渦流檢測(cè)題庫(kù)

渦流檢測(cè)題庫(kù)LTＡ．平行Ｂ．垂直Ｃ．不接觸Ｄ．傾斜G040．影響渦流探傷的主要試件參數(shù)是試件的：Ａ．電導(dǎo)率Ｂ．磁導(dǎo)率Ｃ．幾何形狀Ｄ．以上均是G041．如渦流探傷的激勵(lì)頻率降低，而場(chǎng)強(qiáng)不變，則金屬棒材中心的渦流密度會(huì)：Ａ．增加Ｂ．減?。茫眲≡龃螅模愕扔?G042．如渦流探傷的激勵(lì)頻率增加，而場(chǎng)強(qiáng)不變，則試件表面的渦流密度會(huì)Ａ．增加Ｂ．減小Ｃ．不變Ｄ．等于0G043．薄壁管特征頻率fg的計(jì)算公式是：Ａ．fg=5066/ηr?δ?di2Ｂ．fg=5066/ηr?δ?d02Ｃ．fg=5066/ηr?δ(d02-di2)Ｄ．fg=5066/ηr?δ?di?wG044．如果在穿過(guò)式線圈的激勵(lì)繞組中通以直流電流，則在線圈中的靜止試件中Ａ．不能感應(yīng)出渦流Ｂ．可感應(yīng)出少量渦流Ｃ．可感應(yīng)出大量電流Ｄ．可感應(yīng)出直流電流G045．如圖（45）所示波形，有：Ａ．V1滯后V290oＢ．V1領(lǐng)先V290oＣ．V1滯后V245oＤ．V1領(lǐng)先V245o圖（45）圖（52）G046．在鋼管渦流探傷中，噪聲顯著增加的原因可能是：Ａ．電源保險(xiǎn)絲斷開(kāi)Ｂ．激勵(lì)繞組斷路Ｃ．放大器放大倍數(shù)漂移Ｄ．直流磁飽和電流降低G047．采用頻率比f(wàn)/fg這個(gè)概念作出阻抗圖就可適應(yīng)于：Ａ．各種激勵(lì)電壓Ｂ．各種激勵(lì)電流Ｃ．各種激勵(lì)信號(hào)波形Ｄ．各種激勵(lì)頻率G048．下列材料在用旋轉(zhuǎn)點(diǎn)探頭進(jìn)行渦流探傷時(shí)，其中一定要采用磁飽和裝置的是：Ａ．軸承鋼Ｂ．不銹鋼Ｃ．鋁材Ｄ．全部可以不要G049．下列材料在用穿過(guò)式線圈在用進(jìn)行渦流探傷時(shí)，其中一定要采用磁飽和裝置的是：Ａ．鎳銅合金Ｂ．鋁黃銅Ｃ．鉛黃銅Ｄ．紫銅G050．渦流探傷的相似率，指的各種試件探傷結(jié)果相似時(shí)，必定有相同的：Ａ．試件形狀Ｂ．頻率比f(wàn)/fgＣ．信號(hào)相位Ｄ．間距G051．穿過(guò)式線圈測(cè)量繞組上的感應(yīng)電壓與之有關(guān)的是：Ａ．測(cè)量繞組阻抗Ｂ．測(cè)量繞組線徑Ｃ．激勵(lì)磁場(chǎng)強(qiáng)度Ｄ．激勵(lì)繞組形狀G052．在下圖（52）中磁滯回線中，Br點(diǎn)稱為：Ａ．矯頑力Ｂ．初始磁感應(yīng)Ｃ．剩磁Ｄ．磁通量53．在下述電導(dǎo)率變化阻抗圖（53）的軌跡上有A、B、C三點(diǎn)，則：Ａ．δA>δB>δCＢ．δC>δB>δAＣ．δB>δC>δAＤ．δA=δB=δC圖（53）G054．在用穿過(guò)式線圈進(jìn)行渦流探傷時(shí)，耦合系數(shù)的改變會(huì)引起線圈阻抗如圖（54）所示的變化，有：Ａ．η1>η2>η3Ｂ．η3>η2>η1Ｃ．η2>η1>η3Ｄ．η1>η3>η2圖（54）圖（55）G055．在圖示（55）的阻抗圖軌跡上，表示缺陷引起的阻抗變化方向是：Ａ．ABＢ．BCＣ．BDＤ．BEG056．所謂線圈的歸一化阻抗是指線圈的電抗和電阻（不包括線圈本身電阻）比上：Ａ．線圈的電壓Ｂ．線圈的電流Ｃ．線圈的導(dǎo)納Ｄ．空心線圈的電抗G057．線圈的電抗的表達(dá)式是：Ａ．ωLＢ．2πωLＣ．2πfLＤ．A和CG058．在作歸一化阻抗圖時(shí)，將線圈阻抗值除以ωL0，這樣處理后，使歸一化阻抗圖可適應(yīng)于各種不同的（）的線圈阻抗：Ａ．匝數(shù)Ｂ．激勵(lì)頻率Ｃ．線圈電感Ｄ．以上三項(xiàng)全是G059．渦流檢測(cè)線圈必須具備的功能是：Ａ．激勵(lì)渦流和放大信號(hào)Ｂ．檢測(cè)并放大信號(hào)Ｃ．激勵(lì)渦流和檢測(cè)信號(hào)Ｄ．檢測(cè)并處理信號(hào)G060．激勵(lì)繞組的功能是：Ａ．發(fā)現(xiàn)試件中渦流變化Ｂ．在試件中激勵(lì)出渦流Ｃ．發(fā)現(xiàn)試件中的分子磁矩Ｄ．激勵(lì)出試件磁疇G061．測(cè)量繞組主要用來(lái)檢測(cè)試件中變化的：Ａ．激勵(lì)磁場(chǎng)Ｂ．渦流磁場(chǎng)Ｃ．磁疇磁場(chǎng)Ｄ．以上三者都是G062．對(duì)方形截面的導(dǎo)電試件，選用渦流探傷時(shí)可采用：Ａ．穿過(guò)式探頭Ｂ．旋轉(zhuǎn)式探頭Ｃ．混合式探頭Ｄ．以上三者都可以G063．常用的自比差動(dòng)式穿過(guò)式線圈屬于：Ａ．軸向激勵(lì)軸向測(cè)量Ｂ．軸向激勵(lì)法向測(cè)量Ｃ．法向激勵(lì)軸向測(cè)量Ｄ．法向激勵(lì)法向測(cè)量G064．有兩只直徑不同的自比差動(dòng)式穿過(guò)式探頭，若已知兩個(gè)差動(dòng)測(cè)量繞組的匝數(shù)誤差相等，當(dāng)兩者的激勵(lì)繞組產(chǎn)生相同的磁場(chǎng)強(qiáng)度，則探頭的零電勢(shì)是：Ａ．直徑大的大Ｂ．直徑小的大Ｃ．二者零電勢(shì)相等Ｄ．零電勢(shì)是一恒定值G065．