第六章原子光譜法

第六章原子光譜法光譜分析法：基于電磁輻射能量與待測(cè)物質(zhì)相互作用后，由所產(chǎn)生的輻射信號(hào)來確定物質(zhì)組成和結(jié)構(gòu)的分析方法。輻射能與待測(cè)物質(zhì)間的相互作用僅涉及原子能電子的能及躍遷，并通過光譜信號(hào)來確定物質(zhì)組成的分析方法。原子光譜法：基于原子外層電子的躍遷，原子光譜法科分為原子吸收光譜法、原子發(fā)射光譜法、原子熒光光譜法。6.1原子發(fā)射光譜法AtomicEmissionSpectrometry,AES定義：根據(jù)待測(cè)物質(zhì)的氣態(tài)原子或離子在熱激發(fā)或電激發(fā)時(shí)所發(fā)射的特征線狀光譜而進(jìn)行定性、定量分析的方法。6.1.1基本原理6.1.1.1原子發(fā)射光譜的產(chǎn)生基態(tài)元素M激發(fā)態(tài)M＊熱能、電能2.外層電子（低能態(tài)E1高能態(tài)E2）1.能量（電或熱、光）基態(tài)原子4.發(fā)出特征頻率或波長(zhǎng)的光子特征譜線！3.外層電子（高能態(tài)E2低能態(tài)E1

）電子在兩個(gè)能級(jí)之間躍遷的選定原則：原子的能級(jí)通常用光譜項(xiàng)符號(hào)nMLJ來表示。(1)主量子數(shù)的變化：Δn為整數(shù)，包括零；(2)主角量子數(shù)的變化：ΔL=±1；(3)內(nèi)量子數(shù)的變化：ΔJ=0,±1；但是當(dāng)J=0時(shí)，

ΔJ=0的躍遷被禁阻。(4)總自旋量子數(shù)的變化：ΔS=0，即不同多重性狀態(tài)之間的躍遷被禁阻。幾個(gè)概念原子線：原子外層電子的躍遷所發(fā)射的譜線，如Na(I)激發(fā)電位：原子外層電子由低能態(tài)躍遷到高能態(tài)所需要的能量。共振線：原子外層電子由激發(fā)態(tài)到基態(tài)躍遷所產(chǎn)生的譜線電離電位：原子受激后得到足夠能量而失去電子，使原子電離所需要的最小能量離子線：離子的外層電子躍遷產(chǎn)生的譜線，以Ⅱ、Ⅲ等表示6.1.1.2譜線強(qiáng)度樣品光源基態(tài)原子(N0)激發(fā)態(tài)態(tài)原子(Ni)樣品蒸發(fā)樣品激發(fā)E0Ei等離子體(原子+離子+電子)整體處于熱力學(xué)平衡狀態(tài)譜線強(qiáng)度與激發(fā)態(tài)原子數(shù)Ni

成正比。g：統(tǒng)計(jì)權(quán)重；Ei：激發(fā)電位；k：波爾茲曼常數(shù)電子在i、j兩個(gè)能級(jí)之間躍遷產(chǎn)生譜線強(qiáng)度Iij為：

