QZTT 3008-2016 無源分布系統(tǒng) 射頻電纜檢測規(guī)范

1、中國鐵塔股份有限公司企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)Q/ZTT 30082016代替Q/ZTT 1003.42014無源分布系統(tǒng)射頻電纜檢測規(guī)范Passive Distribution System Radio Frequency Cable Test Specification版本號：V2.02016 - 02 - 15發(fā)布2016 - 02 - 15實(shí)施中國鐵塔股份有限公司發(fā)布 Q/ZTT 30082016目次前言11 范圍22 規(guī)范性引用文件23 術(shù)語和定義33.1 電壓駐波比Voltage Standing-wave Ratio（VSWR）33.2 傳輸衰減Transmission Attenuation33

2、.3 耦合損耗Coupling Loss33.4 彎曲半徑Bending Radius33.5 特性阻抗Characteristic Impedance43.6 絕緣電阻Insulation Resistance43.7 絕緣耐壓Dielectric Medium Voltage-withstanding43.8 護(hù)套耐壓Sheath Voltage-withstanding44 檢測項目45 射頻電纜檢測要求65.1 皺紋銅管外導(dǎo)體射頻同軸電纜檢測要求65.1.1 材質(zhì)及要求65.1.2 電氣性能115.1.4 環(huán)境性能315.2 漏泄同軸電纜檢測要求435.2.1 材質(zhì)及要求435.2.2

3、 電氣性能475.2.3 機(jī)械物理性能525.2.4 環(huán)境性能5458前言本標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，結(jié)合中國鐵塔股份有限公司（以下均簡稱為“中國鐵塔”）的實(shí)際情況，細(xì)化和明確了無源分布系統(tǒng)射頻電纜的技術(shù)要求，滿足多系統(tǒng)共享室內(nèi)分布系統(tǒng)的應(yīng)用需求，并為入網(wǎng)檢測和無源分布系統(tǒng)建設(shè)提供技術(shù)依據(jù)。本標(biāo)準(zhǔn)主要包含皺紋銅管外導(dǎo)體射頻同軸電纜、耦合性漏泄同軸電纜和輻射型漏泄同軸電纜產(chǎn)品的檢測項目和檢測要求，適用于射頻電纜產(chǎn)品的質(zhì)量檢測，適用于送檢和抽檢產(chǎn)品的檢測。本標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)和同期發(fā)布的Q/ZTT 3007-2016無源分布系統(tǒng)射頻電纜技術(shù)要求配套使用。本標(biāo)準(zhǔn)代替Q/ZTT 1003.4-2014無源分

4、布系統(tǒng)射頻電纜技術(shù)要求和測試方法（V1.0）-試行中測試方法相關(guān)的內(nèi)容。自本標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布之日起，原標(biāo)準(zhǔn)同時廢止。本標(biāo)準(zhǔn)由中國鐵塔通信技術(shù)研究院負(fù)責(zé)解釋和監(jiān)督執(zhí)行。本標(biāo)準(zhǔn)主編單位：中國鐵塔通信技術(shù)研究院。無源分布系統(tǒng)射頻電纜檢測規(guī)范1 范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了皺紋銅管外導(dǎo)體射頻同軸電纜、耦合性漏泄同軸電纜和輻射型漏泄同軸電纜產(chǎn)品的檢測項目和檢測要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于中國鐵塔股份有限公司規(guī)定的射頻電纜產(chǎn)品的質(zhì)量檢測，適用于送檢和抽檢產(chǎn)品的檢測。2 規(guī)范性引用文件下列國家及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)對于本技術(shù)要求的應(yīng)用必不可少。凡是注日期的，僅注日期的版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。凡是不注日期的，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T 11091 電

5、纜用銅帶GB/T 15065 電線電纜用黑色聚乙烯塑料GB/T 17737.1-2013 射頻電纜 第1部分：總規(guī)范-總則、定義、要求和試驗(yàn)方法GB/T 18380.12 電纜和光纜在火焰條件下的燃燒試驗(yàn) 第12部分：單根絕緣電線電纜火焰垂直蔓延試驗(yàn) 1kW預(yù)混合型火焰試驗(yàn)方法GB/T 18380.35 電纜和光纜在火焰條件下的燃燒試驗(yàn) 第35部分：垂直安裝的成束電線電纜火焰垂直蔓延試驗(yàn) C類GB/T 19849 電纜用無縫銅管GB/T 228.1 金屬材料 拉伸試驗(yàn) 第1部分:室溫試驗(yàn)方法GB/T 2951.11 電纜和光纜絕緣和護(hù)套材料通用試驗(yàn)方法 第11部分：通用試驗(yàn)方法 厚度和外形尺寸

6、測量 機(jī)械性能試驗(yàn)GB/T 2951.13 電纜和光纜絕緣和護(hù)套材料通用試驗(yàn)方法 第13部分：通用試驗(yàn)方法-密度測定方法-吸水試驗(yàn)-收縮試驗(yàn)GB/T 4909.2 裸電線試驗(yàn)方法 第2部分：尺寸測量GB/T 6388 運(yùn)輸包裝收發(fā)貨標(biāo)志GB/T 8806 塑料管道系統(tǒng) 塑料部件 尺寸的測定JB/T 10696.3 電線電纜機(jī)械和理化性能試驗(yàn)方法 彎曲實(shí)驗(yàn)JB/T 8137 電線電纜交貨盤SJ/T 11223 銅包鋁線SJ/T 11365 電子信息產(chǎn)品中有毒有害物質(zhì)的檢測方法YD/T 1092-2013 通信電纜 無線通信用50泡沫聚烯烴絕緣皺紋銅管外導(dǎo)體射頻同軸電纜YD/T 1113-2015

7、 通信電纜光纜用無鹵低煙阻燃材料YD/T 1120-2013 通信電纜 物理發(fā)泡聚烯烴絕緣皺紋銅管外導(dǎo)體耦合型漏泄同軸電纜YD/T 2491-2013 通信電纜 物理發(fā)泡聚乙烯絕緣縱包銅帶外導(dǎo)體輻射型漏泄同軸電纜YD/T 2740.2-2014 無線通信室內(nèi)信號分布系統(tǒng) 第2部分：電纜（含漏泄電纜）技術(shù)要求和測試方法YD/T 837.3-1996 銅芯聚烯烴絕緣鋁塑綜合護(hù)套市內(nèi)通信電纜試驗(yàn)方法 第3部分：機(jī)械物理性能試驗(yàn)方法YD/T 837.4-1996 銅芯聚烯烴絕緣鋁塑綜合護(hù)套市內(nèi)通信電纜試驗(yàn)方法 第4部分：環(huán)境性能試驗(yàn)方法3 術(shù)語和定義以下術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。3.1 電壓駐波比Vol

