NaI閃爍譜儀系列實(shí)驗(yàn)

1、Nal(TI)閃爍譜儀實(shí)驗(yàn)引言閃爍探測(cè)器是利用某些物質(zhì)在射線(xiàn)作用下受激發(fā)光的特性來(lái)探測(cè)射線(xiàn)的儀 器。它們的主要優(yōu)點(diǎn)是：既能探測(cè)各種帶電粒子，又能探測(cè)中性粒子；既能測(cè)量 粒子強(qiáng)度，又能測(cè)量粒子能量；且探測(cè)效率高，分辨時(shí)間短。它在核物理研究和 放射性同位素測(cè)量中得到廣泛的應(yīng)用。本實(shí)驗(yàn)?zāi)康氖橇私釴al(TI)閃爍譜儀的原理、特性與結(jié)構(gòu)，掌握Nal(TI)閃爍譜儀的使用方法和一射線(xiàn)能譜的刻度，學(xué)會(huì) Nal(TI)閃爍譜儀的應(yīng)用。二、實(shí)驗(yàn)原理1、射線(xiàn)與物質(zhì)的相互作用射線(xiàn)與物質(zhì)的相互作用主要是光電效應(yīng)、康普頓散射和正、負(fù)電子對(duì)產(chǎn)生三種過(guò)程。(1) 光電效應(yīng)：入射 粒子把能量全部轉(zhuǎn)移給原子中的束縛電子，而把

2、束縛電子打出來(lái)形成光電子。由于束縛電子的電離能 巳一般遠(yuǎn)小于入射 射線(xiàn)能量E， 所以光電子的動(dòng)能近似等于入射 射線(xiàn)的能量E光電二E Ei E(2) 康普頓散射：核外電子與入射 射線(xiàn)發(fā)生康普頓散射示意如圖。設(shè)入射 光 子能量為h，散射光子能量為h '，則反沖康普頓電子的動(dòng)能ErEr h h康普頓散射后散射光子能量與散射角的關(guān)系為h11 cosh2meC為入射 射線(xiàn)能量與電子靜止質(zhì)量之比。由上式可得，當(dāng)0時(shí)，h ' h它等于這時(shí)Ee 0，即不發(fā)生散射；當(dāng) 180時(shí)，散射光子能量最小,這時(shí)康普頓電子的能量最大，為e max所以康普頓電子能量在0至h之間變化。(3) 正、負(fù)電子對(duì)產(chǎn)生：

3、當(dāng) 射線(xiàn)能量超過(guò)2m0c2(1.022MeV)時(shí)，光子受原子核或電子的庫(kù)倫場(chǎng)的作用可能轉(zhuǎn)化成正、負(fù)電子對(duì)。入射射線(xiàn)的能量越大，產(chǎn) 生正、負(fù)電子對(duì)的幾率也越大。在物質(zhì)中正電子的壽命是很短的， 當(dāng)它在物質(zhì)中 消耗盡自己的動(dòng)能，便同物質(zhì)原子中的軌道電子發(fā)生湮沒(méi)反應(yīng)而變成一對(duì)能量各位0.511MeV的 光子。2、核衰變的統(tǒng)計(jì)規(guī)律在重復(fù)的放射性測(cè)量中，即使保持完全相同的實(shí)驗(yàn)條件(例如放射源的半衰 期足夠長(zhǎng)，在實(shí)驗(yàn)時(shí)間可以認(rèn)為其活度基本上沒(méi)有變化；源與探測(cè)器的相對(duì)位置 始終保持不變；每次測(cè)量時(shí)間不變；測(cè)量?jī)x器足夠精確，不會(huì)產(chǎn)生其他的附加誤 差等)，每次的測(cè)量結(jié)果并不完全相同，而是圍繞著其平均值上下漲落，有

