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文檔簡(jiǎn)介
1、第單元:基本統(tǒng)計(jì)概念第一單元:統(tǒng)計(jì)製程管制(SPC)之基本概念第二單元:管制圖的介紹及其應(yīng)用第三單元:常用管制圖之繪製09/2002, Rev D統(tǒng)計(jì)製程管制(Statistical Process Control)主講: APLUS電子 SPC 輔導(dǎo)團(tuán)1本課程的目的使學(xué)員: 能運(yùn)用SPC 於日常工作之中以進(jìn)行製程管控,達(dá)到 有異常立即反應(yīng)並做適當(dāng)處理的目的. 能了解並說(shuō)出統(tǒng)計(jì)製程管制之 A.基本概念, B.應(yīng)用, C.繪製, D.判圖SPC計(jì)算與2第單元:基本統(tǒng)計(jì)概念甚麼是統(tǒng)計(jì)學(xué) (Statistics)? 統(tǒng)計(jì)學(xué):統(tǒng)計(jì)學(xué)為蒐集、整理、展示、分析、解釋資料, 並由樣本推論群體,是在不確定情況
2、下作成決策的科學(xué)方法。 群體(Population):由具有共同特性之個(gè)體所組成的整體。 樣本(Sample):群體之一部分。 參數(shù)(Parameter):由群體資料所計(jì)算出之群體表徵值。 例:欣興電子全體員工平均身高、體重。 統(tǒng)計(jì)量(Statistic):由樣本資料所計(jì)算出之樣本表徵值。 例:山鶯廠微影站人員的平均身高、體重。 3例:某 PCB 製造公司欲由100片隨機(jī)抽出之電路板來(lái)估計(jì)工廠所生產(chǎn)之電路板的厚度。請(qǐng)指出所欲研究之群體、樣本、參數(shù)及統(tǒng)計(jì)量。 群體: 樣本: 參數(shù): 統(tǒng)計(jì)量:工廠所生產(chǎn)之全部電路板100片隨機(jī)抽出之電路板全部電路板之平均厚度100片電路板之平均厚度4 數(shù)據(jù)種類:
3、依搜集方式的不同可分為下列兩大類:連續(xù)型數(shù)據(jù)(Continuous/Variable data):經(jīng)由的方式取得資料,又稱計(jì)量型數(shù)據(jù)。例:1.重量 2.溫度 3.厚度 離散型數(shù)據(jù)(Discrete/Attribute data):經(jīng)由的方式取得資料,又稱計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)。例:1.不合格產(chǎn)品數(shù) 2.缺陷數(shù)目 3.公司員工人數(shù)量測(cè)計(jì)數(shù)例:決定下列各問(wèn)題之資料屬於離散型或連續(xù)型數(shù)據(jù)。A.欣興電子公司之停車(chē)位數(shù)B.電路板內(nèi)層蝕刻後之線寬C.一片電路板子上的外觀缺點(diǎn)數(shù)5 數(shù)據(jù)的顯示: 直方圖(Histogram)直方圖是一種將一群量測(cè)數(shù)據(jù)區(qū)分成幾個(gè)相等的區(qū)間,並將各區(qū)間內(nèi)數(shù)據(jù)所出現(xiàn)的次數(shù)(Frequency)
4、,用條形表示出來(lái)的圖形。功用:用以了解一群數(shù)據(jù)之分佈狀況,並了解數(shù)據(jù)之中心值與變異之情形。例:右圖為某電鍍製程後 所量測(cè)50片電路板的 銅厚直方圖與分佈.6 常態(tài)分佈的曲線成“鐘型曲線”, 且具備下列特性: 68.3% 的數(shù)據(jù)在 範(fàn)圍內(nèi) (: 平均值,: 標(biāo)準(zhǔn)差) 95.5% 的數(shù)據(jù)在 2 範(fàn)圍內(nèi) 99.73% 的數(shù)據(jù)在 3 範(fàn)圍內(nèi)2s 2s Mean3s3s1s 1s 68.3% 95.5% 99.7% 常態(tài)分佈 (Normal Distribution ) 一般常見(jiàn)的連續(xù)性數(shù)據(jù),其平均值的分佈大多成常態(tài)分佈、 或高斯分佈 (Gaussian distribution). 7 中位數(shù):將一組