對(duì)檢測(cè)探頭來(lái)講，干擾信號(hào)是相對(duì)的，例如：Ａ．對(duì)探傷來(lái)講，材質(zhì)變化、尺寸變化是干擾源Ｂ．對(duì)材質(zhì)分選講，缺陷情況、尺寸變化是干擾源Ｃ．對(duì)尺寸測(cè)量講，缺陷情況、材質(zhì)變化是干擾源Ｄ．以上三句全對(duì)G066．對(duì)穿過(guò)式探頭來(lái)講，間距效應(yīng)一般：Ａ．不存在Ｂ．也存在Ｃ．只在動(dòng)態(tài)時(shí)存在Ｄ．只在靜態(tài)時(shí)存在G067．自比差動(dòng)內(nèi)插式探頭的骨架中，二個(gè)測(cè)量繞組的尺寸（位置、寬度、深度等）對(duì)探頭零電勢(shì)大?。海粒绊懞艽螅拢绊懞苄。茫緵](méi)有影響Ｄ．只在特殊情況下有影響G068．檢測(cè)探頭的研究方式，主要是通過(guò)：A．大型電子計(jì)算機(jī)的精密運(yùn)算B．求解麥克斯韋方程組C．矢量阻抗圖的圖示分析D．理論估算和大量的實(shí)驗(yàn)G069．具有兩個(gè)差動(dòng)連接的測(cè)量繞組的探頭屬于：A．磁差式B．分壓式C．電差式D．分液式G070．橋路原理：A．只適應(yīng)于點(diǎn)探頭B．只適應(yīng)于穿過(guò)式探頭C．只適應(yīng)于扇形探頭D．以上三種都適應(yīng)G071．絕對(duì)式線圈：A．只能用于手動(dòng)探頭B．只能用于旋轉(zhuǎn)探頭C．只能用于穿過(guò)式探頭D．以上三種都適應(yīng)G072．扇形線圈主要用于：A．內(nèi)孔探傷B．零件探傷C．絲材探傷D．焊縫探傷G073．細(xì)金屬絲材渦流探傷，一般使用的探頭型式為：A．穿過(guò)式B．內(nèi)插式C．旋轉(zhuǎn)式D．混合式G074．穿過(guò)式探頭較難用于探測(cè)的是：Φ20棒材表面起皮B．Φ1絲材夾雜C．10X20矩形管材泄露D．1000X2000板材表面凹坑G075．在制訂棒材表面快速（>100米/分）渦流探傷方案時(shí)，應(yīng)優(yōu)先選用的探頭型式是：A．點(diǎn)探頭B．穿過(guò)式C．內(nèi)插式D．扇形G076．點(diǎn)探頭的分辨率比穿過(guò)式探頭：A．高B．低C．相同D．不能相比G077．若被檢管材從Φ10mm調(diào)換為Φ20mm時(shí)，只需調(diào)換一下位置，而不需要另?yè)Q探頭的是：A．旋轉(zhuǎn)點(diǎn)探頭B．穿過(guò)式探頭C．內(nèi)插式探頭D．扇形探頭G078．點(diǎn)探頭與被檢管材之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)方式，可以是：A．點(diǎn)探頭旋轉(zhuǎn)、被檢管直線前進(jìn)B．點(diǎn)探頭不動(dòng)、被檢管即旋轉(zhuǎn)有前進(jìn)C．將點(diǎn)探頭沿管圓周排成一圈，被檢管直線前進(jìn)D．以上各條都行G079．渦流探傷中所說(shuō)的靈敏度應(yīng)是指：A．信號(hào)幅度與噪聲幅度之比B．信號(hào)相位與噪聲相位之比C．信號(hào)頻率與噪聲頻率之比D．信號(hào)寬度與噪聲寬度之比G080．在檢驗(yàn)渦流探傷設(shè)備時(shí)，所謂的漏檢率與錯(cuò)檢率，在通常情況下，是指檢驗(yàn)：A．自然傷B．缺陷的絕對(duì)深度C．標(biāo)準(zhǔn)傷D．缺陷的絕對(duì)體積G081．描述檢測(cè)線圈能區(qū)分開(kāi)兩個(gè)最近缺陷距離的術(shù)語(yǔ)是：A．分辨力B．準(zhǔn)確度C．靈敏度D．線性度G082．有效磁導(dǎo)率μeff是指：試件的真實(shí)磁導(dǎo)率B．真空磁導(dǎo)率C．一個(gè)假設(shè)的隨試件各點(diǎn)性能變化的磁導(dǎo)率標(biāo)準(zhǔn)試件的相對(duì)磁導(dǎo)率G083．自比差動(dòng)式線圈中，兩個(gè)測(cè)量繞組的接法是：Ａ．第一個(gè)繞組的“頭”接第二個(gè)繞組的“尾”B．第二個(gè)繞組的“頭”接第一個(gè)繞組的“尾”C．第一個(gè)繞組的“頭”接第二個(gè)繞組的“頭”以上三種均可以G084．穿過(guò)式探頭中測(cè)量繞組上的感應(yīng)電流的大小：與測(cè)量繞組直徑無(wú)關(guān)B．與測(cè)量繞組直徑成正比C．與測(cè)量繞組直徑平方成正比D．與測(cè)量繞組直徑立方成正比G085．在試件和穿過(guò)式探頭之間的環(huán)行空間中，若用有效磁導(dǎo)率的概念，則μeff應(yīng)看成：A．等于1B．等于0C．等于負(fù)數(shù)D．等于μ0G086．穿過(guò)式探頭的測(cè)量繞組匝數(shù)增加一倍，其上的感應(yīng)電壓為原有感應(yīng)電壓的：A．4倍B．2倍C．相等D．1/2倍87．制作穿過(guò)式線圈骨架，通常可采用的材料是：A．軸承鋼B．橡皮C．膠木或尼龍D．鎳銅合金G088．穿過(guò)式線圈骨架，在強(qiáng)度許可的范圍內(nèi)，測(cè)量繞組離骨架內(nèi)徑的距離：A．越小越好B．越大越好C．