4、時(shí)甚 至有較大的差別。這種現(xiàn)象就叫做放射性計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)性。放射性計(jì)數(shù)的這種統(tǒng)計(jì)性反映了放射性原子核衰變本身固有的特性，與使用的測(cè)量?jī)x器及技術(shù)無(wú)關(guān)。放射性原子核衰變的統(tǒng)計(jì)分布可以根據(jù)數(shù)理統(tǒng)計(jì)分布的 理論來(lái)推導(dǎo)。放射性原子核衰變的過(guò)程是一個(gè)相互獨(dú)立彼此無(wú)關(guān)的過(guò)程，即每一個(gè)原子核的衰變是完全獨(dú)立的，和別的原子核是否衰變沒(méi)有關(guān)系，而且哪一個(gè)原 子核先衰變，哪一個(gè)原子核后衰變也是純屬偶然的， 并無(wú)一定的次序，因此放射 性原子核的衰變可以看成是一種伯努里實(shí)驗(yàn)問(wèn)題。 設(shè)在t=0時(shí)，放射性原子核的總數(shù)是N。，在t時(shí)間將有一部分核發(fā)生了衰變。已知任何一個(gè)核在t時(shí)間衰變是該放射性原子核的的概率為p 1 e七，不衰變

5、的概率為q 1 p e衰變常數(shù)。利用二項(xiàng)式分布可以得到在t時(shí)間有n個(gè)核發(fā)生衰變的概率pn為pnNM1N0 n ! n!t N0 n在t時(shí)間，衰變掉的粒子平均數(shù)為m N°p N0其相應(yīng)的均方根差為me可以簡(jiǎn)化為jNopq Jm(1 p)假如t1，即時(shí)間t遠(yuǎn)比半衰期小，這時(shí)mN0總是一個(gè)很大的數(shù)目，而且如果滿(mǎn)足t1，則二項(xiàng)式分布可以簡(jiǎn)化為泊松分布，因?yàn)樵诙?xiàng)式分布中，N0不小于100,而且p不大于0.01的情況下,泊松分布能很好的近似于二項(xiàng)式分布，此時(shí)nm mp n en!在泊松分布中，n的取值圍為所有的正整數(shù)(0,1,2,3)，并且在n=m附 近時(shí)，p(n)有一極大值；當(dāng)m較小時(shí)，分布

6、是不對(duì)稱(chēng)的；m較大時(shí)，分布漸趨近 于對(duì)稱(chēng)。當(dāng)m 20時(shí)，泊松分布一般就可用正態(tài)(高斯)分布來(lái)代替：式中2 m， p n是在n處的概率密度值。由上式可以看出，正態(tài)分布決定于平均值 M及均方根差 這兩個(gè)參數(shù)，它對(duì)稱(chēng)于N=M見(jiàn)圖。對(duì)于M 0 ,1,這種分布成為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布。一般的概率統(tǒng)計(jì)書(shū)上給出的正態(tài)分布數(shù)值表都是對(duì)應(yīng)于標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布的。計(jì)數(shù)值處于N N dN的概率為2“N M1 2p N dN =e 2 dNV2為了計(jì)算方便，需作如下的變量置換(稱(chēng)標(biāo)準(zhǔn)化)，令N Mz則dzp N dN2 dz稱(chēng)為正態(tài)分布概率積分z2如果我們對(duì)某一放射源進(jìn)行多次重復(fù)測(cè)量，得到一組數(shù)據(jù)，其平均值為N ,那么計(jì)數(shù)值落在N

7、（即N N圍的概率為p N dNe 2 dN用變量z -_N來(lái)置換之，并查表，上式即為0.6831 2Ze 2 dzN1 （來(lái)自一個(gè)正態(tài)分這就是說(shuō)，在某實(shí)驗(yàn)條件下進(jìn)行單次測(cè)量，如果計(jì)數(shù)值為布總體），那么我們可以說(shuō)N1落在N，圍的概率為68.3%;或者反過(guò)來(lái)說(shuō)，在NN圍包含真值的概率是68.3%。實(shí)質(zhì)上，從正態(tài)分布的特點(diǎn)來(lái)看，由于出現(xiàn)概率較大的計(jì)數(shù)值與平均值 N的偏差較小，可以用、，瓦 來(lái)代替、尺，對(duì)于 單次測(cè)量值N1，可以近似地說(shuō)，在N1, N1圍包含真值的概率是68.3%，這樣用單次測(cè)量值就大體上確定了真值所在的圍，這種由于放射性衰變的統(tǒng)計(jì)性而引起的誤差，叫做統(tǒng)計(jì)誤差。放射性統(tǒng)計(jì)漲落服從于正