5、數(shù)據(jù)由小至大排序後,最中間的那一個(gè)數(shù)值稱為中位數(shù) (偶數(shù)個(gè)數(shù)據(jù),則取中間兩個(gè)數(shù)據(jù)的平均值)。 樣本平均數(shù): 公式 X =(X1+X2+.+Xn)/n ; 其中n 表樣本大小原始數(shù)據(jù)特徵值之計(jì)算原始數(shù)據(jù)特徵主要可分為以下兩大類:1.集中趨勢(shì):集中趨勢(shì)指標(biāo)是表示一組數(shù)據(jù)中央點(diǎn)位置所在的一個(gè) 指標(biāo)。1.集中趨勢(shì) , 2. 離中趨勢(shì) 最常用的集中趨勢(shì)指標(biāo):平均數(shù)(mean)、中位數(shù)(median)、眾數(shù)(mode)。 眾數(shù):在一組數(shù)據(jù)中,出現(xiàn)次數(shù)最多之?dāng)?shù)值。(註: 常態(tài)分佈的平均數(shù)、中位數(shù)、眾數(shù) 皆趨向同一數(shù)值。)8 平均數(shù)對(duì)離群值(outliers)非常敏感,而中位數(shù)或眾數(shù)對(duì)離離群值較不敏 感,因此
6、,當(dāng)資料中有離群值時(shí),則用 或眾數(shù),否則, 則用 。中位數(shù)平均數(shù)平均數(shù) =眾 數(shù) = (12,15,17,23,23,25,28) 的眾數(shù) = 23例: 請(qǐng)找出下列樣本數(shù)據(jù)之平均數(shù)及中位數(shù):0, 7, 3, 9, -2, 4, 6。例: 請(qǐng)找出下列樣本數(shù)據(jù)之平均數(shù)、中位數(shù)及眾數(shù):25, 12, 23, 28, 17, 15, 23。平均數(shù) = (25+12+23+28+17+15+23)/7 = 20.43中位數(shù) = (12,15,17,23,23,25,28) 的中間數(shù) = 23中位數(shù) = (0+7+3+9-2+4+6)/7 = 3.86 (-2,0,3,4,6,7,9)的中間數(shù) = 4 何
7、時(shí)使用平均數(shù)?何時(shí)使用中位數(shù)或眾數(shù)?(可以有兩個(gè)以上)9 全距(R):全距是用來(lái)衡量一組數(shù)據(jù)差異最簡(jiǎn)單的方法 公式: 變異數(shù)(s2) 公式: 標(biāo)準(zhǔn)差(s) 公式:R = 最大值 - 最小值 s = s21466例:1, 3, 4, 6, 6, 9, 13. 平均數(shù) = 6, 中位數(shù) = 6, 眾數(shù) = 6.若在此組數(shù)據(jù)加入 70 : 1, 3, 4, 6, 6, 9, 13, 70. 則 平均數(shù) = 中位數(shù) = 眾數(shù) =2. 離中趨勢(shì): 離中趨勢(shì)指標(biāo)是表示一組數(shù)據(jù)間差異大小或數(shù)值變化的 一個(gè)指標(biāo)。( 註: 最常用的集中趨勢(shì)指標(biāo):平均數(shù)(mean)、中位數(shù)(median)、眾數(shù)(mode)。)
8、最常用的離中趨勢(shì)指標(biāo):全距、變異數(shù) 及 標(biāo)準(zhǔn)差X1X2X3X4X5X6X108 - 1 = 7(5-4)2+(8-4)2+(1-4)2+(2-4)2+(4-4)2(5 -1)=7.57.5=2.739例:請(qǐng)找出下列樣本數(shù)據(jù)之全距、變異數(shù)及標(biāo)準(zhǔn)差:5, 8, 1, 2, 4全 距: 變 異 數(shù): 標(biāo) 準(zhǔn) 差:R = 最大值 - 最小值 s = s211 甚麼是統(tǒng)計(jì)製程管制?統(tǒng)計(jì)製程管制(Statistical Process Control, 簡(jiǎn)稱SPC),是利用抽樣所得之樣本資料(樣本統(tǒng)計(jì)量)來(lái)監(jiān)視製程之狀態(tài),在必要時(shí)採(cǎi)取調(diào)整製程參數(shù)之行動(dòng),以降低產(chǎn)品品質(zhì)之變異性。統(tǒng)計(jì)製程管制為預(yù)防性之品質(zhì)管
