TPE—D型實驗指導(dǎo)書-數(shù)字電子技術(shù)

1、實驗一 門電路邏輯功能及測試一、實驗?zāi)康?1熟悉門電路邏輯功能 2熟悉數(shù)字電路學(xué)習(xí)機及示波器使用方法。二、實驗儀器及材料 1雙蹤示波器 2器件 74LS00 二輸入端四與非門 2片 74LS20 四輸人端雙與非門 1片 74LS86 二輸入端四異或門 1片 74LS04 六反相器 1片三、預(yù)習(xí)要求 1復(fù)習(xí)門電路工作原理及相應(yīng)邏輯表達式 2熟悉所用集成電路的引線位置及各引線用途 3了解雙需示波器使用方法 四、實驗內(nèi)容 實驗前按學(xué)習(xí)機使用說明先檢查學(xué)習(xí)機電源是否正常然后選擇實驗用的集成電路·按自己設(shè)計的實驗接線圖接好連線特別注意 VCC及地線不能接錯線接好后經(jīng)實驗指導(dǎo) 教師檢查無誤方可通

2、電實驗實驗中改動接線須先斷開電源，接好線后再通電實驗。 1測試門電路邏輯功能 （1）。選用雙四輸入與非門 74LS20一只，插入面包板按圖11接線、輸入端接S1S4（電平開關(guān)輸出插口）。輸出端接電平顯示發(fā)光二級管（D1D8任意一個） （2）將電平開關(guān)按表11置位，分別測輸出電壓及邏輯狀態(tài) 表11輸入輸出1234Y電壓（V）HHHHLHHHLLHHLLLHLLLL 2異或門邏輯功能測試 （1）選二輸入四異或門電路74LS86，按圖1.2接線，輸人端1、2、4、5接電平開關(guān)，輸出端A、B、Y接電子顯示發(fā)光二極管。 （2）將電平開關(guān)按表1.2位置，將結(jié)果填人表中。 表1.2輸入輸出ABYY電壓（V）

3、LLLLHLLLHHLLHHHLHHHHLHLH3邏輯電路的邏輯關(guān)系（1）用74LS00按圖1.3，1.4接線，將輸人輸出邏輯關(guān)系分別用人表1.3、表1.4中， 表13輸入輸出ABLLLHHLHH 表14輸入輸出ABYZLLHHLHLH（2）寫出上面兩個電路邏輯表達式。4邏輯門傳輸延遲時間的測量。用六反相器（非門）按圖15接線，輸人80KHz連續(xù)脈沖，用雙蹤示波器測輸入，輸出相位差，計算每個門的平均傳輸延遲時間的pd值。 5利用與非控制輸出。 用一片74LS00 8圖16接線， S接任一電平開關(guān)用示波器觀察 S對輸出脈沖的控制作用6用與非門組成其它門電路并測試驗證（1）組成或非門 用一片二輸入

4、端四與非門組成或非門 Y= 畫出電路圖，測試并填表15 表15 表16輸入輸出ABYABY0011010100110101 （2）組成異或門 （a）將異或門表達式轉(zhuǎn)化為與非門表達式。 （b）畫出邏輯電路圖。 （c）測試并填表16。五、實驗報告 1按各步聚要求填表并畫邏輯圖。 2回答問題： （1）怎樣判斷門電路邏輯功能是否正常？ （2）與非門一個輸人接連續(xù)脈沖其余端什么狀態(tài)時允許脈沖通過？什么狀態(tài)時禁止脈沖通過？ （3）異或門又稱可控反相門，為什么？實驗二 組合邏輯電路（半加器全加器及邏輯運算）一、實驗?zāi)康?1掌握組合邏輯電路的功能調(diào)試。 2。驗證十加器和全加器的邏輯功能。 3。學(xué)會M進制數(shù)的運

