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1、可靠性測(cè)試的目的和意義 MPDH質(zhì)量管理部 艾宇 2016-02-24,可靠性的定義,1.可靠性的定義,元器件、產(chǎn)品、系統(tǒng)在一定時(shí)間內(nèi)、在一定條件下無(wú)故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性。產(chǎn)品可靠性的衡量指標(biāo)有：可靠度、失效率、平均無(wú)故障間隔時(shí)間。 產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、應(yīng)用過(guò)程中，不斷經(jīng)受自身及外界氣候環(huán)境及機(jī)械環(huán)境的影響，而仍需要能夠正常工作，這就需要用試驗(yàn)設(shè)備對(duì)其進(jìn)行驗(yàn)證，這個(gè)驗(yàn)證基本分為研發(fā)試驗(yàn)、試產(chǎn)試驗(yàn)、量產(chǎn)抽檢三個(gè)部分。,可靠性的歷史,第二次世界大戰(zhàn)期間，美國(guó)在東亞作戰(zhàn)，飛機(jī)在飛行中有半數(shù)不見(jiàn)了，原因是真空管故障，追溯肇因是制造部不良？還是

2、搬運(yùn)所致？于是引發(fā)了研究可靠性的動(dòng)機(jī)。 1952年，美國(guó)國(guó)防部成立AGREE（電子設(shè)備可靠性咨詢(xún)小組），由軍方、企業(yè)和學(xué)術(shù)界組成的這個(gè)部門(mén)，專(zhuān)門(mén)致力于電子設(shè)備可靠性的研究。 1970年以后，可靠性研究領(lǐng)域從軍用產(chǎn)品發(fā)展到一般民用產(chǎn)品，產(chǎn)品也從小真空管延伸到大型產(chǎn)品。,2.可靠性的歷史,可靠性測(cè)試的必要性,確認(rèn)有無(wú)設(shè)計(jì)上的缺點(diǎn) 確認(rèn)有無(wú)加工器具和工藝制程上的缺陷 確認(rèn)有無(wú)瑕疵的零組件 確認(rèn)有無(wú)任何變異產(chǎn)生 確認(rèn)工程修改的完整性 建立及檢測(cè) 產(chǎn)品整體的品質(zhì)水平,3.可靠性測(cè)試的必要性,環(huán)境應(yīng)力篩選: 產(chǎn)品在設(shè)計(jì)允許的強(qiáng)度極限下, 運(yùn)用加速技巧,找出已存在于產(chǎn)品中潛在暇疵給篩選出來(lái), 以免該產(chǎn)品于日

3、后使用過(guò)程中,遭受環(huán)境應(yīng)力時(shí)而導(dǎo)致失效發(fā)生,造成不必要的損失,可靠性測(cè)試的目的,研發(fā)階段：對(duì)試樣進(jìn)行可靠性測(cè)試，找出產(chǎn)品在原材料，結(jié)構(gòu)，工藝，環(huán)境適應(yīng)性等方面所存在的問(wèn)題，而加以改進(jìn)，經(jīng)過(guò)反復(fù)試驗(yàn)與改進(jìn)就能提高產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)。 試產(chǎn)階段：當(dāng)新產(chǎn)品定型后，根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)條件進(jìn)行鑒定試驗(yàn)，以便全面考核產(chǎn)品是否達(dá)到規(guī)定的可靠性指標(biāo)。 生產(chǎn)過(guò)程中：監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定程度（監(jiān)控原材料質(zhì)量變差或性能下降和工藝流程失控）。,4.可靠性測(cè)試的目的,浴缸曲線(xiàn),5.浴缸曲線(xiàn),浴盆曲線(xiàn),電子產(chǎn)品的壽命一般都符合浴缸曲線(xiàn)，可分為三個(gè)階段： 早夭期：由于設(shè)計(jì)，原材料，生產(chǎn)等可能出現(xiàn)的原因而導(dǎo)致一個(gè)較高失效率的階段，也稱(chēng)