Aij：躍遷概率；h：普朗克常量；vij：發(fā)射譜線的頻率熱力學(xué)平衡狀態(tài):N0

與Ni

之間遵守Boltzmann分布：由于Ni<<N0，因此N0可近似代替N總，以濃度c代替N總影響譜線強(qiáng)度的因素：1.統(tǒng)計(jì)權(quán)重：譜線強(qiáng)度正比于gi/g0；5.基態(tài)原子數(shù)：溫度一定，譜線強(qiáng)度與基態(tài)原子數(shù)成正比。2.躍遷概率：譜線強(qiáng)度與躍遷概率成正比；3.激發(fā)電位：激發(fā)電位愈高，譜線強(qiáng)度愈小；4.激發(fā)溫度：溫度升高，譜線強(qiáng)度增大；6.1.1.3譜線的自吸與自蝕自吸：中心發(fā)射的輻射被邊緣的同種基態(tài)原子吸收，使輻射強(qiáng)度降低的現(xiàn)象自蝕：嚴(yán)重自吸，譜線中心完全吸收，如同出現(xiàn)兩條線的現(xiàn)象。考慮到譜線的自吸效應(yīng)系數(shù)b（Schiebe-Lomarkin公式）無自吸有自吸自蝕嚴(yán)重自蝕6.1.2AES儀器類型與結(jié)構(gòu)組成：激發(fā)光源、分光系統(tǒng)、檢測(cè)器三部分1.直流電弧高頻引弧電子撞擊陽極，形成陽極斑試樣蒸發(fā)、原子化分析間隙G分析間隙G氣體分子和原子電離正離子撞擊陰極原子發(fā)射光譜碰撞激發(fā)分析性能：(1)電極溫度高，絕對(duì)靈敏度高，背景淺；(2)電弧不穩(wěn)定，測(cè)定結(jié)果重現(xiàn)性差；(3)弧層厚，自吸嚴(yán)重。6.1.2.1AES光源

2.低壓交流電弧220VR1B12.5-3.0kVC2充電I2-L1-C1充電電路G’電壓升高C1-L1-G’振蕩電路L1-L2耦合10kVC1充電高頻振蕩放電低壓弧光放電G’空氣被擊穿B2G電壓升高G空氣被擊穿高頻振蕩分析性能：(1)電極溫度較低，電弧溫度高，激發(fā)能力較強(qiáng)；(2)電弧穩(wěn)定，試樣蒸發(fā)均勻，重現(xiàn)性好；(3)分析靈敏度接近于直流電弧。4.電感耦合等離子體(ICP)等離子體：電離度>0.1％、正負(fù)電荷相等的電離氣體等離子體光源：外觀上類似火焰的放電光源

原理：

高頻感應(yīng)渦流加熱分析性能：(1)蒸發(fā)、激發(fā)溫度高；(2)檢出限低，重現(xiàn)性好；(3)基體效應(yīng)、自吸或自蝕效應(yīng)小；(4)光譜背景小。3.高壓電容火花分析性能：(1)激發(fā)溫度高，適于難激發(fā)元素分析；(2)電極溫度低，檢出限低，適于易熔金屬、合金及高含量元素的分析；(3)放電穩(wěn)定，重現(xiàn)性好。光源的選擇：3)含量高低;

1)試樣的性質(zhì)：如揮發(fā)性、電離電位等;

2)試樣形狀：如塊狀、粉末、溶液;4)光源特性：蒸發(fā)特性、激發(fā)特性、放電穩(wěn)定性。6.1.2.2分光系統(tǒng)1.棱鏡分光系統(tǒng)分光原理：光的折射現(xiàn)象分類：棱鏡分光系統(tǒng)、光柵分光系統(tǒng)棱鏡分光系統(tǒng)的光學(xué)特性：色散率、分辨率和集光本領(lǐng)

棱鏡分光系統(tǒng)光路

光柵材料：玻璃、金屬（鋁）特點(diǎn)：光柵結(jié)構(gòu)：平行、等寬、等間隔的多個(gè)狹縫。

2.光柵分光系統(tǒng)1)更高的分辨率和色散率2)工作波長(zhǎng)范圍寬（紫外、可見、紅外）3)勻排光譜分類：平面反射光柵；凹面反射光柵、中階梯光柵6.1.2.3進(jìn)樣系統(tǒng)電弧、火花為光源的AES儀器：固體樣品放在電極上；等離子為光源的AES儀器：液體進(jìn)樣。6.1.2.4檢測(cè)器光電倍增管和陣列檢測(cè)器。6.1.2.5儀器類型(1)光電直讀等離子體原子發(fā)射光譜儀(2)全譜直讀等離子體光譜儀6.1.3原子發(fā)射光譜分析法與應(yīng)用1.分析原理：每種元素都有其特征結(jié)構(gòu)靈敏線：激發(fā)電位低，躍遷幾率大的譜線6.1.3.1光譜定性分析共振線：由激發(fā)態(tài)直接躍遷至基態(tài)所輻射的譜線。由最低能級(jí)的激發(fā)態(tài)到基態(tài)的躍遷稱為第一共振線。最后線：當(dāng)待測(cè)物含量逐漸減小時(shí)，譜線數(shù)目亦相應(yīng)減少，當(dāng)c接近0時(shí)所觀察到的譜線。特征線組：強(qiáng)度相近、同時(shí)出現(xiàn)，具有一定特征容易辨認(rèn)的一組譜線。特征譜線。如Na

