(高清版)GBT 9058-2024 奇數溝千分尺

Oddflutedmicrometer2024-04-25發(fā)布2024-11-01實施國家市場監(jiān)督管理總局國家標準化管理委員會I前言 12規(guī)范性引用文件 13術語和定義 14型式與基本參數 15通則 26檢驗方法 47標志與包裝 5參考文獻 6Ⅲ本文件按照GB/T1.1—2020《標準化工作導則第1部分：標準化文件的結構和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件代替GB/T9058—2004《奇數溝千分尺》,與GB/T9058—2004相比，除結構調整和編輯性改動外，主要技術變化如下：a)刪除了適用范圍中分度值0.005mm奇數溝千分尺(見2004年版的第1章);b)增加了涂層的外觀要求(見5.1.2);c)更改了測力裝置的測量力變化要求(見5.6,2004年版的5.5);d)刪除了鎖緊裝置的要求(見2004年版的5.6);e)刪除了數字顯示裝置的要求(見2004年版的5.9);f)增加了標尺的要求(見5.9);g)更改了尺寸偏差值和圓柱度公差(見表3,2004年版的表3);h)增加了檢驗條件對環(huán)境溫度的要求(見6.1);i)增加了測量面硬度的檢驗方法(見6.5);j)更改了最大允許誤差的檢驗方法(見6.6,2004年版的6.4);k)增加了校對量柱尺寸偏差和圓柱度公差的檢驗方法(見6.7)。請注意本文件的某些內容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構不承擔識別專利的責任。本文件由中國機械工業(yè)聯合會提出。本文件由全國量具量儀標準化技術委員會(SAC/TC132)歸口。本文件起草單位：成都工具研究所有限公司、桂林廣陸數字測控有限公司、青海量具(常州)有限公司、青海量具刃具有限責任公司、蘇州國量量具科技有限公司。本文件于1988年首次發(fā)布，2004年第一次修訂，本次為第二次修訂。1本文件規(guī)定了奇數溝千分尺的型式與基本參數、通則、檢驗方法、標志與包裝。本文件適用于分度值為0.001mm、0.002mm、0.01mm,測量上限不大于100mm的奇數溝千分尺2規(guī)范性引用文件下列文件中的內容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有修改單)適用于本文件。GB/T1216—2018外徑千分尺GB/T17163幾何量測量器具術語基本術語GB/T17164幾何量測量器具術語產品術語3術語和定義GB/T17163和GB/T17164界定的以及下列術語和定義適用于本文件。奇數溝千分尺oddflutedmicrometer具有特制的V形測砧，能測量帶有3個、5個或7個沿圓周均勻分布溝槽工件的外徑千分尺。4型式與基本參數奇數溝千分尺的型式示意圖如圖1所示。圖示僅供圖解說明，不表示詳細結構。2標引序號說明：1——測砧；2——測砧測量面；3——測微螺桿測量面；4——測微螺桿。圖1奇數溝千分尺型式示意圖4.2基本參數奇數溝千分尺測微螺桿螺距、測砧間夾角α和測量范圍宜符合表1的規(guī)定。測微螺桿螺距mm測砧間夾角α測量范圍mm三溝千分尺1～15;5～20;20～35;35～50;50～65;65～80五溝千分尺5～25;25～45;45～65;65～85七溝千分尺0.5275128°34'17”5通則5.1.1奇數溝千分尺表面不應有影響外觀和使用性能的裂痕、劃傷、碰傷、銹蝕、毛刺等缺陷。5.1.2奇數溝千分尺表面的鍍、涂層不應有脫落和影響外觀的色澤不均等缺陷。5.2材料5.2.1尺架應選擇鋼、可鍛鑄鐵或其他性能類似的材料制造。5.2.2測微螺桿和測砧應選擇合金工具鋼、不銹鋼或其他性能類似的材料制造。測量面宜鑲硬質合金或其他耐磨材料。5.3尺架5.3.1尺架上宜安裝隔熱裝置。5.3.2尺架應具有足夠的剛性。當尺架沿測微螺桿的軸線方向受10N作用力時，其彎曲變形量不應大于表2中的規(guī)定值。3單位為毫米測量范圍最大允許誤差平行度公差尺架彎曲變形量5.4測微螺桿和測砧5.4.1測微螺桿伸出尺架的光滑圓柱部分的公稱直徑宜選擇6.5mm、7.5mm或8.0mm。