電離輻射計量術語及定義

1電離輻射計量術語及定義3.2靶核targetnucleus3.3伴隨(生)輻射concomitantradiation3.4比釋動能KkermaKdE除以dm而得的商，即K=dEr/dmdK除以dt而得的商，即式中：dK——dt時間間隔內比釋動能的增量。3.6[源]表面發(fā)射率surfaceemissionrate3.8參考輻射referenceradiation23.9場所監(jiān)測areamonitoring注：此名詞常常僅指能量剛超過熱能(即可與化學鍵能相比)的能量范圍內的中子。3.11電離輻射ionizingradiation由能夠產(chǎn)生電離的帶電粒子和(或)不帶電粒子組成的輻射。電離可由初級過程產(chǎn)輻射場(見3.22)中某一點處定向劑量當量H(d,Ω)是相應的擴展場在ICRU注：對弱貫穿輻射，推薦的深度為0.07mm。3.13發(fā)射率emissionrate在一確定時刻，某一特定能態(tài)的一定量的放射性核素的活度A是dN除以dtA=dN/dt單位名稱為貝可[勒爾],符號為Bq,1Bq=1s-1。1這種放射性平衡只有在前驅核素的平均壽命比該衰變鏈中其他任何一代子體核素的平均壽命2如果前驅核素的壽命很長，以致在考察期間前驅核素總體上的變化可以忽略，那么所有核素的放射性活度將幾乎相等。這種平衡稱為長期平衡。否則，就稱為短期平衡。3兩種(或兩種以上)特定方式的衰變的分支份額的比。3.23輻射防護radiationprotection3.25輻射加工radiationprocessing能發(fā)射電離輻射的裝置或物質。3.27個人監(jiān)測personalmonitoring注：個人劑量當量既適用于強貫穿輻射，也適用于弱貫穿輻射。對強貫穿輻射，推薦深度d=10mm;對弱貫穿輻射，推薦深度d=0.07mm.3.29共振能resonanceenergy正好可以激活復合核中某一能級的入射粒子的動能(以實驗室系表示)3.30環(huán)境監(jiān)測environmentalmonitoring3.31劑量當量HdoseequivalentH=DQQ——品質因子。1在加權的吸收劑量中所用的修正因數(shù)(N)通常取值1。X3.32劑量當量率HdoseequivalentrateH4H=dH/dt式中：dH——時間間隔dt內劑量當量的增量。3.33檢驗源checkingsource3.34截面σcrosssectiono式中：P——入射帶電粒子或非帶電粒子注量為φ時，對一個靶體發(fā)生該相互作用的單位：靶(恩),符號是b,1b=10-28m2。3.35空氣比釋動能率常數(shù)IairkermarateconstantT。I?=l2K?/A式中：K?——距離活度為A的該核素的點源l處由動能大于某指定值的中子，該值可因應用場合(如反應堆物理、屏蔽或劑量學)的不同而異。在反應堆物理中，該值通常為0.1MeV3.37擴展場expandedfield3.39裂變中子fissionneutrons3.40慢化moderation(slowingdown)動能低于某指定值的中子。該值因應用場合(如反應堆物理、屏蔽或劑量學)的不3.42(電離輻射)能譜energyspectrum(ofanionizingradiation)3.43能注量業(yè)energyfluenceT5T=dR/da3.44能注量率亞energyfluencerate亞d除以dt而得的商，即T=dF/dt=d2R/dadt3.45淺表個人劑量當量H,(d)individual弱貫穿輻射照射人體時，某一指定點下面深度d處的軟組織劑量當量。推薦的d值為0.07mm,故H(d)寫為H,(0.07)。3.46熱中子thermalneutrons與所在介質(一般指溫度300K左右的介質)處于熱平衡狀態(tài)的中子。3.49深部個人劑量當量H,(d)individualdoseequivalent,penetrating強貫穿輻射照射人體時，某一指定點下面深度d處的軟組織劑量當量。推薦的d值為10mm,故H。(d)寫為H,(10)。3.50衰變disintegration,decay3.51衰變率disintegrati3.54同位素豐度isotopicabundanced∈除以dm而得的商，即D=d∈/dmdD除以dt而得的商，即D=dD/dt6式中：dD——時間間隔dt內吸收劑量的增量。