GB-T 17626.30-2023 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 第30部分：電能質(zhì)量測量方法

ICS33.100.99CCSL06中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.30—2023代替GB/T17626.30—2012電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)第30部分:電能質(zhì)量測量方法Electromagneticcompatibility—Testingandmeasurementtechniques—Part30:Powerqualitymeasurementmethods[IEC61000-4-30:2021,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-30:Testingandmeasurementtechniques—Powerqualitymeasurementmethods,MOD]2023-12-28發(fā)布2024-07-01實(shí)施國家市場監(jiān)督管理總局國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會ⅠGB/T17626.30—2023前言 Ⅶ引言 Ⅹ1范圍 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 24總則和要求 64.1測量分類 64.2測量的組織 74.3待測電氣量 74.4某時段內(nèi)的測量聚合 74.5測量聚合算法 84.5.1要求 84.5.2150周波聚合 84.5.310min聚合 94.5.42h聚合 104.6時鐘不確定度 104.7標(biāo)記的概念 105電能質(zhì)量參數(shù) 115.1電網(wǎng)頻率 115.1.1測量方法 115.1.2測量不確定度和測量范圍 115.1.3測量評估 11 115.2供電電壓的幅值 125.2.1測量方法 125.2.2測量不確定度和測量范圍 125.2.3測量評估 125.2.4聚合 125.3閃爍 125.3.1測量方法 125.3.2測量不確定度和測量范圍 125.3.3測量評估 135.3.4聚合 13ⅡGB/T17626.30—20235.4供電電壓暫降和暫升 135.4.1測量方法 135.4.2電壓暫降的檢測和評估 135.4.3電壓暫升的檢測和評估 145.4.4滑模參考電壓的計算 155.4.5測量不確定度和測量范圍 155.5電壓中斷 155.5.1測量方法 155.5.2電壓中斷的評估 155.5.3測量不確定度和測量范圍 165.5.4聚合 165.6瞬態(tài)電壓 165.7供電電壓不平衡 165.7.1測量方法 165.7.2測量不確定度和測量范圍 175.7.3測量評估 175.7.4聚合 175.8電壓諧波 175.8.1測量方法 175.8.2測量不確定度和測量范圍 185.8.3測量評估 185.8.4聚合 185.9電壓間諧波 185.9.1測量方法 185.9.2測量不確定度和測量范圍 195.9.3評估 19 195.10供電電壓上的載波信號電壓 19 195.10.2測量方法 195.10.3測量不確定度和測量范圍 20 205.11快速電壓變化(RVC) 20 205.11.2RVC事件檢測 205.11.3RVC事件的評估 215.11.4測量不確定度 22ⅢGB/T17626.30—20235.12負(fù)偏離和正偏離 22 23 235.13.2電流幅值 235.13.3電流記錄 245.13.4諧波電流 245.13.5間諧波電流 245.13.6電流不平衡 256性能驗(yàn)證 25附錄A(資料性)電能質(zhì)量測量—問題及指南 27A.1總則 27A.2安裝注意事項(xiàng) 27A.2.1總則 27A.2.2試驗(yàn)引線 27A.2.3帶電部件的防護(hù) 28A.2.4監(jiān)測儀器的放置 28A.2.5接地 28A.2.6干擾 28A.3傳感器 28A.3.1總則 28A.3.2信號電平 29A.3.3傳感器的頻率響應(yīng) 30A.3.4瞬態(tài)測量傳感器 30A.4瞬態(tài)電壓和電流 31A.4.1總則 31A.4.2術(shù)語和定義 31A.4.3交流電網(wǎng)瞬態(tài)信號的頻率及幅值特性 31A.4.4瞬態(tài)電壓檢測 32A.4.5瞬態(tài)電壓評估 32A.4.6浪涌保護(hù)器對瞬態(tài)測量的影響 32A.5電壓暫降特性 33A.5.1總則 33A.5.2快速更新方均根值 33A.5.3相位角/波形起始角度 33A.5.4電壓暫降不平衡 33A.5.5電壓暫降中的相移 33A.5.6電壓損失 34ⅣGB/T17626.30—2023A.5.7電壓暫降過程的畸變 34A.5.8其他特性及參考 34附錄B(資料性)電能質(zhì)量測量—應(yīng)用指南 35B.1電能質(zhì)量測量的合同應(yīng)用 35B.1.1總則 35B.1.2基本考慮 35B.1.3特殊考慮 36B.2統(tǒng)計調(diào)查的應(yīng)用 38B.2.1總則 38B.2.2考慮因素 38B.2.3電能質(zhì)量指標(biāo) 38B.2.4監(jiān)測目標(biāo) 39B.2.5電能質(zhì)量調(diào)查的經(jīng)濟(jì)因素 39B.3調(diào)查地點(diǎn)與類型 40B.3.1監(jiān)測地點(diǎn) 40B.3.2監(jiān)測前的地點(diǎn)調(diào)查 40B.3.3客戶端地點(diǎn)調(diào)查 40B.3.4電網(wǎng)側(cè)調(diào)查 40B.4連接及待測量 41B.4.1設(shè)備連接選項(xiàng) 41B.4.2待測量的優(yōu)先次序 41B.4.3電流監(jiān)測 41B.5選擇監(jiān)測閾值及監(jiān)測周期 42B.5.1監(jiān)測閾值 42B.5.2監(jiān)測周期 42B.6測量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計分析 42B.6.1總則 42B.6.2指標(biāo) 42B.7故障排除應(yīng)用 43B.7.1總則 43B.7.2電能質(zhì)量特征 43附錄C(資料性)2kHz~150kHz范圍內(nèi)的傳導(dǎo)發(fā)射 44C.1總則 44C.2測量方法(2kHz~9kHz) 44C.3測量方法(9kHz~150kHz) 44C.4測量范圍和測量不確定度 45C.5聚合 45ⅤGB/T17626.30—2023附錄D(資料性)負(fù)偏離與正偏離 46D.1總則 46D.2測量方法 46D.3測量不確定度和測量范圍 46D.4聚合 46附錄E(資料性)B類測量方法 48E.1B類的背景 48E.2B類—測量聚合時間間隔 48E.3B類—測量聚合算法 48E.4B類—實(shí)時時鐘(RTC)不確定度 48E.4.1總則 48E.4.2B類—頻率—測量方法 48E.4.3B類—頻率—測量不確定度 48E.4.4B類—頻率—測量評估 48E.4.5B類—供電電壓幅值—測量方法 48E.4.6B類—供電電壓幅值—測量不確定度和測量范圍 48E.5B類—閃爍 49E.5.1總則 49E.5.2B級—電源電壓暫降和暫升—測量方法 49E.6B類—電壓中斷 49E.6.1總則 49E.6.2B類—供電電壓不平衡—測量方法 49E.6.3B類—供電電壓不平衡—不確定度 49E.6.4B類—電壓諧波—測量方法 49E.6.5B類—電壓諧波—測量不確定度和測量范圍 49E.6.6B類—電壓間諧波—測量方法 49E.6.7B類—電壓間諧波—測量不確定度和測量范圍 49E.6.8B類—載波信號電壓—測量方法 49E.6.9B類—載波信號電壓—測量不確定度和測量范圍 49E.6.10B類—電流—測量方法 50E.6.11B類—電流—測量不確定度和測量范圍 50參考文獻(xiàn) 51ⅦGB/T17626.30—2023本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件是GB/T(Z)17626《電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)》的第30部分。