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文檔簡介

精心整理精心整理精心整理特種設備無損檢測技術培訓考核習題集二0一二年三月說明《特種設備無損檢測技術培訓考核習題集》是在《鍋爐壓力容器無損檢測新編教材配套習題集》基礎上改寫而成的。改寫過程中糾正了書中的一些錯誤外,還增加了材料、焊接、熱處理等基礎知識的題目。編寫本習題集的主要依據(jù)是《射線檢測》、《超聲波檢測》、《磁粉檢測》、《滲透檢測》、《特種設備無損檢測相關知識》五本教材,編寫時還參考了全國考委會《鍋爐壓力容器無損檢測人員考試習題集》、江蘇省《無損檢測習題集》以及部分美國ASNT習題。本書主要編寫人:強天鵬、施健。無損檢測知識部分的習題集的排列編號與教材的章節(jié)對應。RT和UT部分的計算題按難易程度和實用性分為四個等級。Ⅰ級資格人員應掌握*級題,理解或了解**級題;Ⅱ級資格人員應掌握**級以下題,理解或了解***級題;Ⅲ級資格人員應掌握***級以下題,理解或了解****級題。建議在理論考試中,計算題部分“掌握”的等級題占75%左右,“理解”或“了解”的等級題占25%左右。其它題型則未分級,學員可參考鍋爐壓力容器無損檢測人員資格考核大綱中“掌握”、“理解”和“了解”的要求來確定對有關習題的熟練程度。材料、焊接、熱處理知識部分的習題選用了是非和選擇題兩種題型,主要是考慮這兩種題型有利于學員對基礎概念的掌握。歡迎讀者對書中的缺點錯誤批評指正。2012年3月·南京目錄說明第一部分射線檢測一、是非題是非題答案二、選擇題選擇題答案三、問答題問答題答案第一部分射線檢測共:803題其中:是非題301題選擇題284題問答題118題計算題100題是非題1.1原子序數(shù)Z等于原子核中的質子數(shù)量。(√)1.2為了使原子呈中性,原子核中的質子數(shù)必須等于核外的電子數(shù)。(√)1.3當原子核內的中子數(shù)改變時,它就會變?yōu)榱硪环N元素。(Χ)1.4當一個原子增加一個質子時,仍可保持元素的種類不變。()1.5原子序數(shù)相同而原子量不同的元素,我們稱它為同位素。()1.6不穩(wěn)定同位素在衰變過程中,始終要輻射γ射線。()1.7不同種類的同位素,放射性活度大的總是比放射性活度小的具有更高的輻射劑量。()1.8放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量變?yōu)樵瓉淼囊话胨枰臅r間。()1.9各種γ射線源產(chǎn)生的射線均是單能輻射。()1.10α射線和β射線雖然有很強的穿透能力,但由于對人體輻射傷害太大,所以一般不用于工業(yè)探傷。()將元素放在核反應堆中受過量中子轟擊,從而變成人造放射性同位素,這一過程稱為“激活”。()1.12與其他放射性同位素不同,Cs137是原子裂變的產(chǎn)物,在常溫下呈液態(tài),使用前須防止泄漏污染。()1.13與Ir192相比,Se75放射性同位素的半衰期更短,因此其衰變常數(shù)λ也更小一些。()1.14射線能量越高,傳播速度越快,例如γ射線比Χ射線傳播快。()1.15Χ射線或γ射線強度越高,其能量就越大。(Χ)1.16Χ射線或γ射線是以光速傳播的微小的物質粒子。(Χ)1.17當χ射線經(jīng)過2個半價層后,其能量僅僅剩下最初的1/4。()1.18如果母材的密度比缺陷的密度大一倍,而母材的原子序數(shù)比缺陷的原子序數(shù)小一半時,缺陷在底片上所成的象是白斑。()1.19標識Χ射線具有高能量,那是由于高速電子同靶原子核相碰撞的結果。()1.20連續(xù)Χ射線是高速電子同靶原子的軌道電子相碰撞的結果。()1.21Χ射線的波長與管電壓有關。()1.22Χ射線機產(chǎn)生Χ射線的效率比較高,大約有95%的電能轉化為Χ射線的能量。()1.23一種同位素相當與多少千伏或兆伏能力的Χ射線機來做相同的工作,這種關系叫做同位素的當量能。()1.24同能量的γ射線和Χ射線具有完全相同的性質。()1.25Χ射線的強度不僅取決于Χ射線機的管電流而且還取決于Χ射線機的管電壓。()1.26與C060相對,CS137發(fā)出的γ射線能量較低,半衰期較短。長(Χ)1.27光電效應中光子被完全吸收,而康普頓效應中光子未被完全吸收。()1.28一能量為300KeV的光子與原子相互作用,使一軌道電子脫離50KeV結合能的軌道,且具有50KeV動能飛出,則新光子的能量是200KeV。()1.29光電效應的發(fā)生幾率隨原子序數(shù)的增大而增加。()1.30光電子又稱為反沖電子。(Χ)1.31隨著入射光子能量的增大,光電吸收系數(shù)迅速減少,康普頓衰減系數(shù)逐漸增大。()當射線能量在1.02MeV至10MeV區(qū)間,與物質相互作用的主要形式是電子對效應。()1.33連續(xù)Χ射線穿透物質后,強度減弱,線質不變。()1.34射線通過材料后,其強度的9/10被吸收,該厚度即稱作1/10價層。()1.35當射線穿過三個半價層后,其強度僅剩下最初的1/8。()1.36連續(xù)Χ射線的有效能量是指穿透物質后,未被物質吸收的能量。所以穿透厚度越大,有效能量越小。()1.37CO60和Ir192射線源是穩(wěn)定的同位素在核反應堆中俘獲中子而得到的,當射線源經(jīng)過幾個半衰期后,將其放在核反應堆中激活,可重復使用。()1.38Χ射線和γ射線都是電磁輻射,而中子射線不是電磁輻射。()1.39放射性同位素的當量能總是高于起平均能。()1.40Χ射線與可見光本質上的區(qū)別僅僅是振動頻率不同。()1.41高速電子與靶原子的軌道電子相撞發(fā)出Χ射線,這一過程稱作韌致輻射。()1.42連續(xù)Χ射線的能量與管電壓有關,與管電流無關。()1.43連續(xù)Χ射線的強度與管電流有關,與管電壓無關。()1.44標識Χ射線的能量與管電壓、管電流均無關,僅取決于靶材料。()1.45Χ射線與γ射線的基本區(qū)別是后者具有高能量,可以穿透較厚物質。()1.46采取一定措施可以使射線照射范圍限制在一個小區(qū)域,這樣的射線稱為窄束射線。()1.47對鋼、鋁、銅等金屬材料來說,射線的質量吸收系數(shù)值總是小于線吸收系數(shù)值。()1.48原子核的穩(wěn)定性與核內中子數(shù)有關,核內中子數(shù)越小,核就越穩(wěn)定。()1.49經(jīng)過一次β-衰變,元素的原子序數(shù)Z增加1,而經(jīng)過一次α衰變,元數(shù)的原子序數(shù)Z將減少2。()1.50放射性同位素衰變常數(shù)越小,意味著該同位素半衰期越長。()1.51在管電壓、管電流不變的前提下,將Χ射線管的靶材料由鉬改為鎢,所發(fā)生的射線強度會增大。()在工業(yè)射線探傷中,使膠片感光的主要是連續(xù)譜Χ射線,標識譜Χ射線不起什么作用。()1.53Ir192射線與物質相互作用,肯定不會發(fā)生電子對效應。()1.54高能Χ射線與物質相互作用的主要形式之一是瑞利散射。()1.55連續(xù)Χ射線穿透物質后,強度減弱,平均波長變短。(√)1.56不包括散射成分的射線束稱為窄射線束。(√)1.57單一波長電磁波組成的射線稱為“單色”射線,又稱為單能輻射。(√)1.58α射線和β射線一般不用于工業(yè)無損檢測,是因為這兩種射線對人體輻射傷害太大。(×)1.59原子由一個原子核和若干個核外電子組成。(√)1.60原子核的核外電子帶正電荷,在原子核周圍高速運動。(×)1.61原子序數(shù)Z=核外電子數(shù)=質子數(shù)=核電荷數(shù)。(√)1.62原子量=質子數(shù)+中子數(shù)。(√)1.63中子數(shù)=相對原子質量(原子量)-質子數(shù)=相對原子質量(原子量)-原子序數(shù)Z。(√)1.64不穩(wěn)定的同位素又稱放射性同位素,Z≥83的許多元素及其化合物具有放射性。(√)1.65目前射線檢測所用的同位素均為人工放射性同位素。(√)1.66Χ射線譜中波長連續(xù)變化的部分,稱為連續(xù)譜。(√)1.67康普頓效應的發(fā)生幾率大致與光子能量成正比,與物質原子序數(shù)成反比。(×)1.68瑞利散射是相干散射的一種。(√)1.69只有入射光子能量>1.02MeV時,才能發(fā)生電子對效應。(√)1.70光電效應和電子對效應引起的吸收有利于提高照相對比度。