3.57線能量轉移linearenergytransfer某物質對帶電粒子的線能量轉移(或稱有限制的線性碰撞阻止本領)LA是dE除LA=(dE/dl)A式中：dE——帶電粒子在穿行dl距離時由于與電子碰撞而損失的能量，在這類碰撞3.58泄漏輻射leakagebeam3.60宇宙輻射cosmicradiation3.63照射量XexposureXX=dQ/dm式中：dQ——光子在質量為dm的空氣中釋放出來的全部電子(負電子和正電子)完dX除以dt而得的商，即x=dX/dt3.65質量減弱系數(shù)μlpmassattenuationcoeffic7μen/p=(μulp)(1-g)μnlp=(pEN)(dEn/dl)dEn/EN——人射粒子在密度為p的物質中穿行距離dl時，其能量由于相互作用而轉動能在慢中子與快中子能量之間的中子。在反應堆物理中，能量范圍常選為leV3.71中子源強度neutronsourcestrength中子源單位時間內發(fā)射出的中子數(shù)。3.72周圍劑量當量ambientdoseequivalent輻射場中某一點處的周圍劑量當量H*(d)是相應的齊向擴展場在ICRU球(見4.32)體內逆向齊向場的半徑上深度d處產(chǎn)生的劑量當量。注：對強貫穿輻射，推薦的深度為10mm。3.73(粒子)注量φ(particle)fluenceφφ=dN/da式中：dN——入射到截面積為da的球中的粒子數(shù)。3.74(粒子)注量率φ(particle)fluencerateqdφ除以dt而得的商，即式中：dφ——時間間隔dt內粒子注量的增量。S/p=(1/p)(dE/dl)8式中：dE——帶電粒子在密度為p的物質中穿行距離為dl時損失的能量，這種能量損性質和活度在某一確定的時間內都是已知的，并能用作比對標準或參考的放射源，用于測量介質中的吸收劑量(例如射線或射線的吸收劑量)的電離室。其靈敏體4.5長計數(shù)器longcounter一種中心裝有三氟化硼計數(shù)管，外層有圓柱形石蠟或聚乙烯屏蔽的測量中子的裝置。在約(1～5)MeV的能量范圍內，它的能量響應變化緩慢。4.7電離室ionizationchamber一種分析信號(幅度、時間等)分布的儀器。它按照輸入信號的幅度、時間等特性4.12多球中子譜儀multisphereneutronspectromet由多個不同直徑的慢化球體(一般為聚乙烯)和置于其中的熱中子探測元件組成的9利用某些化學物質(液體或固體),經(jīng)電離輻射照射后產(chǎn)生的變色效應，通過比色夠給出可察覺的報警信號(通常是燈光或音響信號)的輻射測量儀。·4.20輻射(能)譜儀radiationspectrometer內部充以高氣壓工作氣體的計數(shù)管(或電離室)。4.25光致發(fā)光探測器(U.V.)photoluminescentd輻照時能發(fā)出另一波長的光輻射(通常在可見光譜區(qū)內),光的強度是電離輻射過程中4.27氦計數(shù)管heliumcountertube應產(chǎn)生的質子和氚核引起的4.30(放射性)活度測量儀activitymetcr4.32ICRU球ICRUsphere一個直徑為30cm的組織等效材料組成的球體。其密度為1g·cm-3,質量成分為氧76.2%、碳11.1%、氫10.1%和氮2.6%、4.34劑量當量率計(儀)doseequivalentratemeter輻射測量儀4.36劑量率計(儀)doseratemeter4.37計數(shù)管countertube4.40井型(4π)電離室welltypeionizationchamber在立體角接近4π球面度的情況下，測量相當體積的β、X、γ發(fā)射體的(放射性)將帶電粒子如：電子、質子、氚核以及α粒子等加速，使其動能增加(一般指大于0.1MeV)的裝置。4.42裂變電離室fissionionizationchamber用一層或多層可裂變材料涂(鍍)層作為一個電極的電離室，它可通過中子誘發(fā)裂變產(chǎn)物產(chǎn)生的電離來探測中子。通過適當?shù)臍怏w在探測器內慢速流動，保持適當?shù)臍鈮旱挠嫈?shù)管。通過氣體在探測器中低速流動，來維持其中有合適的工作氣體的輻射探測器。4.45脈沖電離室pulseionizationchamber以脈沖形式提供信息的電離室。4.46平面源plansource一種板狀放射源。通常放射性核素均勻分布在一面，而襯底厚度足以防止從源的背由一個或多個熱釋光探測器構成的劑量計。它需用熱釋光劑量計讀出器測讀。充有三氟化硼氣體，用于探測中子的正比計數(shù)管。起始電離是由中子與B-10進由閃爍體直接或通過光導光耦合到光敏器件(例如光電倍增管)上組成的輻射探測含有閃爍物質并以適當?shù)男问浇M成的輻射探測元件。輻射測量裝置的一部分。它通常具有一個幾何形狀適當?shù)耐鈿ぃ鋬妊b有輻射探測器，還可能裝有前置放大器和某些功能單元。