品管七大手法-MINITAB應(yīng)用方法(共119頁).ppt

1、VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK1 品管七大手法-MINITAB應(yīng)用方法報告人勝華科技 合理化課 王譯隆VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK2報告綱要主旨l直方圖之用法與繪製技巧l柏拉圖之用法與繪製技巧l散佈圖之用法與繪製技巧l管制圖之用法與繪製技巧l製程能力指標-CPKl特性要因圖之用法與繪製技巧VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK3直方圖l將統(tǒng)計數(shù)據(jù)分組並計算其各組累計次數(shù)，繪製成柱狀圖。l用法：l比較各組差異l呈現(xiàn)分布狀態(tài)VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK4繪製技巧(Mi

2、nitab)Step1、資料整理VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK5繪製技巧(Minitab)Step2、開啟Minitab程式GraphHistogramVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK6繪製技巧(Minitab)Step3、選擇Simple按OK在Graph variables， 輸入“FPC拉力值”VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK7繪製技巧(Minitab)Step4、完成(Simple)F FP PC C拉拉力力值值F Fr re eq qu ue en nc cy y2. 602. 582.

3、 562. 542. 522. 5014121086420H H i is st to og gr ra am m o of f F FP PC C拉拉力力值值VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK8繪製技巧(Minitab)Step4、完成(With Fit)F FP PC C拉拉力力值值F Fr re eq qu ue en nc cy y2. 602. 582. 562. 542. 522. 5014121086420M ean2. 553St D ev0. 02286N50H H i is st to og gr ra am m o of f F FP PC

4、C拉拉力力值值Norm al VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK9柏拉圖l經(jīng)過排序之直方圖，並將解析或改善重心置於重要少數(shù)項目。l用法：l分析重點用VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK10繪製技巧(Minitab)Step1、資料輸入(不需排序)開啟Minitab程式 Stat Quality Tools Pareto ChartVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK11繪製技巧(Minitab)Step2、選擇Chart defects table.在Labels in, 輸入 不良項不良項. 在Freque

5、ncies in, 輸入不良數(shù)不良數(shù).VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK12繪製技巧(Minitab)Step3、解讀Percent比率比率 Cum%累計比率累計比率C Co ou un nt tP Pe er rc ce en nt t不良項Count7. 25. 92. 0Cum %54. 684. 992. 198. 0100. 083461193Percent54. 630. 3Ot her膠污尺寸不良外觀髒污牛頓環(huán)160140120100806040200100806040200P Pa ar re et to o C Ch ha ar rt t o o

6、f f 不不良良項項VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK13散佈圖l用點表示兩變數(shù)分佈型態(tài)，根據(jù)分佈的型態(tài)，來判斷對應(yīng)數(shù)據(jù)之間的關(guān)係。l用法l簡單判斷兩變數(shù)關(guān)係VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK14繪製技巧(Minitab)Step1、資料輸入開啟Minitab程式GraphScatterplotVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK15繪製技巧(Minitab)Step2、選擇 Simple, 按OK在在Y variables, 輸入輸入 熔燒溫度熔燒溫度. 在在X variables, 輸入輸入 硬度硬度V

7、ISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK16繪製技巧(Minitab)Step3、完成圖(X軸為 硬度)硬硬度度熔熔燒燒溫溫度度6055504540890880870860850840830820810800S Sc ca at tt te er rp pl lo ot t o of f 熔熔燒燒溫溫度度 v vs s 硬硬度度VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK17繪製技巧(Minitab)Step3、完成圖(X軸為 熔燒溫度)熔熔燒燒溫溫度度硬硬度度8908808708608508408308208108006055504540S Sc c

8、a at tt te er rp pl lo ot t o of f 硬硬度度 v vs s 熔熔燒燒溫溫度度VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK18繪製技巧(Minitab)-分組Step1、資料輸入開啟Minitab程式GraphScatterplotVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK19繪製技巧(Minitab)-分組Step2、選擇With Groups, 按OK在在Y variables, 輸輸入入 膨脹量膨脹量. 在在X variables, 輸入輸入 刀頭壓力刀頭壓力 在Categorical variables for

9、grouping (0-3), 輸入輸入機機臺臺VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK20繪製技巧(Minitab)-分組Step3、完成圖刀刀頭頭壓壓力力膨膨脹脹量量7. 57. 06. 56. 05. 55. 04. 54. 03. 51. 51. 41. 31. 21. 11. 00. 9機臺N ewO l dS Sc ca at tt te er rp pl lo ot t o of f 膨膨脹脹量量 v vs s 刀刀頭頭壓壓力力VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK21繪製管制圖目的l異常原因l可歸屬原因l機遇原因l透過管制圖l找