分析線：在進(jìn)行元素的定性或定量分析時(shí)，根據(jù)測(cè)定的含量范圍的實(shí)驗(yàn)條件，對(duì)每一元素可選一條或幾條最后線作為測(cè)量的分析線自吸線：當(dāng)輻射能通過發(fā)光層周圍的蒸汽原子時(shí)，將為其自身原子所吸收，而使譜線強(qiáng)度中心強(qiáng)度減弱的現(xiàn)象自蝕線：自吸最強(qiáng)的譜線的稱為自蝕線

(1)標(biāo)準(zhǔn)試樣光譜比較法(2)元素光譜圖比較法2.定性分析方法利用哈特曼光欄將試樣與純物質(zhì)同時(shí)攝譜元素光譜圖：波長(zhǎng)標(biāo)尺；鐵光譜；元素靈敏線；元素符號(hào)。在一張放大20倍后的不同波段的鐵光譜上，將各元素的靈敏線按波長(zhǎng)位置標(biāo)插在鐵光譜圖的相應(yīng)位置而制成。為什么Fe光譜可作標(biāo)尺？分析過程：(1)譜線豐富、且有容易記憶的特征譜線；(2)譜線均勻：間距“均勻”、強(qiáng)度“均勻”——像一把標(biāo)尺！

(3)定位準(zhǔn)確：每條鐵譜線波長(zhǎng)已準(zhǔn)確測(cè)得。試樣與純鐵利用哈特曼光欄并列攝譜于同一感光板，采用映譜儀將譜片放大20倍，與元素光譜圖比較。試樣的蒸發(fā)、激發(fā)條件，以及試樣的組成、形態(tài)等的任何變化，均會(huì)使參數(shù)a發(fā)生變化，直接影響譜線強(qiáng)度。這種變化，特別是激發(fā)溫度的變化是很難控制的。

6.1.3.2光譜定量分析1.絕對(duì)強(qiáng)度法定義：利用待測(cè)元素的分析線和內(nèi)標(biāo)元素的內(nèi)標(biāo)線的強(qiáng)度比與元素含量的關(guān)系進(jìn)行光譜定量分析的方法。2.內(nèi)標(biāo)法原理：設(shè)被測(cè)元素的含量為c1，譜線強(qiáng)度為I1；內(nèi)標(biāo)元素含量為c2，譜線強(qiáng)度為I2。分析線與內(nèi)標(biāo)線的強(qiáng)度比R為：當(dāng)內(nèi)標(biāo)元素的含量一定且又無自吸時(shí)內(nèi)標(biāo)元素和內(nèi)標(biāo)線的選擇原則：1)內(nèi)標(biāo)元素在試樣和標(biāo)樣中的含量必須固定、相同;2)內(nèi)標(biāo)元素與分析元素具有相近的蒸發(fā)特性;3)分析線和內(nèi)標(biāo)線具有相近的激發(fā)或電離電位;4)分析線和內(nèi)標(biāo)線具有相近的波長(zhǎng);5)分析線和內(nèi)標(biāo)線沒有自吸收或很小，且不受其它譜線的干擾。S0

C(加入)-Cx應(yīng)用：復(fù)雜基體的少量樣品的測(cè)定3標(biāo)準(zhǔn)加入法Cx+0，Cx+C1，Cx+C2，Cx+C3，……SS1