8、tage Standing-wave Ratio（VSWR）電纜長度方向各點(diǎn)結(jié)構(gòu)尺寸不均勻，引起各點(diǎn)區(qū)域阻抗差異，產(chǎn)生反射波，形成駐波。駐波會導(dǎo)致傳輸效率下降，衰減壇大，誤碼率上升，圖像虛影，等不良后果。3.2 傳輸衰減Transmission Attenuation反映電磁波在電纜中傳輸時能量損耗大小，主要影響信號強(qiáng)度。漏纜衰減主要包括內(nèi)/外導(dǎo)體損耗、絕緣介質(zhì)損耗、輻射損耗、駐波損耗。3.3 耦合損耗Coupling Loss反映漏纜輻射出來信號大小的指標(biāo)，主要影響信號強(qiáng)度。3.4 彎曲半徑Bending Radius反映電纜的彎曲性能。在規(guī)定的彎曲半徑下滿足電纜的使用要求。3.5 特性阻抗

9、Characteristic Impedance行波狀態(tài)下的電壓與電流比值，主要與電纜內(nèi)導(dǎo)體等效外徑和外導(dǎo)體等效內(nèi)徑、等效絕緣介電常數(shù)有關(guān)，標(biāo)稱特性阻抗主要有50、75、100。其中移動通信中的產(chǎn)品標(biāo)稱特性阻抗一般為50。3.6 絕緣電阻Insulation Resistance電纜內(nèi)、外導(dǎo)體之間的直流絕緣電阻，反映電纜絕緣層的絕緣性能。3.7 絕緣耐壓Dielectric Medium Voltage-withstanding電纜內(nèi)、外導(dǎo)體之間的交流或直流條件下介質(zhì)的耐電壓性能，反映電纜絕緣層的絕緣耐壓性能。3.8 護(hù)套耐壓Sheath Voltage-withstanding通過浸水試驗(yàn)或

10、火花試驗(yàn)來確定護(hù)套的耐電壓性能，體現(xiàn)電纜護(hù)套的耐壓擊穿性能，一般電纜生產(chǎn)時都是在線監(jiān)測，保證電纜任何地方在規(guī)定的護(hù)套耐壓下，電纜護(hù)套不擊穿。4 檢測項目表1 皺紋銅管外導(dǎo)體射頻同軸電纜檢測項目明細(xì)表序號分類指標(biāo)備注1材質(zhì)及要求內(nèi)導(dǎo)體2外導(dǎo)體3護(hù)套外觀4護(hù)套最小厚度5電纜最大外徑6電纜參考重量7電氣性能內(nèi)導(dǎo)體/外導(dǎo)體最大直流電阻8絕緣介電強(qiáng)度9最小絕緣電阻10特性阻抗11最大衰減常數(shù)12機(jī)械物理性能重復(fù)彎曲13最小彎曲半徑14抗壓強(qiáng)度15導(dǎo)體最小抗拉強(qiáng)度16導(dǎo)體最小斷裂延伸17護(hù)套抗張強(qiáng)度18護(hù)套斷裂伸長率19絕緣附著力20環(huán)境性能老化后護(hù)套斷裂伸長率21老化后護(hù)套抗張強(qiáng)度22絕緣熱收縮率23低

11、溫彎曲24溫度沖擊25阻燃電纜的燃燒性能26護(hù)套火花試驗(yàn)護(hù)套耐壓性表2 耦合型和輻射型漏泄同軸電纜檢測項目明細(xì)表序號分類指標(biāo)備注1材質(zhì)及要求內(nèi)導(dǎo)體2外導(dǎo)體3護(hù)套外觀4護(hù)套最小厚度5電纜最大外徑6電纜參考重量7電氣性能內(nèi)導(dǎo)體/外導(dǎo)體最大直流電阻8絕緣介電強(qiáng)度9最小絕緣電阻10特性阻抗11縱向衰減12耦合損耗13最大電壓駐波比14機(jī)械物理性能抗壓強(qiáng)度15重復(fù)彎曲16最小彎曲半徑17抗壓強(qiáng)度18導(dǎo)體最小抗拉強(qiáng)度19導(dǎo)體最小斷裂延伸20護(hù)套抗張強(qiáng)度21護(hù)套斷裂伸長率22絕緣附著力23環(huán)境性能老化后護(hù)套斷裂伸長率24老化后護(hù)套抗張強(qiáng)度25絕緣熱收縮率26低溫彎曲27溫度沖擊28阻燃電纜的燃燒性能29護(hù)套

12、火花試驗(yàn)護(hù)套耐壓性5 射頻電纜檢測要求5.1 皺紋銅管外導(dǎo)體射頻同軸電纜檢測要求5.1.1 材質(zhì)及要求5.1.1.1 內(nèi)導(dǎo)體5.1.1.1.1 銅包鋁的實(shí)驗(yàn)方法（直徑測量）測試工具：千分尺/游標(biāo)卡尺。試樣制備：從樣品上面截取1根試樣，長度大于1米。測試過程：對于直徑0.1mm的試件，千分尺測試應(yīng)力在0.1-1N，測試頭直徑在2-8mm；對于測試投直徑在0.1mm,千分尺測試應(yīng)力在1-3N，測試頭直徑在5-8mm。在測量的時候需要在垂至于試樣軸線的同一截面上，在相互垂直的了兩個方向分別測量；至少在試樣的兩端和中部共計測量3處。計算方式：在對試樣的各點(diǎn)測量完成之后，需要計算外徑的平均值，這個作為最

13、終的測量結(jié)果，體現(xiàn)在測試報告中。Di1nDin （1）式中：Di第i次側(cè)測量數(shù)值，mm； n測量次數(shù)。5.1.1.1.2 光滑銅管內(nèi)導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)方法a) 銅管外徑以分度0.01 mm 的千分尺，在內(nèi)導(dǎo)體上沿圓周大約均勻分布的4 個位置進(jìn)行測量；b) 管壁厚度使用千分尺，在選定的被測截面上移動測量量具直至找處最大和最小壁厚，并記錄測試值。每個被選定的測試截面上，沿環(huán)向均勻間隔至少6個點(diǎn)進(jìn)行壁厚測量。由測量值計算算術(shù)平均值，按表3的規(guī)定修約并記錄結(jié)果作為平均壁厚。表3 管壁厚度要求壁厚單個結(jié)果要求的準(zhǔn)確度算術(shù)平均值修約值101030300.030.050.10.050.10.1c) 導(dǎo)體的斷裂伸長率和

14、抗拉強(qiáng)度按如下規(guī)定進(jìn)行試驗(yàn)；試樣獲?。簭你~管原材料軸上截取一段完好的樣品，并將這段樣品截成3或5條長度符合表4的試樣；表4 試樣獲取要求L0/mmLC/mmL0+D0/2 仲裁試驗(yàn)：L0+2D050100上表中：S0試樣原始橫截面積； L0試樣原始標(biāo)距； D0試樣原始管外徑； Lc試樣平行長度。試樣要求：試樣表面需要完好，沒有被氧化或腐蝕；金屬鍍層或包覆沒有破損或剝落；在測試之前需要測試記錄試樣的外徑和管壁厚度（選取不同的5個點(diǎn)，計算平均外徑、管壁厚度參照b的規(guī)定測量），計算出試樣的截面積S0（單位：mm2）。（2）式中：S0銅管截面積，單位mm2；m試樣的質(zhì)量，單位克，g；Lt試樣總長度，單