5、算規(guī)律。二、實驗儀器及材料 器件 74LS00 二輸入端四與非門 3片 74LS86 二輸入端四異或門 1片 74LS54 四組輸入與或非門 1片三、預(yù)習(xí)要求 1預(yù)習(xí)組合邏輯電路的分析方法 2預(yù)習(xí)用與非門和異或門構(gòu)成的半加器、全加器的工作原理。 3預(yù)習(xí)二進制數(shù)的運算。四、實驗內(nèi)容 1組合邏輯電路功能測試。 （1）用2片74LS00組成圖 2。1所示邏輯電路。為便于接線和檢查在圖中要注明芯片編號及各引腳對應(yīng)的編號。 （2）圖中A、B、C接電平開關(guān)，YI，Y2接發(fā)光管電平顯示 （3）。按表2。1要求，改變A、B、C的狀態(tài)填表并寫出Y1，Y2邏輯表達式 （4）將運算結(jié)果與實驗比較 表21輸入輸出AB

6、CY1Y2000111100011100101110010 2測試用異或門（74LS86）和與非門組成的半加器的邏 輯功能 根據(jù)半加器的邏輯表達式可知半加器Y是A、B的 異或，而進位Z是A、B相與，故半加器可用一個集 成異或門和二個與非門組成如圖22 （1）在學(xué)習(xí)機上用異或門和與門接成以上電路 接電平開關(guān)SY、Z接電平顯示 （2）按表22要求改變A、B狀態(tài)，填表 圖 2.2 表22輸入端A0101B0011輸出端YZ 3測試全加器的邏輯功能。 （1）寫出圖23電路的邏輯表達式。 （2）根據(jù)邏輯表達式列真值表 （3）根據(jù)真值表畫邏輯函數(shù)S；C；的卡諾圖 （4）填寫表23各點狀態(tài) 表23ABCYZ

7、X1X2X3SC000010100110001011101111（5）按原理圖選擇與非門并接線進行測試，將測試結(jié)果記入衰24，并與上表進行比較看邏輯功能是否一致 4測試用異或、與或和非門組成的全加器的邏輯功能。全加器可以用兩個半加盟和兩個與門一個或門組成在實驗中，常用一塊雙異或門。 一個與或非門和一個與非門實現(xiàn)。（1）畫出用異或門、與或非門和非門實現(xiàn)全加器的邏輯電路圖，寫出邏輯表達式。（2）找出異或門、與或非門和與門器件按自己畫出的圖接線接線時注意與或非門中 不用的與門輸入端接地。（3）當(dāng)輸人端A、B及C；為下列情況時用萬用表測量S和C的電位并將其轉(zhuǎn)為邏輯狀態(tài)填人下表 表24ABCCS0000

8、10100110001011101111輸入端A00001111B00110011C01010101輸出端CS五、實驗報告 1整理實驗數(shù)據(jù)、圖表并對實驗結(jié)果進行分析討論。 2總結(jié)組合邏輯電路的分析方法。 實驗三 觸發(fā)器（一）RS，D，JK 一、實驗?zāi)康?1熟悉并掌握RS、D、JK觸發(fā)器的構(gòu)成，工作原理和功能測試方法 2學(xué)會正確使用觸發(fā)器集成芯片 3了解不同邏輯功能FF相互轉(zhuǎn)換的方法 二、實驗儀器及材料 1雙法示波器 2器件 74LS00 二輸人端四與非門 1片 74LS74 雙 D觸發(fā)器 1片 74LSllZR JK觸發(fā)器 1片 三、實驗內(nèi)容 1基本RSFF功能測試： 兩個TTL與非門首尾相接