8、態(tài)分布，所以用均方根差（也 稱(chēng)標(biāo)準(zhǔn)偏差） . N來(lái)表示。當(dāng)采用標(biāo)準(zhǔn)偏差表示表示放射性的單次測(cè)量值N1時(shí)，則可以表示為N1 N1. N N1 x N?。用數(shù)理統(tǒng)計(jì)的術(shù)語(yǔ)來(lái)說(shuō)，將68.3%稱(chēng)為“置信概率”（或者叫做“置信度”），相應(yīng)的“置信區(qū)間”即N ，當(dāng)置 信區(qū)間為N 2，N 3時(shí)，相應(yīng)的置信概率分別為 95.5%和99.7%。3、閃爍譜儀結(jié)構(gòu)與工作原理Nal（TI）閃爍譜儀結(jié)構(gòu)如圖所示。整個(gè)儀器由探頭（包括閃爍體、光電倍增 管、射極跟隨器），高壓電源，線(xiàn)性放大器、多道脈沖幅度分析器幾部分組成。 射線(xiàn)通過(guò)閃爍體時(shí)，閃爍體的發(fā)光強(qiáng)度與射線(xiàn)在閃爍體損失的能量成正比。帶電粒子通過(guò)閃爍體時(shí)，將引起大量的

9、分子或原子的激發(fā)和電離， 這些受激的分子或 原子由激發(fā)態(tài)回到基態(tài)時(shí)就放出光子，不帶電的射線(xiàn)現(xiàn)在閃爍體產(chǎn)生光電子、康普頓電子及正、負(fù)電子對(duì)（當(dāng)1.02MeV時(shí)），然后這些電子使閃爍體的分子或 原子激發(fā)和電離而發(fā)光。閃爍體發(fā)出的光子被閃爍體外的光反射層反射，會(huì)聚到光電倍增管的光電陰極上，打出光電子。光陰極上打出的光電子在光電倍增管中倍增出大量電子，最后為陽(yáng)極吸收形成電壓脈沖。每產(chǎn)生一個(gè)電壓脈沖就表示有 一個(gè)粒子進(jìn)入探測(cè)器，由于電壓脈沖幅度與粒子在閃爍體消耗的能量 （產(chǎn)生的光 強(qiáng)）成正比，所以根據(jù)脈沖幅度的大小可以確定入射粒子的能量。利用脈沖幅度分析器可以測(cè)定入射射線(xiàn)的能譜。高壓取源國(guó)】.2-2閃爍

10、育償框歩4、譜儀組件性能一般介紹（1）閃爍體：閃爍體時(shí)用來(lái)把射線(xiàn)能量轉(zhuǎn)變?yōu)楣饽艿?。閃爍體分無(wú)機(jī)閃爍和有機(jī)閃爍體兩大類(lèi)。實(shí)際運(yùn)用中依據(jù)不同的探測(cè)對(duì)象和要求選擇不同的閃爍體。本實(shí)驗(yàn)中采用含鉈（TI）的Nal晶體做 射線(xiàn)的探測(cè)器。（2） 光電倍增管：光電倍增管的結(jié)構(gòu)如圖所示。它由光陰極K收集電子的陽(yáng)極A與在陽(yáng)極與光陰極之間十個(gè)左右能發(fā)射二次電子的次陰極（又稱(chēng)倍增極、打 拿極或者聯(lián)極）構(gòu)成，相鄰的兩個(gè)電極之間的電位差一般在100V左右。當(dāng)閃爍體發(fā)出的光子達(dá)到光陰極時(shí)，它打出的光電子被加速聚焦到第一倍增極D 上,平均每個(gè)光電子在D上打出了 36個(gè)次級(jí)電子，增殖的電子又為 D和D2之間的 電場(chǎng)加速，打到第

11、二個(gè)倍增極D2上,平均每個(gè)電子又打出35個(gè)次級(jí)電子， 這樣經(jīng)過(guò)n級(jí)倍增后，在陽(yáng)極上就收集到大量的電子，在負(fù)載上形成一個(gè)電壓脈 沖。ss弋、/Z廣 hxzzwc JZXZW1_ 廣 /WWLW幣葉冒氏非聚犠屯光電倍増管（3）能量分辨率：由于形成陽(yáng)極電流脈沖之前的各種過(guò)程的統(tǒng)計(jì)性質(zhì)，對(duì)應(yīng)于 某一定能量的粒子，光電倍增管的輸出脈沖的幅度的大小仍有起伏，通常把脈沖 計(jì)數(shù)率隨脈沖幅度分布的半寬度5/2與計(jì)數(shù)率最大值對(duì)應(yīng)的脈沖幅度 Uo之比定義為能量分辨。由于粒子能量與脈沖幅度成正比，所以能量分辨率Ui/2 EUo E圖1,2*4輸出眛沖幅度醯落所帶農(nóng)的剤觸甜倉(cāng)慕本領(lǐng)笛限制影響能量分辨率的主要因素有： 同

