觸發(fā)器及其應(yīng)用

1、實驗2.6 觸發(fā)器預(yù)習(xí)要求實驗?zāi)康?實驗器件 實驗原理 實驗內(nèi)容實驗報告思考題1預(yù)習(xí)要求1復(fù)習(xí)有關(guān)觸發(fā)器部分內(nèi)容。2觸發(fā)器和觸發(fā)器在實現(xiàn)正常邏輯功能時、應(yīng)處于什么狀態(tài)？2實驗?zāi)康?掌握基本RS觸發(fā)器、JK觸發(fā)器、D觸發(fā)器和T觸發(fā)器的邏輯功能。2熟悉各類觸發(fā)器之間邏輯功能的相互轉(zhuǎn)換方法。3實驗器件 EEL-08組件或數(shù)字電路實驗箱示波器雙JK觸發(fā)器74LS112雙D觸發(fā)器74LS742輸入四與非門74LS00。4實驗原理 觸發(fā)器是基本的邏輯單元，它具有兩個穩(wěn)態(tài)狀態(tài)，在一定的外加信號作用下可以由一種穩(wěn)定狀態(tài)變?yōu)榱硪环€(wěn)定態(tài)；無外加信號作用時，將維持原狀態(tài)不變。因為觸發(fā)器是一種具有記憶功能的二進制存貯

2、單元，所以是構(gòu)成各種時序電路的基本邏輯單元。5R-S觸發(fā)器及真值表SD=0同時RD=1時, Q=1。故SD稱為置位端,或稱為置1端RDSDQQSDQQRD 0 1 0 1(復(fù)位) 1 0 1 0(置位)1 1 保持原狀0 0 不確定特性方程：6JK觸發(fā)器（ 74LS112、74LS76）表2.5.4 JK觸發(fā)器的邏輯功能Qn+1=J + Qn7D觸發(fā)器（ 74LS74 ）Qn+1=D8各種觸發(fā)器比較表9實驗內(nèi)容測試基本觸發(fā)器的邏輯功能 測試雙觸發(fā)器74112邏輯功能 測試雙觸發(fā)器7474的邏輯功能 101、驗證基本觸發(fā)器的邏輯功能 按下圖用與非門74LS00構(gòu)成基本觸發(fā)器。輸入端RD、 SD接

3、邏輯開關(guān)，輸出端Q、 接電平指示器，按右表要求測試邏輯功能，記錄之。SDQQRD01 01 1 0 1 0 0 1 0 1RDSDQQQ112、驗證雙JK觸發(fā)器74LS112邏輯功能 測試RD、SD的復(fù)位、置位功能Q 任取一只JK觸發(fā)器，RD、SD、J、K端接邏輯開關(guān)，CP端接單次脈沖源，Q、Q端接電平指示器，按上表要求改變RD、SD（J、K、CP處于任意狀態(tài)），并在RD=0（SD=1）或SD=0（RD=1）作用期間任意改變J、K及CP的狀態(tài)，觀察Q、Q狀態(tài)，記錄之。、將JK觸發(fā)器的J、K端連在一起，構(gòu)成T觸發(fā)器 CP端輸入1Hz連續(xù)脈沖，用電平指示器觀察Q端變化情況。CP端輸入1kHz連續(xù)脈

4、沖，用雙蹤示波器觀察CP、Q、 的波形，注意相位和時間關(guān)系，描繪之。12測試JK觸發(fā)器的邏輯功能 按右表要求改變J、K、CP端狀態(tài)，觀察Q、Q狀態(tài)變化，觀察觸發(fā)器狀態(tài)更新是否發(fā)生在CP脈沖的下降沿（即CP由1 0），記錄之。Qn+1Qn=1Qn=0CPKJ000011111 00 11 00 11 00 11 00 1133、驗證雙觸發(fā)器的邏輯功能 測試RD、SD的復(fù)位、置位功能測試方法同實驗內(nèi)容2 測試D觸發(fā)器的邏輯功能 按右表要求進行測試，并觀察觸發(fā)器狀態(tài)更新是否發(fā)生在CP脈沖的上升沿（即由0 1），記錄之。 Qn+1Qn=1Qn=0CPD011 00 11 00 114 將D觸發(fā)器的Q端

5、與D端相連接，構(gòu)成T觸發(fā)器，測試邏輯功能。測試方法同實驗內(nèi)容2，記錄之。 用JK觸發(fā)器將時鐘脈沖轉(zhuǎn)換成兩相時鐘脈沖，實驗電路如下圖。輸入端CP接1Hz脈沖源，輸出端QA、QB接示波器，觀察CP、QA、QB波形，描繪之。 JKQQCPCPQAQB15實驗用芯片2輸入四與非門74LS00，片腳圖見以前實驗雙D觸發(fā)器74LS74，片腳圖如右：雙JK觸發(fā)器74LS112，片腳圖如右：16實驗報告1列表整理各類型觸發(fā)器的邏輯功能。2總結(jié)JK觸發(fā)器74LS112和D觸發(fā)器74LS74的特點。3畫出JK觸發(fā)器作為T觸發(fā)器時，它的CP、Q、Q端的波形圖。討論它們之間的相位和時間關(guān)系。4總結(jié)圖2.6-6電路的功能。17思考題1觸發(fā)器的時鐘脈沖輸入為