在輻射劑量學、輻射監(jiān)測研究以及放射治療學中使用的人體或動物體(整個或局部)的模擬物或具有約定幾何尺寸的模型。通常由各種組織等效材料構成，多用于測量和計算吸收劑量分布，有時用以確定體外計數(shù)效率和個人劑量計的校準。4.53外推電離室extrapolationionizationchamber至少可以改變其中一個特性參數(shù)(一般是電極間的距離)的電離室，其目的是外推出電離室體積為零時讀數(shù)。4.54液體閃爍體(放射性)活度測量儀liquidscintillatoractivitymeter把放射性樣品與液體閃爍體混合，以測定該樣品放射性活度的活度測量儀。4.55照射量計(儀)exposuremeter測量照射量的輻射測量儀。4.56照射量率計(儀)exposureratemeter4.57正比計數(shù)管proportionalcountertube4.60自發(fā)裂變中子源spontaneousfissionneutronsource由重原子核自發(fā)裂變產(chǎn)生中子的中子源，常用的有Cf-252中子源。4.61自由空氣電離室freeairionizationchamber模體中任一深度d處的吸收劑量D?與射束軸上固定參考點(通常為峰值點)的吸百分數(shù)表示的比值=100×D?/D5.2半高寬fullwidthathalfmaximum(FWHM)注：如果峰值曲線包含幾個峰，則每個峰都有一個半高5.4半衰期halflife5.5半值層halfvaluelayer(HVL)置于某種輻射束通過的路徑上，能使指定的輻射量(例如照射量率)的值減小一半5.7(電流電離室的)飽和曲線saturationcurve(ofacurrentionizationchamber)5.8(輻射測量儀的)本底backgroundeffect(ofaradiationmeter)5.9比活度specificactivity在給定的幾何條件下，表面污染儀對某一核素測得的計數(shù)(對本底進行修正后)除5.12(探測器的)窗window(ofadetector)受照射介質中某點周圍的體積元內，帶電粒子的能量、數(shù)目和運動方向均保持不吸收劑量是常數(shù)的線(通常在一個平面上)。5.16(半導體探測器)電荷收集時間chargecollectiontime(ofasemiconductor到的電荷最終值的10%增到90%所需要的時間來表示。5.21分辨時間resolvingtime5.22峰總比peak-to-totalratio用規(guī)定的時間間隔內發(fā)生的兩個或兩個以上的事件(或脈沖)在電路或儀器的輸出5.24(電離室的)復合損失lossduetorecombination(inanionizationchamber)由于電離室中產(chǎn)生的部分正負離子的相互作用使它們的電荷中和(但質量保持守恒),導致電離室收集到的電離電流小于其飽和電流。5.25輻射品質radiationquali描述帶電粒子(初級帶電電離粒子或由不帶電電離粒子產(chǎn)生的次級帶電粒子)在物氣體放大系數(shù)遠大于1,脈沖幅度實際上與單次電離事件在靈敏體積內，最初生成5.27鎘比cadmiumratio5.31角響應angleresponse5.33漏電流leakagecurrent5.35錳浴法manganesebathmethod(technique)通過測量中子源在MnSO?水溶液中引起的Mn-56總活度，來校準中子源強注：在一般應用中，能量分辨率是用譜儀對單能粒子測得的能量分布曲線中峰的半高寬除以峰位對應的能量來表示的。5.38能量響應energyresponse5.40品質因子qualityfactor阻止本領而確定的。在輻射防護工作中，將吸收劑量乘以品質因子即可換算成劑量當5.41氣體放大gasmultiplication在足夠強的電場作用下，由入射輻射(或其他原因)在氣體中的起始電離產(chǎn)生的每5.43全吸收峰totalabsorptionpeak散射空氣比=S?(S+d)2/(S+t)2在模體中一點的總照射量(或吸收劑量)和僅由初級光子所產(chǎn)生的那部分照射量(或吸收劑量)之比。對400kV以下的X射線，在模體入射表面的散射因子稱為反散射注：此名詞只用于放射治療劑量學中。5.46(探測器的)使用壽命uselife(ofadetector)5.47(半導體探測器的)死層deadlayer(ofasemiconductordetector)5.50探測效率detectionefficiency注：它是通過在待測定的純β衰變核素中加入已知活度的示蹤劑，用符合效率外推法求出混合樣品中的總活度，扣除示蹤劑的已知活度后，即可得到待測純β衰變核素的活度。