(√)1.71康普頓效應產(chǎn)生的散射線會降低照相對比度。(√)1.72射線照相法適宜各種熔化焊接方法的對接接頭和鋼板、鋼管的檢測。(×)2.1Χ光管的有效焦點總是小于實際焦點。(√)2.2Χ射線機中的焦點尺寸,應盡可能大,這樣發(fā)射的Χ射線能量大,同時也可防止靶過分受熱。(Χ)2.3Χ射線管中電子的速度越小,則所發(fā)生的射線能量也就越小。(√)2.4由于Χ射線機的電壓峰值(KVP)容易使人誤解,所以Χ射線機所發(fā)出的射線能量用電壓的平均值表示。()2.5全波整流Χ射線機所產(chǎn)生射線的平均能比半波整流Χ射線機所產(chǎn)生的平均能高。()2.6移動式Χ射線機只能室內小范圍移動,不能到野外作業(yè)。()2.7移動式Χ射線機有油冷和氣冷兩種絕緣介質冷卻方式。()2.8相同千伏值的金屬陶瓷管和玻璃管,前者體積和尺寸小于后者。()2.9“變頻”是減小Χ射線機重量的有效措施之一。()2.10放射性同位素的比活度越大,其輻射強度也就越大。()2.11適宜探測厚度100mm以上鋼試件γ源的是Co60,適宜探測厚度20mm以下鋼試件的γ源是Ir192。()2.12黑度定義為阻光率的常用對數(shù)值。()2.13底片黑度D=1,即意味著透射光強為入射光強的十分之一。()2.14ISO感光度100的膠片,達到凈黑度2.0所需的曝光量為100戈瑞。()2.15能量較低的射線較更容易被膠片吸收,引起感光,因此,射線透照時防止散射線十分重要。()2.16用來說明管電壓、管電流和穿透厚度關系曲線稱為膠片特性曲線。()2.17膠片達到一定黑度所需的照射量(即倫琴數(shù))與射線質無關。()2.18同一膠片對不同能量的射線具有不同的感光度。()2.19比活度越小,即意味著該放射性同位素源的尺寸可以做得更小。()2.20膠片灰霧度包括片基年固有密度和化學灰霧密度兩部分。()2.21非增感型膠片反差系數(shù)隨黑度的增加而增大,而增感型膠片反差系數(shù)隨黑度增加的增大而減小。()2.22在常用的100KV-400KVΧ射線能量范圍內,鉛箔增感屏的增感系數(shù)隨其厚度的增大而減小。()2.23對Χ射線。增感系數(shù)隨射線能量的增高而增大。但對γ射線來說則不是這樣,例如,鉆60的增感系數(shù)比銥192低。()2.24對Χ射線機進行“訓練”的目的是為了排出絕緣油中的氣泡。()2.25Χ和γ射線的本質是相同的,但γ射線來自同位素,而Χ射線來自于一個以高壓加速電子的裝置。()2.26在任何情況下,同位素都優(yōu)于Χ射線設備,這是由于使用它能得到更高的對比度和清晰度。()2.27對于某一同位素放射源,其活度越大,則所發(fā)出的射線強度也越大。()2.28將一張含有針孔的鉛板放于Χ射線管和膠片之間的中間位置上,可以用來測量中心射線的強度。()2.29相同標稱千伏值和毫安值的Χ射線機所產(chǎn)生的射線強度和能量必定相同。()2.30所謂“管電流”就是流過Χ射線管燈絲的電流。()2.31放射源的比活度越大,其半衰期就月短。()2.32膠片對比度與射線能量有關,射線能量越高,膠片對比度越小。()2.33膠片特性曲線的斜率用來度量膠片的對比度。()2.34從實際應用的角度來說,射線的能量對膠片特性曲線形狀基本上不產(chǎn)生影響。()2.35寬容度大的膠片其對比度必然低。()2.36顯影時間延長,將會使特性曲線變陡,且在坐標上的位置向左移。()2.37膠片特性曲線在坐標上的位置向左移,意味著膠片感光速度越小。()2.38與一般膠片不同,Χ射線膠片雙面涂布感光乳劑層,其目的是為了增加感光速度和黑度。(√)2.39“潛象”是指在沒有強光燈的條件下不能看到的影象。()2.40嵌增感屏除有增感作用外,還有減少散射線的作用,因此在射線能穿透的前提下,應盡量選用較厚的鉛屏。()2.41透照不銹鋼焊縫,可以使用碳金屬絲象質計。()2.42透照鈦焊縫,必須使用鈦金屬絲象質計。()2.43透照鎳基合金焊縫時使用碳素鋼象質計,如果底片上顯示的線徑編號剛剛達到標準規(guī)定值,則該底片的實際靈敏度肯定達不到標準規(guī)定的要求。()2.44因為鉛箔增感屏的增感系數(shù)高于熒光增感屏,所以得到廣泛使用。()2.45膠片鹵化銀粒度就是顯影后底片的顆粒度。()2.46梯噪比高的膠片成像質量好。()2.47膠片系統(tǒng)分類的主要依據(jù)是膠片感光速度和梯噪比。()2.48直通道型γ射線機比“S”通道型γ射線機的機體輕,體積也小。(√)2.49鋪設γ射線機輸源管時應注意彎曲半徑不得過小,否則會導致其變形或折斷。(×)2.50像質劑一般擺放在射線透照區(qū)內顯示靈敏度較低部位。(√)2.51管道爬行器是一種裝在爬行裝置上的Χ射線機。(√)2.52Χ射線機在同樣電流、電壓條件下,恒頻機的穿透能力最強。(√)2.53Χ射線管的陰極是產(chǎn)生Χ射線的部分。(×)2.54Χ射線管的陽極是由陽極靶、陽極體、陽極罩三部分構成。(√)2.55一般陽極體采用導熱率大的無氧銅制成。(√)2.56攜帶式Χ射線機的散熱形式多采用輻射散熱式。(√)2.57Χ射線管的陽極特性就是Χ射線管的管電壓與管電流的關系。(√)2.58Χ射線機采用陽極接地方式的自整流電路,對高壓變壓器的絕緣性能要求較高。(√)2.59Χ射線機的燈絲變壓器是一個降壓變壓器。(√)2.60γ射線機的屏蔽容器一般用貧化鈾材料制成,其體積、重量比鉛屏蔽體要小許多。(√)2.61在換γ射線源的操作過程中,必須使用γ射線計量儀表及音響報警儀進行檢測。(√)2.62射線膠片由片基、結合層、感光乳劑層、保護層組成。(√)2.63膠片感光后,產(chǎn)生眼睛看不見的影像叫“潛影”。(√)2.64射線膠片的感光特性可在曝光曲線上定量表示。(×)2.65射線底片上產(chǎn)生一定黑度所用曝光量的倒數(shù)定義為感光度。(√)2.66未經(jīng)曝光的膠片,經(jīng)暗室處理后產(chǎn)生的一定黑度稱為本底灰霧度。(√)2.67膠片對不同曝光量在底片上顯示不同黑度差的固有能力稱為梯度。(√)2.68膠片有效黑度范圍相對應的曝光范圍稱為寬容度。(√)2.69膠片的特性指標只與膠片有關,與增感屏和沖洗條件無關。(×)2.70黑度計和光學密度計是兩種不同類型的測量儀器。(×)2.71使用金屬增感屏所得到的底片像質最佳,其增感系數(shù)也最小。(√)2.72增感系數(shù)Q是指不用增感屏的曝光量Eo與使用增感屏時的曝光量E之間的比值,即:Q=Eo/E(√)2.73金屬增感屏具有增感效應和吸收效應兩個基本效應。(√)2.74由于增感系數(shù)高,熒光增感屏多用于承壓設備的焊縫射線照相。(×)2.75像質劑是用來檢查和定量評價射線底片影像質量的工具。(√)2.76像質劑通常用與被檢工件材質相同或對射線吸收性能相似的材料制作。(√)3.1影象顆粒度完全取決于膠片乳劑層中鹵化銀微粒尺寸的大小。()3.2象質計靈敏度1.5%,就意味著尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被檢出。()3.3使用較低能量的射線可得到較高的主因對比度。()3.4射線照相時,若千伏值提高,將會使膠片對比度降低。()3.5一般對厚度差較大的工件,應使用較高能量射線透照,其目的是降低對比度,增大寬容度。()3.6增大曝光量可提高主因對比度。()3.7當射線的有效量增加到大約250KV以上時,就會對底片顆粒度產(chǎn)生明顯影響。()3.8增大最小可見對比度△Dmin,有助于識別小缺陷。()3.9射線照相主因對比度與入射線的能譜有關,與強度無關。()3.10用增大射源到膠片距離的辦法可降低射線照相固有不清晰度。()3.11減小幾何不清晰度的途徑之一,就是使膠片盡可能地靠近工件。()3.12利用陽極側射線照相所得到的底片的幾何不清晰度比陰極側好。()3.13膠片的顆粒越粗,則引起的幾何不清晰度就越大。()3.14使用γ射線源可以消除幾何不清晰度。()3.15增加源到膠片的距離可以減小幾何不清晰度,但同時會引起固有不清晰度增大。()3.16膠片成象的顆粒性會隨著射線能量的提高而變差。()3.17對比度、清晰度、顆粒度是決定射線照相靈敏度的三個主要因數(shù)。()3.18膠片對比度和主因對比度均與工件厚度變化引起的黑度差有關。()3.19使用較低能量的射線可提高主因對比度,但同時會降低膠片對比度。()3.20膠片的顆粒度越大,固有不清晰度也就越大。