10、到可歸屬原因採取修正活動製程回到統(tǒng)計管制狀態(tài)VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK22管制圖建立步驟l選擇品質(zhì)特性l決定管制圖的種類l決定樣本大小、抽樣頻率、抽樣方式l收集數(shù)據(jù)l計算管制界限(包含中心線，上、下管制界限)l找出可歸屬原因後診斷其原因 並將該點去除l重新計算管制界限 確認製程在管制內(nèi)l繼續(xù)收集數(shù)據(jù) 利用管制圖監(jiān)控製程VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK23管制圖種類l計量值管制圖l品質(zhì)特性可用數(shù)值來量測lEX：拉力值、自動機壓著偏移量、溫度變化、時間變化、阻抗值l計數(shù)值管制圖l品質(zhì)特性不能以計量或連續(xù)尺度表示lEX：合格品或不

11、合格品、不合格點數(shù)VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK24管制圖優(yōu)點l採取修正行動之時間l品質(zhì)改善l改善生產(chǎn)力l預(yù)防不良品l預(yù)防不需之製程調(diào)整l提供矯正行動之型式l提供製程能力資訊l設(shè)立產(chǎn)品規(guī)格VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK25抽樣大小及頻率l抽樣原則l製程跳動量大小樣本l製程跳動量小大樣本l製程穩(wěn)定抽樣頻率低l製程不穩(wěn)定抽樣頻率高l大量生產(chǎn)且多種可歸屬原因出現(xiàn)l小樣本且高頻率抽樣VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK26管制圖研判中心線上管制界限下管制界限ACBACB區(qū)間測試區(qū)間測試VISUALIZE T

12、HE FUTURE WITH WINTEK27管制圖研判l(wèi)區(qū)間測試法則l一點落在A區(qū)以外(超出管制界限)l連續(xù)三點中有兩點落在A區(qū)或A區(qū)以外l連續(xù)五點中有四點落在B區(qū)域或B區(qū)以外l連續(xù)八點在中心線之同一側(cè)VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK28管制圖研判l(wèi)連串測試法則l連續(xù)七點在中心線同一側(cè)l連續(xù)十一點中有十點在中心線同一側(cè)l連續(xù)十四點中有十二點在中心線同一側(cè)l連續(xù)十七點中有十四點在中心線同一側(cè)1.連續(xù)二十點中有十六點在中心線同一側(cè)VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK29管制圖研判l(wèi)非隨機性測試法則l連續(xù)六點持續(xù)上升或下降(趨勢變化)l連

13、續(xù)十四點交互上下跳動(系統(tǒng)性模型)l連續(xù)十五點在中心線上下兩側(cè)之C區(qū)(層別模型)l連續(xù)八點在中心兩側(cè)但無點在C區(qū)(混合模型)VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK30計量值管制圖l未知變異數(shù)、標準值或目標值之計量值管制圖l平均值與全距管制圖l平均值與標準差管制圖l個別值和移動全距管制圖l給定標準值或目標值之計量值管制圖l平均值與全距管制圖l平均值與標準差管制圖l個別值和移動全距管制圖)R-(XmR)-X(S)-X(VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK31計量值管制圖l假設(shè)從製程收集m組(m20)樣本大小為n之樣本，各組之平均值為 各組全距分

14、別為 各組變異數(shù)為 總平均值總平均值 變異數(shù)平均值變異數(shù)平均值 全距平均值全距平均值m321X,.X,X,Xm321,.RR,R,RmXXm1iimRRm1iim321,.SS,S,SmSSm1iiVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK32計量值管制圖l平均值與全距管制圖.(由R估計製程變異)l平均值管制圖：管制每組數(shù)據(jù)分配集中趨勢的 變化l全距管制圖：管制製程變異或散布之變化RA-XLCLXCLRAXUCL2XX2XRDLCLRCLRDUCL3RR4RVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK33計量值管制圖l操作流程VISUALIZE THE

15、 FUTURE WITH WINTEK34EX: X-BAR 全距管製圖樣本觀測值x-barR1202320232221.60 32202122212121.00 23252020172020.40 84201823202120.40 55212024232222.00 46211920202020.00 27202023222021.00 38222120222321.60 39192219181919.40 410202122212221.20 211202424232322.80 412212024202121.20 413201818202019.20 2樣本觀測值x-barR1420

16、1923201920.20 415211818171918.60 416202221212020.80 217192021212220.60 318221920222020.60 319202023242021.40 420202126222322.40 621212224242122.40 322201820212019.80 323201923231920.80 424211818201919.20 325202224212221.80 426192121222221.00 3VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK35EX: X-BAR 全距管製圖l使用 Mini

17、tab VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK36EX: X-BAR 全距管製圖VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK37EX: X-BAR 全距管製圖VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK38EX: X-BAR 全距管製圖VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK39EX: X-BAR 全距管製圖VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK40EX: X-BAR 全距管製圖VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK41EX: X-BAR 全距管製圖刪除

