標準解讀

《GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合》與《GB/T 2423.42-1995, GB/T 2424.24-1995》相比，在內(nèi)容上進行了更新和擴展，主要體現(xiàn)在以下幾個方面：

首先，《GB/T 2423.102-2008》標準將之前分散在兩個不同標準中的要求整合到了一個文件內(nèi)，即同時涵蓋了高低溫、低氣壓以及振動（正弦波形）的綜合環(huán)境測試條件。這種變化使得對于需要同時考慮這三種環(huán)境因素影響的產(chǎn)品來說，提供了更加系統(tǒng)化且易于執(zhí)行的指導依據(jù)。

其次，新版標準中增加了對試驗設(shè)備的具體要求描述，包括但不限于溫度控制精度、壓力調(diào)節(jié)范圍及波動度等關(guān)鍵參數(shù)指標，并明確了不同類型產(chǎn)品進行此類復合應力測試時所應遵循的基本原則和技術(shù)路線。

再者，《GB/T 2423.102-2008》還詳細規(guī)定了樣品準備階段需要注意的問題，如如何正確選擇代表性樣品數(shù)量、如何合理安排試樣位置以確保均勻受力等；同時也強調(diào)了在整個實驗過程中必須嚴格監(jiān)控并記錄各項環(huán)境參數(shù)的變化情況，以便于后續(xù)分析使用。

此外，新標準還特別指出了一些特殊情況下可能遇到的技術(shù)難點及其解決辦法，比如當被測物體體積較大或形狀復雜時，如何通過調(diào)整試驗箱內(nèi)部布局來保證所有部位都能達到預定的溫濕度條件；又或者是在長時間連續(xù)運行狀態(tài)下，怎樣有效避免因機械磨損而導致的數(shù)據(jù)偏差等問題。


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  • 2008-05-20 頒布
  • 2008-12-01 實施
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GB/T 2423.102-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗：溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合_第1頁
GB/T 2423.102-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗：溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合_第2頁
GB/T 2423.102-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗：溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合_第3頁
GB/T 2423.102-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗：溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合_第4頁

文檔簡介

犐犆犛１９．０４０

犓０４

中華人民共和國國家標準

犌犅／犜２４２３．１０２—２００８

代替ＧＢ／Ｔ２４２３．４２—１９９５，ＧＢ／Ｔ２４２４．２４—１９９５

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

第２部分：試驗方法試驗：溫度（低溫、

高溫）／低氣壓／振動（正弦）綜合

犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—

犘犪狉狋２：犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱狊—犜犲狊狋：犮狅犿犫犻狀犲犱狋犲犿狆犲狉犪狋狌狉犲（犮狅犾犱犪狀犱

犺犲犪狋）／犾狅狑犪犻狉狆狉犲狊狊狌狉犲／狏犻犫狉犪狋犻狅狀（狊犻狀狌狊狅犻犱犪犾）

２００８０５２０發(fā)布２００８１２０１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

書

犌犅／犜２４２３．１０２—２００８

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４一般說明!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

５試驗設(shè)備!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

６樣品的安裝!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

７嚴酷等級!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

８預處理!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

９初始檢測!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

１０試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

１１中間檢測!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

１２恢復!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

１３最終檢測!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

１４失效判據(jù)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

１５有關(guān)規(guī)范應提供的信息!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

附錄Ａ（資料性附錄）導則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!８

Ａ．１一般說明!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!８

Ａ．２溫度（低溫、高溫）／低氣壓／振動（正弦）綜合試驗的環(huán)境效應!!!!!!!!!!!!!!８

Ａ．３環(huán)境參數(shù)的測量!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!８

Ⅰ

書

犌犅／犜２４２３．１０２—２００８

前言

ＧＢ／Ｔ２４２３《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法》按試驗方法分為若干部分。本部分為

ＧＢ／Ｔ２４２３的第１０２部分。

本部分是對ＧＢ／Ｔ２４２３．４２—１９９５《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗低溫／低氣壓／振動（正弦）綜合試驗

方法》和ＧＢ／Ｔ２４２４．２４—１９９５《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度（低溫、高溫）／低氣壓／振動（正弦）綜合

試驗導則》的技術(shù)性修訂，代替ＧＢ／Ｔ２４２３．４２—１９９５和ＧＢ／Ｔ２４２４．２４—１９９５。

本次修訂在技術(shù)內(nèi)容上增加高溫試驗組合，即由原來的低溫／低氣壓／振動（正弦）綜合試驗拓至溫

度（低溫、高溫）／低氣壓／振動（正弦）綜合試驗。

本次修訂的編輯性修改是：

ａ）將ＧＢ／Ｔ２４２３．４２—１９９５作為本部分的正文部分。

ｂ）將ＧＢ／Ｔ２４２４．２４—１９９５作為附錄部分。

ｃ）本部分名稱由《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗低溫／低氣壓／振動（正弦）綜合試驗方法》改為

《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗：溫度／低氣壓／振動（正弦）綜合試驗》。

ｄ）按ＧＢ／Ｔ１．１—２０００的要求，作如下編輯性修改：

———第１章改為“范圍”；

———增加第２章“規(guī)范性引用文件”；

———增加第３章“術(shù)語和定義”。

ｅ）用詞的修改：

———用“本部分”代替“本標準”；

———用“有關(guān)規(guī)范”代替“有關(guān)標準”或“有關(guān)規(guī)定”。

本部分的附錄Ａ為資料性附錄。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會提出并歸口。

本部分起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所、中國電信股份有限公司廣東研究院、電信科學技術(shù)

第一研究所、北京航空航天大學。

本部分主要起草人：紀春陽、陳健兒、常少莉、魏蓓、吳颯、解禾。

本部分是首次發(fā)布。

Ⅲ

犌犅／犜２４２３．１０２—２００８

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

第２部分：試驗方法試驗：溫度（低溫、

高溫）／低氣壓／振動（正弦）綜合

１范圍

本部分規(guī)定了溫度（低溫、高溫）／低氣壓／振動（正弦）綜合試驗的基本要求、嚴酷等級、試驗程序以

及其他技術(shù)細則。

本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度（低溫、高溫）、低氣壓和振動（正弦）綜合作用下的貯存、運輸和使用

的適應性。有溫度變化的綜合試驗可參考本部分。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過ＧＢ／Ｔ２４２３的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本

部分。

ＧＢ／Ｔ２４２１—１９９９電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第１部分：總則（ｉｄｔＩＥＣ６００６８１：１９８８）

ＧＢ／Ｔ２４２２—１９９５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗術(shù)語（ｉｄｔＩＥＣ６００６８５２：１９９０）

ＧＢ／Ｔ２４２３．１—２００１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ａ：低溫（ＩＥＣ６００６８

２１：１９９０，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．２—２００１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｂ：高溫（ＩＥＣ６００６８２

２：１９７４，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．１０—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｆｃ和導則：振動（正

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