GB/T(Z)17626已經(jīng)發(fā)布了以下部分:—GB/T17626.1—2006電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)抗擾度試驗(yàn)總論;—GB/T17626.2—2018電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn);—GB/T17626.3—2023電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)第3部分:射頻電磁場輻射抗擾度試驗(yàn);—GB/T17626.4—2018電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn);—GB/T17626.5—2019電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn);—GB/T17626.6—2017電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度;—GB/T17626.7—2017電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、間諧波的測量和測量儀器導(dǎo)則;—GB/T17626.8—2006電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)工頻磁場抗擾度試驗(yàn);—GB/T17626.9—2011電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)脈沖磁場抗擾度試驗(yàn);—GB/T17626.10—2017電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)阻尼振蕩磁場抗擾度試驗(yàn);—GB/T17626.11—2023電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)第11部分:對每相輸入電流小于或等于16A設(shè)備的電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn);—GB/T17626.12—2023電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)第12部分:振鈴波抗擾度試驗(yàn);—GB/T17626.13—2006電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號的低頻抗擾度試驗(yàn);—GB/T17626.14—2005電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗(yàn);—GB/T17626.15—2011電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計規(guī)范;—GB/T17626.16—2007電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)0Hz~150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn);—GB/T17626.17—2005電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn);—GB/T17626.18—2016電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)阻尼振蕩波抗擾度試驗(yàn);—GB/T17626.19—2022電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)第19部分:交流電源端口2kHz~150kHz差模傳導(dǎo)騷擾和通信信號抗擾度試驗(yàn)—GB/T17626.20—2014電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)橫電磁波(TEM)波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗(yàn);—GB/T17626.21—2014電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)混波室試驗(yàn)方法;—GB/T17626.22—2017電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)全電波暗室中的輻射發(fā)射和抗擾度測量;—GB/T17626.24—2012電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)HEMP傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)方法;ⅧGB/T17626.30—2023—GB/T17626.27—2006電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn);—GB/T17626.28—2006電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn);—GB/T17626.29—2006電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn);—GB/T17626.30—2023電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)第30部分:電能質(zhì)量測量方法;—GB/T17626.31—2021電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)第31部分:交流電源端口寬帶傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn);—GB/Z17626.33—2023電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)第33部分:高功率瞬態(tài)參數(shù)測量方法—GB/T17626.34—2012電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)主電源每相電流大于16A的設(shè)備的電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)?！狦B/T17626.39—2023電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)第39部分:近距離輻射場抗擾度試驗(yàn)本文件替代GB/T17626.30—2012《電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)GB/T17626.30—2012相比,除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動外,主要技術(shù)變化如下:a)將電流測量相關(guān)內(nèi)容由資料性附錄調(diào)整為標(biāo)準(zhǔn)正文(見5.13,2012年版的A.6);b)增加了快速電壓變化(RVC)測量方法及性能驗(yàn)證相關(guān)內(nèi)容(見5.11);c)將負(fù)偏離與正偏離相關(guān)內(nèi)容調(diào)整為附錄D(見附錄D,2012年版的5.12);d)將B類測量方法相關(guān)內(nèi)容調(diào)整為附錄E(見附錄E,2012年版的第5章);e)刪除了影響量范圍和穩(wěn)態(tài)驗(yàn)證相關(guān)內(nèi)容(見2012年版的第5章)。本文件修改采用IEC61000-4-30:2021《電磁兼容(EMC)第4-30部分:試驗(yàn)和測量技術(shù)電能質(zhì)量測量方法》。本文件與IEC61000-4-30:2021的技術(shù)差異及其原因如下:—原標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-30:2021考慮到50Hz/60Hz不同電網(wǎng)情況下,對應(yīng)測量時間間隔要求分別為10/12周波、150/180周波,本文件僅保留了50Hz對應(yīng)的要求,以適應(yīng)我國國情;—IEC61000-4-30:2021規(guī)范性引用文件中列出IEC61000-4-7:2002/AMD1:2008,本文件使用GB/T17626.7—2017(IEC61000-4-7:2009,IDT)替換;—IEC61000-4-30:2021規(guī)范性引用文件中列出IEC61000-4-15:2010,在正文其他章節(jié)中多處引用IEC61000-4-15但未加日期,本文件為保持與規(guī)范性引用文件一致,在正文其他章節(jié)引用IEC61000-4-15處增加日期2010。