15、位毫米，mm；試樣材料密度，單位克每立方厘米，g·cm3。管段試樣尺寸見表2，應(yīng)在試樣兩端加以塞頭。塞頭至最近的標(biāo)距標(biāo)記的距離不小于D0/4，只要材料足夠仲裁試驗(yàn)時次距離為D0。試樣使用拉伸試驗(yàn)機(jī)加緊固定后拉伸，拉伸時的應(yīng)力速率應(yīng)滿足表5的要求。表5 拉伸應(yīng)力速率要求材料彈性模量E/MPa應(yīng)力速率R/（MPa·s-1）最小最大150000220150000660注： 銅材的彈性模量150000Mpa（3）式中：Lu試樣拉伸后長度，單位mm；L0試樣拉伸前長度，單位 mm。（4）式中：F試樣拉伸斷裂時承受的最大力，單位牛頓，N。注： 在取樣過程中導(dǎo)體不能受到任何外界的拉力，否

16、則會影響最終的測試數(shù)據(jù)；在試件上面上標(biāo)距的情況下，斷口應(yīng)在標(biāo)距之內(nèi)或應(yīng)在試驗(yàn)機(jī)夾頭鉗口之間，并且斷口應(yīng)距標(biāo)距線或夾頭鉗口不小于25mm。如果試件的伸長率小于規(guī)定值，而該試件的斷口又發(fā)生在離標(biāo)距線或夾頭鉗口25 mm之內(nèi)，那么該組數(shù)據(jù)可不計，需另取試件重做。d) 橢圓度以分度0.01 mm 的千分尺在內(nèi)導(dǎo)體圓周上的不同位置反復(fù)測量相互垂直的兩個外徑；當(dāng)兩個外徑值的差值最大時，記錄這兩個外徑值并按公式（5）計算橢圓度。（5）式中：D1在銅管橫截面上測得的較大外徑值，單位為毫米（mm）；D2在與D1 同一橫截面上測得的較小外徑值，單位為毫米（mm）。5.1.1.1.3 螺旋形皺紋銅管內(nèi)導(dǎo)體的試驗(yàn)方法

17、截取約15倍標(biāo)稱軋紋節(jié)距長的一段電纜并將其校直，以適當(dāng)?shù)姆椒ㄈコ娎|的護(hù)套、外導(dǎo)體、絕緣并避免損傷內(nèi)導(dǎo)體。制成試樣后，結(jié)構(gòu)尺寸的測量按下面方法進(jìn)行：波峰外徑以分度0.02 mm 的游標(biāo)卡尺在導(dǎo)體皺紋的波峰上沿圓周大約均勻分布的4個位置進(jìn)行測量，測量時應(yīng)用游標(biāo)卡尺對導(dǎo)體皺紋波峰外徑的最大點(diǎn)進(jìn)行測量，應(yīng)盡可能包含最大值和最小值，計算其平均值；皺紋節(jié)距以分度0.02 mm 的游標(biāo)卡尺測量至少5 個連續(xù)的節(jié)距長度，計算其平均值；螺旋形皺紋內(nèi)導(dǎo)體的波谷外徑用不易伸縮的適當(dāng)材料制成的細(xì)線（直徑不大于0.25 mm）；沿內(nèi)導(dǎo)體皺紋的波谷纏繞至少6 個皺紋節(jié)距，將細(xì)線適當(dāng)拉緊并在細(xì)線上以適當(dāng)方法做出兩點(diǎn)標(biāo)記。

18、此兩點(diǎn)標(biāo)記應(yīng)在一條電纜軸線的平行線與細(xì)線的交叉點(diǎn)做出；標(biāo)記點(diǎn)間應(yīng)包含至少5個皺紋節(jié)距。測量細(xì)線拉直后兩點(diǎn)標(biāo)記間的長度并按公式（6）計算波谷外徑。（6）式中：L標(biāo)記間的直線長度，單位為毫米（mm）；n標(biāo)記間的節(jié)距數(shù)；測試用細(xì)線直徑，單位為毫米（mm）；P實(shí)測皺紋節(jié)距平均值，單位為毫米（mm）。環(huán)形皺紋內(nèi)導(dǎo)體的波谷外徑以分度0.02 mm 的游標(biāo)卡尺在內(nèi)導(dǎo)體皺紋的波谷上沿圓周大約均勻分布的4 個位置進(jìn)行測量，測量時應(yīng)以游標(biāo)卡尺對內(nèi)導(dǎo)體皺紋波谷外徑的最小點(diǎn)進(jìn)行測量，應(yīng)盡可能包含最大值和最小值，計算其平均值；軋紋前管壁厚度參照4.1.1.1.2 中b的規(guī)定進(jìn)行測量。5.1.1.2 外導(dǎo)體截取約15倍標(biāo)

19、稱軋紋節(jié)距長的一段電纜并將其校直，以適當(dāng)?shù)姆椒ㄈコ娎|的護(hù)套并避免損傷外導(dǎo)體。制成試樣后，結(jié)構(gòu)尺寸的測量參照4.1.1.1.3的規(guī)定進(jìn)行。5.1.1.3 護(hù)套外觀護(hù)套外觀應(yīng)用正?；虺C正視力檢查。5.1.1.4 護(hù)套最小厚度護(hù)套的最小厚度按照如下規(guī)定進(jìn)行測量。a) 測量裝置讀數(shù)顯微鏡或放大倍數(shù)至少10倍的投影儀，兩種裝置讀數(shù)均應(yīng)至0.01mm。檔測量護(hù)套厚度小于0.5mm時，則小數(shù)點(diǎn)后第三位數(shù)為估讀數(shù)。b) 試樣制備去除護(hù)套內(nèi)外所有元件（若有的話），用一適當(dāng)?shù)墓ぞ撸ㄤh利的刀片）沿與導(dǎo)體軸線相垂直的平面竊取薄片。如果護(hù)套上有壓印標(biāo)記凹痕，則會使該處厚度變薄，則試樣應(yīng)該取含該標(biāo)記的一段。c) 測量步

20、驟將試樣件置于測量裝置工作面上，切割面與光軸垂直。試樣內(nèi)側(cè)為圓形時，應(yīng)按照圖1徑向測量6點(diǎn)。圖1圖2若試件內(nèi)原表面實(shí)質(zhì)上是不規(guī)整或不光滑的，則應(yīng)按照圖2在護(hù)套最薄處徑向測量6點(diǎn)。在任何情況下，第一次測量應(yīng)在護(hù)套最薄處進(jìn)行。如果護(hù)套試樣剝殼壓印標(biāo)記凹痕，則該處厚度不應(yīng)用來計算平均厚度。但在任何情況下，壓印標(biāo)記凹痕處的護(hù)套厚度應(yīng)符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中的護(hù)套最小值要求。讀數(shù)應(yīng)到小數(shù)點(diǎn)后兩位（以mm計）。d) 測量結(jié)果的評定測量結(jié)果按照相關(guān)電纜產(chǎn)品技術(shù)要求的規(guī)定進(jìn)行評定。進(jìn)行機(jī)械性能試驗(yàn)時，每個試件的厚度平均值應(yīng)按照該試件上測量的所有值計算。5.1.1.5 電纜最大外徑a) 電纜的外徑不超過25mm時，用測微