18、第3列VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK42EX: X-BAR 全距管製圖VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK43EX: X-BAR 全距管製圖刪除第10 14列VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK44EX: X-BAR 全距管製圖22.718.9VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK45計量值管制圖l平均值與標準差管制圖l使用時機l當N=10 時 不適合用全距估計製程變異 而以變異數(shù)代替SA-XLCLXCLSAXUCL3XX3XSBLCLSCLSBUCL3SS4S管制圖之管制界限X

19、管制圖之管制界限SVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK46EX: 平均值與標準差管製圖VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK47計量值管制圖l個別值與移動全距管制圖l使用時機l無法使用n1 的樣本 = n=1 時 適合使用l製造時間長l破壞性實驗l化學(xué)物品 均勻性一致l100%l品質(zhì)檢驗不易 l請問 N=2 可以用個別值與移動全距管制圖嗎?lyesVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK48計量值管制圖l方法l計算總平均l計算移動全距1.計算移動全距之平均值mXXm1ii1i , X-XMR1 - iii1-mMRM

20、Rm2iiVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK49l方法l 管制圖之管制界限)R-(XmX-管制圖Rm管制圖2XX2XdMR3-XLCLXCLdMR3XUCLMRDLCLMRCLMRDUCL3MRMR4MRVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK50EX:個別值與移動全距管制圖可假設(shè)為拉力值壓著偏移量酒精濃度VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK51EX:個別值與移動全距管制圖47.2315.128)3(1.1011/1-50.16dMR3-XLCL50.16XUCL53.0885.128)3(1.1011/150.

21、16dMR3XUCL1.128d 2n X 1011. 1MR16.50X2xx2x2查表管制圖先製作VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK52EX:個別值與移動全距管制圖00(1.1011)MRDLCL1.1011MRUCL3.597311)3.267(1.10MRDUCLR0,3.267,DD 2n 3MRMR4MRm34管制圖之管制界限為因此查表得由VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK53個別值與移動全距管制圖MINITABlMINITABVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK54個別值與移動全距管制圖MIN

22、ITABVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK55個別值與移動全距管制圖MINITABVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK56個別值與移動全距管制圖MINITABVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK57目標值給定 VS 目標值未知l上下限之參數(shù)不同管制圖 目標值未知目標值已知X-Bar管制圖R 管制圖R)-X(RA-XLCLXCLRAXUCL2XX2XRDLCLRCLRDUCL3RR4RA-LCLXCLAUCLXXX1R2R2RDLCLdCLDUCLVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK

23、58管制圖 目標值未知目標值已知X-Bar 管制圖S 管制圖目標值給定 VS 目標值未知S)-X(A-LCLXCLAUCLXXXSA-XLCLXCLSAXUCL3XX3XSBLCLSCLSBUCL3SS4S5S4S6SBLCLCCLBUCLVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK59管制圖 目標值未知目標值已知X 管制圖Rm管制圖目標值給定 VS 目標值未知)R-(XmMRDLCLMRCLMRDUCL3MRMR4MR2XX2XdMR3-XLCLXCLdMR3XUCL)d(DLCL)d(CL)d(DUCL23MR2MR24MR3-LCLCL3UCLXXXVISUALIZE

24、 THE FUTURE WITH WINTEK60EX:已知平均值與變異數(shù)之標準值l假設(shè)某製程條件的平均值與變異數(shù)分別為120與6 要如何找出 X-Rm管制界限l假若n=4 ，上下界限要求為3VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK61EX:已知平均值與變異數(shù)之標準值X 管制圖Rm管制圖上下限公式1026*31203-LCL120CL1386*31203UCLXXX0)d(DLCL354.12)6*059.2()d(CL192.28)6*059.2(282.2)d(DUCL059.2d0D282.2D 4n23MR2MR24MR234)R-(Xm3-LCLCL3UCLX

25、XX)d(DLCL)d(CL)d(DUCL23MR2MR24MRX 管制圖Rm管制圖VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK62個別值與移動全距.標準值已知VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK63個別值與移動全距.標準值已知VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK64個別值與移動全距.標準值已知VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK65計數(shù)值管制圖l四種計數(shù)值管制圖l不合格率(p 管制圖)l不合格品數(shù)(np 管制圖)l不合格點數(shù)(c 管制圖)l單位不合格點數(shù)(u 管制圖)VISUALIZE T

26、HE FUTURE WITH WINTEK66計數(shù)值管制圖l假設(shè)從製程收集m組(m20)樣本大小為n之樣本，不合格率為P，X為樣本中之不合格品數(shù)，各組之不合格率為 各組之不合格率平均值為 m1iim1iiiim/Pmn/XPm,.2 , 1in/XPVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK67計數(shù)值管制圖.P 管制圖lP 管制圖n)p1 (p3pLCLpCLn)p1 (p3pUCLppp以上為試用管制界限，若LCLp單位大小不同VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK90計數(shù)值管制圖.u 管制圖MINITABVISUALIZE THE FUTUR