本文件做了下列編輯性改動:—為適應(yīng)我國的標(biāo)準(zhǔn)體系,將標(biāo)準(zhǔn)名稱修改為《電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)第30部分:電能質(zhì)量測量方法》;—在A類和S類列項(xiàng)前增加了導(dǎo)語;—針對術(shù)語“閃爍”(見3.6),結(jié)合我國實(shí)際情況,增加注釋“在電能質(zhì)量領(lǐng)域中,該術(shù)語也稱為‘閃—IEC61000-4-30:2021中4.7第四段第一句與第三句高度重復(fù),本文件將其合并后并入第三段。請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任。本文件由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC246)提出并歸口。本文件起草單位:中國電力科學(xué)研究院有限公司、國網(wǎng)浙江省電力有限公司電力科學(xué)研究院、國網(wǎng)江蘇省電力有限公司、國網(wǎng)湖南省電力有限公司電力科學(xué)研究院、工業(yè)和信息化部第五研究所、中國電ⅨGB/T17626.30—2023子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院、深圳供電局有限公司、武漢大學(xué)、國網(wǎng)湖北省電力有限公司武漢供電公司。本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為:—2012年首次發(fā)布為GB/T17626.30—2012;—本次為第一次修訂。ⅩGB/T17626.30—2023引言電磁兼容性是電氣和電子設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾的能力。電磁兼容問題是影響環(huán)境及產(chǎn)品質(zhì)量的重要因素之一,其標(biāo)準(zhǔn)化工作已引起國內(nèi)外的普遍關(guān)注。在這方面,國際電工委員會(IEC)制定的IEC61000系列標(biāo)準(zhǔn)是制造業(yè)、信息產(chǎn)業(yè)、電工電氣工程及能源、交通運(yùn)輸業(yè)、社會事業(yè)及健康、消費(fèi)品質(zhì)量安全等領(lǐng)域中的通用標(biāo)準(zhǔn),分為綜述、環(huán)境、限值、試驗(yàn)和測量技術(shù)、安裝和減緩導(dǎo)則、通用標(biāo)準(zhǔn)6大類。我國已經(jīng)針對該系列標(biāo)準(zhǔn)開展了國內(nèi)轉(zhuǎn)化工作,并建立了相應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn)體系。在該標(biāo)準(zhǔn)體系中,GB/T(Z)17626《電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)》是關(guān)于電磁兼容領(lǐng)域試驗(yàn)和測量技術(shù)方面的基礎(chǔ)性標(biāo)準(zhǔn),旨在描述傳導(dǎo)騷擾、輻射騷擾等電磁兼容現(xiàn)象的抗擾度試驗(yàn)等內(nèi)容,擬由39個部分構(gòu)成?！?部分:抗擾度試驗(yàn)總論。目的在于提供電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)中有關(guān)試驗(yàn)和測量技術(shù)的使用性指導(dǎo),并對選擇相關(guān)的試驗(yàn)提供通用的建議?！?部分:靜電放電抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn),以評估電氣和電子設(shè)備遭受靜電放電時的性能?！?部分:射頻電磁場輻射抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立電氣、電子設(shè)備受到射頻電磁場輻射時的抗擾度評定依據(jù)?！?部分:電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn),以評估電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號、控制和接地端口在受到電快速瞬變脈沖群干擾時的抗擾度性能。—第5部分:浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn),以評估電氣和電子設(shè)備在受到浪涌(沖擊)時的抗擾度性能?！?部分:射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度。目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn),以評估電氣和電子設(shè)備在收到由射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾時的抗擾度性能?！?部分:供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、間諧波的測量和測量儀器導(dǎo)則。目的在于規(guī)定可用于根據(jù)某些標(biāo)準(zhǔn)給出的發(fā)射限值對設(shè)備逐項(xiàng)進(jìn)行試驗(yàn),對實(shí)際供電系統(tǒng)中諧波電流和電壓的測量的儀器?！?部分:工頻磁場抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn),以評估家用、商業(yè)和工業(yè)用電氣和電子設(shè)備處于工頻(連續(xù)和短時)磁場中的抗擾度性能。—第9部分:脈沖磁場抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn),以評估居住、商業(yè)和工業(yè)用電氣和電子設(shè)備處于脈沖磁場中的抗擾度性能?！?0部分:阻尼振蕩磁場抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn),以評估中、高壓變電站中電氣和電子設(shè)備處于阻尼振蕩磁場中的抗擾度性能?！?1部分:對每相輸入電流小于或等于16A設(shè)備的電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn),以評估電氣和電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度性能。—第12部分:振鈴波抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn),以評估在實(shí)驗(yàn)室中居住、商業(yè)和工業(yè)用電氣和電子設(shè)備的抗擾度性能,同樣也適用于發(fā)電站和變電站的設(shè)備?！?3部分:交流電端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號的低頻抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn),以評估電氣和電子設(shè)備對諧波、間諧波和電網(wǎng)信號頻率的低頻抗擾度性能。ⅪGB/T17626.30—2023—第14部分:電壓波動抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn),以評估電氣和電子設(shè)備在受到正和負(fù)的低幅值電壓波動時的抗擾度性能?！?5部分:閃爍儀功能和設(shè)計規(guī)范。目的在于為所有實(shí)際的電壓波動波形顯示正確的閃爍感知電平?！?6部分:0Hz~150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立電氣和電子設(shè)備經(jīng)受共模傳導(dǎo)騷擾測試的通用和可重復(fù)性準(zhǔn)則?！?7部分:直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn),用以在實(shí)驗(yàn)室條件下對電氣和電子設(shè)備進(jìn)行來自于如整流系統(tǒng)和/或蓄電池充電時疊加在直流電源上的紋波電壓的抗擾度試驗(yàn)?！?8部分:阻尼振蕩波抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn),以評估電氣和電子設(shè)備在受到阻尼振蕩波時的抗擾度性能?！?9部分:交流電源端口2kHz~150kHz差模傳導(dǎo)騷擾和通信信號抗擾度試驗(yàn)。