21、計、投影儀或類似的儀器在互相垂直的兩個方向上分別測量。例行試驗(yàn)允許用刻度千分尺或游標(biāo)卡尺測量，測量時應(yīng)減小接觸壓力；b) 電纜外徑超過25mm時，應(yīng)用測量帶測量器圓周長，然后計算直徑。也可使用能直接讀數(shù)的測量帶測量；c) 電纜應(yīng)使用測微計、投影儀或類似的儀器沿著橫截面的長軸或短軸進(jìn)行測量。除非有關(guān)電纜的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中另有規(guī)定；尺寸為25mm及以下者，讀數(shù)應(yīng)到小數(shù)點(diǎn)后兩位（以mm計），尺寸為25mm以上者，讀數(shù)應(yīng)到小數(shù)點(diǎn)后一位。測量結(jié)果應(yīng)按照相關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中的試驗(yàn)要求進(jìn)行評定。5.1.1.6 電纜參考重量采用計量稱進(jìn)行測量。5.1.2 電氣性能5.1.2.1 內(nèi)導(dǎo)體/外導(dǎo)體最大直流電阻5.1.2.

22、1.1 試驗(yàn)設(shè)備試驗(yàn)設(shè)備的測量不準(zhǔn)確度應(yīng)在被測值的0.5%以內(nèi)。使用橋式電路或帶有電壓表的電流源。依據(jù)電阻值的大小，可采用二端法或四端法測量。5.1.2.1.2 試樣制備剝開試樣兩端，外導(dǎo)體兩端的制備應(yīng)確保電流在外導(dǎo)體的所有構(gòu)件中流動。試樣應(yīng)在15-35的常溫下預(yù)置足夠長的時間，以使試樣溫度穩(wěn)定。5.1.2.1.3 程序當(dāng)使用帶有電壓表的電流源時，應(yīng)測量試樣兩端的電位差及電流。為了避免試驗(yàn)時產(chǎn)生顯的溫升，電流密度應(yīng)不超過1A/mm3,測量試樣長度，其誤差不超過1%。5.1.2.1.4 結(jié)果表示電阻實(shí)測值應(yīng)對長度進(jìn)行校正，并用/km表示。該值應(yīng)用下式換算成標(biāo)準(zhǔn)溫度(20 )時的值：R=Rml.1

23、+.t-20(/km)（7）式中：Rm電阻實(shí)測值，；l試樣長度，km；溫度系數(shù) ，K-1(對于銅，=3.93×10-3/K)；t測量時的溫度，。5.1.2.1.5 要求：導(dǎo)體電阻值應(yīng)符合有關(guān)電纜規(guī)范的規(guī)定。5.1.2.2 絕緣介電強(qiáng)度5.1.2.2.1 試驗(yàn)設(shè)備a) 交流或直流電源：交流電壓的頻率應(yīng)為40Hz-60Hz，其波形應(yīng)為正弦波；b) 千伏表(kV)。5.1.2.2.2 試樣制備試驗(yàn)應(yīng)在通過連續(xù)性試驗(yàn)的電纜成品上進(jìn)行。導(dǎo)體應(yīng)剝出足夠長，以防擊穿或局部放電。該處絕緣也應(yīng)作適當(dāng)?shù)那鍧嵦幚怼?.1.2.2.3 程序電纜內(nèi)、體之間或?qū)w之間的絕緣應(yīng)承受交流或直流電壓1min。電壓值應(yīng)

24、符合有關(guān)電纜規(guī)范的規(guī)定。試驗(yàn)電壓的升壓速度應(yīng)不超過2kV/s。5.1.2.2.4 要求介質(zhì)不應(yīng)有擊穿。5.1.2.3 最小絕緣電阻5.1.2.3.1 試驗(yàn)設(shè)備a) 直流電源，最大電壓500V；b) 兆歐表，量程大于或等于2x105M。5.1.2.3.2 試樣制備試驗(yàn)應(yīng)在經(jīng)過15-35的溫度預(yù)置并通過導(dǎo)體連續(xù)性檢驗(yàn)的電纜成品上進(jìn)行，試樣最短長度以100米為好，導(dǎo)體兩端應(yīng)剝?nèi)ソ^緣。5.1.2.3.3 程序?qū)τ谕S電纜，絕緣電阻應(yīng)在內(nèi)、外導(dǎo)體之間測量對于對稱電纜，絕緣電阻應(yīng)在線對的導(dǎo)體之間測量，如有屏蔽，則還應(yīng)在連接在一起的導(dǎo)體和屏蔽之間測量。如有關(guān)電纜規(guī)范未作規(guī)定，則試驗(yàn)電壓應(yīng)為80V-500V，

25、最短加壓時間為1分鐘。5.1.2.3.4 結(jié)果表示絕緣電阻應(yīng)用M.km表示。當(dāng)試驗(yàn)長度不為1km時，實(shí)測值應(yīng)作如下校正：R=Rm.l(M.km)（8）式中:Rm絕緣電阻實(shí)測值，M；l電纜長度，km。5.1.2.3.5 要求絕緣電阻的校正值應(yīng)符合有關(guān)電纜規(guī)范的規(guī)定。5.1.2.4 特性阻抗5.1.2.4.1 平均特性阻抗a) 定義Z是平均特性阻抗在高頻時的漸近值。它可從測量電氣長度和電容來獲得。Z=le,c×C=1/(f×C)（9）式中： le,試樣在200 MHz附近的電氣長度;c自由空間的傳播速度；C試樣的電容；f一大約在200M Hz頻率下試樣相位變化360°

26、所對應(yīng)的頻率變化。b) 試驗(yàn)設(shè)備準(zhǔn)確度等于或優(yōu)于千分之一的電容表或電容電橋，其頻率為800Hz-1000Hz。測量電氣長度的試驗(yàn)設(shè)備應(yīng)能適應(yīng)相位計法或諧振法的測量要求。如無其他規(guī)定，設(shè)備的頻率覆蓋范圍應(yīng)為30MHz-300MHz，能在各種情況下進(jìn)行試驗(yàn)，可以使用把所示試驗(yàn)電路各部分組合在一起的其他設(shè)備，如網(wǎng)絡(luò)分析儀。c) 程序試樣的電容應(yīng)如下方法進(jìn)行測量：將屏蔽與電容電橋的接地端相接，則電容應(yīng)用下式確定：電容=Ca+Cb2-Cc4（10）式中:Ca一導(dǎo)體b接屏蔽時，導(dǎo)體a與導(dǎo)體b之間的電容；Cb一導(dǎo)體a接屏蔽時，導(dǎo)體b與導(dǎo)體a之間的電容；Cc一導(dǎo)體a和導(dǎo)體b接在一起時，與屏蔽之間的電容。為避免

27、雜散電容的影響，可用同一電纜的兩個不同長度試樣測量值的差來確定電容。試樣的頻率變化應(yīng)按如下規(guī)定進(jìn)行測量：插人試樣，將信號發(fā)生器調(diào)諧到200M Hz附近的某一頻率(頻率f1)，此時，相位計應(yīng)正好指示出某一規(guī)定值。增加頻率，使相位改變nX360° (頻率f2)。對于單端連接的試樣，頻率差f從下式獲得：f=f2-f1n(MHz)（11）對于兩端連接的試樣，f則從下式得到：f=f2-f1n2(MHz)（12）d) 結(jié)果表示平均特性阻抗應(yīng)用下式確定：Z=1000f×C()（13）式中： f一單位為MHz；C單位為nF。要求平均特性阻抗實(shí)測值與標(biāo)稱值的偏差應(yīng)符合有關(guān)電纜規(guī)范的規(guī)定。5.