4、失效率遞減階段，可通過(guò)環(huán)境應(yīng)力篩選加以剔除，保證產(chǎn)品的可靠性。 穩(wěn)定期：這一階段產(chǎn)品失效率近似一個(gè)常數(shù)，只有隨機(jī)失效產(chǎn)生，這一階段的壽命也就是用戶(hù)的使用壽命。 耗損期：硬件故障期，產(chǎn)品這時(shí)已達(dá)到設(shè)計(jì)壽命，進(jìn)入報(bào)廢階段。,廣義的環(huán)境試驗(yàn),預(yù)判產(chǎn)品在使用中和運(yùn)輸過(guò)程中可能遭遇的各種環(huán)境，并選取那些對(duì)產(chǎn)品有危害性的最?lèi)毫迎h(huán)境條件在實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行模擬試驗(yàn) 自然環(huán)境條件： 溫度、濕度、鹽霧、氣壓、風(fēng)力、雨雪、霧。 動(dòng)力環(huán)境條件： 運(yùn)輸過(guò)程中發(fā)生的沖擊，震動(dòng)，跌落； 使用過(guò)程中發(fā)生的跌落。,6.廣義的環(huán)境試驗(yàn),可靠性試驗(yàn),可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的

5、糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求提供依據(jù)。簡(jiǎn)單地說(shuō)，測(cè)試產(chǎn)品可靠度指標(biāo)的試驗(yàn)就是可靠度試驗(yàn)。 可靠性試驗(yàn)分類(lèi) A. 環(huán)境試驗(yàn) B. 壽命試驗(yàn) C. 機(jī)械應(yīng)力試驗(yàn) D. 耐氣候測(cè)試試驗(yàn) E. 功能試驗(yàn) F. EMC及安規(guī)試驗(yàn),7.可靠性試驗(yàn),可靠性試驗(yàn),產(chǎn)品在使用過(guò)程中，有不同的使用環(huán)境（有些安裝在室外、有些隨身攜帶、有些裝在船上等等），會(huì)受到不同環(huán)境的應(yīng)力（有些受到風(fēng)吹雨濕、有些受到振動(dòng)與跌落、有些受到鹽霧蝕侵等等）。為了確認(rèn)產(chǎn)品能在這些環(huán)境下正常工作，國(guó)標(biāo)、行標(biāo)都要求產(chǎn)品在環(huán)境方法模擬一些測(cè)試項(xiàng)目，這些測(cè)試項(xiàng)目包括： 1). 高溫測(cè)試（高溫運(yùn)行、高溫貯存）； 2). 低溫測(cè)試（低溫運(yùn)行、低

6、溫貯存）； 3). 高低溫交變測(cè)試（溫度循環(huán)測(cè)試、熱沖擊測(cè)試）； 4). 高溫高濕測(cè)試（濕熱貯存、濕熱循環(huán)）； 5). 機(jī)械振動(dòng)測(cè)試（隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試、掃頻振動(dòng)測(cè)試）；,可靠性試驗(yàn),6). 汽車(chē)運(yùn)輸測(cè)試（模擬運(yùn)輸測(cè)試、碰撞測(cè)試）； 7). 機(jī)械沖擊測(cè)試； 8). 開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試； 9). 電源拉偏測(cè)試； 10).冷啟動(dòng)測(cè)試； 11).鹽霧測(cè)試； 12).淋雨測(cè)試； 13).砂塵測(cè)試； 14).殼料摩擦壽命測(cè)試； 15).接口插拔壽命測(cè)試；,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,砂塵試驗(yàn)箱 試驗(yàn)項(xiàng)目：粉塵試驗(yàn),8.實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,砂塵試驗(yàn)箱圖片,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱 試驗(yàn)項(xiàng)目：高低溫運(yùn)行、高溫