()3.21顯影不足或過度,會影響底片對比度,但不會影響顆粒度。()3.22實際上由射線能量引起的不清晰度和顆粒度是同一效應的不同名稱。()3.23當缺陷尺寸大大小于幾何不清晰度尺寸時,影象對比度會受照相幾何條件的影響。()3.24可以采取增大焦距的辦法使尺寸較大的源的照相幾何不清晰度與尺寸較小的源完全一樣。()3.25如果信噪比不夠,即使增大膠片襯度,也不可能識別更小的細節(jié)影像。()3.26散射線只影響主因對比度,不影響膠片對比度。()3.27底片黑度只影響膠片對比度,與主因對比度無關。()3.28射線的能量同時影響照相的對比度、清晰度和顆粒度。()3.29透照有余高的焊縫時,所選擇的“最佳黑度”就是指是能保證焊縫部位和母材部位得到相同角質計靈敏度顯示的黑度值。()3.30由于最小可見對比度△Dmin隨黑度的增大而增大,所以底片黑度過大會對缺陷識別產(chǎn)生不利的影響。()3.31底片黑度只影響對比度,不影響清晰度。()3.32試驗證明,平板試件照相,底片最佳黑度值大約在2.5左右。()3.33固有不清晰度是由于使溴化銀感光的電子在乳劑層中有一定穿越行程而造成的。()3.34底片能夠記錄的影象細節(jié)的最小尺寸取決于顆粒度。()3.35對有余高的焊縫照相,應盡量選擇較低能量的射線,以保證焊縫區(qū)域有較高的對比度。()3.36對比度修正系數(shù)σ值與缺陷的截面形狀有關,例如裂紋的截面形狀與象質計金屬絲不同,兩者的σ值也不同。()3.37由于底片上影象信噪比隨曝光量的增加而增大,所以增加曝光量有利于缺陷影象識別。()3.38射線照相的信噪比與膠片梯噪比具有不同含義。(√)3.39射線照相固有不清晰度與增感屏種類無關。(×)3.40焦點至工件表面的距離是影響幾何不清晰度的原因之一。(√)3.41膠片對比度與顯影條件有關。(√)3.42一般情況下,膠片感光速度越高,射線照相影像的顆粒性就越不明顯。(×)3.43焦點尺寸的大小與幾何不清晰度沒有關系。(×)3.44增感屏與膠片未貼緊會增大固有不清晰度。(√)3.45衰減系數(shù)μ只與射線能量有關,與試件材質無關。(×)3.46幾何不清晰度與焦點尺寸和工件厚度成正比,與焦點至工件表面的距離成反比。(√)3.47射線照相固有不清晰度可采用鉑-鎢雙絲像質劑測定。(√)3.48顆粒性是指均勻曝光的射線底片上影像黑度分布不均勻的視覺印象。(√)4.1按照“高靈敏度法”的要求,300KVX射線可透照鋼的最大厚度大約是40mm。()4.2γ射線照相的優(yōu)點是射線源尺寸小,且對厚度工作照相曝光時間短。()4.3選擇較小的射線源尺寸dr,或者增大焦距值F,都可以使照相Ug值減小。()4.4欲提高球罐內壁表面的小裂紋檢出率,采用源在外的透照方式比源在外的透照方式好。()4.5環(huán)焊縫的各種透照方式中,以源在內中心透照周向曝光法為最佳方式。()4.6無論采用哪一種透照方式,一次透照長度都隨著焦距的增大而增大。()4.7所謂“最佳焦距”是指照相幾何不清晰度Ug與固有不清晰度Ui相等時的焦距值。()4.8已知銅的等效系數(shù)Ψ銅=1.5,則透照同樣厚度的鋼和銅時,后者的管電壓應為前者的1.5倍。()4.9對有余高的焊縫進行透照,熱影響區(qū)部位的散射比要比焊縫中心部位大得多。()4.10源在內透照時,搭接標記必須放在射源側。()4.11背散射線的存在,會影響底片的對比度。通??稍诠ぜ湍z片之間放置一個嵌字B來驗證背散射線是否存在。()4.12不論采用何種透照布置,為防止漏檢,搭接標記均應放在射線源側。()4.13由于“互易定律實效”采用熒光增感屏時,根據(jù)曝光因子公式選擇透照參數(shù)可能會產(chǎn)生較大誤差。()4.14當被透工件厚度差較大時,就會有“邊蝕散射”發(fā)生。()4.15在源和工件之間放置濾板來減少散射線的措施對γ射線并不適用。()4.16使用“濾板”可增大照相寬容度,但濾板最好是放在工件和膠片之間。()4.17在源和工件之間放置濾板減少散射線的措施對于平板工件照相并不適用。()4.18在實際工作中正常使用的焦距范圍內,可以認為焦距對散射比沒有影響。()4.19采用平靶周向Χ射線機對環(huán)焊縫作內透中心法周向曝光時,有利于檢出橫向裂紋,但不利于檢出縱向裂紋。()4.20采用源在外單壁透照方式,如K值不變,則焦距越大,一次透照長度L3越大。()采用雙壁單影法透照時,如保持K值不變,則焦距越大,一次透照長度L3就越小。()用單壁法透照環(huán)焊縫時,所用搭接標記均應放在射源側工件表面,以免端部缺陷漏檢()。4.23對某一曝光曲線,應使用同一類型的膠片,但可更換不同的Χ射線機。()4.24使用γ射線曝光曲線時,首先應知道射線源在給定時間的活度。()4.25如果已知等效系數(shù),用Χ射線曝光曲線來代替γ射線曝光曲線,也可能求出曝光參數(shù)。()4.26小徑管射線照相采用垂直透照法比傾斜透照法更有利于檢出根部未熔合。()4.27增大透照厚度寬容度最常用的辦法是適當提高射線能量。()4.28對尺寸很小的缺陷,其影象的對比度不僅與射線能量有關,而且與焦距有關。()材料的種類影響散射比,例如給定能量的射線在鋼中的散射比要比在鋁中大得多。()在常規(guī)射線照相檢驗中,散射線是無法避免的。()環(huán)縫雙壁單影照相,搭接標記應放在膠片側,底片的有效評定長度是底片上兩搭接標記之間的長度。()縱焊縫雙壁單影照相,搭接標記應放在膠片側,底片的有效評定長度就是兩搭接標記之間的長。()小徑管雙壁透照的要點是選用較高管電壓,較低曝光量,其目的是減小底片反差,擴大檢出區(qū)域。()射線照相實際透照時很少采用標準允許的最小焦距值。()4.35雙片疊加觀察是雙膠片技術中的同速雙片法經(jīng)常采用的一種底片觀察方法。(×)4.36選擇射線源的首要因素是其對被檢工件應具有足夠的穿透力。(√)4.37球罐γ射線全景曝光時,其曝光時間通過生產(chǎn)廠家提供的“專用計算尺”可以精確計算出來。(×)4.38在滿足幾何不清晰度的前提下,為提高工效和影像質量,環(huán)形焊縫應盡量選用圓錐靶周向X射線機作內透中心法周向曝光。(√)4.39從射線照相靈敏度角度考慮:在保證穿透力的前提下,應盡量選擇能力較低的X射線。(√)4.40選擇能量較低的X射線可以獲得較高的對比度和寬容度。(×)4.41提高管電壓是提高工效和靈敏度的有效方法之一。(×)4.42底片黑度可以通過改變曝光量來控制。(√)4.43平方反比定律表示輻射強度與距離平方成反比。(√)4.44對于散射源來說,往往最大的散射源來自于試件本身。(√)4.45對厚度差較大的工件,散射比隨射線能量的增大而增大。(×)4.46使用鉛鉑增感屏對減少散射線幾乎不起作用。(×)4.47鉛鉑增感屏的鉛鉑厚度越大,其增感效率越大。(×)4.48在小徑管透照中,影像各處的幾何不清晰度都是一致的。(×)5.1顯影十膠片上的AgBr被還原成金屬銀,從而使膠片變黑。()5.2對曝光不足的底片,可采用增加顯影時間或提高顯影溫度的方法來增加底片黑度,從而獲得符合要求的底片。()5.3膠片在顯影液中顯影時,如果不進行任何攪動,則膠片上每一部位都會影響緊靠在它們下方部位的顯影。()5.4定影液有兩個作用,溶解未曝光的AgBr和堅膜作用。()5.5所謂“通透時間”就是指膠片從放入定影液到乳劑層變?yōu)橥该鞯倪@段時間。()5.6減少底片上水跡的方法是溫膠片快速干燥。()5.7膠片表面起網(wǎng)狀皺紋可能是膠片處理溫度變化急劇而引起的。()5.8沖洗膠片時,只要使用安全燈,膠片上就不會出現(xiàn)灰霧。()5.9顯影液中如果過量增加碳酸鈉,在底片上會產(chǎn)生反差降低的不良后果。()5.10使用被劃傷的鉛箔增感屏照相,底片上會出現(xiàn)與劃傷相應的清晰的黑線。()5.11膠片上靜電花紋的產(chǎn)生是由于射線管兩端的電壓過高的原因。()5.12射線底片上產(chǎn)生亮的月牙形痕跡的原因可能是曝光前使膠片彎曲。()5.13射線底片上產(chǎn)生黑的月牙形痕跡的原因可能是曝光后使膠片彎曲。()5.14如果顯影時間過長,有些未曝光的AgBr也會被還原,從而增大了底片灰霧。()顯影液中氫離子濃度增大,則顯影速度減慢,故借助于堿使顯影液保持一定PH值。()5.16定影液的氫離子濃度越高,定影能力就越強。()5.17膠片未曝光部分變?yōu)橥该鲿r,即說明定影過程已經(jīng)完成。()5.18因為鐵不耐腐蝕且容易生銹,所以不能用鐵制容器盛放顯影液。