目的在于確認(rèn)電氣和電子設(shè)備在公用電網(wǎng)下工作時能承受來自諸如電力電子和電力線通信系統(tǒng)(PLC)等的差模傳導(dǎo)騷擾?！?0部分:橫電磁波(TEM)波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗(yàn)。目的在于給出TEM波導(dǎo)的性能、用于電磁兼容試驗(yàn)的TEM波導(dǎo)的確認(rèn)方法、在TEM波導(dǎo)中進(jìn)行輻射發(fā)射和抗擾度試驗(yàn)的試驗(yàn)布置、步驟和要求。—第21部分:混波室試驗(yàn)方法。目的在于建立使用混波室評估電氣和電子設(shè)備在射頻電磁場中的性能和確定電氣電子設(shè)備的輻射發(fā)射等級的通用規(guī)范?！?2部分:全電波暗室中的輻射發(fā)射和抗擾度測量。目的在于規(guī)定在同一個全電波暗室內(nèi)進(jìn)行輻射發(fā)射和輻射抗擾度的通用確認(rèn)程序、受試設(shè)備的試驗(yàn)布置要求和全電波暗室測量方法?！?3部分:HEMP和其他輻射騷擾防護(hù)裝置的試驗(yàn)方法。目的在于通過描述HEMP試驗(yàn)的基本原理,以及防護(hù)元件試驗(yàn)的理論基礎(chǔ)(試驗(yàn)概念)、試驗(yàn)配置、所需設(shè)備、試驗(yàn)程序、數(shù)據(jù)處理等重要概念?！?4部分:HEMP傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)方法。目的在于規(guī)定HEMP傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)方法,包括電壓擊穿和電壓限制特性的試驗(yàn),以及電壓和電流快速變化時的殘余電壓的測量方法?！?5部分:設(shè)備和系統(tǒng)HEMP抗擾度試驗(yàn)方法。目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn),用于評估遭受HEMP輻射環(huán)境及其在電源、天線、I/O信號線和控制線上產(chǎn)生的傳導(dǎo)瞬態(tài)騷擾時的電氣和電子設(shè)備性能?！?7部分:三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)。目的在于為電氣和電子設(shè)備在受到不平衡的供電電壓時的抗擾度評價建立參考。—第28部分:工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn)。目的在于為電氣和電子設(shè)備在受到工頻頻率變化時的抗擾度評價提供依據(jù)?！?9部分:直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立評價直流電氣、電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降、短時中斷和電壓變化時的抗擾度的通用準(zhǔn)則?！?0部分:電能質(zhì)量測量方法。目的在于規(guī)定50Hz交流供電系統(tǒng)中電能質(zhì)量參數(shù)測量方法及測量結(jié)果的解釋?！?1部分:交流電源端口寬帶傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的基準(zhǔn),以評估電氣和電子設(shè)備交流電源端口在遭受有意和/或無意寬帶信號源產(chǎn)生的傳導(dǎo)騷擾時的抗擾度?！?2部分:高空核電磁脈沖(HEMP)模擬器概述。目的在于提供國際上現(xiàn)有的系統(tǒng)級HEMP模擬器以及它們作為抗擾度試驗(yàn)與驗(yàn)證設(shè)備時所需要的相關(guān)信息?！?3部分:高功率瞬態(tài)參數(shù)測量方法。目的在于給出高功率電磁瞬態(tài)響應(yīng)波形的測量方法和ⅫGB/T17626.30—2023特征參數(shù)的信息?！?4部分:主電源每相電流大于16A的設(shè)備的電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立評價電氣和電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降、短時中斷和電壓變化時的抗擾度的通用準(zhǔn)則。—第35部分:高功率電磁(HPEM)模擬器概述。目的在于提供國際上現(xiàn)有的系統(tǒng)級HPEM窄帶(窄譜)和寬帶(寬譜、亞超寬譜和超寬譜)模擬器以及它們作為抗擾度試驗(yàn)與驗(yàn)證設(shè)備時所需要的相關(guān)信息。—第36部分:設(shè)備和系統(tǒng)的有意電磁干擾抗擾度試驗(yàn)。目的在于為評估設(shè)備和系統(tǒng)對有意電磁干擾源的抗擾度提供了確定試驗(yàn)水平的方法?！?7部分:諧波發(fā)射試驗(yàn)系統(tǒng)校準(zhǔn)與驗(yàn)證協(xié)議。目的在于為制造商、終端用戶、獨(dú)立實(shí)驗(yàn)室、其他組織機(jī)構(gòu)提供系統(tǒng)化指導(dǎo),以規(guī)定一定諧波電流發(fā)射范圍內(nèi)適用的合規(guī)狀態(tài)?！?8部分:電壓波動和閃爍合規(guī)測試系統(tǒng)的測試、驗(yàn)證和校準(zhǔn)協(xié)議。目的在于為由型式試驗(yàn)設(shè)備組成的系統(tǒng)提供定期校準(zhǔn)和驗(yàn)證的指南和方法?！?9部分:近場輻射抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的基準(zhǔn),以評估暴露于近距離源的輻射射頻電磁場中的電氣電子設(shè)備的抗擾度要求?！?0部分:調(diào)制或失真信號功率的數(shù)字測量方法。目的在于介紹兩種適用于波動或非周期負(fù)載下功率量測量的數(shù)字算法,并說明所提出的算法的工作原理。我國在2012年發(fā)布了GB/T17626.30,對應(yīng)IEC61000-4-30:2008,發(fā)布實(shí)施已10年,新版標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-30:2021的主要技術(shù)內(nèi)容發(fā)生了重要變化,如增加了快速電壓變化測量方法、增加了性能驗(yàn)證有關(guān)內(nèi)容等。鑒于此,確有必要修訂GB/T17626.30,以不斷適應(yīng)國內(nèi)外相關(guān)技術(shù)內(nèi)容的新變化。本次GB/T17626.30的修訂,增加了快速電壓變化測量方法及性能驗(yàn)證有關(guān)內(nèi)容和2kHz至150kHz范圍內(nèi)的傳導(dǎo)發(fā)射相關(guān)內(nèi)容等,從而提高了電能質(zhì)量測量方法的準(zhǔn)確性,進(jìn)一步規(guī)范國內(nèi)電能質(zhì)量測量。1GB/T17626.30—2023電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)第30部分:電能質(zhì)量測量方法1范圍本文件規(guī)定了標(biāo)稱基波頻率為50Hz的交流供電系統(tǒng)中電能質(zhì)量參數(shù)測量方法及測量結(jié)果的處理。各有關(guān)參數(shù)的測量方法均采用能提供可靠且可重復(fù)的結(jié)果的術(shù)語描述,但不涉及測量方法的實(shí)現(xiàn)手段。本文件涉及的是現(xiàn)場測量方法。本文件所涵蓋的參數(shù)測量僅限電力系統(tǒng)中的傳導(dǎo)現(xiàn)象。本文件涉及的電能質(zhì)量參數(shù)是指電網(wǎng)頻率、供電電壓幅值、閃爍、供電電壓暫降和暫升、電壓中斷、瞬態(tài)電壓、供電電壓不平衡、電壓諧波和間諧波、供電電壓中的載波信號、快速電壓變化以及電流。2kHz~150kHz范圍內(nèi)的傳導(dǎo)發(fā)射的考慮參見附錄C,正偏離和負(fù)偏離的考慮參見附錄D。根據(jù)測量目的的不同,可對上述全部參數(shù)或部分參數(shù)進(jìn)行測量。注1:關(guān)于本文件的符合性測試方法見IEC62586-2。注2:供電系統(tǒng)和儀器之間傳感器的作用眾所周知,因此在本文件中沒有詳細(xì)敘述。在IECTR61869-103中有關(guān)于傳感器應(yīng)用的指導(dǎo)。