測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)課件

測(cè)井原始資料質(zhì)量要求

（冷洪濤）（5132標(biāo)準(zhǔn)宣傳）測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

優(yōu)質(zhì)的測(cè)井原始資料是測(cè)井解釋的前提和基礎(chǔ)。測(cè)井原始資料包括各種儀器的刻度和校驗(yàn)數(shù)據(jù)、測(cè)井原始曲線、數(shù)字記錄及其它有關(guān)資料。測(cè)井原始資料質(zhì)量的優(yōu)劣，不僅影響解釋成果的可靠性，也影響著對(duì)一個(gè)地區(qū)的評(píng)價(jià)和方案部署，優(yōu)質(zhì)的測(cè)井資料對(duì)油田的勘探、開(kāi)發(fā)有著重要意義。

前言測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)井原始資料質(zhì)量受多種因素影響，主要因素有測(cè)井設(shè)備的技術(shù)狀況、操作人員的素質(zhì)、測(cè)井環(huán)境等。

前言測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)最大井斜55度，鉆井液電阻率0.2歐姆米/18度測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)前言

對(duì)測(cè)井原始資料的檢驗(yàn)是一個(gè)綜合分析的過(guò)程，其難度不小于測(cè)井資料解釋?zhuān)@就需要測(cè)井原始資料檢驗(yàn)員嚴(yán)格按照質(zhì)量檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，從地質(zhì)、測(cè)井、鉆井等各方面進(jìn)行分析，取全、取準(zhǔn)各項(xiàng)測(cè)井原始資料，為下一步的資料解釋工作奠定較好的基礎(chǔ)。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

第一節(jié)通用要求第二節(jié)單項(xiàng)曲線質(zhì)量要求測(cè)井原始資料質(zhì)量要求測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

第一節(jié)通用要求測(cè)井原始資料質(zhì)量要求測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)井使用的儀器、設(shè)備符合技術(shù)要求，詳細(xì)的了解各種儀器設(shè)備技術(shù)規(guī)范指標(biāo)。一、測(cè)井儀器、設(shè)備

測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

CLS3700下井儀器技術(shù)指標(biāo)測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

CLS3700下井儀器技術(shù)指標(biāo)測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

二、圖頭

根據(jù)所測(cè)井的類(lèi)型、測(cè)量項(xiàng)目正確選擇圖頭標(biāo)題號(hào)，做到三者一致;測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

內(nèi)容齊全、準(zhǔn)確，應(yīng)包括：

a)圖頭標(biāo)題、公司名、井名、油區(qū)、地區(qū)、文件號(hào)；b)井位x、y坐標(biāo)或經(jīng)緯度、永久深度基準(zhǔn)面名稱(chēng)、海拔高度、測(cè)井深度基準(zhǔn)面名稱(chēng)、轉(zhuǎn)盤(pán)面高、鉆臺(tái)高、地面高、其它測(cè)量?jī)?nèi)容；c)測(cè)井日期、儀器下井次數(shù)、測(cè)井項(xiàng)目、鉆井深度、測(cè)井深度、測(cè)量井段底部深度、測(cè)量井段頂部深度；d)套管內(nèi)徑、套管下深、測(cè)量的套管下深、鉆頭程序；圖頭測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

e)鉆井液性能（密度、粘度、PH值、失水），鉆井液電阻率Rm、鉆井液濾液電阻率Rmf、鉆井液泥餅電阻率Rmc及樣品來(lái)源，以及測(cè)量電阻率時(shí)的溫度；f)鉆井液循環(huán)時(shí)間、儀器到達(dá)井底時(shí)間、井底溫度；g)測(cè)井設(shè)備號(hào)、測(cè)井隊(duì)號(hào)、操作員、隊(duì)長(zhǎng)姓名；h)儀器信息（儀器名、儀器系列號(hào)、儀器編號(hào)及儀器在儀器串中的位置等）、零長(zhǎng)計(jì)算；I)在附注欄內(nèi)標(biāo)明需要說(shuō)明的其它信息。圖頭測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

儀器的刻度、校驗(yàn)是保證測(cè)井質(zhì)量的關(guān)鍵點(diǎn)之一，各種測(cè)井儀器必須按有關(guān)規(guī)定進(jìn)行刻度，測(cè)井儀器每經(jīng)大修或更換主要元器件應(yīng)重新刻度。按有關(guān)刻度規(guī)程定期校驗(yàn)專(zhuān)用標(biāo)準(zhǔn)器，按規(guī)定校準(zhǔn)鉆井液測(cè)量裝置。三、刻度與校驗(yàn)測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

下井測(cè)井儀器的刻度與校驗(yàn)分為：主刻度、主校驗(yàn)、測(cè)前校驗(yàn)和測(cè)后校驗(yàn)。刻度與校驗(yàn)測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)電纜地層壓力測(cè)試——泵壓曲線