()5.19溴化鉀除了抑制灰霧的作用外,還有增大反差的作用。()5.20顯影時攪動不僅能夠使顯影速度加快,還有提高反差的作用。()5.21所謂“超加和性”是指米吐爾和菲尼酮配合使用,顯影速度大大提高的現(xiàn)象。()5.22普通手工沖洗顯影液不能用于自動洗片機。(√)5.23定影液老化會導致底片長期保存后出現(xiàn)泛黃的現(xiàn)象。(√)5.24銅、鐵等金屬離子對顯影劑的氧化有催化作用。(√)5.25水洗是膠片手工處理過程中重要步驟,水洗不充分的底片長期保存后會發(fā)生變色現(xiàn)象。(√)5.26黑度、對比度、顆粒度是底片的主要質量指標。(√)5.27米吐爾是顯影液中的重要成分,它不但易溶于水,也易溶于亞硫酸鈉溶液。(×)5.28吐米爾和對苯二酚都是顯影劑,但吐米爾的顯影能力大大低于對苯二酚。(×)5.29顯影液中的溴化鉀過量會大大抑制對苯二酚的顯影作用。(√)5.30顯影液中保護劑的作用是阻止顯影劑不被氧化,延長顯影液的使用壽命。(√)5.31顯影液中促進劑的作用是增強顯影劑的顯影能力和速度。(√)5.32氫氧化鈉是顯影液中促進劑,但它是強堿,在使用中要注意安全。(√)5.33顯影液中抑制劑的主要作用是抑制灰霧。(√)5.34在定影過程中,定影劑與鹵化銀和金屬銀都發(fā)生化學反應。(×)6.1由于射線照相存在影象放大現(xiàn)象,所以底片評定時,缺陷定量應考慮放大的影響。(×)6.2各種熱裂紋只發(fā)生在焊縫上,不會發(fā)生在熱影響區(qū)。(×)6.3形狀缺陷不屬于無損檢測檢出范疇,但對于目視檢查無法進行的場合和部位,射線照相應對形狀缺陷,例如內凹、燒穿、咬邊等,評級。()6.4射線照相時,不同的投影角度會使工件上不同部位的特征點在底片上的相對位置改變。(√)6.5熔化焊焊接過程中的二次結晶僅僅發(fā)生在焊縫,與熱影響區(qū)無關。(×)7.1暗室內的工作人員在沖洗膠片的過程中,會受到膠片上的衍生的射線照射,因而白血球也會降低。()7.2一個射線工作者懷疑自己處在高輻射區(qū)域,驗證的最有效方法是看劑量筆上的讀數(shù)是否也增加。()7.3熱釋光膠片劑量計和袖珍劑量筆的工作原理均基于電離效應。()7.4照射量單位“倫琴”只使用Χ射線或γ射線,不能用于中子射線。()7.5當Χ或γ射源移去以后工件不再受輻射作用,但工件本身仍殘留極低的輻射。()7.6即使劑量相同,不同種類輻射對人體傷害是不同的。()7.7小劑量,低劑量率輻射不會發(fā)生隨機性損害效應。()7.8只要嚴格遵守輻射防護標準關于劑量當量限值的規(guī)定,就可以保證不發(fā)生輻射損傷。()7.9從Χ射線機和γ射線的防護角度來說,可以認為1戈瑞=1希沃特。()7.10焦耳/千克是劑量當量單位,庫侖/千克是照射量單位。()7.11劑量當量的國際單位是希沃特,專用單位是雷姆,兩者的換算關系是1希沃特=100雷姆。()7.12Χ射線比γ射線更容易被人體吸收,所以Χ射線對人體的傷害比γ射線大。()7.13當照射量相同時,高能Χ射線比低能Χ射線對人體的傷害力更大一些。()7.14輻射損傷的確定性效應不存在劑量閥值,它的發(fā)生幾率隨著劑量的增加而增加。(X)7.15照射量適用于描述不帶電粒子與物質的相互作用,比釋動能適用于描述帶電粒子與物質的相互作用。(X)7.16在輻射防護中,人體任一器官或組織被Χ和γ射線照射后的吸收劑量和當量劑量在數(shù)值上是相等的。(√)7.17吸收劑量的大小取決于電離輻射的能量,與被照射物體本身的性質無關。(X)7.18輻射源一定,當距離增加一倍時,其劑量或劑量率減少到原來的一半。(X)8.1與電子回旋加速器相比,直線加速器能量更高,束流更大,焦點更小。()8.2寬容度大是高能Χ射線照相的優(yōu)點之一。()8.3加速器照相一般選擇較大的焦距,其目的是減小幾何不清晰度,提高靈敏度。()8.4中子幾乎不具有使膠片溴化銀感光的能力。()8.5中子照相的應用之一是用來檢查航空材料蜂窩結構的粘接質量。()8.6中子對鋼鐵材料的穿透力很強,因此常用它來檢測厚度超過100mm的對接焊縫的焊接缺陷。()8.7高能Χ射線照相的不清晰度主要是固有不清晰度,幾何不清晰度的影響幾乎可以忽略。()8.8射線實時成像檢驗系統(tǒng)的圖像容易得到較高的對比度,但不容易得到較好的清晰度。()8.9象素的多少決定了射線實時成像系統(tǒng)圖像識別細節(jié)的能力。()8.10在高能射線照相中,增感屏的增感作用主要靠前屏。()10.1按ASME規(guī)范要求,透照雙面焊縫的使用孔型象質計,應在象質計下放墊板,墊板厚度應為上下焊縫余高之和。()10.2在ASME規(guī)范中,100%照相和局部抽查的焊縫中允許的條件夾渣尺寸是不一樣的。()是非題答案1.1○1.2○1.3×1.4×1.5○1.6×1.7×1.8×1.9×1.10×1.11○1.12○1.13×1.14×1.15×1.16×1.17×1.18×1.19×1.20×1.21○1.22×1.23○1.24○1.25○1.26×1.27○1.28○1.29○1.30×1.31×1.32×1.33×1.34○1.35○1.36×1.37×1.38○1.39○1.40○1.41×1.42○1.43×1.44○1.45×1.46×1.47○1.48×1.49○1.50○1.51×1.52○1.53○1.54×1.55○2.1○2.2×2.3○2.4×2.5○2.6○2.7×2.8○2.9○2.10×2.11×2.12○2.13○2.14×2.15○2.16×2.17×2.18○2.19×2.20○2.21×2.22○2.23○2.24×2.25○2.26×2.27○2.28×2.29×2.30×2.31×2.32×2.33○2.34○2.35○2.36○2.37×2.38○2.39×2.40×2.41○2.42○2.43×2.44×2.45×2.46○2.47×3.1×3.2×3.3○3.4×3.5○3.6×3.7○3.8×3.9○3.10×3.11○3.12○3.13×3.14×3.15×3.16○3.17○3.18×3.19×3.20×3.21×3.22×3.23○3.24○3.25○3.26○3.27○3.28○3.29○3.30○3.31○3.32○3.33○3.34○3.35×3.36○3.37○3.38○4.1○4.2×4.3○4.4○4.5○4.6×4.7○4.8×4.9×4.10×4.11×4.12×4.13○4.14○4.15○4.16×4.17○4.18○4.19○4.20○4.21○4.22×4.23×4.24○4.25×4.26○4.27○4.28○4.29×4.30○4.31○4.32×4.33○4.34○5.1○5.2×5.3○5.4○5.5○5.6×5.7○5.8×5.9○5.10○5.11×5.12○5.13○5.14○5.15○5.16×5.17×5.18×5.19×5.20○5.21×6.1×6.2×6.3○7.1×7.2×7.3×7.4○7.5×7.6○7.7×7.8×7.9○7.10○7.11○7.12×7.13○8.1×8.2○8.3×8.4○8.5○8.6×8.7○8.8○8.9○8.10○10.1○10.2○選擇題1.1原子的主要組成部分是()。A.質子、電子、光子B.質子、重子、電子C.光子、電子、Χ射線D.質子、中子、電子1.2電磁波的頻率(f),速度(c)和波長(λ)之間的關系可用()表示。A.f=λ·cB.c=f·λC.λ=f·cD.λ=f/c1.3原子核的質子數(shù)等于()。A.中子數(shù)B.原子序數(shù)C.光子數(shù)D.原子量1.4質子和中子的區(qū)別是中子沒有()。A.電荷B.質量C.自旋D.半衰期1.5當幾種粒子和射線通過空氣時,其電離效應最高的是()。A.α粒子B.β粒子C.中子D.Χ和γ射線1.6在射線探傷中應用最多的三種射線是()。A.Χ射線,γ射線和中子射線B.α射線、β射線和γ射線C.Χ射線,γ射線和β射線C.Χ射線,γ射線和α射線1.7原子核外電子能級量最高的是()。A.外殼層B.中間殼層C.內殼層D.以上均不是1.8同位素是指()。A.質量數(shù)相同而中子數(shù)不同的元素;B.質量數(shù)相同而質子數(shù)不同的元素;C.中子數(shù)相同而質子數(shù)不同的元素;D.質子數(shù)相同而質量數(shù)不同的元素。