任意值都一樣D．最佳值為1mmG089．通常對(duì)內(nèi)差式探頭來(lái)講，激勵(lì)繞組繞于測(cè)量繞組的：A．外部B．部分內(nèi)部分外C．內(nèi)部D．以上都不行G090．橋路原理是指當(dāng)橋路平衡時(shí)：Ａ．相對(duì)二橋臂阻抗之和相等B．相對(duì)二橋臂阻抗之差相等C．相對(duì)二橋臂阻抗之積相等D．相對(duì)二橋臂阻抗之商相等G091．若橋式探頭的各參數(shù)固定不動(dòng)，其探到缺陷時(shí)，引起橋路有輸出的原因是：Ａ．橋臂系數(shù)KB．橋路臂比AC．橋路電源ED．探頭繞組阻抗相對(duì)變化δZ3G092．為了提高探頭靈敏度，點(diǎn)探頭繞組是繞于：A．矽鋼片上B．鐵**氧磁心上C．塑料上D．不銹鋼上G093．自比差動(dòng)式穿過(guò)式線圈最難檢出：棒材表面的凹坑B．線材上的起皮C．管材上均勻深度的長(zhǎng)裂紋D．絲材上的夾雜G094．為了探出管材上深度均勻的長(zhǎng)傷，旋轉(zhuǎn)點(diǎn)探頭中，兩個(gè)差動(dòng)連接的繞于磁心上的繞組，其排列方向應(yīng)：A．沿管材軸向B．沿管材圓周方向C．這兩種都可以D．這兩種都不可以G095．點(diǎn)探頭離試件表面距離變大時(shí)，探傷靈敏度：A．下降B．提高C．不變D．忽高忽低G096．檢測(cè)探頭探到試件上的缺陷時(shí)，會(huì)使測(cè)量繞組發(fā)生變化的：A．只有電阻B．只有電抗C．同時(shí)有電阻和電抗D．先電阻后電抗G097．用自比差動(dòng)式探頭對(duì)管材進(jìn)行探傷時(shí)，能抑制干擾信號(hào)是：應(yīng)力緩慢變化B．直徑緩慢變化C．電導(dǎo)率緩慢變化D．以上三點(diǎn)全是G098．線圈阻抗的單位是：A．亨利B．歐姆C．法拉D．庫(kù)侖G099．渦流探傷儀中的零電勢(shì)補(bǔ)償器是用來(lái)：Ａ．抵消檢測(cè)線圈中的零電勢(shì)B．減弱檢測(cè)線圈的提離效應(yīng)C．增加探傷的分辨率D．減小儀器中直流放大器的零點(diǎn)漂移G100．渦流探傷儀中給探頭提供激勵(lì)電流的單元是：：Ａ．移相器和相敏檢波器B．振盈器和功率放大器C．高、低通濾波器D．示波器和報(bào)警器G101．為了從緩慢的尺寸變化信號(hào)中分析出短促的缺陷信號(hào)，可采用：A．低通濾波器B．旁路濾波器C．高通濾波器D．電源濾波器G102．相敏檢波器為了起到阻抗分析的作用，除要加入缺陷信號(hào)之外，還要加入：經(jīng)移相的激勵(lì)信號(hào)B．不經(jīng)移相的激勵(lì)信號(hào)C．任意相位的正弦信號(hào)D．以上三種都可以G103．幅度鑒別器可用來(lái)提高缺陷信號(hào)的：A．幅度B．周期C．信噪比D．帶負(fù)載能力G104．在渦流探傷儀中實(shí)現(xiàn)阻抗分析法的主要單元是：A．標(biāo)記器B．放大器C．相敏檢波器D．記錄器G105．在渦流探傷儀中實(shí)現(xiàn)調(diào)制分析法的主要單元是：A．掃描電路B．報(bào)警電路C．選通電路D．濾波電路G106．調(diào)制分析法用來(lái)分析的是：各種因素引起信號(hào)的相位不同B．各種因素引起信號(hào)的幅度不同C．各種因素引起信號(hào)的頻率不同D．各種因素引起信號(hào)的調(diào)制頻率不同G107．在用穿過(guò)式探頭探傷中，沿軸向的長(zhǎng)傷的調(diào)制頻率比短缺陷的調(diào)制頻率：A．低B．相等C．高D．以上三種均不對(duì)G108．在用旋轉(zhuǎn)點(diǎn)探頭對(duì)棒材進(jìn)行探傷中，容易漏檢的傷是：A．軸向深度均勻的長(zhǎng)傷B．凹坑C．深度均勻的環(huán)狀傷D．起皮G109．相敏檢波器主要只能抑制掉：一個(gè)干擾噪聲B．二個(gè)干擾噪聲C．三個(gè)干擾噪聲D．多個(gè)干擾噪聲G110．幅度鑒別器可用來(lái)抑制的噪聲是：A．任意幅度的B．幅度大于缺陷信號(hào)的C．幅度小于缺陷信號(hào)的D．幅度等于缺陷信號(hào)的G111．從原理上看，用于鋼管和用于有色管的渦流探傷儀的結(jié)構(gòu)和性能（除磁飽和以外）：A．根本不同B．基本相同C．有一點(diǎn)相同D．大部分不同G112．直徑小于Φ0.1mm的金屬細(xì)絲渦流探傷所用的激勵(lì)頻率約是：A．幾十兆周B．幾百千周C．幾千周D．幾百周G113．金屬板材采用渦流探傷時(shí)，應(yīng)選擇：Ａ．快速掃描的點(diǎn)探頭和多通道探傷儀器B．穿過(guò)式探頭和多通道探傷儀器C．內(nèi)插式探頭和單通道探傷儀器D．混合式探頭和多通道探傷儀器G114．在對(duì)厚壁管進(jìn)行渦流探傷時(shí)，為了將內(nèi)外壁缺陷信號(hào)分開(kāi)，可利用信號(hào)的：A．幅度B．相位C．頻率D．波形G115．用信號(hào)的相位角不同來(lái)鑒別試件中各種參數(shù)的技術(shù)稱為：A．相關(guān)技術(shù)B．相移技術(shù)C．相位迭加技術(shù)D．相位分析技術(shù)G116．