GB/T 30815-2014表面化學(xué)分析分析樣品的制備和安裝方法指南

ICS7104040

G04..

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T30815—2014/ISO181162005

:

表面化學(xué)分析分析樣品的制備

和安裝方法指南

Surfacechemicalanalysis—Guidelinesforpreparationandmounting

ofspecimensforanalysis

(ISO18116:2005,IDT)

2014-06-24發(fā)布2015-02-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T30815—2014/ISO181162005

:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

符號(hào)和縮略語(yǔ)

4……………1

一般要求

5…………………1

樣品的視檢

6………………1

樣品注意事項(xiàng)

7……………2

樣品的來(lái)歷

7.1…………………………2

探測(cè)的信息

7.2…………………………2

已使用其他分析技術(shù)分析過(guò)的樣品

7.3………………2

樣品污染的來(lái)源

8…………………………2

工具手套固定物和類似的材料

8.1、、…………………2

暴露于氣體

8.2…………………………3

暴露于儀器真空

8.3……………………3

暴露于電子離子或射線

8.4、X………………………3

分析室的污染

8.5………………………3

樣品的保存和傳遞

9………………………3

保存時(shí)間

9.1……………3

保存容器

9.2……………4

溫度和濕度

9.3…………………………4

樣品傳遞

9.4……………4

樣品安裝步驟

10……………4

常規(guī)步驟

10.1……………4

粉末和微粒

10.2…………………………4

線纖維和細(xì)絲

10.3、……………………5

支架固定

10.4……………5

減小分析過(guò)程的熱損傷

10.5……………5

減小樣品荷電的方法

11……………………5

概述

11.1…………………5

導(dǎo)電掩膜柵網(wǎng)包裹或鍍膜

11.2、、………………………5

中和槍

11.3………………6

電子束和離子束

11.4……………………6

樣品制備技術(shù)

12……………6

Ⅰ

GB/T30815—2014/ISO181162005

:

概述

12.1…………………6

機(jī)械分離

12.2……………6

減薄與去除

12.3…………………………6

基材的去除

12.4…………………………7

切片技術(shù)

12.5……………7

覆蓋層的生長(zhǎng)

12.6………………………8

溶劑

12.7…………………8

化學(xué)刻蝕

12.8……………8

離子濺射

12.9……………8

等離子刻蝕

12.10………………………9

加熱

12.11………………9

紫外線照射

12.12………………………10

斷裂解理和劃刻

13、………………………10

斷裂

13.1………………10

解理

13.2………………10

劃刻

13.3………………10

特殊的樣品處理技術(shù)

14…………………11

放氣樣品的預(yù)抽真空

14.1……………11

粘性液體

14.2…………………………11

溶質(zhì)余渣

14.3…………………………11

參考文獻(xiàn)

……………………12

Ⅱ

GB/T30815—2014/ISO181162005

:

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)使用翻譯法等同采用表面化學(xué)分析分析樣品的制備和安裝方法指南

ISO18116:2005《》。

與本標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)范性引用的國(guó)際文件有一致性對(duì)應(yīng)關(guān)系的我國(guó)文件如下

:

表面化學(xué)分析詞匯

———GB/T22461—2008(ISO18115:2001,IDT)

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC38)。

本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位廈門(mén)愛(ài)勞德光電有限公司清華大學(xué)

:、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人王水菊時(shí)海燕李展平姚文清岑丹霞劉芬

:、、、、、。

Ⅲ

GB/T30815—2014/ISO181162005

:

引言

本標(biāo)準(zhǔn)旨在協(xié)助分析者對(duì)表面化學(xué)分析的樣品進(jìn)行操作安裝和處理盡管本標(biāo)準(zhǔn)表述的方法主

、。

要是為俄歇電子能譜射線光電子能譜和二次離子質(zhì)譜等表面分析技術(shù)準(zhǔn)備

(AES)、X(XPS)(SIMS)

的但也可用于許多其他表面敏感的分析技術(shù)例如離子散射譜低能電子衍射和電子能量損失譜樣

,,,、,

品處理會(huì)影響這些表面敏感的分析技術(shù)的測(cè)試結(jié)果和對(duì)幾個(gè)納米厚度的表面層敏

。AES、XPSSIMS

感這樣的薄層會(huì)因?qū)敕治鍪仪暗臉悠钒惭b或表面處理而受到嚴(yán)重干擾

,。

正確的樣品制備和安裝對(duì)于表面化學(xué)分析是特別關(guān)鍵的不恰當(dāng)?shù)闹苽淇赡軐?dǎo)致表面組成改變和

。

分析結(jié)果不可靠樣品要小心安裝以便盡可能減小或避免因安裝操作而引入的污染物為了使分析

。,。

結(jié)果能代表原始樣品在制備和安裝樣品時(shí)應(yīng)保持樣品的表面狀態(tài)本標(biāo)準(zhǔn)表述了表面分析者在使用

,。

任何表面敏感的分析技術(shù)時(shí)為了把樣品制備的影響減到最小可能需要使用的方法本標(biāo)準(zhǔn)還表述了

,。

不影響所需分析信息的樣品安裝方法

。

Ⅳ

GB/T30815—2014/ISO181162005

:

表面化學(xué)分析表面分析樣品的制備

和安裝方法指南

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)提供了表面化學(xué)分析樣品安裝和表面處理方法的指導(dǎo)目的是幫助分析人員理解在使用俄

。

歇電子能譜二次離子質(zhì)譜和射線光電子能譜等表面分析技術(shù)進(jìn)行分析時(shí)所必需的專門(mén)樣品處理

、X,

條件

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

表面化學(xué)分析詞匯

ISO18115(Surfacechemicalanalysis—Vocabulary)

3術(shù)語(yǔ)和定義

界定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

ISO18115。

4符號(hào)和縮略語(yǔ)

俄歇電子能譜

AES:Augerelectronspectroscopy,;

二次離子質(zhì)譜

SIMS:secondary-ionmassspectrometry,;

射線光電子能譜

XPS:X-rayphotoelectronspectroscopy,X。

5一般要求

關(guān)于樣品操作的一般信息有兩本書(shū)[1,2]是適用的表面敏感的分析技術(shù)所要求的潔凈度遠(yuǎn)高于許

。

多其他分析形式不應(yīng)裸手接觸樣品和樣品架盡可能減少或省去對(duì)擬分析表面的操作指紋攜有可