9、制手段,強(qiáng)調(diào):第一次就做對(duì) (Do it right the first time.) 品質(zhì)並不是某一個(gè)人或是某一部門(mén)的責(zé)任,如果要生產(chǎn)的產(chǎn)品能達(dá)到顧客所要求的品質(zhì),公司裡每一個(gè)人包括生產(chǎn)線上的作業(yè)員、打字員、採(cǎi)購(gòu)員、工程師以及公司的總經(jīng)理等對(duì)產(chǎn)品的品質(zhì)都有責(zé)任。而製程管制即是品管的一種技巧,凡與製程有關(guān)之人員均需具備製程管制的相關(guān)知識(shí)或技巧,盡到自己的品質(zhì)責(zé)任。 我們?yōu)楹我獙W(xué)統(tǒng)計(jì)製程管制?第一單元:統(tǒng)計(jì)製程管制(SPC)之基本概念12 在任何的生產(chǎn)程序中,不管如何設(shè)計(jì)或維護(hù),產(chǎn)品的一些固有的或自然之變異將永遠(yuǎn)存在。這些變異是由一些小量不可控制原因累積而成,例如:同種原料內(nèi)的變化、機(jī)器的振動(dòng)所
10、引起的變化等,當(dāng)這些變異之量極小時(shí),製程仍可被接受。這些自然變異通常稱為隨機(jī)原因(random cause)或是一般原因(common cause),當(dāng)製程在只有隨機(jī)原因出現(xiàn)下操作,則稱其在管制中(in control)。統(tǒng)計(jì)製程管制之主要目的,在儘快偵測(cè)出可歸屬原因之發(fā)生或製程之異常跳動(dòng),以便在製造出更多不合格品之前,就能發(fā)現(xiàn)製程之變異並進(jìn)行改善工作。 統(tǒng)計(jì)製程管制的目的 在製程上為何要使用統(tǒng)計(jì)製程管制?13 此外,製程中可能存在有其它的變異,這些變異的來(lái)源有機(jī)器的不適當(dāng)調(diào)整、操作員之錯(cuò)誤、原料之不良、機(jī)器故障或損壞等,這些變異的幅度通常較隨機(jī)原因之變異為大,當(dāng)這些變異出現(xiàn)時(shí),代表製程不可接
11、受。這些變異稱為可歸屬原因(assignable cause)或非隨機(jī)原因或特殊原因(special cause),製程若在可歸屬變異下操作則稱其為製程失控(out of control)?!胺请S機(jī)原因或特殊原因”就是我們進(jìn)行統(tǒng)計(jì)製程管制所要找到的重點(diǎn) 產(chǎn)品在製造過(guò)程中若能及早找出可歸屬原因之發(fā)生,則可避免在製造出更多的不合格品前,發(fā)現(xiàn)製程發(fā)生變異的原因,可使製造過(guò)程有改善的機(jī)會(huì)。統(tǒng)計(jì)製程管制的一些手法如:品管七大手法、管制圖等,將可有助於迅速的偵測(cè)出製程發(fā)生變異及找出變異之原因。因此統(tǒng)計(jì)製程管制對(duì)改善製程而言,是一個(gè)很重要的工具。14隨機(jī)原因非隨機(jī)原因15第一單元 總結(jié)A3:非隨機(jī)原因或特殊
12、原因.3.統(tǒng)計(jì)製程管制所要找到的重點(diǎn)為何?A1:利用抽樣所得之樣本資料(樣本統(tǒng)計(jì)量) 來(lái)監(jiān)視製程之狀態(tài).1.甚麼是統(tǒng)計(jì)製程管制(SPC)?A2:第一次就做對(duì) (Do it right the first time).2.統(tǒng)計(jì)製程管制強(qiáng)調(diào)甚麼?16 管制圖簡(jiǎn)介1924年休哈特(W.A.Shewhart)提出了管制圖(Control Chart)的概念與方法。管制圖是一種關(guān)於品質(zhì)的圖解記錄,操作人員利用所收集的資料計(jì)算出兩個(gè)管制界限(上限及下限),且畫(huà)出這兩個(gè)管制界限,在產(chǎn)品製造過(guò)程中隨時(shí)將樣本資訊點(diǎn)入管制圖內(nèi),以提醒操作人員。如發(fā)現(xiàn)有超出管制界限外之點(diǎn)或是出現(xiàn)特殊圖樣(異?,F(xiàn)象)時(shí),應(yīng)立即由人員
