mura檢測(cè)中的影像色度亮度計(jì)

1、成像亮度色度計(jì)的LCD檢測(cè)1、概述 液晶缺陷 Mura測(cè)試原理 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 算法概述 WP600 Series Colorimeter解決方案 WP214概述與測(cè)試方案2、液晶缺陷 Zara漏光，漏光就是屏幕液晶跟框架吻合不緊密導(dǎo)致燈管光直接透射出來(lái)。 Zure錯(cuò)誤對(duì)位，指液晶屏的濾光單元與TFT對(duì)位出現(xiàn)錯(cuò)誤導(dǎo)致的缺陷 SIMI基板上有污漬 Mura是指顯示器亮度不均勻造成各種痕跡的現(xiàn)象，最簡(jiǎn)單的判斷方法就是在暗室中切換 到黑色畫面以及其它低灰階畫面，然后從各種不同的角度用力去看，隨著各式各樣的制 程瑕疵，液晶顯示器就有各式各樣的mura。3、SEMI-D31測(cè)試Mura原理 SEMI針對(duì)Mur

2、a測(cè)試建立了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)。 定義：JND Just Noticeable Difference 公式： Cjnd是mura 缺陷最小可覺(jué)察的對(duì)比度差異 Sjnd為C jnd下的mura 缺陷面積。 可見(jiàn)，每一個(gè)Sjnd都有一個(gè)固定的Cjnd對(duì)應(yīng)。4、Sjnd與C jnd關(guān)系 Sjnd與C jnd是遞減關(guān)系 面積越大，人眼對(duì)對(duì)比度低的mura更敏感 下圖三個(gè)點(diǎn)可以說(shuō)明Sjnd與C jnd的關(guān)系箭頭所指的點(diǎn)兩兩灰度一樣，但面積不一樣，從而引起視覺(jué)敏感性不同5、Mura的算法 1、分割把圖像分割成若干個(gè)區(qū)域，對(duì)每個(gè)區(qū)域算出平局對(duì)比度Cx，分割算法很重要，各個(gè)廠家對(duì)此都有專門的算法設(shè)計(jì)。 2、SEMI定義

3、了Mura的值，如下公式： Semu就是該區(qū)域的Mura值 根據(jù)該標(biāo)準(zhǔn)，目標(biāo)區(qū)域的 SEMU 數(shù)值高于1 的，就可判定為mura 缺陷。但是，在實(shí)際應(yīng)用中，平板顯示器的制造商一般會(huì)根據(jù)企業(yè)的自身情況和產(chǎn)品特點(diǎn)相應(yīng)地調(diào)整具體的判定指標(biāo)。6、Westboro Photonics解決方案 Westboro Photonics通過(guò)WP640/690成像式色度亮度計(jì)能精確得到被測(cè)屏幕的亮度色度分布圖。相較于一般廠商的三片濾光片的方案，WP產(chǎn)品具有四個(gè)濾光片，能更準(zhǔn)確測(cè)出三基色刺激值，在色度方面精度更高。而在Mura測(cè)試方面，是在SEMI標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上，加入自身的算法對(duì)圖像進(jìn)行分割與評(píng)價(jià)，實(shí)現(xiàn)Mura值的測(cè)試。在圖像分割、Mura定量方面可以通過(guò)腳本編輯實(shí)現(xiàn)客戶定制。7、JND圖像測(cè)試 Westboro Photonics能有效識(shí)別出顯示屏的JND數(shù)據(jù)，客戶可設(shè)置閾值，從而判斷產(chǎn)品通過(guò)/不通過(guò)的標(biāo)準(zhǔn)8、WP系列產(chǎn)品能準(zhǔn)確識(shí)別到mura9、優(yōu)勢(shì) WP系列產(chǎn)品的一大優(yōu)勢(shì)就是性價(jià)比高。 設(shè)備小巧，有更多空間去給客戶進(jìn)行平臺(tái)化設(shè)計(jì)。 16bit的A/D轉(zhuǎn)換范圍，提供更高的測(cè)試精度。 色度計(jì)4個(gè)視覺(jué)刺激值濾波片，提供更符合CIE-1931的色度值測(cè)試。 Mura算法上更直接，可設(shè)置的參數(shù)比其他廠家要少，更