渦流探傷中，探頭橋路平衡欠佳會(huì)引起：A．產(chǎn)生靈敏度降低B．產(chǎn)生異狀的哨叫C．產(chǎn)生間隙振盈D．產(chǎn)生周期性噪聲G117．“自動(dòng)平衡”是渦流探傷儀中的一個(gè)部件，它可以自動(dòng)的：Ａ．消除缺陷信號(hào)B．補(bǔ)償儀器溫度漂移C．抵消探頭零電勢(shì)D．減小激勵(lì)信號(hào)相位變化G118．填寫下列渦流探傷儀方框圖：A．Ⅰ振蕩器、Ⅱ報(bào)警器、Ⅲ示波器B．Ⅰ振蕩器、Ⅱ移相器、Ⅲ相敏檢波器C．Ⅰ振蕩器、Ⅱ記錄器、Ⅲ放大器D．Ⅰ振蕩器、Ⅱ補(bǔ)償器、Ⅲ標(biāo)記器G119．用渦流法測(cè)量非金屬涂層厚度的機(jī)理是：A．末端效應(yīng)B．速度效應(yīng)C．渦流熱效應(yīng)D．提離效應(yīng)G120．用渦流技術(shù)，可以自動(dòng)分選的是：A．不銹鋼和低碳鋼B．銅和膠木C．鋁和鎳D．以上三類均可以G121．渦流涂層厚度測(cè)量?jī)x可用來(lái)測(cè)量：導(dǎo)電基體上的非導(dǎo)電涂層B．導(dǎo)磁基體上的非磁性涂層C．鋁合金上的氧化膜D．以上三種均可以G122．判斷被檢產(chǎn)品是否合格的標(biāo)準(zhǔn)稱為：A．性能標(biāo)準(zhǔn)B．調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)C．驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)D．自然標(biāo)準(zhǔn)G123．管材上的鉆孔標(biāo)準(zhǔn)傷最能模擬：A．泄露B．凹坑C．短而嚴(yán)重的起皮D．以上三種均可以G124．縱向刻痕標(biāo)準(zhǔn)傷最能模擬：A．橫向斷裂B．針孔C．疏松D．自然的縱向裂紋G125．渦流探傷中采用的人工標(biāo)準(zhǔn)傷是：Ａ．自然缺陷深度的度量標(biāo)準(zhǔn)Ｂ．作為調(diào)整儀器用的標(biāo)準(zhǔn)當(dāng)量Ｃ．自然缺陷體積的度量標(biāo)準(zhǔn)Ｄ．自然缺陷截面積的度量標(biāo)準(zhǔn)G126．做標(biāo)準(zhǔn)傷的試件必須與被檢試件：具有相同的自然缺陷B．具有相同的長(zhǎng)度C．具有相同的合金成分、形狀、規(guī)格及熱處理情況D．具有相同的質(zhì)量G127．漏檢率和誤檢率是用來(lái)討論探傷設(shè)備性能指標(biāo)中的：靈敏度B．速度C．分辨率D．可靠性G128．作為標(biāo)定儀器的基準(zhǔn)或在評(píng)定檢測(cè)結(jié)果時(shí)作比較用的試樣為：A．零平衡器B。移相器C．參考標(biāo)準(zhǔn)試樣D。高通濾波器G129．有用信號(hào)的響應(yīng)或振幅與檢驗(yàn)無(wú)用的響應(yīng)或信號(hào)的振幅之比稱為：A．泊松比B。信噪比C．電導(dǎo)率磁導(dǎo)率比D。電抗電阻比G130．下列哪一向不是渦流儀器的基本部件？A．放大器B。線圈C．液體耦合劑D。檢波器G131．用差動(dòng)式線圈比較標(biāo)準(zhǔn)試樣與被檢工件時(shí)，儀器應(yīng)用下列哪一項(xiàng)調(diào)節(jié)平衡？A．一個(gè)線圈中的標(biāo)準(zhǔn)試樣B．一個(gè)線圈中的參考標(biāo)準(zhǔn)試樣和另一個(gè)線圈中的合格工件C一個(gè)線圈中的參考標(biāo)準(zhǔn)試樣和另一個(gè)線圈中的不合格工件D．一個(gè)線圈中工件G132．下列哪一種情況下，渦流檢測(cè)線圈的阻抗會(huì)增加？A．檢測(cè)頻率增加B。線圈感抗減少C．線圈電感減少D。線圈電阻減少G133．下列哪一項(xiàng)制品通常可用穿過(guò)式線圈檢測(cè)？A．棒、管和線材B。需整體檢查的板件C．薄板和金屬化箔D。上述三項(xiàng)G134．用穿過(guò)式線圈檢查直的管子時(shí)，下列哪一項(xiàng)填充系數(shù)將認(rèn)為是最好的？A．0.95(95%)B。1.75(175%)C。0.50(50%)D。0.25(25%)G135．當(dāng)一鐵磁性材料的工件放在渦流檢測(cè)線圈中時(shí)，線圈的阻抗將被工件中哪一項(xiàng)參數(shù)所改變？A．電導(dǎo)率B。尺寸C。磁導(dǎo)率D。上述三項(xiàng)G136．渦流是在導(dǎo)電物體中感生的環(huán)流電流，它由下列哪項(xiàng)產(chǎn)生？A．γ射線B。交變磁場(chǎng)C。壓電力D。上述的任一個(gè)G137．材料電導(dǎo)率隨下列哪項(xiàng)的變化而變化？A．試樣的合金成分B。試樣的熱處理C．試樣的溫度D。上述的三項(xiàng)G138．裝有彈簧的渦流探頭式線圈主要目的是要：A．減少提離的變化B。減少探頭的磨損C．減少操作人員的疲勞D。消除邊緣效應(yīng)G139．提離效應(yīng)可用來(lái)：A．測(cè)量磁導(dǎo)率的變化B。測(cè)量電導(dǎo)率的變化C．測(cè)量不導(dǎo)電復(fù)層的厚度D。確定合適的檢驗(yàn)頻率G140．