S2

S3……AlanWalsh(1916-1998)和他的原子吸收光譜儀在一起6.2原子吸收光譜法（AAS）6.2.1AAS的基本原理6.2.1.1AAS的產(chǎn)生氣態(tài)基態(tài)原子吸收其共振輻射，外層電子由基態(tài)躍遷至激發(fā)態(tài)而產(chǎn)生原子吸收光譜。E0E1E2E3En基態(tài)能級(jí)第一激發(fā)態(tài)更高激發(fā)態(tài)吸收主共振線發(fā)射共振吸收線氣態(tài)基態(tài)原子對(duì)于同種原子發(fā)射出來的特征光譜輻射具有吸收能力的現(xiàn)象稱為原子吸收。AAS與AES之比較相同點(diǎn)：均為原子產(chǎn)生的線狀光譜。不同點(diǎn)：AAS：基于“基態(tài)原子”選擇性吸收光輻射能并使該光輻射強(qiáng)度降低而產(chǎn)生的光譜；AES：基態(tài)原子受熱、電作用，從基態(tài)躍遷至激發(fā)態(tài)，然后再返回到基態(tài)時(shí)所產(chǎn)生的光譜AAS共振吸收線AES共振發(fā)射線AAS與UV-VIS之比較相同點(diǎn)：均為核外層電子吸收輻射產(chǎn)生的吸收光譜不同點(diǎn)：吸收機(jī)制不同AAS：原子產(chǎn)生的吸收，原子光譜，線狀光譜，譜線寬度很窄；UV-VIS：分子產(chǎn)生的吸收，分子光譜，帶狀光譜，譜帶很寬。AAS特點(diǎn)和應(yīng)用(1)靈敏度高，檢出限低(2)測(cè)量精度好(3)選擇性好(4)分析速度快，適用范圍廣(5)儀器簡(jiǎn)單，自動(dòng)化程度高，操作簡(jiǎn)便(6)不能進(jìn)行多元素同時(shí)測(cè)定各種元素的原子結(jié)構(gòu)和外層電子的排布不同6.2.1.2原子吸收光譜與原子結(jié)構(gòu)從基態(tài)躍遷至第一激發(fā)態(tài)時(shí)吸收的能量不同各元素的共振線不同

最靈敏譜線原子吸收光譜的性質(zhì)：線狀光譜，吸收光譜，紫外可見光譜，原子光譜6.2.1.3基態(tài)原子數(shù)與激發(fā)態(tài)原子數(shù)的關(guān)系一定溫度下，處于熱力學(xué)平衡時(shí)，激發(fā)態(tài)原子數(shù)與基態(tài)原子數(shù)之比服從波爾茲曼分布定律：激發(fā)能(1)T愈高，Ni/N0值愈大；(2)T一定，Ei越小，吸收波長(zhǎng)越長(zhǎng)，Ni/N0值愈大；(3)通常條件下，激發(fā)態(tài)和基態(tài)原子數(shù)之比小于1‰，

基態(tài)原子數(shù)近似地等于總原子數(shù)。與N0有關(guān)，N0受溫度影響很小，準(zhǔn)確度較高，N0占99%，靈敏度較高。與Ni有關(guān)，受溫度影響大，準(zhǔn)確度較差；Ni占比例很小，靈敏度較低。原子吸收光譜法原子發(fā)射光譜法6.2.1.4AAS的輪廊原子吸收光譜線很窄，占據(jù)著有限的、相當(dāng)窄的頻率或波長(zhǎng)范圍，具有一定的寬度和輪廓。中心頻率中心吸收系數(shù)半寬度中心頻率原子能級(jí)光子觀測(cè)光子觀測(cè)譜線變寬的原因1.自然寬度無外界條件影響時(shí)的譜線寬度