刻度系數(shù)對(duì)測(cè)井曲線數(shù)值的影響，鉆井液電阻率1.06歐姆米/18度測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

CLS3700儀器刻度與校驗(yàn)要求測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

CLS3700儀器刻度與校驗(yàn)要求測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

四、原始測(cè)井圖1重復(fù)文件、主文件、接圖文件（有接圖時(shí)）、測(cè)井參數(shù)、儀器參數(shù)、刻度與校驗(yàn)數(shù)據(jù)、圖頭應(yīng)連續(xù)打印。2圖面整潔、清晰、走紙均勻，成象測(cè)井圖顏色對(duì)比合理、圖象清晰。3曲線繪圖刻度尺規(guī)范，便于讀值；曲線布局、線型選擇合理，曲線交叉處清晰可辨。4曲線測(cè)量值應(yīng)與地區(qū)規(guī)律相接近，當(dāng)出現(xiàn)與井下條件無(wú)關(guān)的零值、負(fù)值或異常時(shí)，應(yīng)重復(fù)測(cè)量，重復(fù)測(cè)量井段不小于50m，如不能說(shuō)明原因，應(yīng)更換儀器驗(yàn)證。5同次測(cè)井曲線補(bǔ)接時(shí)，接圖處曲線重復(fù)測(cè)量井段應(yīng)大于25m；不同次測(cè)井曲線補(bǔ)接時(shí)，接圖處曲線重復(fù)測(cè)量井段應(yīng)大于50m。接圖曲線重復(fù)測(cè)量值允許誤差不大于相應(yīng)曲線重復(fù)曲線的誤差要求。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

三、原始測(cè)井圖6各條主曲線接圖或曲線間深度誤差超過(guò)規(guī)定時(shí)，應(yīng)編輯回放完整曲線，連同原始測(cè)井圖交質(zhì)量檢驗(yàn)人員。7依據(jù)測(cè)井施工單要求進(jìn)行測(cè)井施工，由于儀器連接或井底沉砂等原因造成的漏測(cè)井段應(yīng)少于15m或符合地質(zhì)要求，遇阻曲線應(yīng)平直穩(wěn)定（放射性測(cè)井應(yīng)考慮統(tǒng)計(jì)起伏）。8曲線圖應(yīng)記錄張力曲線、測(cè)速標(biāo)記及測(cè)速曲線。9測(cè)井深度記號(hào)齊全準(zhǔn)確，深度比例為1：200的曲線不應(yīng)連續(xù)缺失兩個(gè)記號(hào)；1：500的曲線不應(yīng)連續(xù)缺失三個(gè)記號(hào)；井底和套管鞋附近不應(yīng)缺失記號(hào)。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)上測(cè)測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)下測(cè)測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

曲線刻度標(biāo)尺應(yīng)便于讀取數(shù)值、巖性劃分和質(zhì)量控制，三孔隙度曲線繪在R10—R20區(qū)，可按下列標(biāo)尺刻度：中子（%）密度（g/cm3）聲波（us/ft）灰?guī)r：45-151.962.9612020

砂巖：45-151.92.913030

（淺地層）6001.72.716060原始圖測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)三孔隙度曲線在砂層處基本重合，在泥巖含量較高的地層有較大的差異，易于從曲線上識(shí)別巖性、讀取孔隙度數(shù)值及判斷巖性。原始圖測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)地面儀器：3700密度儀器：2227；系列號(hào)：113976測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

