超聲探傷試塊的基本要求是：（D）A．其聲速與波探工件聲速基本一致B．材料中沒有超過Ф2mm平底孔當量的缺陷C．材料衰減不太大且均勻D．以上都是3.51CSK-ⅡA試塊上的Φ1×6橫孔，在超聲遠場，其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與（D）相同A．長橫孔B．平底孔C．球孔D．以上B和C4.1采用什么超聲探傷技術不能測出缺陷深度？（D）A．直探頭探傷法B．脈沖反射法C．斜探頭探傷法D．穿透法4.2超聲檢驗中，當探傷面比較粗糙時，宜選用（D）A．較低頻探頭B．較粘的耦合劑C．軟保護膜探頭D．以上都對4.3超聲檢驗中，選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點是（C）A．曲面探傷時可減少耦合損失B．可減少材質衰減損失C．輻射聲能大且能量集中D．以上全部4.4探傷時采用較高的探測頻率，可有利于（D）A．發(fā)現(xiàn)較小的缺陷B．區(qū)分開相鄰的缺陷C．改善聲束指向性D．以上全部4.5工件表面形狀不同時耦合效果不一樣，下面的說法中，哪點是正確的（A）A．平面效果最好B．凹曲面效果居中C．凸曲面效果最差D．以上全部4.6缺陷反射聲能的大小，取決于（D）A．缺陷的尺寸B．缺陷的類型C．缺陷的形狀和取向D．以上全部4.7聲波垂直入射到表面粗糙的缺陷時，缺陷表面粗糙度對缺陷反射波高的影響是：（C）A.反射波高隨粗糙度的增大而增大B.無影響C.反射波高隨粗糙的增大而下降D.以上A和C都可能4.8如果聲波在耦合介質中的波長為λ，為使透聲效果好，耦合層厚度為（D）A.λ/4的奇數倍B.λ/2的整數倍C.小于λ/4且很薄D.以上B和C4.9表面波探傷時，儀器熒光屏屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表（B）A.缺陷深度B.缺陷至探頭前沿距離C.缺陷聲程D.以上都可以4.10探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測時，如儀器用平試塊按深度1：1調掃描，下面哪種說法正確？（A）A.缺陷實際徑向深度總是小于顯示B.顯示的水平距離總是大于實際弧長C.顯示值與實際值之差，隨顯示值的增加而減小D.以上都正確4.11采用底波高度法（F/B百分比法）對缺陷定量時，以下哪種說法正確（B）A.F/B相同，缺陷當量相同B.該法不能給出缺陷的當量尺寸C.適用于對尺寸較小的缺陷定量D.適于對密集性缺陷的定量4.12在頻率一定和材料相同情況下，橫波對小缺陷探測靈敏度高于縱波的原因是：（C）A.橫波質點振動方向對缺陷反射有利B.橫波探傷雜波少C.橫波波長短D.橫波指向性好4.13采用下列何種頻率的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時，可獲得較好的穿透能力：（A）A.1.25MHZB.2.5MHZC.5MHZD.10MHZ4.14在用5MHZΦ10晶片的直探頭作水浸探傷時，水層厚度為20mm,此時在鋼工件中的近場區(qū)長度還有：（C）A.10.7mmB.1.4mmC.16.3mmD.以上都不對4.15使用半波高度法測定小于聲束直徑的缺陷尺寸時，所測的結果：（B）A.小于實際尺寸B.接近聲束寬度C.稍大于實際尺寸D.等于晶片尺寸4.16端點衍射波主要用于測定：（D）A.缺陷的長度B.缺陷的性質C.缺陷的位置D.缺陷的高度4.17從A型顯示熒光屏上不能直接獲得缺陷性質信息。超聲探傷對缺陷的定性是通過下列方法進行：（D）A.精確對缺陷定位B.精確測定缺陷形狀C.測定缺陷的動態(tài)波形D.以上方法須同時使用4.18單斜探頭探傷時，在近區(qū)有幅度波動較快，探頭移動時水平位置不變的回波，它們可能時：（B）A.來自工件表面的雜波B.來自探頭的噪聲C.工件上近表面缺陷的回波D.耦合劑噪聲4.19確定脈沖在時基線上的位置應根據：（B）A.脈沖波峰B.脈沖前沿C.脈沖后沿D.以上都可以4.20用實測折射角71°的探頭探測板厚為25mm的對接焊縫，熒光屏上最適當的聲程測定*圍是：（D）A.100mmB.125mmC.150mmD.200mm4.21用IIW2調整時間軸，當探頭對準R50圓弧面時，示波屏的回波位置（聲程調試）應在：（B）ABCD題4.21圖4.22能使K2斜探頭得到圖示深度1：1調節(jié)波形的鋼半圓試塊半徑R為（C）A.50mmB.60mmC.67mmD.40mm4.23在厚焊縫斜探頭探傷時，一般宜使用什么方法標定儀器時基線？