2.多普勒變寬

原子在空間作無規(guī)則熱運(yùn)動(dòng)所引起的變寬影響因素：溫度譜線中心波長(zhǎng)原子量3.碰撞變寬吸收原子或分子相互碰撞而引起的譜線變寬共振變寬被測(cè)元素激發(fā)態(tài)原子與基態(tài)原子相互碰撞引起的變寬，又稱赫魯茲馬克變寬洛倫茨變寬被測(cè)元素原子與其它元素的原子相互碰撞引起的變寬4.其它變寬斯塔克效應(yīng)、塞曼效應(yīng)6.2.1.5AAS的測(cè)量1.積分吸收測(cè)量法積分吸收系數(shù)：在吸收線輪廓內(nèi)，吸收系數(shù)的積分含義：基態(tài)原子蒸汽所吸收的全部能量根據(jù)經(jīng)典色散理論，基態(tài)原子數(shù)N0與吸收曲線下面所包括的整個(gè)面積的定量關(guān)系為：基態(tài)原子數(shù)振子強(qiáng)度因?yàn)镹i<<N0，所以待測(cè)元素原子總數(shù)測(cè)量積分吸收的困難:譜線寬度10-3nm。若=500nm，要求單色器分辯率為：R=500/10-3=500000。目前無法實(shí)現(xiàn)。

2.峰值吸收測(cè)量法原理：在溫度不太高的穩(wěn)定火焰條件下，峰值吸收系數(shù)K0與火焰中待測(cè)元素的基態(tài)原子濃度N0

之間存在簡(jiǎn)單的線性關(guān)系。條件：通過吸收介質(zhì)的發(fā)射線的中心頻率與吸收線的中心頻率嚴(yán)格一直。(2)發(fā)射線的半寬度遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于吸收線的半寬度。根據(jù)吸光度的定義：Δve頻率范圍內(nèi)的入射光強(qiáng)Δve頻率范圍內(nèi)的透射光強(qiáng)若吸收線輪廓主要取決于多普勒變寬，則所以在給定的實(shí)驗(yàn)條件下，比例常數(shù)被測(cè)元素含量原子吸收測(cè)量的基本關(guān)系式與實(shí)驗(yàn)有關(guān)的常數(shù)6.2.2AAS的儀器類型與結(jié)構(gòu)流程銳線光源原子化器分光系統(tǒng)檢測(cè)系統(tǒng)試液(1)銳線光源：發(fā)射待測(cè)元素的共振輻射；(2)原子化器：提供能量，使試樣干燥，蒸發(fā)和原子化；