1.9Χ射線、γ射線和α粒子有一個共同點,即它們都是()。A.均質粒子輻射B.電磁輻射C.微波輻射D.電離輻射1.10在射線檢驗中采用的能量范圍(約100KeVo-10MeV)射線穿過鋼鐵強度衰減的最主要原因是()。A.光電效應B.湯姆遜效應C.康普頓效應D.電子對效應1.11光子能量的數(shù)學表達式是()。A.E=h/vB.E=λ/hcC.E=hvD.E=hv21.12強度為I的單色射線通過厚度為ΔX的材料后,強度減弱ΔI,其關系式為△I=μIΔX,此式表示下列哪種現(xiàn)象()。A.光電效應B.康普頓效應C.吸收D.半價層厚度1.13通常所說的200KVX射線指()。A.最大能量為0.2MeV的“白色”Χ射線B.平均能量為0.2MeV的連續(xù)射線C.能量為0.2MeV的連續(xù)射線D.有效能量為0.2MeV的連續(xù)射線1.14單色射線是指()。A.標識Χ射線B.工業(yè)探傷γ源產(chǎn)生的射線C.用來產(chǎn)生高對比度的窄束射線D.由單一波長的電磁波組成的射線1.15在一般的工業(yè)探傷中,射線與物質相互作用時,主要產(chǎn)生的二個效應是()。A.光電效應和電子對效應B.光電效應和康普頓散射C.康普頓散射和電子對效應D.康普頓散射和電離1.16當光子與物質相互作用時,光子將部分能量用于逐出軌道電子,且剩余的能量變?yōu)殡娮拥膭幽?,這就是()。A.康普頓散射B.光電效應C.電子對效應D.電離1.17當光子與物質相互作用時,光子的波長增加,方向改變,這是由于()的結果。A.光電效應B.康普頓散射C.湯姆遜散射D.電子對產(chǎn)生1.18康普頓散射的特征是()A.產(chǎn)生光電子B.產(chǎn)生俄歇電子C.產(chǎn)生反沖電子D.產(chǎn)生正負電子對1.19光電效應的特征是()。A.產(chǎn)生光電子B.發(fā)射標識Χ射線C.發(fā)射二次電子D.以上都是1.20已知某單能射線在鋼中的半價層為3mm,則該射線在鋼中的吸收系數(shù)為()。-1-11.21射線通過物質時的衰減取決與()。A.物質的原子序數(shù)、密度和厚度B.物質的楊氏模量C.物質的泊松比D.物質的晶粒度1.22窄束和寬束的區(qū)別是()。A.窄束是指散射和未散射的射線均達到檢測器,而寬束是指只有未散射的射線到達檢測器。B.窄束是指只有未散射的射線到達檢測器,而寬束是指散射和未散射的射線均到達檢測器。C.窄束和寬束區(qū)別在于源尺寸大小不同。D.窄束和寬束區(qū)別在于照射場大小不同。1.23散射線的主要成份是低能電磁輻射,它是由光子在哪一過程中減弱而產(chǎn)生的()。A.光電過程B.康普頓過程C.電子對過程D.電離過程1.24從Χ射線管中發(fā)射出的射線包括()。A.連續(xù)Χ射線B.標識Χ射線C.β射線D.A和B1.25連續(xù)Χ射線穿透厚工件時,有何特點?()。A.第二半價層小于第一半價層;B.第二半價層等于第一半價層;C.第二半價層大于第一半價層;D.第二半價層與第一半價層關系不確定1.26當射線波長一定時,下列哪種物質的μ最大?()A.FeB.AlC.TiD.Cu1.27產(chǎn)生Χ射線的一般方法是在高速電子的運動方向上設置一個障礙物,使高速電子在這個障礙物上突然減速,這個障礙物被叫()。A.陽極B.陰極C.靶D.燈絲1.28Χ射線的穿透能力取決與()。A.毫安B.千伏C.曝光時間D.焦點尺寸1.29γ射線的穿透能力取決于()。A.源的尺寸B.源的種類C.曝光時間D.焦點尺寸1.30當施加于Χ射線管兩端的管電壓不變,管電流增加時,則()。A.產(chǎn)生的Χ射線波長不變,強度不變;B.產(chǎn)生的Χ射線波長不變,強度增加;C.產(chǎn)生的Χ射線波長不變,強度減少;D.產(chǎn)生的Χ射線波長增加,強度不變。1.31Χ射線機的管電流不變,管電壓減小時,則Χ射線將會發(fā)生()A.強度不變,波長減小B.強度不變,波長增大C.波長減小,強度減小D.波長增大,強度減小1.32Χ射線管所產(chǎn)生的連續(xù)Χ射線的強度與管電壓的關系是()。A.強度與管電壓成正比B.強度與管電壓成反比C.波長減小,強度減小D.強度與管電壓平方成反比1.33活度為80Ci、平均能量為1.66MeV的同位素源,經(jīng)過3個半衰期后,其平均能量為()。MeV1.34放射性同位素衰變時,原子核衰變方式通常是()。A.粒子發(fā)射B.K俘獲C.裂變D.A和B1.35韌致輻射是指高速運動的電子同靶相碰撞時,與靶的什么相互作用而放也電子的能量,產(chǎn)生連續(xù)Χ射線的?()。A.自由電子B.原子核的質子或中子C.殼層電子D.院子核外庫侖場1.36放射性元素Co60轉變?yōu)镹i60的過程是一次()。A.α衰變B.β衰變C.γ衰變D.K俘獲1.37以下關于光電效應的敘述,哪一條是錯誤的()A.光電效應發(fā)生幾率隨光子能量的增大而減??;B.光電效應發(fā)生幾率隨材料的原子序數(shù)增大而增大;C.光電效應過程中除產(chǎn)生光電子外,有時還會產(chǎn)生反沖電子;D.光電效應發(fā)射出的電子的能量肯定小于入射光子的能量。1.38以下關于康普頓效應的敘述,哪一條是錯誤的()A.散射光子的波長肯定小于入射光子;B.反光子與散射光子能沖電子的能量為入射量之差;C.散射角α越大,散射光子能量越??;D.康普頓效應發(fā)生幾率隨入射光子能量增大而減小。1.39某放射性同位素的衰變常數(shù)為0.005371天,則其半衰期為()A.186天B.129天C.53天D.537天1.40下列幾種材料中,射線衰減系數(shù)較大的是()A.銅B.鋁C.鐵D.碳1.41以下關于瑞利散射的敘述,哪一條是錯誤的()A.瑞利散射是相干散射的一種;B.瑞利散射不改變光子能量,只改變光子的運動方向;C.瑞利散射的發(fā)生幾率隨原子序數(shù)的增大而減小;D.瑞利散射的發(fā)生幾率隨光子能量的增大而急劇減小。1.42射線照相難以檢出的缺陷是()A.未焊透和裂紋B.氣孔和未熔合C.夾渣和咬邊D.分層和折疊1.43射線照相法對哪一種焊接方法不適用。()A.氣焊、電渣焊B.氣體保護焊、埋弧自動焊C.手工電弧焊、系離子弧焊D.摩擦焊、釬焊1.44以下哪些材料的熔化焊對接焊縫適宜使用射線照相法檢測()A.鋼和不銹鋼B.鈦和鈦合金C.鋁和鋁合金D.以上都適宜1.45以下關于射線照相特點的敘述,哪些是錯誤的()A.判定缺陷性質、數(shù)量、尺寸比較準確B.檢測靈敏度受材料晶粒度的影響較大C.成本較高,檢測速度不快D.射線對人體有傷害1.46康普頓效應的發(fā)生幾率大致是(C)與物質原子序數(shù)成正比,與光子能量成反比。1.47γ射線的光譜稱為(A)A.線狀譜B.連續(xù)譜C.標識譜D.以上都是1.48衰變常數(shù)λ反映了放射性物質的固有屬性(B)λ值越大,說明該物質越不穩(wěn)定,衰變的越快1.49射線與物質相互作用導致強度減弱,其原因為(B)A.吸收和散射B.衰變和吸收C.衰變和散射D.以上都是1.50對于不同物質和不同能量區(qū)域,光電效應、康普頓效應、電子對效應各自占優(yōu)勢的區(qū)域是(D)A.對于低能量射線和原子序數(shù)高的物質,光電效應占優(yōu)勢。B.對于中等能量射線和原子序數(shù)低的物質,康普頓效應占優(yōu)勢。C.對于高能量射線和原子序數(shù)高的物質,電子對效應占優(yōu)勢。D.以上都是1.51各種效應對射線照相質量產(chǎn)生的影響是(C)A.光電效應和康普頓效應有利于提高照相對比度。B.電子對效應和康普頓效應有利于提高照相對比度。C.光電效應和電子對效應有利于提高照相對比度。D.光電效應和電子對效應會降低照相對比度。2.1管電壓、管電流不變,將Χ射線管陽極由銅換成鎢,產(chǎn)生Χ射線線質如何變化?()A.邊硬B.變軟C.不變D.不一定2.2Χ射線管的陽極靶最常用的材料是()。A.銅B.鎢C.鈹D.銀2.3軟射線Χ射線管的窗口材料一般是()。A.銅B.鎢C.鈹D.銀2.4Χ射線機技術性能指標中,焦點尺寸是一項重要指標,焦點尺寸是指()。A.靶的幾何尺寸B.電子束的直徑C.實際焦點尺寸D.有效焦點尺寸2.5在條件允許的情況下,焦點尺寸應盡可能的小,其目的是()。A.減小設備體積B.提高清晰度C.增加能量密度D.節(jié)省合金材料2.6Χ射線管中轟擊靶產(chǎn)生Χ射線的高速電子的數(shù)量取決于()。