28、1.2.4.2 時域特性阻抗a) 定義試樣的特性阻抗由下式給定：Z=Z01+r1-r1-rs2() （14）式中: Z試樣的特性阻抗；Z0標(biāo)準(zhǔn)線的特性阻抗；r標(biāo)準(zhǔn)線末端與試樣之間臺階的反射系數(shù)；rs試驗(yàn)系統(tǒng)與標(biāo)準(zhǔn)線特性阻杭的差異(如存在的話)產(chǎn)生的反射系數(shù)。對于階躍函數(shù)，上升時間tr定義為階躍幅度的10%與90%之間的時間差。b) 試驗(yàn)設(shè)備試驗(yàn)設(shè)備通常按圖3配置。為確定試樣兩端的特性阻抗，應(yīng)優(yōu)選特性阻抗等于試樣的標(biāo)稱特性阻抗的標(biāo)準(zhǔn)線。時域反射計（TDR）；2標(biāo)準(zhǔn)線（自選件）；3試樣；4終端負(fù)載圖3 階躍函數(shù)試驗(yàn)設(shè)備配置圖c) 程序用于測量試樣的階躍函數(shù)，應(yīng)具有符合有關(guān)電纜規(guī)范規(guī)定的上升時間。測

29、量階躍反射系數(shù)，用式(14)計算特性阻抗。d) 要求時域特性阻抗應(yīng)符合有關(guān)電纜規(guī)范的規(guī)定。5.1.2.5 最大衰減常數(shù)5.1.2.5.1 原理本試驗(yàn)旨在測定射頻同軸電纜在優(yōu)選頻率大于或等于10M Hz時的衰減常數(shù)。如果試樣的復(fù)數(shù)特性阻抗Z1的幅值近似等于其標(biāo)稱值Z2，則也可在較低頻率下測定。5.1.2.5.2 定義衰減常數(shù)定義為：a=10lg(P1P2)×(100l)(dB/100m)（15）式中: P1當(dāng)負(fù)載阻抗及信號源的阻抗等于試樣的標(biāo)稱特性阻抗時，信號源的輸出功率;P2當(dāng)試樣插入試驗(yàn)系統(tǒng)時測得的輸出功率; l試樣的物理長度m。如果在很低的頻率下，Z和Z的偏差不能忽略，則試樣的長

30、度應(yīng)如下選取:a×l/1008.7×r2r=(Z-Z)/(Z+Z)3（16）式中:a標(biāo)稱衰減常數(shù)，dB/100 m；l試樣的物理長度，m。5.1.2.5.3 試樣制備試樣長度應(yīng)使測量誤差不超過試樣衰減的2%。試樣長度的測量誤差應(yīng)不超過1%。因此，衰減的總誤差應(yīng)不超過3%。如果采用諧振法，試樣的速比為已知，且其誤差不超過標(biāo)稱值的1%，試樣長度可由相鄰諧振頻率之差f來確定。除了諧振法的試驗(yàn)電路A之外，試樣的每一端都應(yīng)安裝連接器。連接器應(yīng)與試驗(yàn)設(shè)備的端口直接相匹配，否則應(yīng)采用試驗(yàn)轉(zhuǎn)接器。在很高頻率下，應(yīng)考慮這些轉(zhuǎn)接器的插人損耗。5.1.2.5.4 試驗(yàn)方法試樣既可以在匹配條件下測

31、量，也可以用諧振電路測量，這取決于其衰減值。當(dāng)在諧振電路法中試樣的特性阻抗顯得不重要時，如果它與其他程序中試驗(yàn)設(shè)備的阻抗不相同，則應(yīng)采用匹配變壓器。諧振法優(yōu)選適用于具有任何特性阻抗的低損耗短段試樣。a) 衰減器替代法(插人損耗<3 dB)試樣的衰減用步進(jìn)衰減器替代，其剩余值指示于測試接收機(jī)的度盤上。1) 配置圖試驗(yàn)設(shè)備通常按圖4和圖5所示兩種配置圖之一來進(jìn)行配置。電路A：1-信號發(fā)生器；2衰減器，6dB；3同軸開關(guān)，隔離度20dB；4衰減裝置，0dB50dB，1dB一檔；5試樣；6插入單元；7指示器，分辨率0.1dB；8終端負(fù)載圖4 替代法電路A配置圖電路B：1信號發(fā)生器；2衰減器，6d

32、B； 4衰減裝置，0dB50dB；5試樣；6插入單元；7指示器，分辨率0.1dB；8終端負(fù)載a,b試驗(yàn)端口圖5 替代法電路B配置圖2) 程序?qū)τ谠囼?yàn)電路A，在試驗(yàn)頻率下將試樣接人試驗(yàn)電路，調(diào)整信號發(fā)生器電平，使其指示比滿刻度偏轉(zhuǎn)低1 dB(讀數(shù)a1，dB)。然后將衰減裝置接人試驗(yàn)電路并進(jìn)行調(diào)整，使偏轉(zhuǎn)讀數(shù)(a2,dB)與原始讀數(shù)的偏差為最小，此時衰減裝置的調(diào)定值aa。對于試驗(yàn)電路B，試驗(yàn)程序與試驗(yàn)電路A時相同，但衰減裝置調(diào)為零。然后移去試樣，將試驗(yàn)端口。和b連接在一起。再按試驗(yàn)電路A那樣調(diào)整衰減裝置。3) 結(jié)果表示衰減常數(shù)應(yīng)按下式確定：a=as+(a2-a1)l1+0.002(t-20)

33、15;100(dB/100m)(20)（17）式中: as 衰減器調(diào)定值，dB；a1 接收機(jī)首次讀數(shù)，dB；a2接收機(jī)最后讀數(shù)，dB；l 試樣長度，m；t 試樣溫度，。b) 輸人、輸出電壓(或功率)比較法(插人損耗3 dB)衰減常數(shù)由輸人、輸出電壓(或功率)之比來確定。兩者可用一只測量接收機(jī)分別測量，也可用網(wǎng)絡(luò)分析儀或雙通道功率計同時測量。1) 配置圖試驗(yàn)設(shè)備通常應(yīng)按圖6或圖7所示兩個配置圖之一來進(jìn)行配置。1-信號發(fā)生器； 5試樣； 8終端負(fù)載；9網(wǎng)絡(luò)分析儀；a,b試驗(yàn)端口圖6 比較法A的試驗(yàn)配置圖1 信號發(fā)生器；2衰減器，6dB； 5試樣；6插入單元；7測量接收機(jī)；8終端負(fù)載；a,b試驗(yàn)端口