三孔隙度曲線在灰?guī)r處基本重合，在泥巖或白云巖含量較高的地層有較大的差異。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)1現(xiàn)場(chǎng)回放數(shù)據(jù)記錄，數(shù)據(jù)記錄與明記錄不一致時(shí)，應(yīng)補(bǔ)測(cè)或重新測(cè)井。2原始數(shù)據(jù)記錄清單應(yīng)填寫(xiě)齊全，清單內(nèi)容包括井號(hào)、井段、曲線名稱(chēng)、測(cè)量日期、測(cè)井隊(duì)別、文件號(hào)，同時(shí)應(yīng)標(biāo)注主曲線、重復(fù)曲線和重復(fù)測(cè)井（接圖用）曲線的文件號(hào)。3編輯盤(pán)（帶）應(yīng)按資料處理中心要求的數(shù)據(jù)格式拷貝；各條曲線深度對(duì)齊，曲線間的深度誤差小于0.4m；磁盤(pán)或磁帶貼標(biāo)簽，標(biāo)明井號(hào)、測(cè)井日期、測(cè)量井段、數(shù)據(jù)格式、文件名、記錄密度、測(cè)井隊(duì)別、操作員及隊(duì)長(zhǎng)姓名。4每盤(pán)（盒）磁帶應(yīng)打印文件檢索目錄，并標(biāo)明正式資料的文件號(hào)。五、數(shù)據(jù)記錄測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)1測(cè)井電纜的深度記號(hào)按規(guī)定在深度標(biāo)準(zhǔn)井內(nèi)或地面電纜丈量系統(tǒng)中進(jìn)行注磁標(biāo)記。電纜每25m做一個(gè)深度記號(hào)，每500m做一個(gè)特殊記號(hào)，電纜零長(zhǎng)用丈量數(shù)據(jù)；在地面電纜丈量系統(tǒng)中進(jìn)行注磁標(biāo)記的電纜，應(yīng)在深度標(biāo)準(zhǔn)井內(nèi)進(jìn)行深度校驗(yàn)，每1000m電纜深度誤差不應(yīng)超過(guò)0.2m。2非磁性記號(hào)深度系統(tǒng)，應(yīng)定期在深度標(biāo)準(zhǔn)井內(nèi)進(jìn)行深度校驗(yàn)，其深度誤差符合1的規(guī)定。3在鉆井液密度差別不大的情況下，同一口井不同次測(cè)量或不同電纜的同次測(cè)量，其深度誤差不超過(guò)0.05％。六、測(cè)井深度測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)4幾種儀器組合測(cè)井時(shí)，同次測(cè)量的各條曲線深度誤差不超過(guò)0.2m；條件允許時(shí)，每次測(cè)井應(yīng)測(cè)量用于校深的自然伽馬曲線。

5測(cè)井曲線確定的表層套管深度與套管實(shí)際下深允許誤差為0.5m，與技術(shù)套管的深度誤差不應(yīng)大于0.1%；深度誤差超出規(guī)定，應(yīng)查明原因。6不同電纜不同次測(cè)井深度不一致時(shí)，應(yīng)保證自然伽馬曲線是同次同一電纜測(cè)量，其它曲線通過(guò)校深達(dá)到深度一致。測(cè)井深度測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)井深度

左圖是某井的深度系統(tǒng)校正情況，校正前編碼器深度系統(tǒng)的誤差為2‰，校正后誤差為0.5‰

測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

幾種儀器組合測(cè)量時(shí)，采用最低測(cè)量速度儀器的測(cè)速；測(cè)速均勻，不允許超過(guò)規(guī)定的測(cè)量速度值，當(dāng)曲線出現(xiàn)異常時(shí)，應(yīng)降低測(cè)速，采用最佳測(cè)速測(cè)井。對(duì)于不同儀器型號(hào)的同類(lèi)別的儀器，具體的測(cè)井速度可參閱儀器的操作手冊(cè)（最大和最佳）。七、測(cè)井速度測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)1重復(fù)測(cè)量應(yīng)在主測(cè)井前、測(cè)量井段上部、曲線幅度變化明顯、井徑規(guī)則的井段測(cè)量，其長(zhǎng)度不小于50m（碳氧比能譜測(cè)井重復(fù)曲線井段長(zhǎng)度不少于10m，核磁共振測(cè)井不少于25m，井周聲波成象測(cè)井、微電阻率成象測(cè)井不少于20m），與主測(cè)井對(duì)比，重復(fù)誤差在允許范圍內(nèi)。2重復(fù)曲線測(cè)量值的相對(duì)誤差按式（1）計(jì)算：

…（1）式中:A——主曲線測(cè)量值；B——重復(fù)曲線測(cè)量值；

X——測(cè)量值相對(duì)誤差。八、重復(fù)測(cè)量測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)井前應(yīng)測(cè)量鉆井液的溫度、電阻率，結(jié)合井下地質(zhì)情況，合理選擇電阻率測(cè)井項(xiàng)目。對(duì)鉆井液電阻率有懷疑的井應(yīng)帶回鉆井液樣品去實(shí)驗(yàn)室測(cè)量。

九、鉆井液性能測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

第二節(jié)

單項(xiàng)測(cè)井原始資料質(zhì)量要求測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)適應(yīng)條件：淡水泥漿、砂泥巖剖面、儲(chǔ)集層為中低阻、中厚層。

一、雙感應(yīng)-八側(cè)向測(cè)井主要用途：儲(chǔ)層劃分；定量計(jì)算儲(chǔ)層的含油飽和度，可動(dòng)油、殘余氣體積；定性劃分油氣水層；地層對(duì)比。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