A.陽極靶材料的原子序數(shù);B.陰極靶材料的原子序數(shù);C.燈絲材料的原子序數(shù);D.燈絲的加熱溫度。2.7下列哪一特征,不是Χ射線管的靶材料所要求的()。A.高原子序數(shù)B.高熔點C.高熱傳導率D.高質量吸收系數(shù)2.8當兩臺相同型號的Χ射線機的千伏值和毫安值均相同時,則()。A.產(chǎn)生的Χ射線的強度和波長一定相同;B.產(chǎn)生的Χ射線的波長相同,強度不同;C.產(chǎn)生的Χ射線的強度相同,波長不同;D.產(chǎn)生的Χ射線的強度和波長不一定相同。2.9高壓變壓器直接與Χ射線管相連接的Χ射線機叫做()。A.全波整流Χ射線機B.自整流Χ射線機C.交流Χ射線機D.恒電壓Χ射線機2.10Χ射線管對真空度要求較高,其原因是()A.防止電極材料氧化;B.使陰極與陽極之間絕緣;C.使電子束不電離氣體而容易通過;D.以上三者均是2.11決定Χ射線機工作時間長短的主要因素是()A.工作電太KV的大??;B.工作電流mA的大??;C.工件厚度的大??;D.陽極冷卻速度的大小。2.12Χ射線機中循環(huán)油的作用是()A.吸收散射線B.濾去一次射線中波長較長的射線C.散熱D.增強一次射線2.13大焦點Χ射線機與小焦點Χ射線機相比,其特點是()A.射線的能量低穿透力??;B.射線不集中,強度小C.照相黑度不易控制;D.照相清晰度差。2.14一般Χ射線機調節(jié)管電壓的方法通常是()A.調節(jié)燈絲的加熱電壓;B.調節(jié)陰極和陽極之間的電壓;C.調節(jié)陰極和陽極之間的距離;D.調節(jié)燈絲與陰極之間的距離。2.15Χ射線管中的陰極最常見的是()A.冷陰極B.熱陰極C.旋轉陰極D.固定陰極2.16提高燈絲溫度的目的是使()A.發(fā)射電子的能量增大;B.發(fā)射電子的數(shù)量增多;C.發(fā)出Χ射線的波長較短;D.發(fā)出Χ射線的波長較長。2.17大功率Χ射線管陽極冷卻的常用方法是()A.輻射冷卻B.對流冷卻C.傳導冷卻D.液體強迫循環(huán)冷卻2.18γ射線探傷機與Χ射線探傷機相比其優(yōu)點是()A.設備簡單B.不需外部電源C.射源體積小D.以上三者都是2.19探傷所用的放射性同位素,都是()A.天然同位素B.人造同位素C.穩(wěn)定同位素D.以上三者都是2.20放射性同位素的輻射強度與時間的關系是()A.隨時間增大B.與時間無關C.隨時間減小D.三者都不對2.21利用γ射線探傷時,若要增加射線強度可以采用()A.增加焦距B.減小焦距C.減小曝光時間D.三者均可2.22下列四種放射性元素中,半價層最厚的是()A.Co60B.Cs137C.Ir192D.Tm1702.23下列四種放射性元素中,半衰期最長的為()A.Co60B.Cs137C.Ir192D.Tm1702.24Tm170γ源發(fā)出的射線能量為()B.0.11和0.15MeV2.25180mm厚的鋼試件射線照相,可能使用的γ射線源是()A.鈷60B.銩170C.銥192D.銫1372.26可使用銥192照相的鋼試件厚度范圍是()A.100-200mmB.8-60mmC.4-15mmD.30-90mm2.27決定材料對X射線吸收量最重要的因素是()A.材料厚度B.材料密度C.材料原子序數(shù)D.材料晶粒度2.28下面有關X射線管焦點的敘述,哪一條是錯誤的()A.有效焦點總是小于實際焦點;B.焦點越小,照相幾何不清晰度越??;C.管電壓,管電流增加,實際焦點會有一定程度的增大;D.焦點越大,散熱越困難。2.29放射性同位素源的比活度取決于()A.核反應堆中照射的中子流;B.材料在反應堆中的停留時間;C.照射材料的特性(原子量,活化截面);D.以上全是。2.30下列四種放射性同位素中,可用來透照厚度為3-12mm的薄壁管,輻射特性類似100-250KVX射線的是()A.Ir192B.Cs137C.Co60D.Tm1702.31一般放射性比活度高的源其自吸收()A.較高B.較低C.兩者無關D.無自吸收2.32決定X射線管靶材適用性的兩個因素是()A.拉伸強度和倔強強度B.硬度和磁導度C.電阻和抗氧化性能D.原子序數(shù)和熔點2.33以下關于便攜式X射線機操作使用的敘述,哪條是錯誤的()A.X射線停機超過3天,才需要訓機B.送高壓前應預熱燈絲C.機內SF6氣機過低,將影響絕緣性能D.應保持工作和間歇時間1:12.34以下哪條不是γ射線探傷設備的優(yōu)點()A.不需要電和水B.可連續(xù)操作C.可進行周向曝光和全景曝光D.曝光時間短,效率高2.35X射線管中,電子轟擊靶時能量轉換的主要形式是產(chǎn)生()A.連續(xù)X射線B.標識X射線C.短波X射線D.熱2.36Χ射線管管電流大小主要取決于()A.靶材料B.燈絲電流C.陽極到陰極的距離D.以上都是2.37Χ射線管中轟擊靶的電子運動的速度取決于()A.靶材的原子序數(shù)B.管電壓C..管電流D.燈絲電流2.38在管電壓,管電流相同的情況下,下列哪種線路產(chǎn)生的射線質較硬,照射劑量率較大?()A.半波整流B.全波整流C.穩(wěn)恒直流D.線路種類與射線的質和劑量率無關2.39在管電壓,管電流相同的情況下,焦點尺寸越小,其焦點的溫度()A.越低B.越高C.不變D.不一定2.40各種膠片成像的粒度()A.隨千伏值提高而增大B.隨千伏值提高而減小C.與千伏值無關D.變化服從勃朗寧定律2.41表示膠片受到一定量X射線照射,顯后的底片黑度是多少的曲線叫做()A.曝光曲線B.靈敏度曲線C.特性曲線D.吸收曲線2.42X膠片的片基常用的材料是()A.聚氯乙烯薄膜B.聚氨脂薄膜C.滌綸薄膜D.聚乙烯薄膜2.43保存射線膠片的環(huán)境相對濕度應為()A.10-25%B.50-65%C.70-85%D.越干燥越好2.44膠片特性曲線上,兩個特定黑度點的直線的斜率叫做()A.膠片寬谷度B.梯度C.平均梯度D.感光度2.45由膠片特性曲線可以得到膠片的技術參數(shù)是()A.膠片的反差系數(shù)B.膠片的本底灰霧度C.正常的曝光范圍D.三者均是2.46哪一因素變化,會使膠片特性曲線形狀明顯改變?()A.改變管電壓B.改變管電流C.改變焦距D.改變顯影條件2.47實際使膠片鹵化銀顆粒感光的因素是()A.X或γ關量子B.α粒子C.電子D.中子2.48下面有關膠片的四種敘述中,唯一正確的是()A.膠片顆粒度大,感光速度就快,底片圖像清晰;B.膠片顆粒度小,感光速度就快,底片圖像模糊;C.膠片顆粒度大,感光速度快,底片圖像模糊;D.膠片顆粒度小,感光速度快,底片圖像清晰.2.49底片的黑度范圍限制在膠片特性曲線的直線區(qū)域內,這是因為在此區(qū)域透照出的底片()A.黑度大B.感光度高C.本底灰霧度小D.對比度高2.50已曝過光的X膠片,不能在高濕的環(huán)境內保持時間過長,否則會引起()A.藥膜自動脫落B.產(chǎn)生白色斑點C.產(chǎn)生靜電感光D.潛象衰退和黑度下降2.51膠片分類的依據(jù)主要是()A.梯度和顆粒度B.感光度和顆粒度C.感光度和梯度D.灰霧度和寬容度2.52X膠片乳劑中與射線作用產(chǎn)生光化學作用的成分是()A.AgBrB.AgO2C.AgSD.AgBr22.53用含銻6%的鉛合金作增感屏其原因是這種增感屏()A.清晰度號B.斑點效果好C.比較耐用D.增感系數(shù)高2.54與非增感屏型膠片混合使用的增感屏是()A.熒光增感屏B.鉛箔增感屏C.熒光鉛箔增感屏D.稀土熒光增感屏2.55熒光增感屏和鉛箔增感屏相比,熒光增感屏的主要優(yōu)點是()A.圖像的清晰度高B.可提高靈敏度C.可縮短曝光時間D.能屏蔽散射線2.56鉛箔增感屏的主要優(yōu)點是()A.可加速膠片感光同時吸收部分散射線B.可提高照相清晰度C.可減少照相顆粒度D.以上都是2.57使用鉛箔增感屏可以縮短曝光時間,提高底片的黑度,其原因是鉛箔受X射線或γ射線照射時()A.能發(fā)出熒光從而加速膠片感光;B.能發(fā)出可見光從而使膠片感光;C.能發(fā)出紅外線從而使膠片感光;D.能發(fā)出電子從而使膠片感光。2.58射線照相中,使用象質計的主要目的是()A.測量缺陷大小B.評價底片靈敏度C.測定底片清晰度D.以上都是2.59什么是使用象質計的局限性()A.不能提供射線照相檢驗靈敏度的永久性證據(jù);B.不能比較兩種不同透照技術的質量高低;C.