34、圖7 比較法B的試驗(yàn)配置圖2) 程序?qū)τ谠囼?yàn)電路A，先將試驗(yàn)端口連接在一起，在試驗(yàn)頻率下校準(zhǔn)試驗(yàn)電路。然后將試樣插人電路，記下輸人與輸出電壓(或功率)之比值(讀數(shù)a,dB)。對于試驗(yàn)電路B，先將試驗(yàn)端口連接在一起，在試驗(yàn)頻率下校準(zhǔn)試驗(yàn)電路(讀數(shù)a1,dB)。然后插人電纜試樣，進(jìn)行第二次測量(讀數(shù)a2，dB)。3) 結(jié)果表示衰減常數(shù)由下式確定：電路A：a=a×100l1+0.002t-20(dB/100m)(20)（18）電路B：a=a1-a2×100l1+0.002t-20(dB/100m)(20) （19）式中：a試驗(yàn)電路A的讀數(shù)，dB；a1試驗(yàn)電路B不接試樣時的讀數(shù)，d

35、B；a2試驗(yàn)電路B接試樣時的讀數(shù)，dB；l試樣長度，m；t試樣溫度，。c) 諧振法(插人損耗<3 dB)電纜被用作線路諧振器，衰減常數(shù)由諧振曲線的帶寬來確定。1) 配置圖試驗(yàn)設(shè)備通常應(yīng)按圖8和圖9所示的兩種配置圖之一來進(jìn)行配置。合信號信號發(fā)生器或附帶頻率計的穩(wěn)定信號信號發(fā)生器，10dBm；2衰減器，10dB；5試樣；7測量接受機(jī)，靈敏度10V；10可變?nèi)菪择詈掀鳎刹捎脦в蟹蛛x的可移動內(nèi)導(dǎo)體的短段同軸線）；a,b試驗(yàn)端口圖8 諧振法A 試驗(yàn)配置圖1綜合信號信號發(fā)生器或附帶頻率計的穩(wěn)定信號信號發(fā)生器，10MHz1000MHz，10dBm；2衰減器，10dB；5試樣；7測量接受機(jī)，靈敏度10

36、V；10可變?nèi)菪择詈掀鳎刹捎脦в蟹蛛x的可移動內(nèi)導(dǎo)體的短段同軸線）；圖9 諧振法B 試驗(yàn)配置圖2) 程序在試驗(yàn)電路A 中：對試樣終端開路，當(dāng)fn=150×vr×nl (MHz) （20）對試樣終端短路，當(dāng)fn=150×vr×(n-0.5)l (MHz) （21）時，試樣輸人端電壓為最大。式中：fn試驗(yàn)頻率；V1試樣的標(biāo)稱速比；l試樣長度，m；n整數(shù)。信號發(fā)生器的頻率應(yīng)調(diào)諧到諧振頻率fn。信號發(fā)生器的頻率和輸出電壓應(yīng)同時調(diào)節(jié)，以使接收機(jī)偏轉(zhuǎn)至滿刻度。為了防止試樣的阻尼作用，應(yīng)調(diào)節(jié)容性藕合器，使?jié)M足下式（即小于66dB）：UR<5×10-4&

37、#215;UG（22）式中:UR接收機(jī)的滿刻度范圍；UG信號發(fā)生器輸出。然后，將頻率調(diào)整至諧振頻率兩旁最大偏轉(zhuǎn)下降3dB的頻率點(diǎn)上，該兩頻率之差即為帶寬f。上述測量應(yīng)在規(guī)定頻段的其他諧振頻率上重復(fù)進(jìn)行。試驗(yàn)電路B可以防止對接收機(jī)的直接藕合。在接近1000MHz的頻率上也應(yīng)使用此電路，因?yàn)樵诖祟l率時，難以保持a-b的距離總比波長短。3) 結(jié)果表示衰減常數(shù)應(yīng)由諧振曲線的帶寬of以及相鄰諧振頻率之差f來確定。f=(fn,2-fn,1)/(n2-n1) （23）式中:n1諧振頻率fn,1的諧振序數(shù)；n2諧振頻率fn,2的諧振序數(shù)。a=8.686f2f1+0.002(t-20)100l(dB/100m)

38、(20) （24）式中:l試樣長度，m。t試樣溫度，。當(dāng)速比為已知時，l可用下式代替：l=150×vrf(m) （25）式中:f 單位為MHz。如果 b =×f/2×f>0.07 (電路A)或b =×f/2×f>0.10(電路B)，則使用上式引人的誤差會超過試樣總衰減的0.4%。此時，應(yīng)使用更精確的公式。電路A：a=434.3l1+0.002(t-20)×ln1+tanhx1-tanhx(dB/100m)(20) （26）式中：tanhx=tanb/0.25+2tan4b0.5+0.50.5。電路B：a=868.6l

39、15;1+0.002(t-20)×ln(1+sinb+sin2b)（27）4) 要求衰減常數(shù)應(yīng)符合有關(guān)電纜規(guī)范的規(guī)定。5.1.2.6 最大電壓駐波比5.1.2.6.1 定義任一頻率下的輸人阻抗是局部特性阻抗變化的函數(shù)，如變化是周期性的，則輸人阻抗也是變化間隔的函數(shù)。在高頻時輸人阻抗可以與試樣的平均特性阻抗有很大的差異，回波損耗是上述差異在頻域內(nèi)的度量?；夭〒p耗定義為：a=20lg(ui/ur)(dB)（28）式中:ui對應(yīng)于阻抗Zn的入射波的幅值；ur試樣端接阻抗為Zn的負(fù)載時反射波的幅值；Zn有關(guān)電纜規(guī)范中規(guī)定的標(biāo)稱特性阻抗?；夭〒p耗與反射系數(shù)r的關(guān)系為：r=ur/ui=10-(a

40、/20)（29）它與駐波比s有間接關(guān)系：s=(1+r)/(1-r)（30）試驗(yàn)設(shè)備通常按圖10所示來配置。1信號發(fā)生器，10dBm；2頻率計，分辨率1kHz；3可變衰減器0dB50dB步進(jìn)；4衰減器，6dB；5電橋/反射計，定向度36dB；6試驗(yàn)轉(zhuǎn)換器，固有回波損耗40dB；7試驗(yàn)連接器，固有回波損耗40dB；8試樣；9終端負(fù)載，固有回波損耗40dB；10信號處理單元；11指示器準(zhǔn)確度0.1dB注1： 為了把誤差減至最小，反射計或電橋的標(biāo)稱特性阻抗應(yīng)與試樣相同，推薦將具有足夠衰減量(如6dB)的緩沖衰減器直接接至電橋輸入和輸出端口，以使測試端口開路及短路測試引起的掃描圖形控制在1dB之內(nèi)。注2