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T17626.7—2017電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、間諧波的測量和測量儀器導(dǎo)則(IEC61000-4-7:2009,IDT)注:GB/T17626.7—2017與IEC61000-4-7:2002/AMD1:2008沒有技術(shù)性差異。IEC60050-161國際電工詞匯(IEV)第161部分:電磁兼容[Internationalelectrotechnicalvocabulary(IEV)—Part161:Electromagneticcompatibility]注:GB/T2900(所有部分)電工術(shù)語[IEC60050(所有部分),IDT]IEC61000-2-4電磁兼容(EMC)第2-4部分:環(huán)境工廠低頻傳導(dǎo)騷擾的兼容水平(Electro-magneticcompatibility(EMC)—Part2-4:Environment—Compatibilitylevelsinindustrialplantsfor注:GB/T18039.4—2017電磁兼容環(huán)境工廠低頻傳導(dǎo)騷擾的兼容水平(IEC61000-2-4:2002,IDT)IEC61000-4-4電磁兼容(EMC)第4-4部分:測試和測量技術(shù)電快速瞬變/猝發(fā)抗擾度測試[Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-4:Testingandmeasurementtechniques—Eletricalfasttransient/burstimmunitytest]注:GB/T17626.4—2018電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)(IEC61000-4-4:2012,IDT)IEC61000-4-15:2010電磁兼容(EMC)第4-15部分:試驗(yàn)和測量技術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計2GB/T17626.30—2023規(guī)范(Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-15:Testingandmeasurementtechniques—Flick-ermeter—Functionalanddesignspecifications)注:GB/T17626.15—2011電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計規(guī)范(IEC61000-4-15:2003,IDT)IEC61180(所有部分)低壓電氣設(shè)備的高電壓試驗(yàn)技術(shù)(High-voltagetesttechniquesforlowvoltageequipment)注:GB/T17627—2019低壓電氣設(shè)備的高電壓試驗(yàn)技術(shù)定義、試驗(yàn)和程序要求、試驗(yàn)設(shè)備(IEC61180:2016,MOD)3術(shù)語和定義IEC60050-161界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。通道channel通過某臺儀器的單個信號測量通路。注:“通道”和“相”是不相同的。電壓通道定義為兩個導(dǎo)體之間的電位差。相是指單一的導(dǎo)體。在多相系統(tǒng)中,通道可能是兩相之間,或相和中性點(diǎn)之間,或相和地之間,或中性點(diǎn)和地之間。3.2公稱輸入電壓declaredinputvoltageUdin由傳感器變比確定的公稱供電電壓。3.3公稱供電電壓declaredsupplyvoltageUc通常是系統(tǒng)的標(biāo)稱電壓Un。注:如果根據(jù)供應(yīng)商和客戶之間的協(xié)議,加在終端的電壓與標(biāo)稱電壓不同,則該電壓即為公稱供電電壓Uc。3.4暫降閾值dipthreshold為檢測電壓暫降的起始和結(jié)束而規(guī)定的電壓幅值。3.5標(biāo)記數(shù)據(jù)flaggeddata在發(fā)生電壓中斷、暫降或暫升的任意測量時間間隔內(nèi)標(biāo)記的所有其他參數(shù)的測量結(jié)果。注:例如,在有些應(yīng)用中,進(jìn)一步的分析可能會排除標(biāo)記數(shù)據(jù)。進(jìn)一步的解釋見4.7。3.6閃爍flicker亮度或頻譜分布隨時間變化的光刺激所引起的不穩(wěn)定的視覺效果。注:在電能質(zhì)量領(lǐng)域中,該術(shù)語也稱為“閃變”。[來源:GB/T4365—2003,161-08-13]3.6.1短期閃爍值short-termflickerevaluationbasedonanobservationperiodof10minPst基于10min觀察周期的短期閃爍評估值。[來源:IEC61000-4-15:2010]3GB/T17626.30—20233.6.2長期閃爍值long-termflickerindicaterPlt長期閃爍評估值。[來源:IEC61000-4-15:2010]3.7頻率為基波頻率的分量。3.8基波頻率fundamentalfrequency對時域函數(shù)作傅里葉變換后得到的頻譜中的頻率,該頻譜中所有頻率以該頻率作參考。注:為避免產(chǎn)生理解模糊,基波頻率通常由為系統(tǒng)供電的同步發(fā)電機(jī)的磁極數(shù)和轉(zhuǎn)速得到。3.9諧波分量harmoniccomponent具有諧波頻率的任何分量。注:它的值通常用方均根值來表示。為簡便起見,這個分量通常簡稱為諧波。[來源:GB/T18039.3—2017,3.2.4]諧波頻率harmonicfrequency基波頻率整數(shù)倍的頻率。注:諧波頻率與基波頻率之比稱為諧波次數(shù)(推薦表示符號:n)[來源:GB/T18039.3—2017,3.2.3]遲滯hysteresis起點(diǎn)閾值與終點(diǎn)閾值之間的幅值差。注1:遲滯的定義與電能質(zhì)量(PQ)測量參數(shù)有關(guān),該定義不同于IEC60050的定義,后者與鐵芯飽和度相關(guān)。注2:在PQ測量中引入遲滯的目的是避免幅值參數(shù)在閾值附近振蕩造成事件多次統(tǒng)計。影響量influencequantity測量對象之外的值,其變化會影響標(biāo)示值與測量結(jié)果之間的關(guān)系。[來源:IEC60050-311:2001,311-06-01]間諧波分量interharmoniccomponent頻率在兩個連續(xù)諧波頻率之間的頻譜分量。注1:該定義源自GB/T17626.7—2017。注2:它的值通常用方均根值來表示。簡單地說,這個分量通常簡稱為間諧波。間諧波頻率interharmonicfrequency任何基波頻率的非整數(shù)倍頻率。注1:作為諧波次數(shù)的擴(kuò)展,間諧波次數(shù)是間諧波頻率和基波頻率之比。這個比值不是一個整數(shù)(推薦表示符號:m)。注2:在m<1時,通常使用次諧波頻率這個術(shù)語。[來源:GB/T18039.3—2017,3.2.5]4GB/T17626.30—2023中斷interruption電氣系統(tǒng)中某一點(diǎn)的電壓降低到中斷閾值以下。中斷閾值interruptionthreshold為檢測電壓中斷的起始和結(jié)束而規(guī)定的電壓幅值。測量不確定度measurementuncertainty與測量結(jié)果關(guān)聯(lián)的一個參數(shù),用于表征合理賦予被測量的值的分散性。[來源:IEC60050-311:2001,311-01-02]標(biāo)稱電壓nominalvoltageUn指定或識別的系統(tǒng)電壓。僅當(dāng)參數(shù)的測量值大于標(biāo)稱值時,參數(shù)的測量值和標(biāo)稱值之間的差值。3.20電能質(zhì)量powerquality評估電氣系統(tǒng)某一給定點(diǎn)的電氣性能時,根據(jù)一組參考技術(shù)參數(shù)進(jìn)行評估。注:在某些情況下,這些參數(shù)可能與供電網(wǎng)和連接負(fù)載之間的兼容性有關(guān)。3.21方均根(r.m.s.)值root-mean-square(r.m.s.)value在規(guī)定時間間隔和規(guī)定帶寬內(nèi)一個量的各瞬時值的平方的算術(shù)平均值的平方根。[來源:IEC60050-103:2009,103-02-03]3.22每半周波檢測更新一次的方均根電壓r.m.s.voltagerefreshedeachhalf-cycleUrms(1/2)從基波的過零點(diǎn)開始,在一個周波內(nèi)測量得到的方均根電壓值,每半個周波更新一次。