9、構(gòu)成的基本RSFF的電路如圖31所示 （1）試按下面的順序在，端加信號： =0 =1 =1 =1 =1 =0 圖 3.1 基本 RS FF電路=1 =1 觀來并記錄FF的Q、端的狀態(tài)，將結(jié)果填入下表3。1中，并說明在上述各種輸入狀態(tài)下FF執(zhí)行的是什么功能？ 表31Q邏輯功能01111101 （2）端接低電平端加脈沖。 （3）端接高電子端加脈沖。 （4）連接Rd、Sd，并加脈沖 記錄并觀察（2）、（3）、（4）三種情況下，Q，端的狀態(tài)從中你能否總結(jié)出基本R一SFF的Q或端的狀態(tài)改變和輸人端，的關(guān)系。（5）當(dāng)、都接低電平時，觀察Q、端的狀態(tài)。當(dāng)、同時由低電平跳為高電平時，注意觀察Q、端的狀態(tài)，重復(fù)

10、 35次看 Q、端的狀態(tài)是否相同，以正確理解“不定”狀態(tài)的含義。2維持一阻塞型D觸發(fā)器功能測試 雙 D型正邊沿維持一阻塞型觸發(fā)器 74LS74的邏輯符號如 圖32所示。 圖中、端為異步置1端，置0端（或稱異步置位，復(fù)位； 端）CP為時鐘脈沖端。 試按下面步驟做實驗：（1）分別在、端加低電平，觀察并記錄 Q、端的狀態(tài)。（2）令、端為高電平，D端分別接高，低電平，用點動脈沖作為 CP，觀察并記錄當(dāng) CP為 O、1、時 Q端狀態(tài)的變化。（3）當(dāng)=1、CP0（或CP=1）改變D端信號，觀察Q 圖 3.2 DFF邏輯符號 端的狀態(tài)是否變化？ 整理上述實驗數(shù)據(jù)，將結(jié)果填入下表32中（4）令=1，將 D和端

11、相連，CP加連續(xù)脈沖，用雙蹤示波器觀察并記錄Q相對于CP的波形 表32CPDQQ01XX0110XX011100111101 3負邊沿JK觸發(fā)器功能測試 雙JK負邊沿觸發(fā)器 74LS112芯片的邏輯符號如圖 33所示。 自擬實驗步驟，測試其功能，并將結(jié)果填入表33中若令JK1時，CP端加連續(xù)脈沖，用雙蹤示波器觀察QCP波形，和DFF的D和端相連時觀察到的Q端的波形相比較，有何異同點？4觸發(fā)器功能轉(zhuǎn)換 （1）將D觸發(fā)器和JK觸發(fā)器轉(zhuǎn)換成T觸發(fā)器，列 出表達式，畫出實驗電路圖 （2）接入連續(xù)脈沖，觀察各觸發(fā)器CP及Q端波形比 較兩者關(guān)系。 （3）自擬實驗數(shù)據(jù)表并填寫之。 圖 33 JFF邏輯符號

12、表33CPJKQ01XXXX10XXXX110X0111X011X0111X11四、實驗報告 1整理實驗數(shù)據(jù)并填表 2寫出實驗內(nèi)容3、4的實驗步驟及表達式 3畫出實驗4的電路圖及相應(yīng)表格 4總結(jié)各類觸發(fā)器特點。實驗四 三態(tài)輸出旺發(fā)器及鎖存器 一、實驗?zāi)康?1掌握三態(tài)觸發(fā)器和鎖存器的功能及使用方法 2學(xué)會用三態(tài)觸發(fā)器和鎖存器構(gòu)成的功能電路。 二、實驗儀器及材料 1雙蹤示波器 2器件： CD4043 三態(tài)輸出四RS觸發(fā)器 一片 74LS75 四位D鎖存器 一片 三、實驗內(nèi)容 1鎖存器功能及應(yīng)用 圖4I為74LS75四D鎖存器，每兩個D鎖存器由一個鎖存信號G控制， 當(dāng)G為高電平時，輸出端Q隨輸入端D