（B）A．水平定位法B．深度定位法C．聲程定位法D．一次波法4.24在中薄板焊縫斜探頭探傷時，使用什么方法標定儀器時基線？（A）A．水平定位法B．深度定位法C．聲程定位法D．二次波法4.25對圓柱形筒體環(huán)縫探測時的缺陷定位應：（A）A．按平板對接焊縫方法B．作曲面定位修正C．使用特殊探頭D．視具體情況而定采用各種方法4.26在筒身外壁作曲面周向探傷時（r，R為筒體的內、外半徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應滿足：（A）A．B．C．D．4.27在筒身外壁作曲面周向探傷時，缺陷的實際深度比按平板探傷時所得讀數：（B）A．大B．小C．相同D．以上都可能4.28在筒身內壁作曲面周向探傷時，所得缺陷的實際深度比按平板探傷時的讀數：（A）A．大B．小C．相同D．以上都可能4.29在筒身外壁作曲面周向探傷時，實際的缺陷前沿距離比按平板探傷時所得讀數：（A）A．大B．小C．相同D．以上都可能4.30在筒身內壁作曲面周向探傷時，實際的缺陷前沿距離比按平板探傷時所得讀數：（B）A．大B．小C．相同D．以上都可能4.31為保證易于探出垂直于焊縫表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探頭探傷應選用（B）A．小K值探頭B．大K值探頭C．軟保護膜探頭D．高頻探頭4.32在鍛件直探頭探傷時可能定不準近側面缺陷的位置，其原因是：（A）A．側面反射波帶來干涉B．探頭太大，無法移至邊緣C．頻率太高D．以上都不是4.33用斜探頭檢測厚焊縫時，為提高缺陷定位精度可采取措施是：（D）A．提高探頭聲束指向性B．校準儀器掃描線性C．提高探頭前沿長度和K值測定精度D．以上都對4.34當量大的缺陷實際尺寸：（A）A．一定大B．不一定大C一定不大D．等于當量尺寸4.35當量小的缺陷實際尺寸：（B）A．一定小B．不一定小C一定不小D．等于當量尺寸4.36在超聲探傷時，如果聲束指向不與平面缺陷垂直，則缺陷尺寸一定時，缺陷表面越平滑反射回波越：（B）A．大B．小C．無影響D．不一定4.37當聲束指向不與平面缺陷垂直時，在一定*圍內，缺陷尺寸越大，其反射回波強度越：（B）A．大B．小C．無影響D．不一定4.38焊縫探傷中一般不宜選用較高頻率是因為頻率越高：（D）探頭及平面缺陷型缺陷指性向越強，缺陷方向不利就不易探出裂紋表面不光潔對回波強度影響越大雜波太多D．AB都對4.39厚度為600mm的鋁試件，用直探頭測得一回波的傳播時間為165μs，若縱波在鋁中聲速為6300m/s則此回波是：（C）A．底面回波B．底面二次回波C．缺陷回波D．遲到回波4.40直探頭縱波探傷時，工件上下表面不平行會產生：（A）A．底面回波降低或消失B．底面回波正常C．底面回波變寬D．底面回波變窄4.41直探頭探測厚100mm和400mm的兩平底面鍛件，若后者探測面粗糙，與前者耦合差為5db，材質衰減均為0.01dB/mm（雙程），今將前者底面回波調至滿幅(100%)高，則后者的底面回波應是滿幅度的：（C）A．40％B．20％C．10%D．5％4.42厚度均為400mm，但材質衰減不同的兩個鍛件，采用各自底面校正400/Φ2靈敏度進行分別探測，現(xiàn)兩個鍛件中均發(fā)現(xiàn)缺陷，且回波高度和缺陷聲程均相同，則：（B）A．兩個缺陷當量相同B．材質衰減大的鍛件中缺陷當量小C．材質衰減小的鍛件中缺陷當量小D．以上都不對4.43在脈沖反射法探傷中可根據什么判斷缺陷的存在？（D）A．缺陷回波B．底波或參考回波的減弱或消失C．接收探頭接收到的能量的減弱D．AB都對4.44在直接接觸法直探頭探傷時，底波消失的原因是：（D）A．耦合不良B．存在與聲束不垂直的平面缺陷C．存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷D．以上都是4.45在直探頭探傷時，發(fā)現(xiàn)缺陷回波不高，但底波降低較大，則該缺陷可能是：（C）A．與表面成較大角度的平面缺陷B．反射條件很差的密集缺陷C．AB都對D．AB都不對4.46影響直接接觸法耦合損耗的原因有：（D）耦合層厚度，超聲波在耦合介質中的波長及耦合介質聲阻抗探頭接觸面介質聲阻抗工件被探測面材料聲阻抗以上都對4.47被檢工件晶粒粗大，通常會引起：（D）A．