注1:該技術(shù)對每個通道都是獨(dú)立的,對于多相系統(tǒng)的不同通道將依次產(chǎn)生方均根值。注2:該值僅適用于A類中的電壓暫降、暫升、中斷和快速電壓變化(RVC)檢測及評估。注3:該方均根電壓值通常是相間電壓值,或相與中性點(diǎn)之間的電壓值。3.23每半周波檢測更新一次的方均根值電流r.m.s.currentrefreshedeachhalf-cycleIrms(1/2)在相關(guān)的電壓通道上,從基波的過零點(diǎn)開始,在一個周波內(nèi)測量得到的方均根電流值,每半個周波更新一次。注:作為指導(dǎo),相關(guān)的電壓通道可能是單相或星形網(wǎng)絡(luò)上相應(yīng)的相對中性點(diǎn)通道。如果沒有相應(yīng)的電壓通道(例如,在三角形網(wǎng)絡(luò)的電流、接地電流或中性點(diǎn)電流測量上),則可能使用用于頻率測量的參考通道(見5.1.3)。3.24每周波檢測更新一次的方均根值電壓r.m.s.voltagerefreshedeachcycleUrms(1)在一個周波內(nèi)測量得到的方均根電壓值,每一個周波更新一次。5GB/T17626.30—2023注1:和Urms(1/2)相比,該參數(shù)測量時不需要規(guī)定周波的開始時間。注2:該值僅適用于S類中的電壓暫降、暫升和中斷檢測及評估。注3:該方均根電壓值通常是相間電壓值,或相與中性點(diǎn)之間的電壓值。3.25影響量范圍rangeofinfluencequantities單個影響量的取值范圍。3.26快速電壓變化rapidvoltagechange;RVC發(fā)生在兩個穩(wěn)態(tài)條件之間的方均根電壓快速轉(zhuǎn)換,且期間內(nèi)方均根電壓未超過暫降或暫升閾值。3.27參考通道referencechannel在多相測量中,其中一個電壓測量通道被指定為參考通道。注:在單相測量中,電壓測量通道也為參考通道。3.28殘余電壓residualvoltageUres在電壓暫降或中斷期間記錄到的Urms(1/2)的最小值。注:殘余電壓用伏特表示,或用公稱輸入電壓的百分比或標(biāo)幺值表示。3.29滑模參考電壓slidingreferencevoltageUsr1min內(nèi)的電壓幅值平均值,用以表示電壓暫降或暫升之前的電壓。注1:精確定義參見5.4.4。注2:滑模參考電壓一般用于確定暫降或暫升期間的電壓變化,通常適用于中壓或高壓系統(tǒng)。3.30暫升閾值swellthreshold為檢測電壓暫升的起始和結(jié)束而規(guī)定的電壓幅值。3.31時間聚合timeaggregation為得到某一較長時間間隔上的值,對某一給定參數(shù)的幾個連續(xù)值(在相同時間間隔上確定每個值)進(jìn)行累加。注:本文件中,聚合總是指時間聚合。3.32僅當(dāng)參數(shù)的測量值小于標(biāo)稱值時,參數(shù)的測量值和標(biāo)稱值之間的差值的絕對值。3.33協(xié)調(diào)世界時CoordinatedUniversalTime;UTC一種時標(biāo),它構(gòu)成標(biāo)準(zhǔn)頻率和時間信號的協(xié)調(diào)的無線電播發(fā)的基礎(chǔ)。它在速率上精確地對應(yīng)于國際原子時,但與之相差整數(shù)倍秒。注1:協(xié)調(diào)世界時由國際度量衡局(BIPM)和國際地球旋轉(zhuǎn)服務(wù)組織(IERS)建立。注2:UTC時標(biāo)通過插入或刪除若干秒來調(diào)整,叫作正或負(fù)跳秒,以保證與UT1近似一致。[來源:RecommendationITU-RTF.686-3]6GB/T17626.30—20233.34電壓暫降voltagedip電氣系統(tǒng)中某點(diǎn)電壓幅值暫時下降到閾值以下。注1:電壓中斷是一種特殊形式的電壓暫降。后續(xù)處理通常用來區(qū)分電壓暫降和電壓中斷。注2:電壓暫降也被稱作電壓跌落。不過在本文件中只使用電壓暫降這個術(shù)語。3.35電壓暫升voltageswell電氣系統(tǒng)中某點(diǎn)電壓幅值暫時升高到閾值以上。3.36電壓不平衡voltageunbalance多相系統(tǒng)中的一種狀態(tài),在這種狀態(tài)下,線電壓(基波分量)方均根值和/或相鄰線電壓之間的相角不相等。注1:不平衡度通常用負(fù)序、零序分量與正序分量的比值來表示。注2:在本文件中,電壓不平衡是指三相系統(tǒng)中的電壓不平衡。[來源:IEC60050-161:2002,161-08-09,有修改—增加了注釋。]4總則和要求4.1測量分類對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類(A類和S類)。每一類都包括測量方法和相應(yīng)的性能要求。a)A類該類用于應(yīng)精確測量的場合,比如,可能用于需要解決爭端的合同,驗(yàn)證是否和標(biāo)準(zhǔn)相符等。在測量同一信號時,用兩臺符合A類要求的不同儀器測量同一信號的某參數(shù)時,所得測量結(jié)果將在該參數(shù)規(guī)定的不確定度范圍內(nèi)相匹配。注1:僅當(dāng)用戶選擇的參數(shù)(閾值、遲滯等)匹配時,A類測量才會產(chǎn)生匹配結(jié)果。b)S類該類用于調(diào)查或電能質(zhì)量評估等統(tǒng)計性應(yīng)用,使用的參數(shù)可能只是所有參數(shù)的一個有限子集。盡管S類使用和A類相同的測量間隔,但S類的處理要求比A類要低許多。有些調(diào)查可能會評估網(wǎng)絡(luò)上多個測量點(diǎn)的電能質(zhì)量參數(shù);而某些調(diào)查則可能評估一段時間內(nèi)單個測量點(diǎn)或建筑物內(nèi)某點(diǎn)甚至單個大型設(shè)備內(nèi)的電能質(zhì)量參數(shù)。c)B類有關(guān)B類的信息,參見附錄E(資料性)。新儀器不應(yīng)采用B類方法。鑒于所有新的儀器設(shè)計將符合A類或S類要求,已將B類移至附錄E。仍在使用的舊儀器可能與B類方法相關(guān)。B類可能在本文件的下一版中刪除。注2:B類測量方法提供了有用但不一定可比的信息。B類在IEC61000-4-30:2003(第1版)中引入,目的是避免舊的儀器被淘汰。在IEC61000-4-30:2008(第2版)中已提醒B類可能在本文件后續(xù)版本中刪除。在本版再次提醒B類可能在本文件后續(xù)版本中移除,并且將B類移至資料性附錄E。用戶應(yīng)根據(jù)應(yīng)用情況選擇需要的類別。對于故障排查,用戶可根據(jù)問題類型選擇A類或S類方法。儀器制造商宜說明那些沒有明確標(biāo)示但卻會降低儀器性能的影響量。儀器應(yīng)測量本文件規(guī)定的部分或全部參數(shù),對所有參數(shù)最好使用同一類方法。有關(guān)指南,見IEC62586-1及IEC62586-2。7GB/T17626.30—2023儀器制造商應(yīng)說明所測是何參數(shù),各參數(shù)采用哪類測量方法,各類測量方法的Udin范圍,及滿足各類所需的必要條件及附屬要求(同步、探頭、校準(zhǔn)周期、溫度范圍等)。4.2測量的組織待測量可直接測量(如在通常的低壓系統(tǒng)中),或者通過測量傳感器測量。整個測量鏈路如圖1所示。圖1測量鏈路儀器可包含整個測量鏈路(見圖1)。本文件規(guī)范部分不考慮儀器外部任何可能的互感器及其所引入的不確定性,但在A.2中提供指導(dǎo)。4.3待測電氣量測量能在單相供電系統(tǒng)中進(jìn)行,也能在多相供電系統(tǒng)中進(jìn)行。根據(jù)情況,可能需要測量的是相導(dǎo)線和中性點(diǎn)之間的電壓(相—中性點(diǎn)電壓),或相導(dǎo)線之間的電壓(線電壓),或相導(dǎo)線、中性點(diǎn)和接地之間(相—接地點(diǎn)電壓、中性點(diǎn)—接地點(diǎn)電壓)。本文件的目的不是為了強(qiáng)制規(guī)定待測電氣量如何選擇。除了電壓不平衡的測量外(只適用于多相系統(tǒng)),在本文件中規(guī)定的測量方法都是能在每個測量通道上獨(dú)立使用的。注:相與相之間的瞬時值一般通過直接測量,或由相對中性點(diǎn)或相對地的瞬時測量值推導(dǎo)得到。電流測量可在供電系統(tǒng)的每一條導(dǎo)線上進(jìn)行,包括中線和保護(hù)接地導(dǎo)線(見5.13)。4.4某時段內(nèi)的測量聚合對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類(A類和S類)。