標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 4587-1994 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管》是一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了雙極型晶體管的一系列技術(shù)要求及其測(cè)試方法。標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容覆蓋了雙極型晶體管的電特性、機(jī)械特性和環(huán)境適應(yīng)性等多個(gè)方面的要求,旨在為生產(chǎn)者提供明確的產(chǎn)品設(shè)計(jì)與制造指導(dǎo),同時(shí)確保用戶能夠依據(jù)統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行評(píng)估。

對(duì)于雙極型晶體管而言,本標(biāo)準(zhǔn)明確了不同類型(如NPN或PNP)及不同封裝形式下的具體參數(shù)指標(biāo),包括但不限于最大集電極電流、集電極-發(fā)射極間電壓、基極-發(fā)射極間電壓等關(guān)鍵電氣參數(shù)。此外,還定義了一系列關(guān)于溫度范圍、存儲(chǔ)條件以及使用壽命等方面的性能要求,以保證設(shè)備在各種工作環(huán)境下都能保持良好的穩(wěn)定性和可靠性。

標(biāo)準(zhǔn)中也包含了詳細(xì)的試驗(yàn)方法,用于驗(yàn)證雙極型晶體管是否符合上述各項(xiàng)技術(shù)規(guī)范。這些測(cè)試涵蓋了從基本電性能檢測(cè)到復(fù)雜環(huán)境應(yīng)力篩選等多種情況,通過(guò)科學(xué)合理的實(shí)驗(yàn)流程來(lái)全面評(píng)價(jià)產(chǎn)品的質(zhì)量水平。

此標(biāo)準(zhǔn)適用于所有涉及雙極型晶體管的設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和應(yīng)用領(lǐng)域,為行業(yè)內(nèi)相關(guān)企業(yè)提供了一個(gè)共同遵守的技術(shù)框架,促進(jìn)了產(chǎn)品質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)化管理。


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  • 1994-12-30 頒布
  • 1995-08-01 實(shí)施
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GB/T 4587-1994半導(dǎo)體分立器件和集成電路第7部分:雙極型晶體管_第1頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

UDC.621.382.33:621.371.3.08L4中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4587—-94IEC747-7-1988半導(dǎo)體分立器件和集成電路第7部分:雙極型晶體管SemiconductordiscretedevicesandintegratedcircuitsPart7:Bipolartransistors1994-12-31發(fā)布1995-08-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

次第I章總則引言2范圍(13文字符號(hào)(i)第I章術(shù)語(yǔ)和文字符號(hào)品體管的類型通用術(shù)語(yǔ)3電路組態(tài)有關(guān)額定值和特性的術(shù)語(yǔ)S-參數(shù):6文字符號(hào)·6.1電流、電壓和功率的文字符號(hào)…6.2電參數(shù)的文字符號(hào)……96.33其他量的文字符號(hào)(10)6.4文字符號(hào)一覽表(10)第章基本額定值和特性第1節(jié)小功率信號(hào)晶體管(不包括開關(guān)用的)概述·········(22)額定值(極限值)2(22)3特性………(23)應(yīng)用數(shù)據(jù)?!ぁぁぃ?6)第2節(jié)功率晶體管(不包括高頻和開關(guān)用品體管批述·······(26)顏定值(極限值)2(26)3特性··(27)應(yīng)用數(shù)據(jù)(27)第3節(jié)放大器和振蕩器用高頻功率晶體管類型(27)半導(dǎo)體材料227)3極性(27)外形4(27)5極限值(絕對(duì)最大額定值除非另有規(guī)定·指在工作溫度范圍內(nèi))……(28)(28)

補(bǔ)充資料·……(31),環(huán)境和(或)電耐久性試驗(yàn)資料(31)第4節(jié)開關(guān)晶體管概述(31)額定值(極限值)(3131)應(yīng)用數(shù)據(jù)(33)第W章通用測(cè)試方法和基準(zhǔn)測(cè)試方法第1節(jié)通用測(cè)試方法概述(33)集電極-基極和發(fā)射極一基極截止電流·2(33)集電極-發(fā)射極截止電流(直流法)lceo.1cer.1cex,1ces)(34福集電極-發(fā)射極飽和電壓(Vcem)(34)基極-發(fā)射極飽和電壓(Vu")……(36)6基極-發(fā)射極電壓(直流法)Voe)(37)7集電極-發(fā)射極維持電壓(Vcroc"a)Vcekc"))(38)(40)8.1共共基極輸出電容(C.a或C.)…(40)8.2集電極-基極電容(Ca)(41)9混合參數(shù)(小信號(hào)和大信號(hào))(42)S電壓額定值和限定工作電壓的可測(cè)特性(V.encmo.VoxoEw·lsa)…"…···(48)熱阻…(50)12開關(guān)時(shí)間(ait,2o,a42om)·(59)高頻參數(shù)(/,Cz,Re(hu.),y?·e,s·(61)14(74)第2節(jié)基淮測(cè)試方法概述(79)2集電極-基極截止電流(反向電流)/cwo)(80)3發(fā)射極-基極截止電流(反向電流)leeo)(80)集電極-發(fā)射極飽和電壓(Vce.)(81)5基極-發(fā)射極飽和電壓(Voe.)……………·(83)6基極-發(fā)射極正向電壓(Ve)·(83)共發(fā)射極正向電流傳輸比的靜態(tài)值(hare)(84)低頻小信號(hào)共發(fā)射極正向電流傳輸比(har.)……·(85)開關(guān)參數(shù)(87)第V章接收和可靠性第1節(jié)電耐久性試驗(yàn)一般要求(87)2特殊要求(87)

耐久性試驗(yàn)一覽表2.1(87)2.2耐久性試驗(yàn)條件(87)2.3接收試驗(yàn)中判定失效的特性和失效判據(jù)(87)2.4可靠性試驗(yàn)中判定失效的特性和失效判據(jù)(87)誤試時(shí)的處理程序(87)耐久性試驗(yàn)后接收的判定失效特性·(87)表I耐久性試驗(yàn)條件………(88)

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體分立器件和集成電路第7部分:雙極型晶體管SemiconductordiscretedevicesandintegratedcireuitsPart7:Bipolartransistors本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC747-7—1988《半導(dǎo)體分立器件和集成電路子第七部分雙極型晶體管》。第I章總則1引通常,本標(biāo)準(zhǔn)與IEC747-1—1983《半導(dǎo)體分立器件和集成電路總則第1部分總則》一起使用。在IEC747-1中可找到下列全部基礎(chǔ)資料:·術(shù)語(yǔ):-文字符號(hào);基本額定值和特性;測(cè)試方法;-接收和可靠性。本標(biāo)準(zhǔn)各章的編排順序符合IEC747-1第章第2.1條的規(guī)定。2范圍本標(biāo)準(zhǔn)給出了下列幾種類型雙極型品體管的標(biāo)準(zhǔn):·小功率信號(hào)晶體管(不包括開關(guān)用的)功率晶體管(不包括開關(guān)和高頻用的)放大和振蕩用高頻功率品體管:開關(guān)用晶體管。3文字符號(hào)通常,在術(shù)語(yǔ)的標(biāo)題中加進(jìn)了文字符號(hào).當(dāng)一個(gè)術(shù)語(yǔ)有幾個(gè)文字符號(hào)時(shí),本標(biāo)準(zhǔn)只選取了最常用的第I章術(shù)語(yǔ)和文字符號(hào)晶體管的類型11結(jié)型晶體管

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