13、信號的狀態(tài)變化，當(dāng)G由高變?yōu)榈蜁r，Q鎖存在G端由高變低前 Q的電平上。 圖4l （l）驗證圖4l鎖存器功能，并列出功能狀態(tài)表。 （2）用74LS75組成數(shù)據(jù)鎖存器 按圖 27。2接線，1D4D接邏輯開關(guān)作為數(shù)據(jù)輸入端，G1，2和 G 3，4 接到一起作為鎖存選通信號 ST，IQ4Q分別接到 7段譯碼器的 A-D端， 數(shù)據(jù)輸出由數(shù)碼管顯示。 設(shè)：邏輯電平 H為“l(fā)”、 L為“0” STl，輸入0001，0011，0111，觀察數(shù)碼管顯示。 ST=0，輸入不同數(shù)據(jù)，觀察輸出變化。 2三態(tài)輸出觸發(fā)器功能及應(yīng)用 4043為三態(tài)RS觸發(fā)器，其包含有4個R-S觸發(fā)器單元，輸出端均用CMOS傳輸門對輸出狀態(tài)

14、施加控制。當(dāng)傳輸門截止時，電路輸出呈“三態(tài)”，即高阻狀態(tài)。管腳排列見圖43。 （1）三態(tài)輸出RS觸發(fā)器功能測試 驗證RS觸發(fā)器功能，并列出功能表。 注意：（a）不用的輸入端必須接地，輸出端可懸空。 （b）注意判別高阻狀態(tài)，參考方法：輸出端為高阻狀態(tài)時用萬用 表電壓檔測量電壓為零，用電阻檔測量電阻為無窮大。 （2）用三態(tài)觸發(fā)器4043構(gòu)成總線數(shù)據(jù)鎖存器 圖44是用4043和一個四2輸入端與非門4081（數(shù)據(jù)選通器）及一 片4069（做緩沖器）構(gòu)成的總線錢鎖存器。 （A）分析電路的工作原理。（提示：ST為選通端，R為復(fù)位端，EN為 三態(tài)功能控制端）。 （B）寫出輸出端 Q與輸入端 A、控制端 ST

15、、EN的邏輯關(guān)系。 （C）按圖接線，測試電路功能，驗證（1）的分析。 注意；4043的R和EN端不能懸空，可接到邏輯開關(guān)上。四、思考和選做 1圖4。2中，輸出端Q與輸入端A的相位是否一致？如果想使輸出端與輸入端完全一致，應(yīng)如何改動電路？ 2如果將輸入端A接不同頻率脈沖信號，輸出結(jié)果如何？試試看。四、實驗報告 1總結(jié)三態(tài)輸出觸發(fā)器的特點。 2整理并畫出以4043和74LS75巧的邏輯功能表 3比較圖42和圖44鎖存器的異同，總結(jié)鎖存器的組成、功能及應(yīng)用。實驗五 時序電路測做研究一、實驗?zāi)康?掌握常用時序電路分析，設(shè)計及測試方法。2訓(xùn)練獨立進行實驗的技能。二、實驗儀器及材料1雙蹤示波器2器件 74

16、LS73 雙JK觸發(fā)器 2片74LS175 四D觸發(fā)器 1片74LS10 三輸入端三與非門 1片74LS00 二輸入端四與非門 1片三、實驗內(nèi)容 1異步二進制計數(shù)器（1）按圖5。1接線（2）由 CP端輸人單脈沖測試并記錄 QQ端狀態(tài)及波形（3）試將異步二進制加法計數(shù)改為減法計數(shù)參考加法計數(shù)器要求實驗并記錄2異步二一十進制加法計數(shù)器（1）按圖52接線。Qa、Qb、Qc、Qd 4個輸出端分別接發(fā)光二極管顯示，CP端接連續(xù)脈沖或單脈沖。 （2）在CP端接連續(xù)脈沖觀察 CP、Qa、Qb、Qc及 Qd的波形。（3）。畫出CP、Qa、Qb、Qc及 Qd的波形。 3自循環(huán)移位寄存器環(huán)形計數(shù)器（1）按圖53接