41、： 如有關(guān)電纜規(guī)范未作規(guī)定，則由電橋或反射計的定向度以及其他元件的固有損耗引起的誤差應(yīng)小于相當(dāng)于最小允許回波損耗的反射的1/4，但不小于0.01。圖10 回波損耗測量的試驗(yàn)配置圖5.1.2.6.2 試樣制備除非另有規(guī)定，試樣的長度應(yīng)使最低試驗(yàn)頻率時的插人損耗至少為6dB。如達(dá)不到此要求，則最小長度應(yīng)不小于100m,試樣兩端應(yīng)安裝固有反射較小的連接器，使試樣能直接與電橋或反射計以及終端負(fù)載相連接。5.1.2.6.3 試驗(yàn)設(shè)備的校準(zhǔn)a) 用全反射來校準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)時，應(yīng)將電橋或反射計的試驗(yàn)端口先開路，再短路。此時，反射信號相當(dāng)于反射系數(shù)為100%或回波損耗為0dB。如果試驗(yàn)端口開路及短路得到的信號電平

42、有差異，則取兩者的平均值作為基準(zhǔn)電平。為了得到與各個小反射系數(shù)或大回波損耗相對應(yīng)的信號電平，應(yīng)在規(guī)定的頻率范圍內(nèi)建立并記錄頻率校準(zhǔn)曲線?？捎每勺兯p器或帶有步進(jìn)衰減器的信號處理單元來獲得不同的信號電平。b) 用標(biāo)準(zhǔn)失配器來校準(zhǔn)本校準(zhǔn)可用標(biāo)準(zhǔn)失配器來進(jìn)行，失配器的反射系數(shù)或回波損耗為已知，且在規(guī)定的頻率范圍內(nèi)具有幾乎平直的響應(yīng)特性。校準(zhǔn)時，為了使電橋或反射計的固有誤差的影響減至最小，標(biāo)準(zhǔn)失配器的反射系數(shù)至少應(yīng)為此誤差的5倍。應(yīng)按上述所述作出校準(zhǔn)曲線。5.1.2.6.4 測量準(zhǔn)確度回波損耗的實(shí)測值將具有下述反射系數(shù)引起的測量誤差：r=rA+rBe-2lrm/k（31）式中: rA=rd+rc+ra

43、；rB = rc + ra + rl ；rd對應(yīng)于電橋/反射計定向度的反射系數(shù)；rc連接器的反射系數(shù)；ra試驗(yàn)轉(zhuǎn)接器的反射系數(shù)；rl負(fù)載的反射系數(shù)；rA電纜輸入端的總反射系數(shù)；rB電纜輸出端人射波的總反射系數(shù)；試樣的傳輸常數(shù)；rm試樣的最大允許反射系數(shù)；l試樣的物理長度；k除非有關(guān)電纜規(guī)范另有規(guī)定，k=4。誤差r 只能根據(jù)試驗(yàn)來確定。為此，試樣用一短段同一類型的電纜來代替，短段電纜的特性阻抗盡可能接近其標(biāo)稱值。電纜的反射系數(shù)應(yīng)在盡可能寬的頻帶內(nèi)測量，其物理長度應(yīng)滿足下述條件：l=(2或3)×150×vr/(f2-f1) （32）式中: l試樣的物理長度，m；f1，f2頻率，

44、MHz。該電纜首先用匹配負(fù)載進(jìn)行測量，得到如圖11所示那樣的反射系數(shù)曲線。然后用失配器來代替匹配負(fù)載重復(fù)進(jìn)行測量，得到圖12所示的結(jié)果。失配器的失配量大于rA的設(shè)定值。圖11 反射系數(shù)曲線示意1圖12 反射系數(shù)曲線示意2rA和rB的模如下：rA=(r3-r4)/2和rB=(rl-rA) （33）因此，固有誤差反射引起的測量誤差近似為：r=±(rA+rB×10-a/10) （34）式中:a試樣的插人損耗，dB。5.1.2.6.5 程序在用模擬信號進(jìn)行處理和記錄時，掃頻速度應(yīng)與處理單元顯示和記錄的瞬態(tài)響應(yīng)相適應(yīng)。降低掃頻速度，直至峰值的大小不再變動為止。除非使用現(xiàn)代網(wǎng)絡(luò)分析儀來

45、進(jìn)行數(shù)字信號處理和/或記錄，否則，應(yīng)滿足下列條件:n3(f2-f1)l150vr（35）式中：n在回波損耗曲線頻帶(f2f1)中的取樣點(diǎn)數(shù)；f1頻帶的最低頻率，MHz；f2頻帶的最高頻率，MHz；l試樣的物理長度，m；vr試樣標(biāo)稱速比。當(dāng)使用現(xiàn)代網(wǎng)絡(luò)分析儀時，測量結(jié)果與所用的專用設(shè)備的型號和調(diào)整有很大關(guān)系。所以當(dāng)使用此類設(shè)備時，必須全面規(guī)定有關(guān)的測量參數(shù)，以防對測量結(jié)果產(chǎn)生誤解和偏差。5.1.2.6.6 要求除非另有規(guī)定，所測得的回波損耗最小值應(yīng)符合有關(guān)電纜規(guī)范的規(guī)定。為確定試樣兩端的特性阻抗，應(yīng)優(yōu)選與試樣的標(biāo)稱特性阻抗相同的標(biāo)準(zhǔn)線。5.1.3 機(jī)械物理性能5.1.3.1 重復(fù)彎曲進(jìn)行重復(fù)彎曲

46、試驗(yàn)的電纜試樣長度應(yīng)足以繞規(guī)定直徑的芯軸3整圈。彎曲試驗(yàn)用芯軸直徑應(yīng)符合表6的規(guī)定。將電纜試樣的一端固定在芯軸圓周上，將電纜試樣繞芯軸纏繞不小于一整圈，解開電纜并將其自由端拉直，共重復(fù)15次。在卷繞和解繞過程中，電纜試樣的彎曲部分應(yīng)始終貼在芯軸的表面上。表6 彎曲試驗(yàn)用圓柱體直徑（單位mm）電纜規(guī)格代號5678912172122233242圓柱體直徑501601002001102504002605005507601000完成試驗(yàn)后，用正?；虺C正視力檢查試樣的金屬部件是否有裂紋。試驗(yàn)前后應(yīng)測試試樣的電壓駐波比，要求如下：a) 試驗(yàn)前的電壓駐波比測試在試驗(yàn)前，按5.1.2.6規(guī)定的方法測試其在Q/