不能提供可檢出缺陷尺寸的質量指示;D.不能驗證所用透照工藝的適當性。2.60平板孔型象質計的象質等級2-IT是指:() A.象質計厚度為透照厚度2%,孔徑為象質計厚度1倍,等效靈敏度為1.4% B.象質計厚度為透照厚度1%,孔徑為象質計厚度2倍,等效靈敏度為1.4% C.象質計厚度為透照厚度2%,孔徑為象質計厚度1倍,等效靈敏度為1% D.以上都不對2.61對母材厚度為12毫米的雙面焊接的焊縫進行射線探傷時,在底片上能發(fā)現(xiàn)直徑為0.32毫米的鋼絲質象質計,其質象計靈敏度為()2.62平板焊縫照相時,下面四種關于象質計擺放的敘述,唯一正確的擺放位置是()A.近膠片一側的工作表面,并應靠近膠片端頭;B.近射源一側工作表面,金術士垂直焊縫,并位于工件中部;C.近膠片一側的工作表面,并應處在有效照相范圍一端的焊縫上,金屬絲垂直于焊縫,細絲在外。D.近射源一側有效照相范圍一端的焊縫上,金屬絲垂直于焊縫,細絲在外。2.63鈦對射線的吸收系數(shù)小于鋼,在透照鈦試件時采用了鋼絲象質計,如果底片上顯示象質指數(shù)剛好達到標準要求,則該底片的靈敏度()A.剛好符合標準要求 B.達不到標準要求C.遠遠超過標準要求 D.無法判斷2.64一直入射光強200cd/m2,則底片黑度為2.3的區(qū)域透過的光強為:()A.5cd/m2cd/m2C.1cd/m2 D.0.1cd/m22.65一個電壓調節(jié)器由鐵心變壓器組成,變壓器只有一個繞組,繞組上有許多抽頭。這種變壓器叫做:()A.高壓變壓器 B.燈絲變壓器C.自耦變壓器 D.脈沖變壓器2.66一下關于周向輻射X射線管陽極靶的敘述,哪一條是錯誤的:()A.周向輻射X射線管的陽極靶有平面靶和錐形靶兩種B.平面靶多于300KVX射線管C.平面靶散熱效果比錐形靶好D.使用平面靶X射線管的探傷機照相要注意橫向裂紋漏檢問題2.67在其他參數(shù)不變的情況下,若顯影時間延長,膠片特性曲線會出現(xiàn)()A.梯度增大,感光速度提高 B.梯度減小,感光速度提高C.梯度減小,感光速度降低 D.梯度增大,感光速度降低2.68Ir192所發(fā)出的主要γ射線能量為()C.0.08,0.05,0.66MeV 2.69以下哪一條,不是金屬陶瓷管X射線機的優(yōu)點()A.體積小 B.重量輕C.故障小 D.不需要訓機2.70以下哪一因素,對膠片對比度不產(chǎn)生影響()A.射線能量 B.底片黑度C.膠片類型 D.顯影條件2.71使用“真空暗盒”的主要優(yōu)點是()A.提高主因對比度 B.減少固有不清晰度C.減小底片顆粒粒度 D.以上都是2.72膠片系統(tǒng)分類中所指的膠片系統(tǒng)包括()A.膠片,增感屏,暗盒 B.膠片,增感屏,暗盒,背防護鋁板C.膠片,增感屏,沖洗條件 D.源,膠片,增感屏,沖洗條件2.73適宜檢測厚度5-30mm的鋼試件的放射性同位素是(D)A.Ir192 B.Tm170 C.Yb169 D.Se752.74黑度計的光傳感器要求線性好,主要是為了(D)A.減少背景光的影響 B.抑制零點漂移 C.擴大量程范圍 D.提高測量精度2.75“S”通道型γ射線機與直通道型γ射線機相比,其優(yōu)點是(C)A.重量輕 B.體積小 C.輸源管彎曲半徑可以更小 D.以上都是2.76金屬陶瓷X射線管的特點是(D)A.抗震性強,一般不易破碎B.管內真空度高,各項電性能好,管子壽命長C.容易焊裝鈹窗口D.以上都是2.77在增感型膠片的特性曲線中,黑度值隨曝光量對數(shù)的增加而呈線性增大的區(qū)段叫做(C)A.曝光過度區(qū) B.曝光遲鈍區(qū) C.曝光正常區(qū) D.反轉區(qū)2.78鉛鉑增感屏的鉛鉑表面沾了油污后,后造成(C)A.底片上會出現(xiàn)類似裂紋的黑線 B.底片上產(chǎn)生黑影 C.底片上產(chǎn)生白影 D.以上都是3.1從可檢出最小缺陷的意義上說,射線照相靈敏度取決于()A.底片成象顆粒度B.底片上缺陷圖像不清晰度C.底片上缺陷圖像對比度D.以上都是3.2射線底片上兩個不同區(qū)域之間的黑度差叫做()A.主因反差 B.底片反差C.清晰度 D.膠片反差3.3影響主因對比度的是()A.射線的波長 B.散射線C.工作的厚度差 D.以上都是3.4下面哪個因素的變化使最小可見對比度增大()A.粗粒度膠片改用微粒度膠片;B.底片黑度從1.5增大以2.5;C.影像寬度從0.2mm增大到0.4mm;D.透過底片光強從30cd/m2增大到100cd/m2。3.5射線底片上缺陷輪廓鮮明的程度叫做()A.主因對比度 B.顆粒度C.清晰度 D.膠片對比度3.6集合不清晰度也可稱為()A.固有不清晰度 B.幾何放大C.照相失真 D.半影3.7射線透照的集合不清晰度()A.與工作厚度成正比,與焦點尺寸成反比;B.與工作厚度成反比,與焦點尺寸成反比;C.與焦點尺寸成正比,與焦距成反比;D.與焦點尺寸成反比,與焦距成正比。3.8決定細節(jié)在射線底片上可記錄最小尺寸的是()A.對比度 B.不清晰度C.顆粒度 D.以上都是3.9射線照相底片的顆粒性是由什么因素造成的?()A.影像顆?;蝾w粒團塊的不均勻分布;B.底片單位面積上顆粒數(shù)的統(tǒng)計變化;C.顆粒團塊的重重疊疊;D.以上都是。3.10下列四種因素中,不能減小集合不清晰度的因素是()A.射源到膠片的距離; B.膠片到工件的距離;C.射源的強度; D.射源的尺寸。3.11減小幾何不清晰度的方法是()A.選用焦點較大射源; B.使用感光速度較快的膠片;C.增大射源到膠片的距離; D.增大工件到膠片的距離。3.12固有不清晰度與下列哪一因素有關()A.源尺寸; B.膠片感光度;C.膠片粒度; D.射線能量。3.13為提高透照底片的清晰度,選擇焦距時,應該考慮的因素是()A.射源的尺寸,射源的強度,膠片類型;B.工件厚度,膠片類型,射源類型;C.射源強度,膠片類型,增感屏類型;D.射源尺寸,幾何不清晰度,工件厚度。3.14下列四種因素中對底片的清晰度無任何影響的是()A.射源的簡單尺寸 B.增感屏的類型C.射線的能量 D.底片的黑度3.15下列哪一種情況對膠片梯度和底片顆粒度同時產(chǎn)生影響?()A.改變KV值 B.改變焦距C.改變mA值 D.改變底片的黑度3.16在射線照相中,使缺陷影像發(fā)生畸變最重要的原因是()A.射源尺寸 B.射源到缺陷的距離C.缺陷到膠片的距離 D.缺陷相對于射源和膠片的位置和方向3.17下面關于集合修正系數(shù)σ的敘述,哪一條是錯誤的?()A.當缺陷尺寸小于射源尺寸時,才需要引入σ對底片對比度進行修正;B.σ值越小,幾何條件對底片對比度的影響越大;C.為提高σ而改變透照布置,常用的方法是增大焦距;D.為提高底片對比度,應盡量采用σ>1的透照布置。3.18當象質計金屬絲影像寬度小于某一特定值時,其最小可見對比度△Dmin值()A.隨影像寬度的減小而減??; B.隨影響寬度的減小而增大;C.不隨影像寬度而變化; D.在某一影像寬度處有一極大值。3.19透照有余高的焊縫時,為使象質計金屬絲在焊縫和母材部位得到相同顯示,應()A.根據(jù)焊縫的余高選擇合適的射線能量; B.盡量選擇較高能量射線;C.盡量選擇較低能量射線; D.以上都不對。3.20以下哪一個參數(shù)不被認為是影響裂紋檢出的關鍵參數(shù)()A.長度L B.開口寬度WC.自身高度d D.雷文與射線角度θ3.21透照板厚一定且有余高的焊縫,散射比隨有效能量的提高而()A.增大 B.減小 C.不變 D.不一定3.22用單壁外透法透照同一筒體時,如不考慮焦點投影尺寸的變化,縱縫Ug與環(huán)縫Ug的區(qū)別是:在一張底片的不同部位()A.縱縫Ug值各處都一樣,而環(huán)縫Ug隨部位而變化;B.環(huán)縫Ug值各處都一樣,而縱縫Ug隨部位而變化;C.無論縱縫、環(huán)縫,Ug值在任何部位都相同,不發(fā)生變化;D.以上都不是。3.23用置于透照區(qū)中心附近的鉑—鎢雙絲透度計可以從射線底片上測出一定管電壓下的()A.吸收系數(shù); B.散射因子;C.固有不清晰度; D.形狀修正系數(shù)。3.24下列哪一因素的變化不會改變射線照相的主因對比度()A.試件的材質; B.射線的能譜;C.散射線的分布; D.毫安分或居里分。3.25下列哪一因素對照相底片顆粒性五明顯影響?()A.顯影程度; B.使用鋁增感屏;C.射線穿透力;D.