17、線，將A、B、C、D置為1000，用單脈沖計數(shù)，記錄各觸發(fā)器狀態(tài)。 改為連續(xù)脈沖計數(shù)，并將其中一個狀態(tài)為“0”的觸發(fā)器置為“1”（模擬干擾信號作用的結(jié)果）觀察計數(shù)器能否正常工作。分析原因。（2）按圖54接線，與非門用 74LS10三輸人端三與非門重復(fù)上述實驗，對比實驗結(jié) 果，總結(jié)關(guān)于自啟動的體會。 圖5.4 四、實驗報告 1畫出實驗內(nèi)容要求的波形及記錄表格 2總結(jié)時序電路特點實驗六 朝計數(shù)器及畜存器一、實驗?zāi)康?1熟悉集成計數(shù)器邏輯功能和各控制端作用。 2掌握計數(shù)器使用方法。二、實驗儀器及材料 1雙蹤示波器 2器件 74L890 十進制計數(shù)器 2片 74LS00 二輸入端四與非門 1片三、實驗

18、內(nèi)容及步驟 1集成計數(shù)器74LS90功能測試。 74LS90 是二一五一十進制異步計數(shù)器。 邏輯簡圖為圖61所示 74LS90具有下述功能：·直接置0（R·R=1），直接置9（S·S=1） ·二進制計數(shù)（Cp1輸人Qa輸出） ·五進制計K（CP2輸入 Qd，Qc，Qb輸出） ·十進制計數(shù)（兩種接法如圖 62A、B所示） 按芯片引腳圖分別測試上述功能，并填入表61、表62、表63中。 圖6.2 十進制計數(shù)器 2計數(shù)器級連 分別用2片74LS90計數(shù)器級連成二一五混合進制、十進制計數(shù)器。 （1）畫出連線電路圖。 （2）按圖接線，并將輸出端

19、接到數(shù)碼顯示器的相應(yīng)輸入端，用單脈沖作為輸人脈沖驗證設(shè)計是否正確。 （3）畫出四位十進制計數(shù)器連接圖并總結(jié)多級計數(shù)級連規(guī)律。表6二 功能表 表62 二一五混合進制 表6。3 十進制計數(shù)輸出QDQCQBQA0123456789計數(shù)輸出QAQDQCQB0123456789R0(1) R0(2) R9(1) R9(2)輸出QdQcQbQaH H L XH H X LX X H HX L X LL X L XL X X LX L L X 3任意進制計數(shù)器設(shè)計方法采用脈沖反饋法（稱復(fù)位法或置位法）可用74LS90組成任意模（M）計數(shù)器。圖63是用74LS90 實現(xiàn)模7計數(shù)器的兩種方案，圖（A）采用復(fù)位法

20、即計數(shù)計到M異步清0圖（B）采用置位法即計數(shù)計到M1異步置0 圖 63 74LS90實現(xiàn)七進制計數(shù)方法當(dāng)實現(xiàn)十以上進制的計數(shù)器時可將多片級連使用。圖 64是 45進制計數(shù)的一種方案輸出為 8421 BCD碼。 圖64（1）按圖 64接線，并將輸出接到顯示器上驗證。（2）設(shè)計一個六十進制計數(shù)器并接線驗證。（3）記錄上述實驗各級同步波形。四、實驗報告 1整理實驗內(nèi)容和各實驗數(shù)據(jù) 2·畫出實驗內(nèi)容上、2所要求的電路圖及波形圖。 3總結(jié)計數(shù)器使用特點 實驗七 譯碼器和數(shù)據(jù)選擇器一、實驗?zāi)康?1熟悉集成譯碼器。 2了解集成譯碼器應(yīng)用。二、實驗儀器及材料 1·雙蹤示波器 2器件 74L