(3)分光系統(tǒng)：分離銳線輻射和背景輻射(4)檢測(cè)器：接受欲測(cè)量的光信號(hào)并將其轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)放大和運(yùn)算處理給出分析結(jié)果6.2.2.1光源作用：發(fā)射被測(cè)元素特征共振輻射。要求:(1)發(fā)射線半寬度明顯小于吸收線寬度；(2)輻射強(qiáng)度大、背景低；(3)穩(wěn)定性好，30min內(nèi)漂移小于1%、噪聲小于0.1%；(4)使用壽命長(zhǎng)于5安培小時(shí)?？招年帢O燈優(yōu)缺點(diǎn)：(1)輻射光強(qiáng)度大，激發(fā)效率高；(2)譜線窄，半寬度小。(3)穩(wěn)定（需預(yù)熱）(4)每測(cè)一種元素需更換相應(yīng)的燈。光源調(diào)制目的：消除原子化器直流輻射的干擾。方法：電調(diào)制、機(jī)械調(diào)制原子吸收中的原子發(fā)射現(xiàn)象:(2)原子發(fā)射釋放出的能量可能有多種形式，輻射也不在一個(gè)方向上，但對(duì)測(cè)量仍將產(chǎn)生一定干擾。(1)原子受到輻射躍遷到激發(fā)態(tài)后，將再躍遷至基態(tài)。6.2.2.2原子化系統(tǒng)原子化方法：火焰法、電熱高溫石墨管。1.火焰原子化器作用：提供能量，使試液干燥、蒸發(fā)、原子化結(jié)構(gòu)和功能：(1)霧化器：吸入試樣并霧化，形成微米級(jí)的氣溶膠。(2)霧化室：1)霧滴進(jìn)一步細(xì)化和均勻化，大滴降落；2)使燃料氣、助燃?xì)?、氣溶膠混合均勻。(3)燃燒室：使混合氣噴出并燃燒。霧化器霧化室火焰試樣溶液試樣霧滴濕氣溶膠干氣溶膠氣態(tài)分子基態(tài)原子轉(zhuǎn)移過程混合過程原子化過程蒸發(fā)過程火焰原子化過程(4)火焰對(duì)火焰的基本要求：燃燒速度；火焰溫度；火焰的燃?xì)馀c助燃?xì)獗壤；鹧娴难趸€原性：(2)富燃火焰：溫度較低、還原性較強(qiáng)(3)貧燃火焰：氧化性較強(qiáng)、溫度較低(1)化學(xué)計(jì)量火焰：溫度高、干擾小、背景低、穩(wěn)定性好火焰的透射性選擇火焰時(shí)，應(yīng)考慮火焰本身對(duì)光的吸收。乙炔-空氣、乙炔-N2O：適用于長(zhǎng)波長(zhǎng)的元素；H2-空氣：適用于短波長(zhǎng)元素如As、Se等。2.非火焰原子化器石墨爐原子化器作用：利用電熱、陰極濺射、等離子體、激光或冷原子發(fā)生器等方法使試樣中待測(cè)元素形成基態(tài)自由原子工作原理操作程序：(1)干燥：除去溶劑和水分(100℃左右)(2)灰化：除去基體或其它干擾元素(100-1800℃)(3)原子化：使待測(cè)樣品轉(zhuǎn)化成基態(tài)原子(2000-3000℃)(4)清洗除殘：高溫空燒，除去遺留待測(cè)元素(3000℃)3.低溫原子化法(1)汞低溫原子化法(2)氫化物發(fā)生法適用范圍：易形成氫化物的元素6.2.2.3檢測(cè)器作用：將光信號(hào)轉(zhuǎn)換、放大為電信號(hào)原理：使用光電倍增管放大光電流方法6.2.2.4儀器類型1.單道單光束型特點(diǎn)：結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，靈敏度高，但光源波動(dòng)影響大，導(dǎo)致基線漂移2.單道雙光束型特點(diǎn)：可消除光源波動(dòng)的影響1光譜干擾(1)譜線干擾消除方法：縮小通帶寬度；另選分析線；調(diào)制光源。

指待測(cè)元素的共振線與干擾物質(zhì)的譜線分離不完全及背景吸收所造成的影響產(chǎn)生：存在非吸收臨近線；與干擾元素吸收線重疊；原子化器的直流發(fā)射。6.2.3干擾及抑制原子化過程中生成的氣態(tài)分子或氧化物及鹽類分子對(duì)光源共振輻射的吸收引起的干擾。A.分子吸收：B.光散射：原子化過程中產(chǎn)生的固體微粒對(duì)光的散射，使被散射的光偏離光路而不為檢測(cè)器所檢測(cè)，導(dǎo)致吸光度值偏高(2)背景干擾產(chǎn)生：原子化過程中所產(chǎn)生的光譜干擾NaINaClNaF200 250 300 350 400波長(zhǎng)nmA堿金屬鹵化物背景校正的方法AABAT=A+ABA=AT-ABa.鄰近非共振線校正法分析線非共振線A原子=A總-A背景注意：共振線與非共振線波長(zhǎng)差應(yīng)小于10nm測(cè)原子吸收和背景吸收測(cè)背景吸收b.氘燈扣除背景法氘燈：AD=AB2nm需匹配光源強(qiáng)度，易受光源波動(dòng)的影響，在時(shí)間、空間上不重合，易帶來誤差且僅能用于190-350nm的波段?？招年帢O燈：AT=A+ABA=AT-AD特點(diǎn)：空心陰極燈原子化器棱鏡光電管氘燈氘燈扣除背景光路圖c.Zeeman效應(yīng)扣除背景法-+平行磁場(chǎng)垂直磁場(chǎng)垂直磁場(chǎng)原理：根據(jù)原子譜線的磁效應(yīng)和偏振特性使原子吸收和背景吸收分離磁場(chǎng)起偏器塞曼效應(yīng)校正法空心陰極燈原子化器檢測(cè)