7、 高濕 運(yùn)行、高 低溫存儲(chǔ)、高溫高濕存儲(chǔ)，涂層溫濕度存儲(chǔ)，包裝存儲(chǔ),實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,可程式恒溫恒濕 試驗(yàn)箱圖片,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,冷熱沖擊試驗(yàn)箱 試驗(yàn)項(xiàng)目：冷熱沖擊試驗(yàn),冷熱沖擊箱圖片,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī) 試驗(yàn)項(xiàng)目：鹽霧試驗(yàn),鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)圖片,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,紫外線(xiàn)老化試驗(yàn)機(jī) 試驗(yàn)項(xiàng)目：鹽霧試驗(yàn),紫外光老化試驗(yàn)機(jī)圖片,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,插頭引線(xiàn)折彎試驗(yàn)機(jī) 試驗(yàn)項(xiàng)目：USB數(shù)據(jù)線(xiàn)彎折，耳機(jī)線(xiàn)彎折,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,插頭引線(xiàn)折彎 試驗(yàn)機(jī)圖片,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,重復(fù)跌落試驗(yàn)機(jī) 試驗(yàn)項(xiàng)目：重復(fù)跌落試驗(yàn),實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,重復(fù)跌落 試驗(yàn)機(jī)圖片,實(shí)驗(yàn)室測(cè)

8、試設(shè)備,定向跌落試驗(yàn)機(jī) 試驗(yàn)項(xiàng)目：定向跌落試驗(yàn),實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,定向跌落試驗(yàn)機(jī)圖片,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,軟壓試驗(yàn)機(jī) 試驗(yàn)項(xiàng)目：坐壓試驗(yàn),實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,軟壓試驗(yàn)機(jī)圖片,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,摩擦壽命試驗(yàn)機(jī) 試驗(yàn)項(xiàng)目：酒精摩擦試驗(yàn)、橡皮摩擦試驗(yàn)、 硬度測(cè)試、ICON摩擦試驗(yàn),實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,摩擦壽命試驗(yàn)機(jī)圖片,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,滾筒跌落試驗(yàn)機(jī) 試驗(yàn)項(xiàng)目：滾筒跌落試驗(yàn),實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,滾筒跌落試驗(yàn)機(jī)圖片,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,按鍵壽命試驗(yàn)機(jī) 試驗(yàn)項(xiàng)目：按鍵壽命試驗(yàn),實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)圖片,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,接口插拔壽命試驗(yàn)機(jī) 試驗(yàn)項(xiàng)目：接口插拔壽命試驗(yàn),實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,接口插拔壽命 試驗(yàn)機(jī)圖片,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試

9、設(shè)備,扭曲試驗(yàn)機(jī) 試驗(yàn)項(xiàng)目：扭曲試驗(yàn),實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,扭曲試驗(yàn)機(jī)圖片,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,點(diǎn)擊劃線(xiàn)壽命試驗(yàn)機(jī) 試驗(yàn)項(xiàng)目：觸摸屏點(diǎn)擊壽命試驗(yàn)，觸摸屏劃 線(xiàn)壽命試驗(yàn),實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,點(diǎn)擊劃線(xiàn)壽命 試驗(yàn)機(jī)圖片,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,振動(dòng)摩擦試驗(yàn)機(jī) 試驗(yàn)項(xiàng)目：振動(dòng)摩擦試驗(yàn),實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,振動(dòng)摩擦 試驗(yàn)機(jī)圖片,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,電腦式拉拔試驗(yàn)機(jī) 試驗(yàn)項(xiàng)目：USB數(shù)據(jù)線(xiàn)拉拔試驗(yàn)，耳機(jī)線(xiàn)拉拔試驗(yàn),實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,電腦式拉拔 試驗(yàn)機(jī)圖片,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,落球沖擊試驗(yàn)機(jī) 試驗(yàn)項(xiàng)目：落球沖擊試驗(yàn),實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,落球沖擊 試驗(yàn)機(jī)圖片,實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,單翼試驗(yàn) 跌落機(jī) 試驗(yàn)項(xiàng)目：自由跌落試驗(yàn)，低溫跌落試驗(yàn)，包裝跌落試驗(yàn),實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備,單翼跌落 試驗(yàn)機(jī)圖