草狀回波增多B．信噪比下降C．底波次數減少D．以上全部4.48為減少凹面探傷時的耦合損耗，通常采用以下方法：（D）A．使用高聲阻抗耦合劑B．使用軟保護膜探頭C．使用較低頻率和減少探頭耦合面尺寸D．以上都可以4.49在平整光潔表面上作直探頭探傷時宜使用硬保護膜探頭，因為這樣：（B）雖然耦合損耗大，但有利于減小工件中噪聲脈沖窄，探測靈敏度高探頭與儀器匹配較好以上都對4.50應用有人工反射體的參考試塊主要目的是：（A）作為探測時的校準基準，并為評價工件中缺陷嚴重程度提供依據為探傷人員提供一種確定缺陷實際尺寸的工具為檢出小于*一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證提供一個能精確模擬*一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體4.51下面那種參考反射體與入射聲束角度無關：（C）平底孔平行于探測面且垂直于聲束的平底槽平行于探測面且垂直于聲束的橫通孔平行于探測面且垂直于聲束的V型缺口4.52測定材質衰減時所得結果除材料本身衰減外，還包括：（D）A．聲束擴散損失B．耦合損耗C．工件幾何形狀影響D．以上都是4.53沿細長工件軸向探傷時，遲到波聲程△*的計算公式是：（D）A．B.C.D.4.54換能器尺寸不變而頻率提高時：（C）A．橫向分辨力降低B．聲束擴散角增大C．近場區(qū)增大D．指向性變鈍4.55在確定缺陷當量時，通常在獲得缺陷的最高回波時加以測定，這是因為：（D）只有當聲束投射到整個缺陷發(fā)射面上才能得到反射回波最大值只有當聲束沿中心軸線投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值只有當聲束垂直投射到工件內缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值人為地將缺陷信號的最高回波規(guī)定為測定基準4.56考慮靈敏度補償的理由是：（D）A．被檢工件厚度太大B．工件底面與探測面不平行C．耦合劑有較大聲能損耗D．工件與試塊材質，表面光潔度有差異4.57探測粗糙表面的工件時，為提高聲能傳遞，應選用：（C）A．聲阻抗小且粘度大的耦合劑B．聲阻抗小且粘度小的耦合劑C．聲阻抗大且粘度大的耦合劑D．以上都不是4.58超聲容易探測到的缺陷尺寸一般不小于：（A）A．波長的一半B．一個波長C．四分之一波長D．若干個波長4.59與探測面垂直的內部平滑缺陷，最有效的探測方法是：（C）A．單斜探頭法B．單直探頭法C．雙斜探頭前后串列法D．分割式雙直探頭法4.60探測距離均為100mm的底面，用同樣規(guī)格直探頭以相同靈敏度探測時，下列哪種底面回波最高。（C）與探測面平行的大平底面R200的凹圓柱底面R200的凹球底面R200的凸圓柱底面4.61鍛件探傷中，熒光屏上出現(xiàn)“林狀波”時，是由于（B）A．工件中有大面積傾斜缺陷B．工件材料晶粒粗大C．工件中有密集缺陷D．以上全部4.62直徑為d的鋼棒徑向探傷時，遲到波出現(xiàn)的位置是（C）1.3d和1.76d1.67d和1.76d1.3d和1.67d以上都不是4.63下面有關610反射波的說法，哪一點是錯誤的？（C）A．產生610反射時，縱波入射角與橫波反射角之和為900B．產生610反射時，縱波入射角為610橫波反射角為290C．產生610反射時，橫波入射角為290縱波反射角為610D．產生610反射時，其聲程是恒定的4.64長軸類鍛件從端面作軸向探測時，容易出現(xiàn)的非缺陷回波是（D）A．三角反射波B．610反射波C．輪廓回波D．遲到波4.65方形鍛件垂直法探傷時，熒光屏上出現(xiàn)一游動缺陷回波，其波幅較低但底波降低很大。該缺陷取向可能是（C）A．平行且靠近探測面B．與聲束方向平行C．與探測面成較大角度D．平行且靠近底面4.66缺陷反射聲壓的大小取決于：（D）A．缺陷反射面大小B．缺陷性質C．缺陷取向D．以上全部5.1鋼板缺陷的主要分布方向是：（A）A．平行于或基本平行于鋼板表面B．垂直于鋼板表面C．分布方向無傾向性D．以上都可能5.2鋼板超聲波探傷主要應采用：（A）A．縱波直探頭B．表面波探頭C．橫波直探頭D．聚焦探頭5.3下面關于鋼板探傷的敘述，哪一條是正確的：（A）若出現(xiàn)缺陷波的多次反射，缺陷尺寸一定很大無底波時，說明鋼板無缺陷鋼板中不允許存在的缺陷尺寸應采用當量法測定鋼板探傷應盡量采用低頻率