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深圳大學(xué)實(shí)驗(yàn)報(bào)告課程名稱(chēng):實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目名稱(chēng):學(xué)院:專(zhuān)業(yè):指導(dǎo)教師:報(bào)告人:學(xué)號(hào):班級(jí):實(shí)驗(yàn)時(shí)間:實(shí)驗(yàn)報(bào)告提交時(shí)間:教務(wù)部制實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c要求:實(shí)驗(yàn)?zāi)康模海ㄗ贤猓梢?jiàn)分光光度計(jì)測(cè)量透射光譜)1、學(xué)習(xí)紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)的工作原理和使用方法;2、學(xué)習(xí)用紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)測(cè)量薄膜樣品的透射光譜;3、能根據(jù)透射光譜推算出材料的光學(xué)禁帶寬度。實(shí)驗(yàn)?zāi)康模海ㄋ奶结樂(lè)y(cè)電阻率)1、了解四探針電阻率測(cè)試儀的基本原理、組成和使用方法;2、能對(duì)給定樣品的電阻率進(jìn)行測(cè)試,并對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行分析和討論方法、步驟:實(shí)驗(yàn)方法:(紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)測(cè)量透射光譜)紫外-可見(jiàn)光分光光度計(jì)利用物質(zhì)對(duì)光的選擇性吸收來(lái)對(duì)物質(zhì)進(jìn)行定性、定量分析,確定物質(zhì)的透光性、光學(xué)帶隙值。其工作原理是當(dāng)一定頻率的紫外-可見(jiàn)光照射物質(zhì)時(shí),電子在不同能級(jí)之間發(fā)生躍遷,從而有選擇地吸收激發(fā)光。隨波長(zhǎng)而變化的光譜,反映了試樣的特征。實(shí)驗(yàn)步驟1、打開(kāi)分光光度計(jì)運(yùn)行軟件,將光譜掃描范圍設(shè)為200-900nm,掃描步長(zhǎng)為5nm,掃描方式為透射率。2、將兩片沒(méi)有鍍膜的干凈基片分別放置于參比池和樣品池,先做基線掃描,然后將樣品池的基片換成鍍了薄膜的基片,進(jìn)行光譜掃描,從而得到透射光譜。3、用紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)分別測(cè)量ZnO、ZnO:Al、Al等薄膜樣品和石英片(SiO2)的透射光譜。實(shí)驗(yàn)方法:(四探針?lè)y(cè)電阻率)四探針?lè)ㄖ兴膫€(gè)探針等距地排成直線,外面的一對(duì)探針(1,4)通以高精度的直流穩(wěn)流電流I,里面的探針(2,3)用來(lái)測(cè)量電壓V,由高內(nèi)阻數(shù)字電壓表或電位差計(jì)讀取。實(shí)驗(yàn)步驟1、打開(kāi)電腦,打開(kāi)四探針程序,選定一個(gè)mdb文件打開(kāi)。2、選定一個(gè)數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)入程序3、將樣品置于樣品臺(tái)上,并位于探針正下方,并在程序界面選擇測(cè)試項(xiàng)目以及測(cè)量檔,設(shè)置探針自動(dòng)抬起,單機(jī)測(cè)試測(cè)量開(kāi)始測(cè)試4、分別測(cè)量ZnO、ZnO:Al、Al等薄膜樣品和石英片(SiO2)的方塊電阻實(shí)驗(yàn)過(guò)程及內(nèi)容:數(shù)據(jù)處理分析:1、混合樣品物相分析編號(hào)為1-1的樣品衍射圖譜鑒定如下圖所示:1111022001011111102200101100對(duì)應(yīng)Jade鑒定卡片在Word中插入文本框標(biāo)注衍射指數(shù),文字方向用豎排,不同物相要用字體或其它符號(hào)加以區(qū)分。每個(gè)衍射峰均需要標(biāo)注?。?!利用Jade軟件進(jìn)行Search/Match可以查出,該混合樣品的衍射圖譜與JCPDS卡片46-1045(SiO2,空間群P3221),以及36-1451(ZnO,空間群P63mc)相匹配,這說(shuō)明,該混合樣品的物相組成為SiO2+ZnO.2、晶胞參數(shù)優(yōu)化通過(guò)峰形擬合精確確定衍射峰峰位,利Jade軟件晶胞參數(shù)優(yōu)化功能,可得該樣品中ZnO晶胞參數(shù)為:a=3.2504(1)?,c=5.2076(1)?;SiO2晶胞參數(shù)為:a=4.9141(1)?,c=5.4056(2)?。3、晶粒度的計(jì)算通過(guò)峰形擬合出衍射峰的峰寬,結(jié)合標(biāo)定的儀器寬度,利用Jade軟件計(jì)算出ZnO平均晶粒度為:1.01(1)μm,SiO2平均晶粒度為:1.41(2)μm說(shuō)明:如下晶粒度計(jì)算圖,左下角XS(?)=1410(19),其中?是晶粒度單位為nm.實(shí)驗(yàn)結(jié)論:通過(guò)實(shí)驗(yàn)及衍射數(shù)據(jù)處理,鑒定出樣品的物相組成為SiO2及ZnO,分別和PDF卡片46-1045及36-1451相對(duì)應(yīng)。其晶胞參數(shù)分別為:ZnO:a=3.2504(1)?,c=5.2076(1)?;SiO2:a=4.9141(1)?,c=5.4056(2)?。平均晶粒度分別為:ZnO1.01(1)μm,SiO21.35(1)μm指導(dǎo)教師批閱意見(jiàn):成績(jī)?cè)u(píng)定:指導(dǎo)教師簽字:
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