21、S139 24線譯碼器 1片 74LS153 雙4選1數(shù)據(jù)選擇器 l片 74LS00 二輸入端四與非門 1片三、實驗內(nèi)容 1譯碼器功能測試 將74LS139譯碼器按圖71接線，按表7l輸入電平分別置位、填輸出狀態(tài)表 表71輸入輸出使能選擇GBAY0 Y1 Y2 Y3HXXLLLLLHLHLLHH 圖7。12譯碼器轉(zhuǎn)換 將雙2一4線譯碼器轉(zhuǎn)換為38線譯碼器。 （1）畫出轉(zhuǎn)換電路圖。 （2）在學(xué)習(xí)機上接線并驗證設(shè)計是否正確。 （3）引設(shè)計并填寫該3一S線譯碼器功能表，畫出輸入、輸出波形。 3數(shù)據(jù)選擇器的測試及應(yīng)用 （1）將雙4選1數(shù)據(jù)選擇器7LS153參照圖72接線測試其功能并填寫功能表 （2）將

22、學(xué)習(xí)機脈沖信號源中固定連續(xù)脈沖4個不同頻率的信號接到數(shù)據(jù)選擇器 4個輸入端，將選擇端置位，使輸出端可分別觀察到4種不同頻率脈沖信號（3）分析上述實驗結(jié)果并總結(jié)數(shù)據(jù)選擇器作用。四、實驗報告 1畫出實驗要求的波形圖。 2畫出實驗內(nèi)容2、3的接線圖。 3總結(jié)譯碼器和數(shù)據(jù)選擇的使用體會。 圖72 表72選擇端數(shù)據(jù)輸入端輸出控制輸出B AC0C1C2C3GYX XX X X XHL LL X X XLL LH X X XLL HX L X XLL HX H X XLH LX X L XLH LX X H XLH HX X X LLH HX X X HL實驗八 波形產(chǎn)生及單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器一、實驗?zāi)康?1熟悉多

23、諧振蕩器的電路特點及振蕩頻率估算方法。 2掌握單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器的使用。二、實驗儀器及材料 1·雙蹤示波器 2元器件： 74LS00 二輸入端四與非門 1片 CD4069 六反相器 1片 74LS04 六反相器 1片 電位器10K 1只三、實驗內(nèi)容 1多諧振蕩器 （1）由CMOS門構(gòu)成多諧振蕩器，電路取值一般應(yīng)滿足R1=（210）R2周期T2。2R2C在學(xué)習(xí)機上按圖81接成，并測試頻率范圍。若C不變要想輸出1KHZ頻率波形。計算R2的值并驗證·分析誤差。若要實現(xiàn) 10KHZ100KHZ頻率范圍，選用上述電路并自行設(shè)計參數(shù)，接線實驗并測試。 （2）由TTL門電路構(gòu)成多諧振蕩器 按圖

24、82接線用示波器測量頻率變化范圍。 觀測 A、B、V0各點波形并記錄。 圖82 2單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器 （1）。用一片74LS00接成如圖 83所示電路，輸入脈沖用上面實驗中由CMOS門電路構(gòu)成的多諧振蕩器所產(chǎn)生的脈沖。（2）選三個頻率（易于觀察）記錄 A、B、C上各點波形。（3）。若要改變輸出波形寬度（例如 增加）應(yīng)如何改變電路參數(shù)？ 用實驗驗證。四、實驗報告1整理實驗數(shù)據(jù)及波形。2·國出振蕩器與單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器聯(lián)調(diào) 圖8.3 實驗電路圖。3寫出實驗中各電路脈寬估算值，并與實驗結(jié)果對照分析實驗九555時基電路一、實驗?zāi)康?1掌握555對基電路的結(jié)構(gòu)和工作原理學(xué)會對此芯片的正確使用。 2學(xué)會分析