12、一能量的粒子在閃爍體中產(chǎn)生的光子數(shù)目不同。這是由于a. 閃爍體發(fā)光過(guò)程的統(tǒng)計(jì)漲落；b. 閃爍體的非均性使不同點(diǎn)的發(fā)光效率不同；c. 入射粒子穿過(guò)晶體的角度、位置不同所帶來(lái)的在晶體損失能量的不同。 粒子的入射位置不同，閃爍體所發(fā)出的光能到達(dá)光陰極的收集效率也不同。 光陰極表面的不均勻性，陰極的不同位置發(fā)射光電子的效率不同。 光陰極發(fā)射光電子數(shù)和光電倍增管的倍增系數(shù)的統(tǒng)計(jì)漲落。 光電倍增管的本底脈沖噪聲將疊加在入射粒子的脈沖信號(hào)上使之發(fā)生漲落。Nal(TI)晶體對(duì)137Cs的0.662MeV的 射線(xiàn)能量分辨率為6%8%5、閃爍譜儀對(duì)137Cs單能 射線(xiàn)的響應(yīng)。137Cs只放出單一能量的 射線(xiàn)(E

13、=0.662MeV)，此 射線(xiàn)能量小于正、負(fù)電 子對(duì)的產(chǎn)生閾1.02MeV,所以Cs的射線(xiàn)于Nal(TI)晶體的相互作用只有光電效 應(yīng)和康普頓散射兩個(gè)過(guò)程，圖給出了用 Nal(TI)晶體 譜儀所測(cè)得的137Cs的 能 譜，其中1號(hào)峰相應(yīng)于光電峰，1號(hào)峰左面的平臺(tái)相應(yīng)于康普頓電子的貢獻(xiàn)。如 果康普頓散射產(chǎn)生的散射光子h '未逸出晶體，仍然為NaI(TI)晶體所吸收，也 即通過(guò)光電效應(yīng)把散射光子的能量 h '轉(zhuǎn)換成光電子能量，而這個(gè)光電子也將對(duì) 輸出脈沖作貢獻(xiàn)。由于上述整個(gè)過(guò)程是在很短的時(shí)間完成的，這個(gè)時(shí)間比探測(cè)器形成的一個(gè)脈沖所需的時(shí)間短得很多，所以先產(chǎn)生的康普頓電子和后產(chǎn)生的光

14、電 子，二者對(duì)輸出脈沖的貢獻(xiàn)是疊加在一起形成一個(gè)脈沖，這個(gè)脈沖幅度所對(duì)應(yīng)的能量，是這兩個(gè)電子的能量值和，即E h ' h。即等于入射 射線(xiàn)的能量。所以這一過(guò)程所形成的脈沖將疊加在光電峰1之上使之增高。為了確切起見(jiàn)，1號(hào)峰又稱(chēng)為全能峰。上圖的康普頓電子平臺(tái)上還出現(xiàn)一個(gè) 2號(hào)峰，它是由于入射 射線(xiàn)穿過(guò)Nal 晶體，達(dá)到光電倍增管上發(fā)生180。的康普頓散射，反散射的光子返回晶體，與 晶體發(fā)生光電效應(yīng)所形成的。返回散射光子能量h ' E Ecmax 0.184MeV，所以2號(hào)峰成為反散射峰。當(dāng)讓射線(xiàn)在源襯底、源容器材料上的反散射也會(huì)對(duì)反散射峰有貢獻(xiàn)。圖中能量最小的那個(gè)峰是應(yīng)為137Cs