當(dāng)檢查均勻截面的工件時(shí)，工件頭部和尾部趨進(jìn)檢測(cè)線圈時(shí)就會(huì)產(chǎn)生渦流信號(hào)。這個(gè)現(xiàn)象稱為：A．提離效應(yīng)B。邊緣效應(yīng)C。填充系數(shù)D。相位鑒別G141．下列哪個(gè)檢驗(yàn)頻率產(chǎn)生最大透入深度的渦流？A．100HZB。10KHZC。１ＭＨＺD。10MHZG142．檢驗(yàn)線圈阻抗的增加將：A．引起流過(guò)檢驗(yàn)線圈的電流的增加B．引起流過(guò)檢驗(yàn)線圈的電流的減少C．對(duì)流過(guò)檢驗(yàn)線圈的電流無(wú)影響D．使加到線圈的電壓降低G143．下列哪項(xiàng)會(huì)影響穿過(guò)式線圈的阻抗？A．線圈中試樣的電導(dǎo)率B．線圈中試樣的磁導(dǎo)率C．填充系數(shù)D．上述的三項(xiàng)G144．雙繞組檢測(cè)線圈結(jié)構(gòu)中，一個(gè)繞組成為初級(jí)繞組，另一個(gè)稱為：A．絕對(duì)式繞組B。次級(jí)繞組C．相位繞組D。上述的都不是G145．渦流檢測(cè)線圈中次級(jí)繞組的主要作用是：A．在試樣中感應(yīng)出渦流B。檢出渦流的變化C．在試樣中感應(yīng)出渦流和檢出渦流的變化D。提供直流磁飽和G146．下列哪種渦流檢測(cè)線圈是將試樣的一部分作參考標(biāo)準(zhǔn)與試樣的另一部分進(jìn)行比較？A．單個(gè)絕對(duì)式線圈D。雙個(gè)絕對(duì)式線圈C．直流磁飽和線圈D。差動(dòng)式線圈G147．橢圓法顯示所用的讀出器件是？A．電表B。紙帶記錄儀C。陰極射線管D。上面的任一種G148．下列哪項(xiàng)對(duì)渦流檢測(cè)是不合適的？A．要高速檢測(cè)B。要正確測(cè)量電導(dǎo)率C．對(duì)小缺陷要有很高的靈敏度D。要透入到試樣６厘米處G149．用哪種線圈可同時(shí)檢查試樣整個(gè)圓周？A．穿過(guò)式線圈B。探頭式線圈C。次級(jí)繞組D。上述三種都不是G150．用渦流法分選不同的非鐵磁性合金通常是可能的，但：A．每一合金的磁導(dǎo)率應(yīng)有唯一范圍 B．每一合金的電導(dǎo)率應(yīng)有唯一范圍C．每一合金感生的渦流方向應(yīng)不同D．每一合金磁矩應(yīng)是不同的G151．下列哪種制品用內(nèi)插式線圈來(lái)檢驗(yàn)最合適？A．薄板B。棒材C．螺栓孔D。涂層厚度G152．為了在試樣中產(chǎn)生渦流，試樣必須：A．導(dǎo)體D。絕緣體C．導(dǎo)體或者絕緣體D。鐵磁性材料G153．在導(dǎo)體中流動(dòng)的交流電流將會(huì)建立：A．一個(gè)環(huán)繞導(dǎo)體周圍的交變電場(chǎng)B．一個(gè)正切于導(dǎo)體的周期性變化的電壓C．一個(gè)環(huán)繞導(dǎo)體周圍的交變磁場(chǎng)D．上述三項(xiàng)都不是G154．下列哪項(xiàng)會(huì)影響在交流線圈附近交變磁場(chǎng)特性？A．線圈的參數(shù) B．加到線圈上交流電流的大小C．加到線圈上交流電流的頻率D．上述三項(xiàng)都是G155．當(dāng)使用有初級(jí)和次級(jí)繞組的穿過(guò)式線圈時(shí)，激勵(lì)用的交流電流是加到：次級(jí)繞組上B。初級(jí)繞組上C．初級(jí)繞組或者次級(jí)繞組上，取決于儀器結(jié)構(gòu)D．初級(jí)繞組和次級(jí)繞組上G156．下列哪種讀出裝置不能表示渦流儀器的信息？A．校準(zhǔn)過(guò)和未校準(zhǔn)過(guò)的電表B。石芯試紙C．陰極射線管D。紙帶記錄儀G157．下列的哪項(xiàng)不是改善信噪比的方法？A．改善檢測(cè)頻率以降低噪聲B．增加檢驗(yàn)儀器的放大倍數(shù)C．改善填充系數(shù)D．在儀器中增加濾波器G158．當(dāng)管子中感應(yīng)出了渦流，由缺陷所引起的信號(hào)振幅取決于：A．缺陷深度B。缺陷寬度C．缺陷長(zhǎng)度D。上述三項(xiàng)都是G159．一個(gè)線圈的磁場(chǎng)可看作是圍繞線圈磁力線的分布。單位面積磁力線的數(shù)值定義為：A．磁場(chǎng)強(qiáng)度B。磁通密度C。磁耦合D。磁滯密度G160．渦流檢測(cè)能用來(lái)：A．測(cè)量涂層厚度B。測(cè)量包殼厚度C．測(cè)量薄板厚度 D。上述三項(xiàng)都是G161．下列的哪一特征是鐵磁性材料所沒(méi)有的？A．高磁導(dǎo)率B。沒(méi)有磁滯回線C．在磁滯回線上有明顯飽和值D．相當(dāng)大的剩磁G162．下列哪一種方法不能用在渦流檢測(cè)中？A．脈沖反射法B。阻抗分析法C。相位分析法D。調(diào)制分析法G163．對(duì)渦流探傷來(lái)說(shuō)，鐵磁性材料達(dá)到飽和是指當(dāng)磁化電流再增加時(shí)，信噪比將：A．開(kāi)始增加B。開(kāi)始降低C。沒(méi)有明顯變化D。突然下降到零G164．用來(lái)說(shuō)明儀器輸出為零達(dá)到平衡的術(shù)語(yǔ)是：A．