該井井底有高壓鹽水層。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

雙感應(yīng)-八側(cè)向測(cè)井

在儀器動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)，砂泥巖剖面地層，在井眼規(guī)則井段應(yīng)符合以下規(guī)律：

a)在均質(zhì)非滲透性地層中，雙感應(yīng)—八側(cè)向曲線基本重合；

b)當(dāng)Rmf

小于地層水電阻率Rw時(shí)，油層、水層的雙感應(yīng)—八側(cè)向曲線均呈低浸特征（有浸入情況下）；c)

當(dāng)Rmf

大于Rw時(shí)，水層的雙感應(yīng)—八側(cè)向曲線呈高浸特征，油層呈低浸或無(wú)浸特征（有浸入情況下）。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

微電極極板不貼井壁,幅度小。鉆井液電阻率1.30歐姆米/18度。當(dāng)Rmf>Rw時(shí)，水層的雙感應(yīng)—八側(cè)向曲線呈高浸特征。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)非滲透層段，雙感應(yīng)—八側(cè)向曲線基本重合。

測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)稠油層測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

雙感應(yīng)-八側(cè)向測(cè)井

除高、低電阻率薄互層或受井眼及井下金屬物影響引起異常外，曲線應(yīng)平滑無(wú)跳動(dòng)，在儀器動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)，不應(yīng)出現(xiàn)飽和現(xiàn)象。在1

m～100

m范圍內(nèi)，重復(fù)測(cè)量值相對(duì)誤差應(yīng)小于5%。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

在巖性均勻的大段水層或厚泥巖處，感應(yīng)電阻率與4米和2.5米底部梯度電阻率的測(cè)量值誤差應(yīng)小于10%。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

在巖性均勻的大段水層或厚泥巖處，測(cè)量值符合地區(qū)規(guī)律。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

主要用途：儲(chǔ)層劃分；定量計(jì)算儲(chǔ)層的含油飽和度，可動(dòng)油、殘余氣體積；定性劃分油氣水層；地層對(duì)比。二、雙側(cè)向測(cè)井適用條件：鹽水泥漿，儲(chǔ)集層為高阻薄層，低浸，碳酸鹽巖等高阻剖面。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

雙側(cè)向測(cè)井

在儀器的動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)，砂泥巖剖面地層厚度大于2m的標(biāo)志層，測(cè)井曲線經(jīng)環(huán)境校正后應(yīng)符合地層浸入關(guān)系。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

雙側(cè)向測(cè)井

在均質(zhì)非滲透層段，雙側(cè)向曲線基本重合測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

巖性：片麻巖，無(wú)裂縫測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

雙側(cè)向測(cè)井

當(dāng)鉆井液濾液電阻率Rmf小于地層水電阻率Rw時(shí)，深側(cè)向測(cè)量值應(yīng)大于淺側(cè)向測(cè)量值(低浸）；測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

雙側(cè)向測(cè)井

當(dāng)鉆井液濾液電阻率Rmf大于地層水電阻率Rw時(shí)，水層的深側(cè)向測(cè)量值應(yīng)小于淺側(cè)向測(cè)量值，油層的深側(cè)向測(cè)量值應(yīng)大于或等于淺側(cè)向測(cè)量值（有浸入情況下）；深測(cè)向40Ω·m，淺側(cè)向30Ω·m，鄰近側(cè)向約16Ω·m，表現(xiàn)出明顯的低侵特征，為良好的油氣顯示測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

雙側(cè)向測(cè)井在不含導(dǎo)電礦物的致密的碳酸鹽巖地層，雙側(cè)向測(cè)量值應(yīng)大于數(shù)百歐姆·米。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)富含導(dǎo)電礦物導(dǎo)電礦物含量較低測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

雙側(cè)向測(cè)井

重復(fù)曲線或重復(fù)測(cè)井接圖，曲線形狀相同，測(cè)量值相對(duì)誤差在5%以內(nèi)。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)主要用途：確定沖洗帶電阻率。主要影響因素：井眼及其他測(cè)量環(huán)境。

三、微聚焦測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

井徑規(guī)則處，泥巖層微球型聚焦測(cè)井曲線與雙側(cè)向測(cè)井曲線應(yīng)基本重合；在其它均質(zhì)非滲透性地層中，曲線形狀應(yīng)與雙側(cè)向測(cè)井曲線相似，測(cè)量值和雙側(cè)向測(cè)井?dāng)?shù)值相近；在滲透層段應(yīng)反映沖洗帶電阻率的變化并符合地層的浸入關(guān)系。在高電阻率薄層，微球型聚焦測(cè)井?dāng)?shù)值應(yīng)高于雙側(cè)向測(cè)井?dāng)?shù)值。在儀器動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)不應(yīng)出現(xiàn)飽和現(xiàn)象。在井壁規(guī)則的滲透層段，重復(fù)曲線與主曲線形狀相似，重復(fù)測(cè)量值相對(duì)誤差應(yīng)小于10%。