a)A類對50Hz電力系統(tǒng),幅值參數(shù)(供電電壓、諧波、間諧波及不平衡度)測量的基本測量時段應(yīng)為10個周波。每隔10minUTC(協(xié)調(diào)世界時)計時點(diǎn),10周波測量應(yīng)重新同步一次(見圖2)。注1:測量的不確定度包含在每個參數(shù)的不確定度測量協(xié)議中。隨后在另外3個時間段內(nèi)對10周波值進(jìn)行聚合:●150周波的時間段;●10min時間段;●用于閃爍Plt測量的2h時間段。注2:除了閃爍Plt測量需要2h聚合時間段外,所有參數(shù)的2h時間段聚合都是可選的。在某些應(yīng)用中,2h時間段聚合在某些應(yīng)用下可能有用。注3:B.1和B.2中討論了這些聚合時間段的應(yīng)用。8GB/T17626.30—2023圖2A類聚合時間段的同步b)S類聚合時間段與A類相同。4.5測量聚合算法4.5.1要求應(yīng)采用輸入值的方均根進(jìn)行聚合計算。對閃爍測量,應(yīng)使用不同的聚合算法(見IEC61000-4-15:2010)。4.5.2150周波聚合對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類(A類和S類)。a)A類150周波時段的數(shù)據(jù)應(yīng)以15個10周波時段進(jìn)行無縫聚合。每個UTC10min時刻要對150周波時間段進(jìn)行一次再同步,如圖2所示。當(dāng)10min時間點(diǎn)到時,新的150周波時段開始,之前未完成的150周波時段也在繼續(xù),直至結(jié)束。這兩個150周波時段之間可能會有重疊(圖2中的重疊2)。b)S類150周波時段的數(shù)據(jù)應(yīng)是對10周波時段數(shù)據(jù)進(jìn)行聚合。允許以UTC10min標(biāo)記再同步,但不是強(qiáng)制性的。(見圖3)。對于諧波、間諧波、電網(wǎng)載波信號和不平衡度測量,數(shù)據(jù)聚合的連續(xù)性不做強(qiáng)制性要求,允許有間隙。在每個150周波時段內(nèi),至少應(yīng)有3個10周波時段值被聚合,而每50個周波內(nèi)至少應(yīng)9GB/T17626.30—2023有一個10周波值被聚合(見圖4)。對于所有其他參數(shù),150周波時間間隔內(nèi)的數(shù)據(jù)應(yīng)以15個10周波時間段間沒有間隙地進(jìn)行聚合。圖3S類聚合時間段的同步:參數(shù)不允許出現(xiàn)間斷圖4S類聚合時間段的同步:參數(shù)允許出現(xiàn)間斷(見4.5.2)4.5.310min聚合對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類(A類和S類)。a)A類10min聚合值應(yīng)標(biāo)記為10min聚合結(jié)束時刻四舍五入至最近整數(shù)秒的UTC時間值(例如,01H10.00,000)。10GB/T17626.30—2023注:在某些情況下,使用本地時間可能會很有用。本地時間與UTC時間之前的偏差是固定的,或因一年中的時間而異。這種時間戳通常包括時間和日期,稱作“絕對時間”。10min時段內(nèi)的數(shù)據(jù)應(yīng)從10周波數(shù)據(jù)聚合。每個10min時段應(yīng)從UTC10min計時點(diǎn)處開始。UTC10min計時點(diǎn)也用于對10周波間隔和150周波間隔進(jìn)行再同步(見圖2)。10min聚合時段的最后一個10周波時段通常會和下一個UTC10min計時點(diǎn)發(fā)生重疊。任何10周波時段間隔的重疊(圖2中的重疊1)都會被包含在前一個10min時間間隔的聚合中。b)S類S類中的10min聚合方法應(yīng)使用A類方法或下列簡化方法。10min時間間隔使用的數(shù)據(jù)應(yīng)從10周波時間間隔聚合得來。在UTC10min計時點(diǎn)處沒有再同步。各個10min時間間隔都不是同步的。10min聚合值應(yīng)在10min聚合結(jié)束時刻標(biāo)記時間值(例如,01H10.00,040)。此時不會有重疊出現(xiàn),如圖3和圖4所示。4.5.42h聚合對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類(A類和S類)。a)A類2h時間間隔的數(shù)據(jù)應(yīng)從12個10min時間間隔聚合得到。2h的間隔應(yīng)無縫,并且沒有重疊。b)S類同A類。4.6時鐘不確定度時鐘不確定度的定義是相對于協(xié)調(diào)世界時(UTC)的。UTC在不斷增加并在全球范圍內(nèi)可用。注1:在某些情況(例如外部同步更新等)下,時鐘可能會向前或向后偏移。當(dāng)時鐘向前調(diào)整時,數(shù)據(jù)可能會有間隙。當(dāng)時鐘向后調(diào)整時,數(shù)據(jù)可能會重疊。對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類。a)A類無論總的時間間隔是多少,時鐘的不確定度不應(yīng)超過±20ms。注2:該性能通常通過測量過程中周期性同步程序?qū)崿F(xiàn),或通過GPS接收機(jī),或通過接收發(fā)射的無線電時標(biāo)信號實(shí)現(xiàn),或通過使用網(wǎng)絡(luò)對時信號實(shí)現(xiàn)。當(dāng)無法通過外部信號同步時,時標(biāo)容差應(yīng)滿足每24h不超過±1s;但無論如何,此例外并不意味可不滿足該段第一部分所規(guī)定的要求。注3:該性能要求是必需的,它用來保證采用A類方法的兩臺儀器在連接同一個信號時,產(chǎn)生相同的10min聚合結(jié)果。b)S類時鐘不確定度每24h不應(yīng)超過±5s。4.7標(biāo)記的概念在電壓暫降、暫升或中斷時,用其他一些參數(shù)的測量算法(例如頻率測量)可能產(chǎn)生一個不可靠的結(jié)果。因此使用標(biāo)記的概念可避免以下情況出現(xiàn),如將同一信號事件在不同參數(shù)測量中被重復(fù)使用(例如,將單次暫降同時記作暫降和頻率變化),并表明聚合值可能是不可靠的。標(biāo)記僅在電壓暫降、暫升和中斷時被觸發(fā)。暫降和暫升的檢測取決于用戶所選擇的閾值,該選擇將決定哪些數(shù)據(jù)會被標(biāo)記。11GB/T17626.30—2023對于A類和S類方法,標(biāo)記適用于對電網(wǎng)頻率、電壓幅值、閃爍、供電電壓不平衡、電壓諧波、電壓間諧波、電壓載波信號以及對參數(shù)的負(fù)偏離和正偏離。如果在給定時間間隔內(nèi),有任一值被標(biāo)記,被標(biāo)記的值應(yīng)存儲并包括在聚合過程中,包括該值的聚合值也應(yīng)標(biāo)記并存儲。注1:有關(guān)其他類型的標(biāo)記或數(shù)據(jù)標(biāo)記的信息,見IEC62586-1。注2:用戶能決定如何評估標(biāo)記的數(shù)據(jù)。5電能質(zhì)量參數(shù)5.1電網(wǎng)頻率5.1.1測量方法對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類(A類和S類)。a)A類頻率讀數(shù)應(yīng)每10s刷新一次。由于在10s時間間隔內(nèi)電力系統(tǒng)頻率可能不會正好是50Hz,所以其中包括的周期數(shù)不一定正好是整數(shù)。基波分量頻率輸出是10s時間間隔內(nèi),整數(shù)個周期數(shù)與該整數(shù)個周期所累計持續(xù)時間的比值。若頻率計算采用過零點(diǎn)方法,那么在評估之前,應(yīng)對諧波和間諧波進(jìn)行衰減,以最大限度減少由于多個過零點(diǎn)帶來的影響。測量的時間間隔之間應(yīng)沒有重疊。對于與10s時間信號重疊的個別周期應(yīng)予剔除。每個10s時間間隔應(yīng)嚴(yán)格從10s計時處開始,其不確定度見4.6的規(guī)定。其他可獲得等效結(jié)果的方法,如卷積也可使用。注:對于某些應(yīng)用,使用短于10s的時間間隔可能很有用,例如10周波(風(fēng)力發(fā)電機(jī))、1s(國家標(biāo)準(zhǔn))等。b)S類同A類。5.1.2測量不確定度和測量范圍對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類(A類和S類)。a)A類在第6章所述條件下,在測量范圍為42.5Hz~57.5Hz時,測量不確定度不應(yīng)超過±10mHz。b)S類在第6章所述條件下,在測量范圍為42.5Hz~57.5Hz時,測量不確定度不應(yīng)超過±50mHz。