13、、機(jī)械設(shè)備、材料、方法(4M)或環(huán)境(1E)等方向進(jìn)行層別以追查原因,進(jìn)而改善製程。第二單元:管制圖的介紹及其應(yīng)用17管制圖為一種圖形表示工具,用以顯示從樣本中量測(cè)或計(jì)算所得之品質(zhì)特性。典型之管制圖包含一中心線 (Center Line, CL),用以代表製程處?kù)督y(tǒng)計(jì)管制內(nèi)時(shí)品質(zhì)特性之平均值。此圖同時(shí)包含兩條水平線,稱為管制上限 (Upper Control Limit, UCL)及管制下限 (Lower Control Limit, LCL) ,用來(lái)表示製程或品質(zhì)變異的容許範(fàn)圍或均勻性。管制圖可用來(lái)判斷品質(zhì)變異之顯著性,以測(cè)知製程是否在正常狀態(tài)。圖一為管制圖之範(fàn)例=中心線+3=中心線-3 管
14、制圖之基本原理18管制圖的功用有三:1.決定製造工程可能達(dá)到之目標(biāo)。2.可作為達(dá)到目標(biāo)之工具。3.可藉由管制圖判斷製程是否已超出目標(biāo)以外。因此,管制圖可將設(shè)計(jì)、製造、檢驗(yàn)等三階段之工作連成一體,為工廠中在生產(chǎn)工作方面最有效之工具。管制圖與一般的統(tǒng)計(jì)圖不同,因其不僅能將數(shù)值以曲線表示出來(lái),以觀其變異趨勢(shì),且能顯示變異是屬於隨機(jī)性或是非隨機(jī)性,以指示某種現(xiàn)象是否正常,而採(cǎi)取適當(dāng)之措施。管制圖同時(shí)可展示時(shí)間順序的資料。設(shè)計(jì)製造檢驗(yàn) 管制圖的功用 管制圖與一般之統(tǒng)計(jì)圖有何不同?19所謂計(jì)量值管制圖,係指管制圖所依據(jù)之?dāng)?shù)據(jù)均由實(shí)際量測(cè)而得,如:產(chǎn)品之長(zhǎng)度、重量、成份等。常用之計(jì)量值管制圖有: 管制圖之種
15、類1、平均值與全距之管制圖(X-R Chart) (註: 唸成 Xbar-R) 2、平均值與標(biāo)準(zhǔn)差之管制圖(X-S Chart) (註: 唸成 Xbar-S) 3、中位值與全距之管制圖(X-R Chart) (註: 唸成 Xcurl-R) 4、個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖(X-Rm Chart) 依據(jù)收集數(shù)據(jù)的型態(tài)分: 1)計(jì)量值管制圖1)計(jì)量值管制圖,2)計(jì)數(shù)值管制圖20注意: 計(jì)數(shù)值管制圖皆祇有一個(gè)圖, 而計(jì)量值管制圖則有兩個(gè)圖。2)計(jì)數(shù)值管制圖所謂計(jì)數(shù)值管制圖,係管制圖所依據(jù)之?dāng)?shù)據(jù),均屬於單位個(gè)數(shù)者,如:不良率、缺點(diǎn)數(shù)等經(jīng)由計(jì)數(shù)方法而得之?dāng)?shù)據(jù)均屬此類。常用之計(jì)數(shù)值管制圖有:1、不良率管制圖(p
16、 Chart)2、不良數(shù)管制圖(np Chart)3、缺點(diǎn)數(shù)管制圖(c Chart)4、單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖(u Chart)21 X-R 圖管制圖的選定計(jì)量值(Variable data)資料性質(zhì)計(jì)數(shù)值(Attribute data)中心線n大小樣本數(shù)目n大小不良/缺點(diǎn)n固定?n固定?不良率 (%)缺點(diǎn)數(shù)c 圖p圖u圖np 圖X-Rm圖 X-R圖_ X-S圖n=1n2n10n10_XX固定不固定固定不固定 X-S 圖p 圖u 圖22基本原則 正常管制圖上的點(diǎn),必須符合: (1)隨機(jī)分散(random fluctuation)與 (2)常態(tài)分佈 (normal distribution) 的原則,
17、所以至少要滿足下面幾點(diǎn)要求: 管制圖之研判與分析 但是下列法則若有一成立,則判斷製程失控:1.最近一點(diǎn)落在管制界線外。2.在管制界限內(nèi)的點(diǎn)出現(xiàn)下述之特殊圖樣 (patterns) 。(1).中心線上下的點(diǎn)數(shù)要大約相等(各佔(zhàn)40%60%)。(2).大部份的點(diǎn)(約70%)集中在中心線,但不能所有的點(diǎn) 都靠近中心線(hugging the center line)。(3).僅有少數(shù)點(diǎn)(約5%)靠近管制界限(hugging the Control limits)。(4).任何連續(xù)多點(diǎn)不可形成向上或向下的趨勢(shì)(trend)。 2s 2s Mean3s3s1s 1s 68.3% 95.5% 99.7% 2