微聚焦測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)井徑對(duì)微聚焦曲線的影響測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)GR自然伽馬（API）0150150300SPBD自然電位（mv）50150-5050CAL井徑（in）4141424RD深側(cè)向電阻率（Ω.m）RS淺側(cè)向電阻率（Ω.m）RMLL微側(cè)向電阻率（Ω.m）101000010100001010000DT聲波（s/f）ZDEN巖性密度（g/cm3）CNCF補(bǔ)償中子（%）120201.962.9645-15測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

四、梯度、電位電極系測(cè)井基本用途：定性或半定量劃分油氣水層、地層對(duì)比。適用條件；砂泥巖剖面，鉆井液電阻率中等。電極系分類(lèi)：梯度電極系和電位電極系。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

梯度曲線特征測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

815電極系測(cè)井長(zhǎng)電極系進(jìn)套管的測(cè)量值應(yīng)為零，干擾值應(yīng)小于0.2Ω·m。2.5米底部梯度電阻率進(jìn)套管時(shí)有一屏蔽尖，是測(cè)量的套管鞋深度；若套管下的較深，屏蔽尖可能出不來(lái)，這時(shí)可用曲線回零時(shí)的半幅點(diǎn)向上推一個(gè)電極距的長(zhǎng)度即可。（ML）測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

815電極系測(cè)井利用梯度電極曲線特有的特征檢查曲線畸變和電極系是否正確。在大段泥巖處，長(zhǎng)、短電極系測(cè)量值應(yīng)基本相同。重復(fù)曲線與主曲線形狀應(yīng)相同，重復(fù)測(cè)量值相對(duì)誤差應(yīng)小于10％。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

五、微電極測(cè)井電極系及探測(cè)范圍測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)基本依據(jù)：儲(chǔ)集層泥餅厚度0.1-2cm，電阻率約是泥漿電阻率的1-3倍；沖洗帶電阻率約是泥餅電阻率3-5倍。

五、微電極測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

在井壁規(guī)則處純泥巖層段微電位與微梯度曲線應(yīng)基本重合；

微電極測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

井斜33（°）測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

井斜24（°），井徑8.5in,鉆井液電阻率1.3歐姆米/18度測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

微電極曲線的幅度值與鉆井液礦化度情況吻合，在淡水鉆井液條件下，滲透層段微電位與微梯度曲線應(yīng)有明顯正幅度差，厚度大于0.3m的夾層應(yīng)顯示清楚；

微電極測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

微電極曲線與八側(cè)向、微側(cè)向、鄰近側(cè)向或微球型聚焦曲線形態(tài)相似，與自然電位、自然伽馬、聲波曲線有較好的相關(guān)性。在井壁規(guī)則的滲透層段，重復(fù)曲線與主曲線形狀相似，重復(fù)測(cè)量值相對(duì)誤差應(yīng)小于10%。鉆井液電阻率1.6歐姆米/18度測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)主要用途：儲(chǔ)層劃分、確定儲(chǔ)層的有效厚度。

五、微電極測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)王63-1井微電極對(duì)比圖重復(fù)測(cè)量值相對(duì)誤差應(yīng)小于10%。

測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

微電極儀器的刻度與校驗(yàn)包括：車(chē)間刻度、車(chē)間檢驗(yàn)、測(cè)前和測(cè)后校驗(yàn)。微電極儀器應(yīng)定期進(jìn)行車(chē)間刻度，車(chē)間刻度用兩點(diǎn)外刻度，在有高、低兩種電阻率溶液的刻度池內(nèi)完成。使微電極的測(cè)量值與幅度差，準(zhǔn)確的反映實(shí)際情況。

微電極測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

鉆井液電阻率1.6歐姆米/18度測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

微電極曲線應(yīng)能反映出巖性變化，在淡水泥漿、井徑規(guī)則的條件下，對(duì)于砂巖、泥質(zhì)砂巖、砂質(zhì)泥巖、泥巖，微電極曲線的幅度及幅度差，應(yīng)逐漸降低。

微電極測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

六、自然電位測(cè)井在砂泥巖剖面地層，自然電位極性的“正”、“負(fù)”變化與Rmf和Rw的關(guān)系圖解。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)主要用途：計(jì)算泥質(zhì)含量；儲(chǔ)層劃分；地層對(duì)比；劃分水淹層；相對(duì)的判斷油水層。適用條件

：碎屑巖儲(chǔ)集層，Rmf≠Rw。

六、自然電位測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

六、自然電位測(cè)井在砂泥巖剖面地層，自然電位極性的“正”、“負(fù)”變化與鉆井液濾液電阻率Rmf和地層水電阻率Rw的關(guān)系應(yīng)當(dāng)一致。<=>測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