關系曲線，并外推到探測器效率為100%時的計數(shù)來求出活度。5.53陰影屏蔽shadowshield輻射源雖未被全部遮蔽，但在源和屏蔽物體之間直接輻射不能自由穿行的屏蔽方5.55(平面源的)源效率sourceefficiency(ofaplanesource)源的表面發(fā)射率與在源內(或在飽和層內)單位時間產(chǎn)生(或釋放)的同種粒子數(shù)5.56照射野fieldofabeam5.57正比區(qū)proportionalregion氣體放大系數(shù)大于1,并且實際上與單次電離事件在靈敏體積內，最初生成的離子對總數(shù)無關的計數(shù)管的電壓區(qū)間，脈沖幅度與最初生成的離子6.1標稱能量nominalenergy6.2標稱X射線管電壓X-raytubevoltage受輻照物體入射表面某點處(通常選擇在輻射束軸上)的吸收劑量，其中包括反散沿著垂直于體層平面方向上的劑量分布除以輻射源在360°的單次旋轉時產(chǎn)生的體層切片的數(shù)目N與輻射源在某一單次旋轉中的標稱切片厚度T的乘積從-50mm到在X射線管每轉時的患者支架水平方向上的行程△d除以通過X射線管輻射時產(chǎn)生的體層切片的數(shù)目N與標稱體層切片厚度T的積：用X輻射進行放射治療時，由于各種因素產(chǎn)生的電子輻射而引起的體模表面吸收用劑量分布曲線的半高寬度(FWHM)表示疊加輻射野尺寸，半高寬度是指劑量“疊加輻射野”的劑量分布曲線中，最大劑量值的80%～20%區(qū)域為“疊加半影”由從膠片乳劑撞出的二次電子所輻射的光子所引起的射線透照圖像不清晰的程度。儀器測量量的約定真值除以儀器示值(經(jīng)過必要的修正)而得的商。6.18矩陣元matrixelement利用立體定向裝置、CT、核磁共振或X射線數(shù)字減影等影像設備及三維重建技術將立體定向成像程序與小輻射野(通常為4mm～18mm)的X輻射或同步回旋加速6.22擬人模型anthropomorphicmodel在輻射野為10cm×10cm,輻射探測器位于正常治療距離處，X輻射在體模內沿輻在受輻照物體入射表面下方特定深度處(通常在輻射束軸處)的吸收劑量。6.29實際射程practicalrange電子輻射在體模表面位于正常治療距離處，體模中沿輻射束軸的深度劑量曲線上，下降最陡處的切線外推后與深度吸收劑量曲線末段的外推線相交，交點處所對應的深度6.30體積元VOXEL物體中的體積元，在(二維或三維的)圖像矩陣中由矩陣元確定。體積元的尺寸由6.32圖像對比度imagecontrast6.35X輻射污染X-raycontamination用電子輻射進行治療時，由X輻射引起的電子輻射最大射程以外的吸收劑量增加6.37線擴展函數(shù)LlinespreadfunctionL體模表面位于規(guī)定位置時，在體模中沿輻射束軸0.5mm深度處的吸收劑量與最大用星形照相機獲得X射線照片來確定在有效焦點的一個或多個方向上的星形花紋6.41修正因子correctionfactor無量綱的因子，用于將儀器在特定條件下工作的指示值修正為參考條件下工作的6.42有效焦點effectivefocalspot輻射源至皮膚之間的距離較大(通常不小于50cm)時的放射治療。6.44源皮距radiationsourcetoskindistance(包括左側面和右側面)和旋轉照射幾種照射幾何條件都是指單向寬束光子，即平面平B百分深度劑量…………………5.1伴隨(生)輻射………………3.3(電流電離室的)飽和曲線……5.7(輻射測量儀的)本底…………5.8比釋動能K……3.4比釋動能率K…………………3.5[源]表面發(fā)射率………………3.6表面污染測量儀………………4.2表面污染控制水平……………3.7標稱X射線管電壓……………6.2標稱X射線管電流……………6.3標準放射源……4.3布喇格-戈瑞空腔電離室………4.4C(電離室)參考點…………………6.5場所監(jiān)測………3.9(探測器的)窗…………………5.12CT劑量指數(shù)100………………6.6CT螺距因子………6.7D帶電粒子平衡…………………5.13等劑量曲線……5.14等劑量圖…………5.15低水平輻射測量裝置…………4.6(半導體探測器)電荷收集時間……………5.16“疊加輻射野”…………………6.9“疊加輻射野”尺寸…………6.10定向劑量當量H'(d,2)……3.12定標器…………4.10多球中子譜儀…………………4.12F發(fā)射率…………3.13反符