高頻標(biāo)準(zhǔn)化B。積分C。零平衡D。微分G165．磁通密度的單位是：A．馬克斯威爾B。高斯C。歐姆D。姆歐G166．時(shí)效硬化的鋁合金和鈦合金當(dāng)硬度變化時(shí)一般還伴隨著有下列哪項(xiàng)變化？A．剩磁B。磁導(dǎo)率C。磁致伸縮D。電導(dǎo)率G167．對(duì)比試樣中的孔、槽用來(lái)提供能精確的重復(fù)顯現(xiàn)的信號(hào)振幅，這種孔、槽的名稱是：A．天然缺陷B。人工缺陷C。橢圓D。上述三項(xiàng)都不是G168．有一種渦流線圈它既不能對(duì)試樣兩個(gè)部分進(jìn)行比較又不能對(duì)試樣的一個(gè)部分與標(biāo)準(zhǔn)試樣進(jìn)行比較，這種線圈稱為：A．絕對(duì)式線圈B。自比差動(dòng)式線圈C．他比差動(dòng)式線圈D。上述三項(xiàng)都是G169．下列哪項(xiàng)通常可用渦流法檢測(cè)？A．電導(dǎo)率的測(cè)量或電導(dǎo)率和磁導(dǎo)率的測(cè)量B．薄金屬片、包殼或涂層厚度的測(cè)量C．表面和近表面下缺陷的測(cè)量D．上述三項(xiàng)都是G170．下列哪項(xiàng)不是使用標(biāo)準(zhǔn)試樣的主要目的？A．確定渦流儀器是否符合檢驗(yàn)的要求B．確定是否引起報(bào)廢C．設(shè)定儀器旋鈕位置以保證最高的試樣傳送速度D．確定儀器靈敏度是否隨著時(shí)間產(chǎn)生漂移G171．一種頻率為60赫的渦流比較儀可測(cè)量下列哪種差異所引起的變化？A．尺寸或形狀B。尺寸牌號(hào)或化學(xué)成分B．材料加工方式D。上述三項(xiàng)都是G172．用自比穿過(guò)式線圈檢測(cè)一根從頭到尾有均勻?qū)挾群蜕疃鹊拈L(zhǎng)槽的管子將會(huì)產(chǎn)生：A．大小不等的信號(hào)B。一個(gè)持續(xù)不斷的信號(hào)C．沒(méi)有信號(hào)D。過(guò)大的信號(hào)G173．在渦流探傷中，如欲得到在非鐵磁性材料管子表面任意位置上的已知缺陷的最佳靈敏度，應(yīng)該：A．適當(dāng)選擇頻率B。使管子在線圈的中心C．適當(dāng)調(diào)節(jié)相位D。上述三項(xiàng)都是G174．旋轉(zhuǎn)探頭式渦流探傷儀對(duì)下列哪項(xiàng)是很有用的？A．測(cè)量鐵磁性材料的工件厚度B．六角型材的探傷C．檢出和正確定位表面和表面下的缺陷D．測(cè)量同母線排的電導(dǎo)率G175．下列哪種不屬于無(wú)損檢測(cè)方法？A．超聲方法B。腐蝕方法C。渦流方法D。射線照相方法G176．在穿過(guò)式線圈的渦流探傷儀中，標(biāo)定用的標(biāo)準(zhǔn)試樣是用來(lái)：A．保證儀器的重復(fù)性和可靠性B．精確標(biāo)定缺陷深度C．降低震動(dòng)的敏感性D．測(cè)量檢驗(yàn)頻率G177．在穿過(guò)式線圈的渦流探傷儀中，要將標(biāo)定用標(biāo)準(zhǔn)試樣上的缺陷以不同位置（如缺陷向上、向左、向右）幾次通過(guò)線圈，其目的是：A．校核相位靈敏度 B。保證試樣與線圈的對(duì)中C．選擇調(diào)制頻率的旋鈕位置D。選擇合適的檢驗(yàn)速度G178．在穿過(guò)式線圈的渦流探傷儀中，檢驗(yàn)頻率由下列哪項(xiàng)控制？A．示波器B。靈敏度旋鈕位置C．振蕩器D。調(diào)制頻率旋鈕位置G179．非鐵磁性材料中合金成分的變化一般會(huì)影響材料的：A．磁導(dǎo)率B。電導(dǎo)率C。直徑D。頻率G180．用線圈在試樣中產(chǎn)生渦流的方法，可用下列哪項(xiàng)很好的比擬？A．變壓器B。電容器C。蓄電池D。發(fā)電機(jī)G181．用來(lái)描述試樣與探頭線圈之間距離變化引起電磁耦合變化所產(chǎn)生的影響的術(shù)語(yǔ)是A．填充系數(shù)B。邊緣效應(yīng)C。端頭效應(yīng)D。提離效應(yīng)G182．用來(lái)描述在非常高的頻率下渦流僅限于導(dǎo)體極薄外層流動(dòng)的現(xiàn)象術(shù)語(yǔ)是？A．趨膚效應(yīng)B。高頻濾波C。低頻濾波D。邊緣效應(yīng)G183．將直徑是1/2寸的棒材插入一個(gè)直徑1寸的線圈，其填充系數(shù)為？A．0.5B。0.75C。1D。0.25G184．用來(lái)定義儀器實(shí)際輸出與校準(zhǔn)直線確定的輸出差別的術(shù)語(yǔ)是？A．相位移B。非線性C。提離D。趨膚效應(yīng)G185．下面哪一種裝置可用來(lái)抑制不需要的高頻諧波A．低通濾波器B。振蕩器C。相位鑒別器D。高通濾波器G186．由二次繞組和一次繞組組成試驗(yàn)線圈中，二次繞組線圈兩端的電壓是什么的函數(shù)？A．材料磁導(dǎo)率B。實(shí)驗(yàn)頻率C。物體幾何形狀D。以上都是G187．材料周圍的磁場(chǎng)強(qiáng)度H增大然后降低到零時(shí)，描述零件內(nèi)磁感應(yīng)強(qiáng)度B的術(shù)語(yǔ)是：A．矯頑力B。剩磁C。飽和值D。磁滯損耗G188．