27、E WITH WINTEK91計數(shù)值管制圖.u 管制圖VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK92計數(shù)值管制圖.u 管制圖VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK93計數(shù)值管制圖.u 管制圖S Sa am m p pl le eS Sa am m p pl le e C Co ou un nt t P Pe er r U U n ni it t2523211917151311975311. 41. 21. 00. 80. 60. 40. 20. 0_U=0. 442UCL=1. 073LCL=0U U C Ch ha ar rt t o of f

28、 b bW orksheet : W orksheet 1; 2006/ 2/ 13; edm undwang edi tTest s perform ed wi t h unequal sam pl e si zesVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK94計數(shù)值管制圖.u 管制圖S S a a m mp p l le eS Sa am m p pl le e C C o ou un nt t P Pe er r U U n ni it t2 52 32 11 91 71 51 31 1975311 .41 .21 .00 .80 .60 .40 .20 .0_U

29、= 0 .4 4 2U C L = 1 .0 7 3L C L = 0U U C C h h a a r rt t o o f f b bWo rk sh eet: Wo rk sh eet 1 ; 2 0 0 6 /2 /1 3 ; ed mu n d w an g ed itT ests p erfo rmed w ith u n eq u al samp le sizesVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK95製程能力指標l製程能力指標:用來表示製程符合產(chǎn)品規(guī)格之能力lCP:製程符合規(guī)格之能力(未考慮製程平均值)lCA: 衡量製程的實績平均值與規(guī)格中心值之 間

30、的差異lCPK:考慮製程平均值的製程能力指標VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK96製程準確度 Cal衡量製程的實績平均值與規(guī)格中心值之間的差異 等 級評價Ca 值A(chǔ)級理想狀況，維持 Ca 12.5%B級尚可改善，盡量調(diào)整12.5% Ca 25%C級應(yīng)立刻檢討改善 25% Ca 50%D級採取緊急措施，全面檢討，必要時考慮停止生產(chǎn) 50% Ca%1002/規(guī)格公差規(guī)格中心值實績平均值Ca%1002/TXVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK97製程精密度 Cp等 級評價Cp值A(chǔ)+級可考慮為降低成本而放大變異 Cp 1.67A級理想狀況，維持

31、1.67 Cp 1.33B級尚可改善，盡量調(diào)整1.33 Cp 1.00C級應(yīng)立刻檢討改善製程1.00 Cp 0.83D級採取緊急措施，全面檢討，必要時考慮停止生產(chǎn) 0.83 Cp66TCp倍估計實績標準差規(guī)格公差VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK98Ca CpCa CpCa CpCa Cp製程能力指標VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK99對Ca及Cp同時參考而對製程作一客觀評價 Cpk=(1-Ca) Cp 當Ca=0時，Cpk=Cp 單邊規(guī)格時，Cpk=Cp，但需取絕對值。等 級 評價Cpk值A(chǔ)+級可考慮為降低成本而放大變異 Cpk

32、1.67A級製程能力足夠，理想狀況，維持1.67 Cpk 1.33B級製程能力尚可，盡量調(diào)整1.33 Cpk 1.00C級應(yīng)立刻檢討改善製程1.00 Cpk 0.83D級採取緊急措施，全面檢討，必要時考慮停止生產(chǎn) 0.83 CpkCpk製程能力指數(shù)(總合指數(shù))VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK100EX : 雙邊規(guī)格l假設(shè)TBW 之Bonding精度規(guī)格為05,今天量測了20次的偏移距離(有方向性)，試計算其CP和 CPK sol:ca= =(|1.7-0|)/10*2=0.34cp=(USL-LSL)/6=(5-(-5)/6*2.92=0.57CPK=CP(1-

33、|ca|)=0.57*(1-0.34)=0.376212343 -1 -2 -3 -2 -10057 -124373%1002/TXVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK101EX : 雙邊規(guī)格lMINITABVISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK102EX : 雙邊規(guī)格VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK103EX : 雙邊規(guī)格VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK104EX : 雙邊規(guī)格VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK105EX : 雙邊規(guī)格VISUALIZE THE FUTURE WITH WINTEK106EX : 單邊規(guī)格lOLB的拉力試驗，假設(shè)量測了20次的拉力值 而拉力的規(guī)格值要大於500(每公分)，試計算其CP CPK Xca=單邊規(guī)格不計算cp= CPL=( -LSL)/3=(533.8-500)/3*48=0.23CPK=CP=0.23500550500600510450650600490500560510