5.4.2奇數溝千分尺在達到測量上限時，其測微螺桿伸出尺架的長度不應小于3mm,光滑圓柱段露出長度不應小于1mm。5.5相互作用5.5.1測微螺桿和螺母之間在全量程范圍內應充分嚙合，配合良好，不應出現卡滯和明顯竄動。5.5.2測微螺桿伸出尺架的光滑圓柱部分與軸套之間的配合應良好，不應出現明顯擺動。奇數溝千分尺應具有測力裝置。通過測力裝置移動測微螺桿，并作用到測微螺桿測量面與球面接觸的測量力應在5N～10N,測量力變化不應大于2N。5.7鎖緊裝置奇數溝千分尺應具有能有效鎖緊測微螺桿的裝置。5.8測量面5.8.1合金工具鋼測量面的硬度不應小于760HV1(或62HRC);不銹鋼測量面的硬度不應小于552HV5(或52.5HRC)。5.8.2測量面的邊緣應倒鈍。其表面粗糙度Ra值不應大于0.16μm;測微螺桿測量面的平面度誤差不應大于0.6μm,測砧測量面的平面度誤差不應大于1μm(距測量面邊緣0.5mm的范圍內不計，當測量面直徑小于1.5mm時，距測量面邊緣0.2mm范圍內不計)。5.8.3測微螺桿測量面相對于測砧兩測量面交線的平行度公差(距測量面邊緣0.4mm范圍內不計)不應大于表2的規(guī)定。符合GB/T1216—2018中5.9的要求。5.10最大允許誤差奇數溝千分尺的最大允許誤差應符合表2的規(guī)定。5.11校對量柱5.11.1測量下限大于0mm奇數溝千分尺應提供校對量柱。校對量柱的硬度不應小于760HV1(或5.11.2校對量柱的尺寸偏差和圓柱度公差不應大于表3中的規(guī)定值。45.11.3校對量柱宜具有隔熱裝置。單位為毫米標稱尺寸尺寸偏差圓柱度公差士0.001250.0010士0.00200.001545;50;65士0.00250.0020注：尺寸偏差來源于JB/T10631—2006的規(guī)定。6檢驗方法6.1環(huán)境條件溫度控制范圍：(20±3)℃。將尺架測砧一端固定，在尺架測微螺桿一端作用100N的力，然后分別觀察在施力和未施力條件所產生的示值，將兩次示值之差按10N力的比例換算，求出尺架變形量。6.3測量面的平面度測量面的平面度誤差可用符合JB/T7401的2級平面平晶檢驗。平晶應調整到使其干涉帶的數量最少或使其產生干涉環(huán)，一條干涉帶等于0.3μm。在距測量面邊緣0.4mm范圍內的平面度忽略不計。6.4測量面的平行度奇數溝千分尺的平行度誤差檢驗時，將奇數溝千分尺緊固在夾具上，采用不同尺寸的針規(guī)，分別在測砧的兩端面進行測量讀數，兩讀數之差即為測量面的平行度誤差。針規(guī)的測量部位應相同，針規(guī)與測微螺桿測量面的接觸長度為針規(guī)直徑的1/4,針規(guī)的直徑標稱尺寸和圓柱度公差見表3。6.5測量面的硬度對于未鑲硬質合金或其他耐磨材料的測量面，測微螺桿可在該測量面上或距測量面1mm的光滑圓柱部位處檢驗，測砧可在側面檢驗。對于鑲硬質合金或其他耐磨材料的測量面，其硬度可不做檢驗。6.6最大允許誤差將奇數溝千分尺緊固在夾具上，將1級尺寸針規(guī)放在測砧測量面和測微螺桿測量面之間，讀出奇數溝千分尺示值并計算出與針規(guī)尺寸的偏差，連接各點偏差繪制成曲線，其最高點與最低點在縱坐標上的坐標之差的絕對值，即為奇數溝千分尺的示值誤差。針規(guī)的直徑尺寸的規(guī)定見表4。注：1級尺寸針規(guī)來源于JB/T10631—2006的規(guī)定。5單位為毫米測量范圍1.00;4.20;7.24;10.36;13.5;15.005.00;8.12;12.24;15.36;18.5;20.0020～35;35～50;50～65;65～80A;A+4.12;A+7.24;A+10.36;A+13.5;A+155.00;8.12;12.24;15.36;21.5;25.0025～45;45～65;65～85A;A+4.12;A+7.24;A+10.36;A+13.5;A+156.7校對量柱校對量柱的尺寸以及圓柱度在光學計或測長機采用4等量塊用比較法在規(guī)定位置進行測量，尺寸偏差均不應超過表3的規(guī)定。7標志與包裝7.1奇數溝千分尺上標志至少應包括：a)制造廠廠名或注冊商標；b)測量范圍；c)分度值；d)產品序號。7.2校對裝置上標志應包括直徑標稱尺寸。7.3奇數溝千分尺包裝盒上標志至少應包括：