S

N特點(diǎn)：無需匹配光源強(qiáng)度，且不受光源波動(dòng)的影響，

在時(shí)間、空間上完全重合。＋－原子吸收譜線的塞曼分裂平行光束垂直光束A平行＝A原子+A背景A垂直＝A背景2.化學(xué)干擾定義：被測(cè)元素的原子與干擾組分發(fā)生了化學(xué)反應(yīng)，形成了難離解化合物而引起的干擾。例：Al,Si,B,Ti,Be,易生成難離解氧化物。消除方法：(1)化學(xué)分離；(2)用高溫火焰；(3)加入釋放劑、保護(hù)劑和緩沖劑；(4)使用基體改進(jìn)劑。特點(diǎn)：非選擇性，對(duì)各元素都相同。3.物理干擾定義：試樣在轉(zhuǎn)移、蒸發(fā)和原子化過程中由于試樣

物理性質(zhì)的變化所造成的干擾。消除方法：盡可能保持試樣、標(biāo)準(zhǔn)液物理性質(zhì)一樣。消除方法：低溫火焰；加入消電離劑。4.電離干擾定義：因電離而使基態(tài)原子數(shù)減少的現(xiàn)象。6.2.4分析方法與應(yīng)用(2)特征濃度：產(chǎn)生1%吸收或能產(chǎn)生0.0044吸光度時(shí)，待測(cè)物質(zhì)的相應(yīng)濃度(1)靈敏度：被測(cè)元素濃度變化一個(gè)單位時(shí)，吸光度的變化量1.特征參數(shù)(4)檢出限：產(chǎn)生一個(gè)能夠確證在試樣中存在某種元素的分析信號(hào)所需該元素的最小量或最小濃度。(3)特征質(zhì)量：產(chǎn)生1%吸收時(shí)所對(duì)應(yīng)的待測(cè)元素的質(zhì)量2.狹縫寬度：不引起吸光度減小的最大狹縫寬度

2.測(cè)定條件的選擇1.分析線：通常選擇共振線，靈敏度較高例外A：測(cè)定高含量元素，避免過度稀釋，導(dǎo)致誤差。例外B：As、Se、Hg共振線小于200nm，火焰有嚴(yán)重吸收。3.空心陰極燈工作電流：標(biāo)稱最大電流的1/2-2/3?；鹧嬖踊喝?xì)狻⒅細(xì)忸愋?、比例；燃燒頭高度4.原子化條件石墨爐原子化：石墨管類型、升溫程序5.進(jìn)樣量：靈敏度、冷卻效應(yīng)、記憶效應(yīng)3.定量分析方法(1)標(biāo)準(zhǔn)曲線法標(biāo)準(zhǔn)溶液濃度應(yīng)在A-c直線范圍內(nèi)，A：0.15-0.7之間。標(biāo)準(zhǔn)系列與未知樣品組成盡可能一致；操作條件在整個(gè)分析過程中保持一致；每批樣品測(cè)定前都要繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線特點(diǎn)：簡(jiǎn)便、快速；適合于組成簡(jiǎn)單的試樣(2)標(biāo)準(zhǔn)加入法

適用條件:相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)曲線為過原點(diǎn)的直線，試樣濃度在線性范圍內(nèi)至少應(yīng)有4個(gè)點(diǎn)，加入標(biāo)準(zhǔn)液適量?jī)?yōu)缺點(diǎn)：可以消除基體效應(yīng)，不能消除背景吸收的影響6.3原子熒光光譜6.3.1概述通過測(cè)定原子在光輻射能作用下發(fā)射的熒光強(qiáng)度進(jìn)行定量分析的一種發(fā)射光譜分析方法。定義：特點(diǎn):1)靈敏度高，譜線干擾少，校正曲線范圍寬；2)易制成多道儀器---多元素同時(shí)測(cè)定；3)熒光猝滅效應(yīng)、復(fù)雜基體效應(yīng)等降低測(cè)定靈敏度；4)散射光干擾；5)可測(cè)量的元素不多，應(yīng)用不廣泛。6.3.2基本原理1.熒光的產(chǎn)生2.熒光類