合屏蔽……5.18反沖質子計數(shù)管………………4.13反沖質子能譜儀………………4.14放射性標準溶液………………4.16放射性核素純度………………5.19JJF1035—2006放射性氣溶膠…………………3.17分辨時間………5.21分支比……………3.21符合計數(shù)法……5.23(電離室的)復合損失………5.24輻射測量儀……4.18輻射場……………3.22輻射化學產(chǎn)額G(X)…………3.24輻射加工…………3.25輻射品質…………5.25G蓋革-彌勒計數(shù)管………………4.21蓋革-彌勒區(qū)…………………5.26高壓計數(shù)管(電離室)…………4.22鎘比………………5.27個人監(jiān)測…………3.27光致發(fā)光探測器(U.V.)……4.25過濾器…………4.26固定立體角法…………………5.28H(半導體探測器的)耗盡層…5.29環(huán)境監(jiān)測…………3.30(放射性)活度測量儀………4.30活化探測器……4.31IICRU球………4.32J劑量當量H……3.31劑量當量計(儀)………………4.33劑量當量率計(儀)……………4.34劑量當量率H…………………3.32劑量計(儀)……4.35劑量率計(儀)…………………4.36焦點標稱值……6.14膠片劑量計……4.39校準因子………6.16近距離放射治療………………6.17井型(4π)電離室……………4.40均整度…………6.19K空氣比釋動能率常數(shù)T……3.35擴展場…………3.37擴展齊向場……3.38L立體定向放射外科治療………6.21(探測器的)靈敏體積………5.32JJF1035—2006流氣式計數(shù)管…………………4.43流氣式探測器…………………4.44M脈沖電離室……4.45(計數(shù)裝置中的)脈沖堆積…5.34N(輻射能譜儀的)能量分辨率………………5.37(電離輻射)能譜……………3.42能注量T………3.43能注量率亞……3.44P(計數(shù)管的)坪………………5.39品質指數(shù)………6.23Q氣體放大系數(shù)…………………5.42淺表個人劑量當量H、(d)……3.45R熱釋光劑量計…………………4.47S三氟化硼計數(shù)管………………4.48散射輻射………3.48散射-空氣比……5.44閃爍成像………6.25閃爍探測器……4.49閃爍體…………4.50深部個人劑量當量H,(d)……3.49深部劑量………6.26實際焦點…………6.28(探測器的)使用壽命………5.46(半導體探測器的)死層……5.47衰變率……………3.51衰變綱圖………3.52T探測器死時間……5.48探測器效率……5.49(輻射測量裝置的)探頭……4.51透射電離室……6.31同位素…………3.53同位素豐度………3.54圖像分辨能力……6.12圖像對比度………6.32圖像質量………6.34WXX輻射污染……6.35吸收劑量率D…………………3.56狹縫焦點射線照相………………6.36線能量轉移………3.57相對表面吸收劑量……………6.38象素……………6.39效率示蹤法……5.51效率外推法……5.52泄漏輻射………3.58星卡焦點射線照相……………6.40Y液體閃爍體(放射性)活度測量儀…………4.54陰影屏蔽………5.53有用射束………3.59有效焦點………6.42宇宙輻射………3.60源皮距…………(平面源的)源效率…………5.55Z照射幾何條件…………………6.45照射量X………3.63照射量率X……3.64照射量率計(儀)………………4.56照射量計(儀)…………………4.55照射野…………5.56正比計數(shù)管………4.57正比區(qū)…………5.57針孔焦點射線照相……………6.46直線加速器……6.47中子飛行時間能譜儀…………4.58中子源強度……3.71(粒子)注量φ………………3.73(粒子)注量率φ……………3.74自猝滅計數(shù)器…………………4.59組織等效電離室………………4.62AabsorbeddoseD………………3.55absorbeddoserateD…………3.56activationdetector……………4.31activitymeter…………………4.30airkermarateconstantIa……3.35angleresponse…………………5.31anthropomorphicmodel………6.22anticoincidence…………………5.17anticoincidenceshieldingareamonitoring…………………3.9associatedparticlemethod………5.3Bback-scattering………………borontrifluoridecountertube…4.48brachyradiotherapy……………6.17branchingratio…………………3.21bremsstrahlung…………………3.47Ccadmiumratio…………………5.27calibrationfactor………………6.16chargecollectiontime(ofasemiccharacteristicparametersandtermscheckingsource………………3.33chemicaldosimeter……………4.28concomitantradiation……………3.3controllevelofsurfacecontamination………3.7cosmicradiation………………3.60computedtomographydoseindexcountertube……4.37currentionizatioDdecay……………3.50decayscheme…………………3.52condoctordetector)……………5.29depthdosechart………………6.27detectionefficiency……………5detectordeadtime……………5.48detectorefficiency……………5.49disintegration…………………3.50disintegrationrate……………3.51doseequivalentrateH…………3.32doserateresponse……………5.30Eelectroncontaminationemissionrate……3.13energyresolution(oenergyresponse………………5.38energyspectrum(ofanionizingenvironmentalmonitoring……3.30exposureX……3.63exposuremeter…………………4.55exposurerateX………………3.62exposureratemeter……………4.56Ffastneutrons……3.36filmdosimeter…………………4.39filmunsharpness………………6.15flatness…………6.19(particle)fluencerateφ………3.74(FWHM)…………5.2Ggasmultiplication……………5.41gas-flowcountertube…………4.43gas-flowdetector………………4.44Geiger-Müllercountertube……………Geiger-Müllerregion…………5.26Hhalfvaluelayer(HVL)…………5.5heliumcountertube……………4.27highpressurecounter(ionizationIICRUsphere…………………4.32imagecontrast…………………6.32ionizationchamber………………4.7ionizingradiation………………3.11irradiationgeometries…………6.45isotopes…………3.53isotopicabundance……………KkermaK…………3.4Lleakagebeam…………………3.58leakagecurrent………………5.33linespreadfunctionL…linearaccelerator………………6.47linearenergytransfer…………3.57longcounter……4.5lossduetorecombination(inanionizationchamber)……………5.Mmatrixelement…………………6.18multichannelanalyser…………4.11Nneutronalbedo…………………5.58neutronsourcestrengthnominalenergy…………………6.1O“overlappingofirradiationfield”………………6.9P‘penumbraoverlap”……………6.1percentagedepthdose…………5.1personaldosimeter……………4.23personalmonitoring……………3.27photoluminescentdosimeter…4.24plateau(ofacountertube)………plans