47、ZTT 3007-2016無源分布系統(tǒng)射頻電纜技術(shù)要求（V2.0）中4.1.6.2規(guī)定的所有工作頻段內(nèi)的電壓駐波比，測試結(jié)果應(yīng)符合表以上規(guī)定的在至少2 個工作頻段內(nèi)符合相對應(yīng)的要求。記錄所有電壓駐波比符合要求的工作頻段；b) 試驗(yàn)后的電壓駐波比測試在試驗(yàn)結(jié)束后，按5.1.2.6規(guī)定的方法測試電纜試樣在進(jìn)行(1)條規(guī)定的測試后記錄的工作頻段內(nèi)的電壓駐波比。5.1.3.2 最小彎曲半徑最小彎曲半徑性能測試參照本文5.1.3.1中的要求進(jìn)行。5.1.3.3 抗壓強(qiáng)度電纜試樣應(yīng)放置在試驗(yàn)裝置的基板上，以防止橫向移動。用平行于基板的可移動鋼板或圓柱形鋼軸壓住試樣。試驗(yàn)裝置示意圖見圖13。應(yīng)逐漸加載，避免

48、任何突然變化。如采用逐級加載法，則其增加率應(yīng)不超過1.5：1。圖13 抗壓強(qiáng)度試驗(yàn)裝置應(yīng)采用可移動鋼板進(jìn)行試驗(yàn)；可移動板應(yīng)在100mm長度的試樣上均勻地增加壓力?？梢苿愉摪宓倪吘壍菇前霃讲粦?yīng)小于2 mm；對于各種規(guī)格電纜抗壓強(qiáng)度應(yīng)符合表7 的規(guī)定；試驗(yàn)時，負(fù)載加載持續(xù)時間應(yīng)為20 min；在試驗(yàn)前和試驗(yàn)結(jié)束后，應(yīng)分別按5.1.3.1 中的a)和b)條規(guī)定測試電纜試樣的電壓駐波比。表7 抗壓性試驗(yàn)抗壓強(qiáng)度要求(單位為牛頓/毫米)電纜規(guī)格代號5678912172122233242抗壓強(qiáng)度1814182019201314141424205.1.3.4 導(dǎo)體最小抗拉強(qiáng)度、導(dǎo)體最小斷裂延伸參照本文5.1

49、.1.1.2中c)條的規(guī)定測試。5.1.3.5 護(hù)套抗張強(qiáng)度、護(hù)套斷裂伸長率5.1.3.5.1 試驗(yàn)設(shè)備拉力試驗(yàn)機(jī)、指針式測厚儀（精度0.01mm）、千分尺（分度值0.02mm）、鋼直尺（分度值0.5mm）、啞鈴試片刀具（1號-圖14，2號圖15各一個）、電熱老化箱或烘箱。5.1.3.5.2 試樣制備a) 從成品電纜護(hù)套上切取足夠長的樣段，供制作5個試樣。如果還要進(jìn)行老化試驗(yàn)，則需另外制作5個同樣的試樣；圖14 1號啞鈴試片圖15 2號啞鈴試片b) 將護(hù)套內(nèi)外可能有的附著物全部去除，沿軸線剝開試樣。削平護(hù)套內(nèi)部可能有的凸脊，使標(biāo)志線之間具有平行表面。削平后的試樣厚度應(yīng)不小于0.6mm，也不大于

50、2.0mm。若護(hù)套試樣的原始厚度較大，但其兩個表面都比較平整時，試樣厚度可不必減少至2.0mm；c) 用1號啞鈴刀從加工好的試樣上沖取啞鈴狀試片。最好能在式樣上并排沖出兩個。試片厚度等于試樣厚度。如果試樣太小不能沖取1號啞鈴狀試片時，可沖取2號啞鈴狀試片；d) 在啞鈴試片狹帶部分的中部標(biāo)出兩條平行的標(biāo)記線，見圖14和圖15。5.1.3.5.3 試驗(yàn)條件表8 護(hù)套抗張強(qiáng)度和護(hù)套斷裂伸長率試驗(yàn)條件試驗(yàn)溫度拉伸速度mm/min夾具見得距離mm23±525±5常規(guī)試驗(yàn)時允許取250±501號啞鈴片 約502號啞鈴片 約345.1.3.5.4 試驗(yàn)步驟拉力試驗(yàn)前的試片應(yīng)在2

51、3±5下至少保存3小時，且應(yīng)避免陽光的直接照射。試驗(yàn)時，將試片對稱并垂直地夾在拉力試驗(yàn)機(jī)上下夾具上，按照試驗(yàn)條件的規(guī)定進(jìn)行試驗(yàn)。記錄試片斷裂時的負(fù)荷及兩標(biāo)記線間的距離。抗張強(qiáng)度和斷裂伸長率應(yīng)在同一試樣上同時進(jìn)行測定。在夾頭處拉斷的任何試樣的實(shí)驗(yàn)結(jié)果應(yīng)作廢，在這種情況下計算抗張強(qiáng)度和斷裂伸長率至少需要4個有效試驗(yàn)數(shù)據(jù)，否則試驗(yàn)應(yīng)重做。在標(biāo)記線外斷裂的試樣可重做。每個啞鈴試片的截面積應(yīng)按照標(biāo)記線之間試片的寬度和在3點(diǎn)上測量的試片最小厚度之積計算。對試片寬度的均勻性有疑問時，則在3點(diǎn)上測量厚度的同時測量與每個測量點(diǎn)對應(yīng)的厚度。由每處測量的寬度和厚度計算出3個截面積，取其中的最小值來計算抗張

52、強(qiáng)度。5.1.3.5.5 試驗(yàn)結(jié)果及計算a) 抗張強(qiáng)度及斷裂伸長率按照下式計算：（36）（37）式中：試樣抗?jié)q強(qiáng)度。MPa；P試樣斷裂時的負(fù)荷，N；S試樣截面積，mm2；試樣的斷裂伸長率，%；L0試樣拉伸前兩標(biāo)記線間的距離，mm；Lu試樣斷裂時兩標(biāo)記線間的距離，mm。b) 抗張強(qiáng)度和斷裂伸長率的實(shí)驗(yàn)結(jié)果取各該項實(shí)驗(yàn)結(jié)果的中間值。以上所述的實(shí)驗(yàn)方法同樣適用于老化后的護(hù)套試樣，須經(jīng)受老化的一組試樣與不須經(jīng)受老化的一組試樣應(yīng)盡可能相同，它們的拉伸試驗(yàn)應(yīng)接連進(jìn)行。5.1.3.6 絕緣附著力5.1.3.6.1 試樣制備從電纜成品上截取至少300mm長的二根試樣，除非相應(yīng)電纜規(guī)范另有規(guī)定，每根電纜試樣應(yīng)按圖16、17或18來制備。圖16 柔軟電纜剝頭圖17 半硬電纜剝頭圖18 護(hù)套剝頭5.1.3.6.2 程序?qū)⒃嚇友b人拉力機(jī)，試驗(yàn)夾具如圖19或20所示。試驗(yàn)板上小孔的直徑應(yīng)比內(nèi)導(dǎo)體直徑、介質(zhì)外徑、或外導(dǎo)體直徑大0.10±0.03 mm。將內(nèi)導(dǎo)體、介質(zhì)芯子或外導(dǎo)體穿過試驗(yàn)板上的小孔