25、和測試用555時基電路構(gòu)成的多諧振蕩器單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器，RS 觸發(fā)器等三種典型電路。二、實驗儀器及材料 1示波器 2器件 NE556，（或LM556，5G556等）雙時基電路 1片 二極管1N4148 2只 電位器22KIK 2只 電阻、電容 若干 揚聲器 一支三、實驗內(nèi)容 1555時基電路功能測試 本實驗所用的555時基電路芯片為NE556同一芯片上集成了二個各自獨工的555 時基電路，圖中各管腳的功能簡述如下：TH高電平觸發(fā)端：當(dāng)TH端電平大干2/3Vcc，輸出端OUT呈低電平DIS端導(dǎo)通。低電平觸發(fā)端：當(dāng)端電平小于1。3Vcc時OUT端呈現(xiàn)高電平DIS端關(guān)斷。 復(fù)位端：=0OUT端輸出低電平

26、DIS端導(dǎo)通。 VC控制電壓端：VC接不同的電壓值可以改變TH。的觸發(fā)電平值。 DIS放電端：其導(dǎo)通或關(guān)斷為RC回路提供了放電或充電的通路。 OUT輸出端： 表91THOUTDISXXLL導(dǎo)通2/3Vcc1/3 VccHL導(dǎo)通2/3Vcc1/3VccH原狀態(tài)原狀態(tài)2/3Vcc1/3VccHH關(guān)斷 芯片的功能如表91所示管腳如圖91所示功能簡圖如圖92所示。 （1）按圖9。3接線可凋電壓取自電位器分壓器。（2）按表91逐項測試其功能并記錄。2.555時基電路構(gòu)成的多諧振蕩器，電路如圖94所示。 圖9l 時基電路556 f腳圖 圖92 時基電用功能簡圖 圖93 測試接線圖 圖94 多諾振蕩器電路（

27、1）按圖接線。圖中元件參數(shù)如下： R115K R25K C1=0.033F C2=0.1F （2）用示波器觀察并測量OUT端波形的頻率。 和理論估算值比較算出頻率的相對誤差值。（3）若將電阻值改為R1=5KR2=10 K電容C不變，上述的數(shù)據(jù)有何變化？（4）。根據(jù)上述電路的原理充電回路的支路是R1R2R1，放電回路的支路是R2C1，將電路略作修改增加一個電位器Rw和兩個引導(dǎo)二極管，構(gòu)成圖95所示的占空比可調(diào)的多諧振蕩器。 其占空比為 q= 改變Rw的位置可調(diào)節(jié)q值。 合理選擇元件參數(shù)（電位器選用22K）使電路的占空比q=02，調(diào)試正脈沖寬 度為02ms。調(diào)試電路，測出所用元件的數(shù)值，估算電路的

28、誤差。3555構(gòu)成的單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器 圖95 占空比可調(diào)的多諧振蕩器電路 圖96 單穩(wěn)態(tài)過發(fā)器電路 實驗如圖96所示。（1）按圖 9.6接線，圖中 R=10 K,C1= 001F,V1是頻率約為 10KHZ左右的方波 時，用雙蹤示波器觀察 OUT端相對于 V1的波形并測出輸出脈沖的寬度T。（2）調(diào)節(jié) V1的頻率分析并記錄觀察到的 OUT端波形的變化。（3）若想使Tw=10S，怎樣調(diào)整電路？因出此時各有關(guān)的參數(shù)值。4555時基電路構(gòu)成的RS觸發(fā)器 實驗如圖97所示。 （1）、先令VC 端懸空調(diào)節(jié)R。端的輸 入電平值，觀察V0的狀態(tài)在什么時 刻由 0變 1或由 1變 0？ 測出V。的狀態(tài)切換時R萬端的