18、3區(qū)間測(cè)試包含:1.一點(diǎn)落在A區(qū)之外(超出管制界限)。2.連續(xù)三點(diǎn)中有二點(diǎn)落在A區(qū)。3.連續(xù)五點(diǎn)中有四點(diǎn)落在B區(qū)或是B區(qū)之外。4.連續(xù)七點(diǎn)往同一方向走。5.連續(xù)八點(diǎn)在中心線的同一側(cè)。上述法則有一成立時(shí),則判斷製程失控。 區(qū)間測(cè)試(Zone Test)法則區(qū)間法則(又稱為Western Electric rules)可適用於管制圖中心線之兩側(cè)。首先,將管制圖之兩側(cè)各分為三個(gè)區(qū)間,每個(gè)區(qū)間的寬度為一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差,如圖三所示: 圖三. 區(qū)間測(cè)試法則之區(qū)間劃分24=(50%)7=0.78%區(qū)間測(cè)試法則連續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)在區(qū)域B或以上單點(diǎn)超出管制界限連續(xù)3點(diǎn)中有2點(diǎn)在區(qū)域A或以上連續(xù)8點(diǎn)出現(xiàn)在中心線同側(cè)連續(xù)7
19、點(diǎn)往同一方向走=0.27%=(4.55 %)2*95.45%*3=0.60%註: 規(guī)則二的3點(diǎn)中有兩點(diǎn)在A區(qū)及A區(qū)以外,其中的兩點(diǎn)乃是指在同一側(cè)的兩點(diǎn),若是一個(gè)點(diǎn)在正這一側(cè)的A區(qū),另一個(gè)點(diǎn)在負(fù)這一側(cè)的A區(qū),則並未違反此判定原則25A區(qū)B區(qū)C區(qū)C區(qū)B區(qū)A區(qū) 練習(xí)題一個(gè)管制圖如下所示。請(qǐng)對(duì)此管制圖進(jìn)行判讀,也就是說(shuō),判斷出這個(gè)管制圖是否有出現(xiàn)製程失控?1234567891011121314151617181920管制上限管制下限 連續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)在區(qū)域B或以上連續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)在區(qū)域B或以上連續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)在區(qū)域B或以上連續(xù)3點(diǎn)中有2點(diǎn)在區(qū)域A或以上看有無(wú)任何點(diǎn)在A區(qū)之外? 規(guī)則1. 一點(diǎn)落在A區(qū)之
20、外(超出管制界限)看有無(wú)接近的兩點(diǎn)在A區(qū)(含)之外?規(guī)則2.連續(xù)三點(diǎn)中有二點(diǎn)落在A區(qū)看有無(wú)接近的四點(diǎn)在B區(qū)之外規(guī)則3.連續(xù)五點(diǎn)中有四點(diǎn)落在B區(qū)或是B區(qū)之外看有無(wú)連續(xù)7點(diǎn)往同一方向走規(guī)則4.連續(xù)七點(diǎn)往同一方向走看有無(wú)連續(xù)8點(diǎn)出現(xiàn)在中心線同側(cè)規(guī)則5.連續(xù)八點(diǎn)在中心線的同一側(cè)26 連串測(cè)試(Run Test)法則連串測(cè)試係應(yīng)用於管制圖中心線的同一側(cè)。連串測(cè)試包含:1.連續(xù)八點(diǎn)落在管制中心的同一側(cè)。2.連續(xù)十一點(diǎn)有十點(diǎn)落在管制中心的同一側(cè)。3.連續(xù)十四點(diǎn)有十二點(diǎn)落在管制中心的同一側(cè)。4.連續(xù)十七點(diǎn)有十四點(diǎn)落在管制中心的同一側(cè)。5.連續(xù)二十點(diǎn)有十六點(diǎn)落在管制中心的同一側(cè)。 上述法則有一成立時(shí),則判斷製程