大段泥巖處，測(cè)量100m井段，曲線基線偏移應(yīng)小于10mV。

自然電位測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

滲透層自然電位曲線的異常變化幅度和鉆井液濾液電阻率Rmf與地層水電阻率Rw差值的大小有關(guān)，差值愈大，異常幅度也就愈大。重復(fù)曲線與主曲線形狀相同，幅度大于10mV的地層，重復(fù)測(cè)量值相對(duì)誤差應(yīng)小于10%。

自然電位測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)自然電位曲線與自然伽馬、微電極曲線應(yīng)具有較好的對(duì)應(yīng)性。

自然電位測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)基本用途：計(jì)算泥質(zhì)含量；儲(chǔ)層劃分；地層對(duì)比；劃分水淹層；判斷地層界面（例如太古界高伽馬）。與自然電位測(cè)井互補(bǔ)。七、自然伽馬測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)泥巖層或含有放射性物質(zhì)的地層呈高自然伽馬特征，而砂巖層、致密地層及純灰?guī)r地層呈低自然伽馬特征;

自然伽馬測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)與自然電位、補(bǔ)償聲波曲線等曲線有相關(guān)性;

自然伽馬測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)井徑影響，砂泥巖不分

自然伽馬測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

重復(fù)曲線與主曲線對(duì)比形狀基本相同，相對(duì)誤差在5%內(nèi)。

自然伽馬測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)基本用途：尋找高放射性儲(chǔ)集層；研究流體流動(dòng)情況；計(jì)算泥質(zhì)含量；八、自然伽馬能譜測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)研究沉積相和粘土礦物類(lèi)型；生油層；地層對(duì)比；劃分水淹層；判斷地層界面。Th/U:大于7為陸相沉積，氧化環(huán)境或風(fēng)化殼；小于7為海相沉積，灰色和綠色泥巖；小于2為海相黑色泥巖。U/K： 估計(jì)泥巖生油能力，愈高愈好。自然伽馬能譜測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

總自然伽馬曲線與自然伽馬曲線一致；鈾（U）、釷（Th）、鉀（K）在特殊巖性地層符合一般規(guī)律；鈾和釷的重復(fù)誤差為±7%，鉀的重復(fù)誤差為±10%；總自然伽馬曲線要求同自然伽馬曲線。特征峰：K40：1.46Mev;U238：1.76Mev;Th232：2.62Mev道域：94～113；115～139；173～211

自然伽馬能譜測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)主要用途：計(jì)算固井水泥量；為測(cè)井解釋提供分析資料的環(huán)境影響依據(jù)；提供鉆井工程所需數(shù)據(jù)。

九、井徑測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)井前必須用井徑刻度器對(duì)井徑儀進(jìn)行兩點(diǎn)刻度，測(cè)井前、后校驗(yàn)工程值在規(guī)定的范圍內(nèi)。

井徑測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)井徑曲線不允許停車(chē)對(duì)套管，特殊情況應(yīng)說(shuō)明其原因。儀器進(jìn)入套管后的測(cè)量長(zhǎng)度必須超過(guò)10m，且井徑曲線平直穩(wěn)定，測(cè)量值與套管標(biāo)稱(chēng)值誤差應(yīng)在±1.5cm以內(nèi)。

井徑測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

滲透層、致密層井徑數(shù)值一般應(yīng)接近或略小于鉆頭直徑值。

井徑測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

井徑曲線最大值不得超過(guò)井徑腿全部伸開(kāi)時(shí)的值，最小值也不得小于井徑腿全部合攏時(shí)的值。

重復(fù)曲線與主曲線形狀一致，重復(fù)測(cè)量值相對(duì)誤差應(yīng)小于5%。

井徑測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

鉆頭直徑12.2in,套管內(nèi)徑12.6in測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)過(guò)中間未下套管的井，完井測(cè)井時(shí)應(yīng)根據(jù)地質(zhì)設(shè)計(jì)書(shū)的水泥返高要求確定井徑曲線的測(cè)量井段。

井徑測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)主要用途：計(jì)算儲(chǔ)層孔隙度和礦物含量，判斷巖性。劃分裂縫層段；劃分氣層；地層對(duì)比。

八、補(bǔ)償聲波測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)前、測(cè)后應(yīng)在沒(méi)有水泥膠結(jié)的套管中測(cè)量至少10米曲線，且測(cè)后進(jìn)套管與曲線連續(xù)，套管聲波時(shí)差的數(shù)值應(yīng)在57±2us/ft。

補(bǔ)償聲波測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

聲波時(shí)差數(shù)值應(yīng)符合地區(qū)規(guī)律，利用聲波時(shí)差計(jì)算的地層孔隙度值與補(bǔ)償中子、補(bǔ)償密度或巖性密度計(jì)算的地層孔隙度值接近。滲透層不得出現(xiàn)與地層無(wú)關(guān)的跳動(dòng)，如有周波跳躍，應(yīng)降低測(cè)速測(cè)量。