用來(lái)定義使材料剩磁減小所需要的磁場(chǎng)H值的術(shù)語(yǔ)是：A．矯頑力B。磁化力C。反電動(dòng)勢(shì)D。剩磁G189．影響渦流試驗(yàn)的試樣的三個(gè)主要參數(shù)是A．電導(dǎo)率、頻率和材料幾何形狀B．密度、電導(dǎo)率和頻率C．電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率和材料的幾何形狀D．熱導(dǎo)率，電導(dǎo)率和磁導(dǎo)率G190．用試驗(yàn)信號(hào)產(chǎn)生的相位角不同來(lái)鑒別零件中變量的技術(shù)叫做/A．相位失真B。相移C。相位補(bǔ)償D。相位分析G191．如果一種材料的特征頻率（fg）為125HZ給出f/fg比為10時(shí)所需要得試驗(yàn)頻率為：A．1.25HZB。12.5HZC。1.25KHZD。12.5KHZG192．用來(lái)定義正弦信號(hào)的輸出不隨輸入線性變化的術(shù)語(yǔ)是A．失真B。線性C。相移D。動(dòng)態(tài)范圍G193．在試驗(yàn)頻率一定的情況下，下面哪一種材料中渦流的透入深度最大？A．鋁（35%IACS電導(dǎo)率）B。黃銅（15%IACS電導(dǎo)率）C．銅（95%IACS電導(dǎo)率）D。鉛（7%IACS電導(dǎo)率）G194．如果試驗(yàn)頻率增大而場(chǎng)強(qiáng)不變則表面渦流密度：A．減小B。增大C。不變D。以上都有可能G195．電導(dǎo)率變化一定時(shí)，填充系數(shù)減小，傳感線圈阻抗的變化量將？A．減小B。增大C。不變D。以上都有可能G196．用自比較差動(dòng)線圈對(duì)管材進(jìn)行檢驗(yàn)時(shí)，下面哪一種比較容易檢查？A．直徑的逐漸變化B。電導(dǎo)率的逐漸變化C。溫度變化D。短缺陷G197．為了消除試驗(yàn)線圈匝數(shù)的影響，阻抗圖的電感值應(yīng)A．不考慮B。歸一化C。修正到1D。以上都不是G198．材料中的磁通密度通常用什么表示？A．符號(hào)μB。符號(hào)σC。字母BD。字母HG199．在激勵(lì)線圈周圍使用磁屏蔽一般會(huì)使A．磁場(chǎng)范圍擴(kuò)大但渦流透入減小B．磁場(chǎng)范圍渦流透入增大C．磁場(chǎng)范圍減小但渦流透入增大D．磁場(chǎng)范圍渦流透入減小G200．用來(lái)定義交流信號(hào)中時(shí)間的關(guān)系術(shù)語(yǔ)A．大小B。相位C。阻抗D。電抗G201.為什么進(jìn)行渦流檢驗(yàn)時(shí)要特別注意信號(hào)出號(hào)處理?G202.什么叫檢測(cè)線圈的邊界效應(yīng)？G203.簡(jiǎn)述電檢測(cè)線圈的用途和工作原理。G204.常用渦流檢驗(yàn)線圈分哪幾類？其應(yīng)用范圍有什么不同？G205.用于材料分選的渦流導(dǎo)電儀為什么要選用不同的工作頻率？G206.渦流導(dǎo)電儀能用于探傷嗎？為什么？G207.利用渦流法測(cè)量謹(jǐn)慎導(dǎo)體表面絕緣膜曾厚度時(shí)，如何工作頻率？G208.利用渦流法測(cè)量金屬薄板厚度時(shí)，如何選擇工作頻率？G209.為什么對(duì)鋼管進(jìn)行渦流探傷時(shí)要使用磁飽和裝置？G210.用于飛機(jī)現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)的探頭線圈渦流儀，需要擬制提離效應(yīng)嗎？為什么?G211.渦流導(dǎo)電儀能用來(lái)測(cè)量金屬基體表面絕緣膜層厚度嗎？為什么？G212.渦流探傷用對(duì)比試件上的人工缺陷的用途是什么？G213.渦流導(dǎo)電儀能用于膜層厚度測(cè)量嗎？為什么？G214.為什么渦流探傷只適用于檢測(cè)材料表面及近表面缺陷?G215.渦流探傷時(shí)工作頻率的選擇原則？G216.有根銅棒,其直徑D0=1cm,σ=50.6米/歐.毫米2,當(dāng)放入f=100Hz和1000Hz的線圈中,有效μeff=?G217.有一試樣銅棒,直徑為1cm,電導(dǎo)率σ=50.6米/歐.毫米2,μre=1,設(shè)探頭次級(jí)線圈為1匝,H0=1奧斯特,求:極限頻率fg;如果工作頻率f選在f/fg=10,試算出μeff實(shí)=?,μeff虛=?,Eses虛=?,Eses實(shí)=?,并計(jì)算由于某種缺陷的存在,使σ降低一倍時(shí),這時(shí)的μeff實(shí)=?,μeff虛=?,Eses虛=?,Eses實(shí)=?的值.若f/fg=100,重復(fù)上述計(jì)算.G218.有一半徑為1.5mm的銅棒,當(dāng)實(shí)驗(yàn)頻率為2000Hz時(shí),其有效磁導(dǎo)率μeff=?G219.為了驗(yàn)證用2.5MC的實(shí)驗(yàn)頻率對(duì)直徑為100μm鎢合金進(jìn)行渦流檢測(cè)的結(jié)果,用400Hz的實(shí)驗(yàn)頻率對(duì)銅棒模擬實(shí)驗(yàn),問(wèn)銅棒直徑應(yīng)為多少()G220.