使用熒光增感屏。3.26工件靠近射源一側的缺陷圖像,在下列哪種情況下清晰度最差?()A.焦距增大; B.焦距尺寸減??;C.工件厚度增大; D.膠片與工件距離減小。3.27如何提高射線底片的信噪比?()A.增加曝光量; B.提高管電壓;C.增大焦距; D.膠片與工件距離減小。3.28下列哪一參數(shù)不是影響小缺陷射線照相清晰度和對比度的共同因素?()A.焦點或射源尺寸; B.黑度;C.焦距; D.射線線質。3.29在什么條件下尺寸較大的源攝得的射線底片質量可與尺寸較小的源相當?()A.增大源到膠片距離; B.采用較厚的鉛增感屏;C.使用速度快的膠片; D.縮短曝光時間。3.30決定缺陷在射線透照方向上可檢出最小厚度差的因數(shù)是()A.對比度 B.不清晰度C.顆粒度 D.以上都是3.31膠片與增感屏貼合不緊,會明顯影響射線照相的()A.對比度B.不清晰度C.顆粒度D.以上都是3.32以下有關d′的敘述,哪一條是錯誤的()A.d′值與df成正比B.d′值與L1、L2成反比C.d′小于缺陷寬度W時,底片上缺陷影象有本影,對比度根據(jù)缺陷形狀進行修正D.d′大于缺陷寬度W時,底片上缺陷影象無本影,對比度急劇下降3.33以下關于信息理論在射線照相方面的論述,哪一條是錯誤的()A.所謂“噪聲“即是底片的顆粒度B.信噪比是指缺陷影象對比度ΔD與噪聲σD之比C.只要信噪比大于1,缺陷就能夠識別D.信噪比越大,缺陷識別就越容易3.34按某種透照幾何條件計算出直徑0.32cm的象質計金屬絲影象對比度修正系數(shù)σ=0.5,這意味著()金屬絲影象黑度為0.5金屬絲影象對比度為0.5直徑0.32mm的金屬絲影象對比度只相當于厚度差0.16mm階梯試塊的影響對比度以上都不對3.35以下哪一種措施不能提高射線照相的信噪比()A.使用速度更慢的膠片B.增加曝光量C.提高底片黑度D.提高射線能量3.36計算的不清晰度最常用的計算公式是()A.B.C.D.3.37顆粒的隨機性表現(xiàn)在(D)A.射線源發(fā)出的光量子到達膠片的空間分布是隨機的;B.感光銀鹽顆粒大小和分布不均勻性是隨機的;C.膠片乳劑層對光子的吸收是隨機的;D.以上都是。3.38射線照相幾何不清晰度與以下哪一因素有關(C)A.增感屏B.底片黑度C.源尺寸D.射線能量3.39射線照相中,提高底片反差有利于小缺陷的檢出,但同時會產(chǎn)生(D)A.厚度寬容度減小B.曝光時間延長C.底片上有效評定區(qū)縮小D.以上都是3.40下列有關膠片梯度的敘述,正確的是(B)A.增感型膠片比非增感型膠片梯度大B.選擇梯度較大的膠片可提高對比度C.膠片梯度隨黑度的增加而減小D.以上都是3.41現(xiàn)狀小缺陷對比度取決于(C)A.小缺陷高度B.小缺陷截面積C.小缺陷體積D.以上都是3.42幾何不清晰度與(D)A.焦點尺寸成正比B.工件厚度成正比C.焦點至工件表面的距離成反比D.以上都是4.1按照“高靈敏度法”的要求,Ir192γ射線適宜透照鋼的厚度范圍是(A)A.20-80mmB.30-100mmC.6-100mmD.20-120mm4.2大約在哪一厚度上,Ir192射線配合微粒膠片照相的靈敏度與Χ射線配合中粒膠片照相的靈敏度大致相當()A.10-20mmB.20-30mmC.40-50mmD.80-90mm4.3以下關于考慮總的不清晰度的焦距最小值Fmin的敘述,哪一條是錯誤的()A.Fmin值隨射線源尺寸df的增大而增大;B.Fmin值隨固有不清晰度Ui的增大而增大;C.Fmin值隨工件厚度T的增大而增大;D.應用Fmin的同時應考慮限制射線能量不能過高。4.4GB3323標準中,AB級照相的Ug值的計算公式是()A.B.C.D.4.5雙壁雙影直透法一般用于多大直徑管子的環(huán)焊縫透照()A.Φ89mm以下;B.Φ76mm以下;C.Φ20mm以下;D.Φ10mm以下。4.6以相同的條件透照一工件,若焦距縮短20%,暴光時間可減少多少?()A.60%B.36%C.20%D.80%4.7用半衰期為75天的Ir192源在某時間對某個工件透照時的暴光時間圍40分鐘;5個月后,用該源對同一工件透照,為得到同樣的黑度的射線底片,暴光時間應為:()A.40分鐘;B.2小時;C.2小時40分鐘;D.4小時。4.8若散射線忽略不計,當透照厚度的增加量相當于1/2半價層時,則膠片接受的照射量將減少多少?()A.25%;B.70%;C.41%;D.30%。4.9射線能量200KV時,銅相對鋼的等效系數(shù)為1.4,對14mm銅板照射,需采用多厚鋼的暴光量()A.10mm;B.20mm;C.10mm;4.10對于厚度差較大的工件進行透照時,為了得到黑度和層次比較均勻的底片,一般做法是()A.提高管電流;B.提高管電壓;C.增加暴光時間;D.縮短焦距。4.11在同一個暗盒中裝有兩張不同感光速度的膠片進行暴光的主要目的是()A.為了防止暗室處理不當而重新拍片;B.為了防止探傷工藝選擇不當而重新拍片;C.為了防止膠片上的偽缺陷而重新拍片;D.用于厚度差較大工件射線探傷,這樣在不同厚度部位都能得到黑度適當?shù)牡灼?.12用雙膠片進行射線照相,要裝兩張不同感光速度的膠片,其選片原則是:兩種膠片的特性曲線:()A.應在黑度軸上一些重合;B.在黑度軸上無需重合;C.應在lgE軸上有些重合;D.在lgE軸上無需重合。4.13鉛箔增感屏上的深度劃傷會在射線底片上產(chǎn)生黑線,這是因為:()A.鉛箔劃傷部位厚度減薄,對射線吸收減小,從而使該處透射線增多;B.劃傷使鉛箔表面增大,因而發(fā)射電子面積增大,增感作用加強;C.深度劃傷與膠片之間的間隙增大,散射線增加;D.以上都對。4.14透照有余高的焊縫,下面哪一條件的變化不會導致散射比顯著增大?()A.射線能量從200KeV降低到100KeV;B.照射場范圍從Φ300mm增大到Φ500mm;C.試件厚度從20mm增加到40mm;D.焊縫余高從2mm增加到4mm。4.15比較大的散射源通常是()A.鉛箔增感屏;B.暗盒背面鉛板;C.地板和墻壁;D.被檢工件。4.16由被檢工件引起的散射線是(C)A.背散射;B.側向散射;C.正向散射;D.全部是。4.17射線探傷中屏蔽散射線是()A.鉛箔增感屏和鉛罩;B.濾板和光闌;C.暗盒底部鉛板;D.以上全是。4.18射線探傷時,在膠片暗盒和底部鉛板之間放一個一定規(guī)格的B字鉛符號,如果經(jīng)過處理的底片上出現(xiàn)B的亮圖像,則認為()A.這一張底片對比度高,象質好;B.這一張底片清晰度高,靈敏度高;C.這一張底片受正向散射影響嚴重,象質不符合要求;D.這一張底片受背向散射影響嚴重,象質不符合要求。4.19在射線機窗口加濾板,在工件上加補償塊減小厚度差,以及采用多膠片法,都是為了()A.校正不清晰度;B.校正低密度;C.校正對比度;D.校正低寬容度.。4.20置于工作和射源之間的濾板可以減少從工件邊緣進入的散射線,其原因是濾板()A.吸收一次射線束中波長較長的成分;B.吸收一次射線束中波長較短的成分;C.吸收背散射線;D.降低一次射線束的強度。4.21濾板的作用相當于()A.增加密度;B.降低毫安;C.增加千伏;D.降低千伏。4.22已知C060源的半衰期為5.3年,用一個新源進行射線照相得到滿意的射線底片,兩年后用該源對同一工件按同樣條件進行射線照相,為得到同樣的底片,暴光時間()A.不變;B.約延長10%;C.約延長30%;D.約延長60%。4.23用鉛箔增感,焦距1200MM暴光時間8分鐘,得底片黑度1.5,現(xiàn)焦距為600MM,底片黑度不變,暴光時間應為()B.2分鐘D.4分鐘4.24暴光因子中的管電流,暴光時間和焦距三者的關系是()A.管電流不變,時間與焦距的平方成正比;B.管電流不變,時間與焦距的平方成正比;C.焦距不變,管電流與暴光時間成正比;D.暴光時間不變,管電流與焦距成正比。4.25控制透照厚度比K值的主要目的是()A.提高橫向裂紋檢出率;B.減小幾何不清晰度;C.增大厚度寬容度;D.提高底片對比度4.26對能量為100KV的射線,鋁的透照等效系數(shù)為0.08,則對于厚度25MM的鋁試件,應選擇多少厚度鋼的暴光量()A.25mm;B.2mm;C.20mm;D.3mm。4.27采用雙片暴光和雙片觀察技術,可以()A.增大對比度;B.減小不清晰度;C.增大寬容度;D.減小顆粒度。4

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