補(bǔ)償聲波測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

重復(fù)曲線形狀相同，滲透層的測(cè)量值重復(fù)誤差應(yīng)在±2.5us/ft以內(nèi)。

補(bǔ)償聲波測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

補(bǔ)償聲波測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

聲波時(shí)差曲線數(shù)值不得低于巖石的骨架值

補(bǔ)償聲波測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

主要用途：計(jì)算孔隙度、縱橫波時(shí)差及比值、泊松比、揚(yáng)式模量、切變模量、地層破裂壓力等力學(xué)參數(shù)。九、長(zhǎng)源距聲波測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

九、長(zhǎng)源距聲波測(cè)井

聲波時(shí)差曲線的質(zhì)量應(yīng)符合規(guī)定。波形曲線變化趨勢(shì)一致，在硬地層縱波、橫波、斯通利波界面清楚，變密度顯示對(duì)比度清晰、明暗變化正常。波形圖、變密度圖應(yīng)與聲波時(shí)差、補(bǔ)償中子、體積密度測(cè)井曲線有相關(guān)性，裂縫層段應(yīng)有明顯的裂縫顯示。水泥面以上井段套管波明顯，水泥膠結(jié)良好段地層波可辨認(rèn)。利用橫波與縱波時(shí)差比值檢查曲線質(zhì)量：砂巖：1.6-1.8；白云巖：1.8；石灰?guī)r：1.9測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算儲(chǔ)層孔隙度；計(jì)算礦物含量；判斷巖性；劃分裂縫層段。十、補(bǔ)償密度測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)劃分氣層。

九、補(bǔ)償密度測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

補(bǔ)償密度儀器刻度校驗(yàn)包括主刻度、主校驗(yàn)、測(cè)前和測(cè)后校驗(yàn)。按刻度規(guī)范定期對(duì)儀器進(jìn)行進(jìn)行主刻度。

補(bǔ)償密度測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

做完主刻度后應(yīng)立即做主校驗(yàn)。測(cè)井前、后用現(xiàn)場(chǎng)校驗(yàn)器對(duì)儀器進(jìn)行檢查，密度、泥餅校正值與主校驗(yàn)值比較，誤差絕對(duì)值小于0.025g/cm3。

補(bǔ)償密度測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井曲線與補(bǔ)償中子、補(bǔ)償聲波、自然伽馬曲線有相關(guān)性。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)補(bǔ)償密度與補(bǔ)償中子、自然伽馬曲線相關(guān)性示意圖。

補(bǔ)償密度測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)在致密地層，測(cè)井值應(yīng)與巖石骨架值相吻合。

補(bǔ)償密度測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

補(bǔ)償密度測(cè)井在致密地層，測(cè)井值應(yīng)與巖石骨架值相吻合。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

補(bǔ)償密度測(cè)井應(yīng)記錄補(bǔ)償密度、泥餅校正值和井徑曲線。除鉆井液中加重晶石或地層為煤層、黃鐵礦層外，密度補(bǔ)償值應(yīng)為零或小的正值。

補(bǔ)償密度測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

補(bǔ)償密度測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)蘭色補(bǔ)償密度曲線數(shù)值低，補(bǔ)測(cè)（紅色)。

補(bǔ)償密度測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)存在問(wèn)題：與鄰井對(duì)比數(shù)值高0.05g/cm3測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

重復(fù)曲線、重復(fù)測(cè)井接圖與主曲線對(duì)比形狀基本相同，在井壁規(guī)則處，誤差絕對(duì)值小于0.03g/cm3。

補(bǔ)償密度測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

應(yīng)用：與補(bǔ)償密度相同，PE值在判斷巖性方面有獨(dú)到之處；

PE：光電截面吸收指數(shù)，單位b/電子。

PE=（Z/10）3.6

十、巖性密度測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)重復(fù)曲線與主曲線形狀應(yīng)基本相同，在井壁規(guī)則處光電吸收截面指數(shù)重復(fù)測(cè)量值相對(duì)誤差應(yīng)小于5.3%，光電吸收截面指數(shù)PE曲線與巖性特征相吻合。

巖性密度測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

當(dāng)鉆井液中重晶石含量小于7%時(shí)，光電吸收截面指數(shù)應(yīng)與巖性吻合。

巖性密度測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

當(dāng)鉆井液中重晶石含量大于7%時(shí)，光電吸收截面指數(shù)不能劃分巖性吻合。

巖性密度測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

？鉆井液密度0.98測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

對(duì)體積密度、泥餅校正值和井徑曲線曲線的質(zhì)量要求可按補(bǔ)償密度測(cè)井的規(guī)定執(zhí)行。

巖性密度測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)基本用途：計(jì)算儲(chǔ)層孔隙度；計(jì)算礦物含量；