29、電 （2）若要保持V0端的狀態(tài)不變用實驗 法測定R、三端應(yīng)在什么電平范圍 內(nèi)？整理實驗數(shù)據(jù)，列成真值表的形式。和 RSFF比較邏輯電平·功能等有何異同。 （3）。若在VC 端加直流電壓Vc-v并令 Vc-v分別為2V4V時測出此時V0 圖97 R一S觸發(fā)器電路 狀態(tài)保持和切換時R、端應(yīng)加的電 壓值是多少？試用實驗法測定。 5應(yīng)用電路 圖9·8所示用556的兩個時基電路構(gòu)成低頻對高頻調(diào)制的救護車警鈴電路。 （l）參考實驗內(nèi)容2確定圖98中未定元件參數(shù) （2）按圖接線，注意揚聲器先不接。 （3）用示波器觀察輸出波形并記錄 （4）接上揚聲器，調(diào)整參數(shù)到聲響效果滿意。 圖98 用時

30、基電路組成警鈴電路 6時基電路使用說明 556定時器的電源電壓范圍較寬，可在-5 -16V范圍內(nèi)使用（若為CMOS的555 芯片則電壓范圍在，+3一+18V內(nèi)） 電路的輸出有緩沖器因而有較強的帶負載能力，雙極性定時器最大的灌電流和拉電流都在200mA左右因而可直接推動TTL或CMOS電路中的各種電路包括能直接推動蜂嗚器等器件。 本實驗所使用的電源電壓Vcc=+5V。四、實驗報告 1按實驗內(nèi)容各步要求整理實驗數(shù)據(jù)。 2畫出實驗內(nèi)容3和5中的相應(yīng)波形圖。 3畫出實驗內(nèi)容5最終調(diào)試滿意的電路圖并標(biāo)出各元件參數(shù)。 4總結(jié)時基電路基本電路及使用方法。選做實驗部分實驗十CMOS門電路測試一、實驗?zāi)康?1掌

31、握CMOS門電路功能測試的方法 2學(xué)會CMOS門電路外特性的測試方法。 3比較CMOS門和TTL門的特點二、實驗內(nèi)容 1CMOS芯片CD4001功能測試 CMOS集成電路4000系列芯片具有較寬的電源電壓使用范圍。在十3十18V都可以使用 CMOS門電路的邏輯高、低電平取值和TTL門電路略有不同，通常高電平為Vdd ，低電子為0V。本實驗的電源電壓Vdd=十5V。在A、B端加不同的邏輯電平用電壓表測出相應(yīng)的V0值并將結(jié)果列成真值表的形式。注意：CMOS門電路的多余輸入端不允許懸空。 2CMOS門電路 CD4001電壓傳輸特性測試 按圖10l所示接線。先令 Vdd= 十 10V。調(diào)節(jié)電位器Rw的

32、阻值使V1在+3+15V變化，測出V0隨V1變化的特性曲線。 記錄有關(guān)的實驗數(shù)據(jù)，畫成表格形式，并畫出電壓傳輸特性曲線 V0f（V1）。改變Vdd值使其分別為+5V+15V重復(fù)上述實驗內(nèi)容。在同一坐標(biāo)上畫出CMOS門取不同的Vdd值時所對應(yīng)的V0=f（V1）曲線。 3CD4001平均傳輸時間。的測量。 圖10.1 按圖102所示電路接線。圖中VDD+5V。 CP取自學(xué)習(xí)機上的連續(xù)脈沖。 觀察V1和CP的異同說明芯片74LS00的作用是什么？ 圖10.2 用雙蹤示波器觀察并記錄V0V1波形，測出CD4001芯片的值 若將圖102中的CD4001芯片改為CD4o11芯片，測出CD4011芯片和TTL 門電路的比較，從中你得到什么結(jié)論？三、思考題 1CMOS電路多余的輸入端在使用時不允許懸空，其理由是什么？ 試通過實驗測定CMOS門懸空端的電平值，分析所測值是否正確？ 2若將CMOS門CD4001芯片的A端按下述各種情況連接： a接+Vdd b接 GND c經(jīng)1M電阻接地 d經(jīng)500電阻接地 e經(jīng)100KQ電阻接+Vdd 用電壓表測定另一輸入端B電壓值你認為各應(yīng)為多少伏？用實驗驗證 3一般的CMOS門電路能否