15、的 衰變子體137 Ba在退激時(shí)，可能不發(fā) 生 射線(xiàn)，而是通過(guò)轉(zhuǎn)過(guò)程，把Ba的K電子打出，這一過(guò)程將導(dǎo)致發(fā)生 Ba的K 系X射線(xiàn)，所以這個(gè)峰對(duì)應(yīng)于 Ba的K系射線(xiàn)的能量(32KeV左右)。137Cs的 譜是比較典型的，常用137Cs作為標(biāo)準(zhǔn)源，一方面用來(lái)檢驗(yàn)譜儀的能量分辨率，另一方面作為射線(xiàn)能量測(cè)量的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)。6閃爍譜儀的能量線(xiàn)性關(guān)系利用閃爍譜儀做 射線(xiàn)能量測(cè)定時(shí)，最基本的要在入射射線(xiàn)的能量和它產(chǎn)生的脈沖幅度(指全能峰的位置)之間有確定的關(guān)系；對(duì)于理想的閃爍譜儀，脈 沖幅度與能量之間應(yīng)是線(xiàn)性關(guān)系；對(duì)于實(shí)際Nal(TI)閃爍譜儀在較寬的能量圍(100keV到1300keV)是近似線(xiàn)性的。這是利用

16、該譜儀進(jìn)行射線(xiàn)能量分析與判斷 未知放射性核素的重要依據(jù)。通常，在實(shí)驗(yàn)上利用系列標(biāo)準(zhǔn)源，測(cè)量相應(yīng)全能量峰處的脈沖幅度，建立射線(xiàn)能量及其對(duì)應(yīng)峰位的關(guān)系曲線(xiàn)，這條曲線(xiàn)即能量刻度曲線(xiàn)。典型的能量刻度曲線(xiàn)為不通過(guò)原點(diǎn)的一條直線(xiàn)，即E Xp GXp E°式中Xp為全能峰位（峰道址）;-Eo為直線(xiàn)截距；G為增益（即單位脈沖幅度對(duì) 應(yīng)的能量）。能量刻度曲線(xiàn)可以選用標(biāo)準(zhǔn)源137 Cs（ 0.662MeV）和60Co（ 1.17MeV 1.33MeV）來(lái)作，如圖所示。實(shí)驗(yàn)中欲得到較理想的線(xiàn)性，還要注意放大器和多 道分析器甄別閾的線(xiàn)性，進(jìn)行必要的檢測(cè)與調(diào)整。此外，實(shí)驗(yàn)條件變化時(shí)應(yīng)重新進(jìn)行刻度。aLJ.oa

17、1o.6 07、探測(cè)效率設(shè)源的發(fā)射強(qiáng)度為S，譜儀的探測(cè)效率為，可以用下式表示：nS（1.1-15 ）式中的S為 射線(xiàn)發(fā)射強(qiáng)度，n為全能峰的總計(jì)數(shù)率，用這種方法定義的探測(cè)效率稱(chēng)作源峰探測(cè)效率，n可以用下式求得：Nnt式中N為全能峰的凈計(jì)數(shù)，t為計(jì)數(shù)時(shí)間。全能峰的凈計(jì)數(shù)N可采用全能峰面積法來(lái)計(jì)算具體步驟如下： 選定所求的全能峰，在全能峰選定左，右兩個(gè)邊界道址I，r 一般選在峰兩側(cè)的峰谷處，如圖所示。 求得峰各道計(jì)數(shù)的總和rT Ii 計(jì)算本底計(jì)數(shù)BI 計(jì)算凈計(jì)數(shù)N=T-B及統(tǒng)計(jì)誤差8、 輻射強(qiáng)度測(cè)量在相同條件下，分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)源的全能峰面積No和待測(cè)樣的全能峰面積Nx，設(shè)標(biāo)準(zhǔn)源的強(qiáng)度為So，待測(cè)樣的強(qiáng)

18、度為Sx，則有SxNx實(shí)驗(yàn)1輻射的能量和強(qiáng)度測(cè)量一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?. 了解Na TI閃爍譜儀的組成，基本特性及使用方法。2. 掌握測(cè)量 射線(xiàn)的能量和強(qiáng)度的基本方法。二、實(shí)驗(yàn)容及步驟1. 檢查實(shí)驗(yàn)裝置，打開(kāi)電源，進(jìn)入多道分析程序UMS2. 選擇合適的高壓和放大倍數(shù)，測(cè)量137Cs標(biāo)準(zhǔn)源在三組不同測(cè)量時(shí)間下的能譜，并計(jì)算對(duì)應(yīng)的峰面積和能量分辨率。（本實(shí)驗(yàn)取測(cè)量時(shí)間分別為t 300s,400s,500s）3. 測(cè)量60Co標(biāo)準(zhǔn)源的 能譜，并根據(jù)測(cè)量結(jié)果對(duì) 譜儀進(jìn)行能量刻度，求出式E xp GXp Eo中的常數(shù)G和Eo。4. 測(cè)量結(jié)束，先把高壓降至0,再關(guān)機(jī)。三、數(shù)據(jù)記錄及處理1. 137Cs在不同測(cè)量時(shí)

19、間下的能譜根據(jù)得到的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，得到t 300s,400s,500s下 Cs的 能譜如下14U0 -C&-137 t=300s叫| 355 23 丁:冃 W 3C3& 鬥向粒21445"；11 904501001 50200250300150400ii：i1200-；.； 1000800-6tXJ-400 -200-o4-0圖1 t=300s 下137Cs的丫能譜Cs-137 l=JOOstill 2N 15 T H世卻is ；.T'f I ?703?5/屮卓11.44%50100150200250300350400道址2000 r 100016001400 -

20、1200農(nóng) 1000-800600400-200圖2 t=400s 下137Cs的丫能譜2400-2000 tCs-137 t=S00516001200 “BOO t4000-薛4護(hù)總脫:2S0 12 曲處SO 72Fk； 35BM務(wù)曲#, U.2*%050100150200250300350400道址計(jì)蠡率I圖3 t=500s 下137Cs的丫能譜不同測(cè)量時(shí)間下的峰位信息如下表所示測(cè)量時(shí)間t/s峰位半高寬凈面積分辨率/%300255.2330.362148511.90400252.1530.1327632:11.95:500250.7230.723565312.28表1不同測(cè)量時(shí)間下137C

21、s 丫能譜的峰位信息從峰位信息中可以得到如下幾個(gè)結(jié)論： 峰的位置基本不變。這種情況容易理解，因?yàn)榉宓奈恢脤?duì)應(yīng)的就是粒子的能量，而放射源放出的 粒子能量是一定的，所以峰的位置也基本不變。 峰有一定寬度且寬度基本不變。這是因?yàn)?粒子是原子核能級(jí)躍遷產(chǎn)生的， 而原子核能級(jí)有一定寬度，所以躍遷產(chǎn)生的 粒子能量也有一定差異，顯示在峰 位上就是有峰寬。而核能級(jí)寬度基本不變，所以能量偏差也基本不變，即峰寬基 本不變。 峰面積隨測(cè)量時(shí)間逐漸增大。由核衰變的統(tǒng)計(jì)規(guī)律可知，在t時(shí)間，衰變產(chǎn)生的 粒子數(shù)的平均值為m N0 p N0 1 e在t1時(shí),m N0 1 eNo t即測(cè)量時(shí)間越長(zhǎng)，衰變產(chǎn)生的 粒子數(shù)越多，由于

22、全能峰的面積反映的就是粒子數(shù)，所以峰面積也就越大。2. 能量刻度曲線(xiàn)首先，得到60Co的能譜如下圖Co-60400350-'300 r :250-15010050-1呂畔荷IH帛半底宜,140 36斥iLWb耐寸出札31 17%2°r- n.t?沖 ii 501 00 宰料勺1174 ，皿 H! -3fH 如宀J.34S1002005006Q0it ill.圖4 t=300s 下60Co的丫能譜能譜中兩個(gè)峰的峰位分別為Xp 450.34和Xp 501.00，對(duì)應(yīng) 粒子的能量分別是 1.17MeV和 1.33MeV,結(jié)合 t=300s 下 137Cs 的 能譜 xp 255.2

23、3，E 0.662MeV，可得到能量刻度曲線(xiàn)上的三個(gè)點(diǎn)XP255.23450.34501.00E/MeV0.6621.171.33表2全能峰位和對(duì)應(yīng)能量作出能量刻度曲線(xiàn)如圖1.41.2-10LU O.fl -06-! EFit of eneigy E朋納1時(shí)口RauJidd Sum cfYPMfitlli'li rOSOTW7 Ft屜IMiWTJJrTtErije|7lFStopeValuaStandard EjtCt0-4 -I1.i.rir-25030035040045C500Kp圖5能量刻度曲線(xiàn)擬合得到的曲線(xiàn)為E Xp 0.00269Xp 0.02632(MeV)所以能量刻度曲線(xiàn)中兩個(gè)參數(shù)的值分別為G 0.00269MeVE°0.02632MeV四、思考題1. 射線(xiàn)與物質(zhì)有哪三種主要作用，各有什么特點(diǎn)?答： 射線(xiàn)與物質(zhì)的三種主要作用是