21、失控。注意:使用於管制圖的上述任何一條判定法則(Run Rules),不可隨意取消。3227A3: X-R, X-S, X-R, X-Rm_X-R, X-S, X-Rm_A2: 計(jì)量,計(jì)數(shù)A1:中心線(CL),管制上限(UCL),管制下限(LCL)A4: p, np, c, up, c1.管制圖由那三條線構(gòu)成?2.管制圖的種類:依數(shù)據(jù)型態(tài)分為那兩種?3.計(jì)量值管制圖有那些? 常用的是那幾種?4.計(jì)數(shù)值管制圖有那些? 常用的是那幾種?第二單元 總結(jié)28第二單元 總結(jié)A6:管制圖中心線之兩側(cè)A6:管制圖中心線之同一側(cè)A5:P-23A7:P-245.管制圖的研判基本原則為那2項(xiàng)?7.區(qū)間測(cè)試法則五法
22、則為何?6.區(qū)間測(cè)試與連串測(cè)試有何不同? - 區(qū)間測(cè)試用於? - 連串測(cè)試用於?29 適用情況 適用於小樣本數(shù),即樣本數(shù)小於或等於10 (註:樣本數(shù)大於10時(shí), 則必須使用 X -S 管制圖)。 建立 -R 管制圖之步驟 先建立解析用管制圖,待確定管制界限後,再建立管制用管制圖, 其步驟如下: 第三單元:常用管制圖之繪製一、平均值-全距管制圖( 管制圖)A. 選定管制項(xiàng)目在製程中選擇對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)特性有重要影響之要因或重要品質(zhì)特性作為管制項(xiàng)目。30B. 搜集數(shù)據(jù)蒐集最近之?dāng)?shù)據(jù)100個(gè)以上,對(duì)這些數(shù)據(jù)之來(lái)源應(yīng)充分瞭解,並希望以後之製造工程,其情況需與蒐集數(shù)據(jù)時(shí)相同。C. 按產(chǎn)品生產(chǎn)之順序或測(cè)定之順序
23、,排列數(shù)據(jù)。D. 數(shù)據(jù)之分組每組所含之?dāng)?shù)據(jù)個(gè)數(shù)稱為樣本大小(sample size),以n表示。 樣本之組數(shù)以k表示。分組法與層別有關(guān),普通按時(shí)間順序或測(cè)定順序分組,使組內(nèi)不含不同性質(zhì)數(shù)據(jù),並使n=25之間,k=1520 之間最為適當(dāng)。E. 數(shù)據(jù)之記錄:將分組之?dāng)?shù)據(jù)記入數(shù)據(jù)記錄表。G. 計(jì)算各組數(shù)據(jù)之全距:。F. 計(jì)算各組數(shù)據(jù)之平均值:。H. 計(jì)算總平均值:。31K. 計(jì)算管制界限:註:工廠之製造工程其群體及大多為未知,故建立管制圖 時(shí),均常採(cǎi)用群體之及未知之公式計(jì)算。I. 計(jì)算全距之平均值:。J. 查係數(shù)表。32管制界限的係數(shù)表33L. 繪製管制界限 管制圖在上,R 管制圖在下,按習(xí)慣一般
24、圖之寬度較R 圖為大。將前面計(jì)算所得之管制界限數(shù)據(jù)繪入圖紙上。M. 點(diǎn)圖將F及G兩節(jié)中所計(jì)算得之X及R 數(shù)據(jù),點(diǎn)繪在適當(dāng)位置,並在相鄰兩點(diǎn)間以直線連接之。N. 安定狀態(tài)之判定點(diǎn)入圖內(nèi)之點(diǎn)子,如在管制界限內(nèi),或無(wú)特殊圖案出現(xiàn)時(shí),則判定製程安定,可繼續(xù)生產(chǎn)下去。如有點(diǎn)超出管制界限時(shí),則判定製程有不正常原因侵入。34O. 採(cǎi)取措施a.製程有不正常原因存在時(shí),應(yīng)即調(diào)查原因,加以處置。c. R管制圖上有點(diǎn)超出管制界限時(shí),則表示製程變異增大。d. 採(cǎi)取措施(對(duì)策)時(shí),不但要消除當(dāng)時(shí)之不正?,F(xiàn)象,還要預(yù) 防再度發(fā)生,以符合品質(zhì)之原則。b. X管制圖上有點(diǎn)超出管制界限時(shí),則表示製程平均發(fā)生變化或 變異增大。35實(shí)例說(shuō)明例一、內(nèi)層製程工程師希望建構(gòu)一個(gè)內(nèi)層線寬量測(cè)的管制程序,以便當(dāng) 內(nèi)層線寬量測(cè)值發(fā)生異常時(shí)可以迅速
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