用1000Hz的實(shí)驗(yàn)頻率對(duì)一根直徑為1cm的銅棒進(jìn)行渦流檢測(cè)的結(jié)果與用5000Hz的實(shí)驗(yàn)頻率對(duì)一根直徑為0.1cm的鐵棒進(jìn)行的渦流檢測(cè)的結(jié)果相似,試問(wèn)鐵棒的相對(duì)磁導(dǎo)率約為多少()G221.有一銅棒試件,直徑d=1cm,電導(dǎo)率σ=50.6M/Ω.mm2,μr=1,當(dāng)通過(guò)一個(gè)匝數(shù)為10,產(chǎn)生的空載磁場(chǎng)強(qiáng)度為H0=1的線圈時(shí),求1)η=1f=1000Hz時(shí),E虛=?,E實(shí)=?,E=?η=0.8f=1000Hz時(shí),E虛=?,E實(shí)=?,E=?G222.用穿過(guò)式線圈檢測(cè)一不銹鋼薄壁管,σ=2m/Ωmm2,μr=1,di=2.5cm,ω=0.1cm,當(dāng)f=20KC時(shí),η=0.8求:μeff實(shí)=?,μeff虛=?,E/E0=?G223.有一鋁薄板厚度為0.3+0.05mm,問(wèn)用導(dǎo)電儀FQR-7501能否測(cè)量??G224.有一白銅(ρ=1410-8Ω.m)圓棒,半徑為1cm,f=1500Hz,通過(guò)諾模圖,求μeff=?試題題解1.C2.D3.A4.C5.C6.B7.D8.B9.A10.B11.B12.D13.D14.C15.A16.B17.C18.B19.C20.C21.C22.A23.C24.B25.C26.D27.B28.A29.B30.B31.C32.A33.B34.C35.B36.A37.C38.C39.B40.D41.D42.A43.D44.A45.B46.D47.D48.D49.A50.B51.C52.C53.B54.B55.B56.D57.D58.D59.C60.B61.D62.D63.A64.A65.D66.B67.A68.D69.C70.D71.D72.D73.A74.D75.B76.A77.A78.D79.A80.C81.A82.C83.C84.C85.A86.B87.C88.A89.C90.C91.D92.B93.C94.B95.A96.C97.D98.B99.A100.B101.C102.A103.C104.C105.D106.D107.A108.C109.A110.C111.B112.A113.A114.B115.B116.A117.C118.B119.D120.D121.D122.C123.D124.D125.B126.C127.D128.C129.B130.C131.B132.A133.A134.A135.D136.B137.D138.A139.C140.B141.A142.B143.D144.B145.B146.D147.C148.D149.A150.B151.C152.A153.C154.D155.B156.B157.B158.D159.B160.D161.B162.A163.C164.C165.B166.D167.B168.A169.D170.C171.D172.C173.D174.C175.B176.A177.B178.C179.B180.A181.D182.A183.D184.B185.A186.D187.B188.A189.C190.D191.C192.A193.D194.B195.C196.D197.B198.C199.D200.B201.在渦流檢驗(yàn)時(shí)，因?yàn)闇u流及其反作用磁場(chǎng)對(duì)代表導(dǎo)電材料的物理及工藝性能等多種參數(shù)都有反應(yīng)，因而僅檢出被檢零件中渦流的變化而不加處理，是不知道哪一種因素引起的變化。為了區(qū)分多種因素對(duì)渦流的影響，在渦流檢測(cè)時(shí)就必須對(duì)信號(hào)進(jìn)行處理，以便提取的需要檢測(cè)的因素引起的渦流的變化。202.當(dāng)檢測(cè)線圈接近被檢試件的邊界或端面時(shí)，由于試件中感生的渦流不可能流出試件外部而發(fā)生畸變，從而導(dǎo)致檢測(cè)線圈阻抗發(fā)生變化，著種現(xiàn)象叫做邊界效應(yīng)。203.電差動(dòng)檢測(cè)線圈是一個(gè)激勵(lì)線圈，兩個(gè)測(cè)量線圈。它適用于探傷。當(dāng)被檢試件無(wú)缺陷時(shí)，差動(dòng)連接的測(cè)量線圈（匝數(shù)相同，繞制工藝相同）的感應(yīng)電壓大小相等，方向相反，相互抵消，從而無(wú)電壓輸出，一旦被檢試件中出現(xiàn)缺陷，并位于某一測(cè)量線圈中時(shí)，兩個(gè)測(cè)量線圈的感應(yīng)電壓大小不可能相等。如有電壓輸出，可發(fā)現(xiàn)被檢試件中的缺陷204.穿過(guò)式，檢測(cè)直徑不太大的管材表面缺陷時(shí)；內(nèi)通過(guò)式，檢測(cè)管材內(nèi)壁缺陷；放置式，大多數(shù)的管材都可以使用。205.渦流導(dǎo)電儀靈敏度一般用單位電導(dǎo)率的變化對(duì)應(yīng)的檢測(cè)線圈阻抗變化來(lái)表示，根據(jù)渦流檢驗(yàn)原理。對(duì)鋼材必須選擇合適的工作頻率，使得工作點(diǎn)處于線圈阻抗圖阻