十一、補(bǔ)償中子測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)判斷巖性；劃分裂縫層段；劃分氣層，計(jì)算泥質(zhì)含量。

十一、補(bǔ)償中子測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

重復(fù)曲線、重復(fù)測(cè)井接圖與主曲線對(duì)比形狀基本相同。井眼規(guī)則處，當(dāng)測(cè)量孔隙度大于7P·U時(shí)，重復(fù)誤差容限為測(cè)量值的7%；當(dāng)測(cè)量孔隙度不大于7P·U時(shí)，重復(fù)誤差容限為±0.5P·U。

補(bǔ)償中子測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)曲線與體積密度、聲波時(shí)差及自然伽馬曲線有相關(guān)性示意圖。

補(bǔ)償中子測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)致密層測(cè)井值應(yīng)與巖石骨架值相吻合。

補(bǔ)償中子測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)在致密的碳酸鹽巖地層，測(cè)井值應(yīng)與巖石骨架值相吻合。

補(bǔ)償中子測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

在直井或井斜較小的井中，補(bǔ)償中子測(cè)井必須加偏心器。

補(bǔ)償中子測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

補(bǔ)償中子測(cè)井加偏心器前后，同支儀器測(cè)量的兩條中子曲線相差12個(gè)孔隙度。測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

補(bǔ)償中子測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

補(bǔ)償中子測(cè)井與體積密度、聲波時(shí)差及自然伽馬曲線有相關(guān)性，所測(cè)地層孔隙度與其他孔隙度測(cè)井計(jì)算的地層孔隙度基本相同。

Φd≈24%Φn≈23%Φs≈21%測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

交會(huì)圖技術(shù)測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

交會(huì)圖技術(shù)測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)1測(cè)前應(yīng)對(duì)垂直懸掛在井架上的儀器進(jìn)行偏斜、旋轉(zhuǎn)檢查，對(duì)電極進(jìn)行靈敏度檢查，并記錄檢查結(jié)果。2測(cè)井時(shí)極板壓力適當(dāng)，微電阻率曲線峰值明顯。3微電阻率曲線應(yīng)具有相關(guān)性，和其它電阻率曲線具有對(duì)應(yīng)性。4微電阻率曲線變化正常，不應(yīng)出現(xiàn)負(fù)值。5井斜角、方位角曲線變化正常，無(wú)負(fù)值。6在15m井段內(nèi)，Ⅰ號(hào)極板方位角變化不應(yīng)大于360（°）。7雙井徑曲線的質(zhì)量應(yīng)符合要求。8重復(fù)曲線與主曲線對(duì)比，井斜角重復(fù)誤差在±0.5（°）以內(nèi)；當(dāng)井斜角大于1（°）時(shí)，井斜方位角重復(fù)誤差在±10（°）以內(nèi)。

十二、四臂地層傾角測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)測(cè)前在井斜較大、井眼規(guī)則的井段測(cè)量重復(fù)曲線。井斜角重復(fù)誤差小于0.5°。方位角的重復(fù)誤差要求如下：井斜大于1°時(shí)，井斜方位誤差不大于10°。為防止由于井斜儀器短引起的擺動(dòng)，井斜應(yīng)和其他儀器連接在一起并測(cè)。

十三、井斜測(cè)井測(cè)井5132質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)1測(cè)井過(guò)程中采用自然伽馬測(cè)井儀跟蹤定位，測(cè)量點(diǎn)深度誤差應(yīng)在±0.2m以內(nèi)。2按由上至下的方式測(cè)量，上返補(bǔ)點(diǎn)須消除滯后影響。3測(cè)井前、后測(cè)量的鉆井液靜壓力及地層最終恢復(fù)壓力應(yīng)穩(wěn)定，15s內(nèi)的變化在±6895Pa(±1psi)以內(nèi)。4壓力恢復(fù)曲線變化正常，無(wú)抖跳。5在鉆井液面相對(duì)穩(wěn)定的情況下，測(cè)井前、后測(cè)量的鉆井液靜壓力相差不大于34474Pa（5psi）。6第一次密封失敗的測(cè)試點(diǎn)，應(yīng)在該點(diǎn)的上、下0.5m內(nèi)選點(diǎn)補(bǔ)測(cè)。7干點(diǎn)至少重復(fù)測(cè)試一次，首次等待壓力恢復(fù)時(shí)間1min以上，第二次等待時(shí)間2min以上，極低滲透性地層壓力恢復(fù)記錄時(shí)間不少于10min。

十四、電纜