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文檔簡(jiǎn)介
X射線熒光光譜理論考試題庫(kù)(選擇題)
LX-射線熒光光譜分析土壤樣品時(shí),元素檢出限高低與有關(guān)。(C)
A、單位含量計(jì)數(shù)率的大??;
B、測(cè)量時(shí)間的長(zhǎng)短;
C樣品制備;
U背景的計(jì)數(shù)率
2.下列選項(xiàng)中,不是能量色散光譜儀和波長(zhǎng)色散光譜儀相比所具有的有點(diǎn)。(D)
A、分析速度快;
B、體積??;
C成本低;
U分辨率高
3.X射線熒光熔融法測(cè)定礦石中全鐵,鉆是作為加入的。(B)
A、氧化劑;
B、內(nèi)標(biāo)元素;
C重吸收劑;
U脫模劑
4.X射線熒光熔融法中加入碘化物或漠化物作用是。(B)
A助溶劑;
B、脫模劑;
C內(nèi)標(biāo);
U熔劑
5.原子的K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中任一電子所填充,從而可以
產(chǎn)生一系列的譜線,稱為譜。(C)
AL系;
B、M^;
CK系;
D、N系
6.波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀當(dāng)X射線光管的光電壓超過(guò)靶材料的時(shí),開始出
現(xiàn)靶材質(zhì)的特征光譜。(A)
A、臨界激發(fā)電勢(shì);
B、電壓;
C電流;
D、功率
7.X射線熒光熔融法中影響熔樣主要因素是、熔樣時(shí)間和脫模劑用量。(A)
A熔樣溫度;
B、氧化劑;
C模具;
U熔劑量
8.X射線熒光光譜儀采用“二點(diǎn)校正”時(shí),a值應(yīng)在之間。(B)
A0.5~1.5
B、0.8~1.2
C0.9~1.1
D、0.6~1.4
9.X射線熒光熔融法測(cè)定鐵礦石中全鐵時(shí),Fe測(cè)的是FeKp譜線;內(nèi)標(biāo)鉆測(cè)的
是譜線。(A)
ADCoKa
BDCoKp
CDCoLa
DQCoLp
10.X射線熒光光譜法中,當(dāng)試樣的有效照射面積縮小時(shí),元素的X射線熒光強(qiáng)
度。(B)
A增大
B、減小
C、不變
D,先減小后增大
1LX射線熒光分析時(shí)基體效應(yīng)的基體,是指分析時(shí)試樣中除元素本身外其它
所有的元素。(C)
A,氣體
B、惰性
C分析
D,氧化劑
12.由X射線管發(fā)出的一次X射線激發(fā)樣品,使樣品所含元素輻射出二次X射
線,即X射線
。(B)
A、光子
B、熒光
C、光譜
D.線束
1
13.元素的X射線特征光譜波長(zhǎng)倒數(shù)的平方根與原子序數(shù)成。(B)
A、反比
B、正比
C、無(wú)關(guān)
D.規(guī)律
14.X射線管的高能電子在一次碰撞中耗盡其全部的能量,所產(chǎn)生的X射線光
子具有最大的能量,它的波長(zhǎng)最短,稱為。(B)
A、散射線
B、短波線
C、特征線
D、連續(xù)線
15.脈沖高度分析器的作用是選取一定范圍的脈沖幅度,將分析線脈沖從某些
和散射線中分辨出來(lái),以改善分析靈敏度和準(zhǔn)確度。(C)
A、特征線
B、連續(xù)線
C、干擾線
R衍射線
16.波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀當(dāng)探測(cè)器記錄的X射線強(qiáng)度太高時(shí),計(jì)數(shù)率和
X射線真實(shí)強(qiáng)度不成正比,這種現(xiàn)象稱作現(xiàn)象。(B)
A溢出
B、漏計(jì)
C自吸
n吸收
17.X射線光管產(chǎn)生的特征光譜波長(zhǎng)由決定。(D)
A、管電壓
B、管電流
G管功率
D靶材元素
18.X射線光譜分析中,X光管產(chǎn)生的X射線波長(zhǎng)應(yīng)樣品中待測(cè)元素的X射線波
長(zhǎng)時(shí)才能激發(fā)樣品。(C)
A大于
B、等于
C小于
D2倍
19.在能量色散X射線熒光光譜儀上,探測(cè)器接收到的是光束。(B)
A、特征
B、混合
G連續(xù)
U散射
20.波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀正常工作是有三個(gè)部件需要冷卻,其中最需要
冷卻的是。(B)
A、X射線管壁
B、X射線管的靶區(qū)
C高壓發(fā)生器
UX射線燈絲
21.波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀上,在晶體和探測(cè)器之間的光束是光束。(C)
A、混合
B、連續(xù)
C單色
U散射
22.X射線熒光光譜儀上,采用靶X射線管,在一定程度上對(duì)輕、重元素的分析
都能
兼顧。(D)
ACr
B、Cu
CW
D、Rh
23.在X射線熒光光譜儀中把X射線光子能量轉(zhuǎn)換成電信號(hào)的裝置是。(B)
A、分光晶體
B、探測(cè)器
C波高分析器
U放大器
24.X射線熒光光譜儀中的第一準(zhǔn)直器設(shè)置在晶體與之間。(A)
A、試樣
B、X射線管
C探測(cè)器
R濾光片
25.波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀是利用將不同波長(zhǎng)的X射線熒光分開,得到單
色X射線熒光光譜。(A)
A,分光晶體
B、光柵
C棱鏡
u反射鏡
26.X射線和光、熱、電磁波一樣,都是電磁幅射,X射線是波長(zhǎng)很短的一種。
(B)
A、連續(xù)波
B、電磁波
C特征波
D,粒子
27.X射線熒光分析描述X射線波長(zhǎng)與原了序數(shù)之間關(guān)系的定律是。(C)
A、朗伯定律
B、比爾定律
C莫塞萊定律
U布拉格定律
28.波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀當(dāng)X射線波長(zhǎng)小于或等于倍晶面間距時(shí)產(chǎn)生衍
射現(xiàn)象。(B)
A1
B、2
C3
D、4
29.每種元素的特征X射線,包含一系列波長(zhǎng)確定的譜線,且其強(qiáng)度比也是確定
的,當(dāng)Ka線強(qiáng)度為5kcpsD,Kp線的強(qiáng)度約
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