5.1.3測量評估對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類(A類和S類)。a)A類頻率測量應(yīng)在參考通道上進(jìn)行。制造商應(yīng)規(guī)定參考通道失壓情況下的頻率測量方法。b)S類同A類。5.1.4聚合聚合不作強(qiáng)制性要求。12GB/T17626.30—20235.2供電電壓的幅值5.2.1測量方法對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類(A類和S類)。a)A類電壓幅值的測量值,應(yīng)是10個周波時間段的方均根值。每個10周波時間段應(yīng)是連續(xù)的,而且相鄰的10周波時間間隔應(yīng)無重疊,圖2中所示的重疊1除外。注1:該測量方法用于準(zhǔn)平穩(wěn)信號,不適用于異常信號如暫降、暫升、電壓中斷和瞬態(tài)電壓的檢測和測量。注2:根據(jù)定義,這里的方均根值包括諧波、間諧波和電網(wǎng)載波信號等。b)S類同A類。5.2.2測量不確定度和測量范圍對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類(A類和S類)。a)A類在第6章所述的條件下,測量不確定度不應(yīng)超過Udin的±0.1%,測量范圍為Udin的10%~150%。b)S類在第6章所述的條件下,測量不確定度不應(yīng)超過Udin的±0.5%,測量范圍為Udin的20%~120%。5.2.3測量評估不作要求。5.2.4聚合應(yīng)按照4.4和4.5的規(guī)定執(zhí)行。5.3閃爍5.3.1測量方法對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類(A類和S類)。a)A類IEC61000-4-15:2010的F3級作為最低要求適用。F3級不宜用于新的設(shè)計。宜使用F1級,在本文件的下一版中可能變?yōu)橐笫褂谩)S類IEC61000-4-15:2010的F3級作為最低要求適用。5.3.2測量不確定度和測量范圍對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類(A類和S類)。a)A類見IEC61000-4-15:2010。在第6章所述的條件下,當(dāng)測量范圍為0.2Pst~10Pst時,應(yīng)滿足GB/T17626.15—2011規(guī)定的測量不確定度要求。b)S類見IEC61000-4-15:2010。在第6章所述的條件下,當(dāng)測量范圍為0.4Pst~4Pst時,應(yīng)滿足2倍于GB/T17626.15—2011中允許的測量不確定度要求。13GB/T17626.30—20235.3.3測量評估對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類(A類和S類)。a)A類適用IEC61000-4-15:2010。Pst所用的10min時間間隔應(yīng)從UTC10min計時點(diǎn)處開始,并應(yīng)該用結(jié)束時刻時間值進(jìn)行標(biāo)記(見4.5.3)。電壓暫降、暫升和中斷都將導(dǎo)致Pst和Plt的輸出值被標(biāo)記(見IEC61000-4-15:2010)。b)S類同A類。5.3.4聚合對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類(A類和S類)。a)A類應(yīng)根據(jù)IEC61000-4-15:2010進(jìn)行聚合。b)S類同A類。5.4供電電壓暫降和暫升5.4.1測量方法對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類(A類和S類)。a)A類電壓暫降和暫升的基本測量值Urms應(yīng)為每個測量通道上的Urms(1/2)值(見3.22)。測量Urms(1/2)的周波持續(xù)時間取決于頻率。頻率由最后一個沒有標(biāo)記的電源頻率測量值(見4.7及5.1)或者任何其他可滿足第6章不確定度要求的方法確定。注1:根據(jù)定義,這里的Urms(1/2)值包括諧波、間諧波和電網(wǎng)載波信號等。注2:避免在快速事件序列中發(fā)生暫降和暫升時丟失很重要的數(shù)據(jù)(例如,當(dāng)發(fā)生故障進(jìn)行重合閘時,3個事件可能在一秒鐘到一分鐘時間段內(nèi)接連發(fā)生而序列之間最多間隔1min)。如果在快速突發(fā)事件期間無法記錄暫降/暫升事件特征參數(shù),則事件計數(shù)可能很有用。b)S類電壓暫降和暫升的基本測量值Urms應(yīng)為每個測量通道上的Urms(1/2)值(見3.22)或每個測量通道上的Urms(1)值(見3.24)。制造商應(yīng)規(guī)定采用何種測量值。注3:根據(jù)定義,這里的Urms(1)值包括諧波、間諧波和電網(wǎng)載波信號等。5.4.2電壓暫降的檢測和評估5.4.2.1電壓暫降的檢測暫降閾值表示為Udin或滑模參考電壓Usr的百分比(見5.4.4)。用戶應(yīng)聲明所采用的參考電壓。注:在低壓系統(tǒng)中通常不采用滑模參考電壓Usr。參見IECTR61000-2-8獲取更多信息和建議?！趩蜗嘞到y(tǒng)中,當(dāng)電壓Urms降低到暫降閾值以下時,記作電壓暫降的開始;當(dāng)電壓Urms上升到等于或大于暫降閾值與遲滯電壓之和時,記作電壓暫降的結(jié)束。始,當(dāng)所有測量通道的Urms電壓上升到等于或大于暫降閾值與遲滯電壓之和時,記作電壓暫降14GB/T17626.30—2023的結(jié)束。暫降閾值和遲滯電壓大小均由用戶根據(jù)用途進(jìn)行設(shè)定。5.4.2.2電壓暫降的評估電壓暫降的特征值包括兩個參數(shù):殘余電壓(Ures)或深度、持續(xù)時間?！妷簳航禋堄嚯妷簽闀航颠^程中任一通道上測得的最低Urms值?！疃仁侵竻⒖茧妷?Udin或者Usr)和殘余電壓之間的差值。通常用參考電壓的百分比表示。注1:在暫降期間,除了暫降的殘余電壓之外,同時記錄每個通道上的最低Urms(1/2)可能是有用的。每個通道上低于暫降閾值的持續(xù)時間也可能有用。注2:如果在暫降之前、期間和之后記錄到電壓波形,則在數(shù)據(jù)記錄中可能會獲得有關(guān)相角變化的有用信息。電壓暫降的開始時間應(yīng)為觸發(fā)事件通道的Urms的后沿時標(biāo);電壓暫降的結(jié)束時間應(yīng)為終止事件Urms的后沿時標(biāo),Urms由閾值和遲滯電壓之和來確定。電壓暫降的持續(xù)時間是指從電壓暫降起始到結(jié)束所用的時間。注3:對于多相系統(tǒng)測量,電壓暫降的持續(xù)時間通常從其中一個通道開始,而在另一個通道結(jié)束。注4:電壓暫降的包絡(luò)曲線并不一定是矩形,因此,對于一個給定的電壓暫降,測量持續(xù)的時間取決于所選定的電壓暫降閾值。一般使用多個暫降閾值(在電壓暫降至電壓中斷閾值范圍內(nèi)設(shè)定)來估計電壓暫降的包絡(luò)曲線。注5:遲滯電壓通常為Udin的2%。注6:在故障檢修或統(tǒng)計分析中的應(yīng)用,暫降閾值通常為固定參考電壓的85%~90%。注7:殘余電壓通常對終端用戶有用,同時因?yàn)闅堄嚯妷菏菂⒖剂汶娢?所以一般被優(yōu)先加以利用。相比之下,深度通常對電氣供應(yīng)方有用,尤其是高壓系統(tǒng)或者當(dāng)使用滑模參考電壓時。注8:在電壓暫降過程中會出現(xiàn)相位移(見A5.5)。注9:當(dāng)穿越閾值時,一般記錄一個時間標(biāo)記。5.4.3電壓暫升的檢測和評估5.4.3.1電壓暫升的檢測暫升閾值表示為Udin或滑模參考電壓Usr的百分比(見5.4.4)。用戶應(yīng)聲明所使用的參考電壓。注:在低壓系統(tǒng)中通常不使用滑模參考電壓Usr。見IECTR61000-2-8可獲取更多信息和建議?！趩蜗嘞到y(tǒng)中,當(dāng)Urms電壓上升超過暫升閾值時,記作電壓暫升的開始,當(dāng)Urms電壓下降到等于或者小于暫升閾值與遲滯電壓之差時,記作電壓暫升的結(jié)束?！诙嘞嘞到y(tǒng)中,當(dāng)一個或多個通道的Urms電壓超過暫升閾值時,記作電壓暫升的開始,當(dāng)所有測量通道的Urms電壓下降到等于或小于暫升閾值與遲滯電壓之差時,記作電壓暫升的結(jié)束。暫升閾值和遲滯電壓大小均由用戶根據(jù)用途設(shè)定。5.4.3.2電壓暫升的評估電壓暫升的特征值包括兩個參數(shù):最大暫升電壓幅值和持續(xù)時間?！畲髸荷妷悍凳侵鸽妷簳荷^程中任一通道上測得的Urms最大值?！妷簳荷拈_始時間應(yīng)為觸發(fā)事件通道Urms的后沿時間,電壓暫升的結(jié)束時間應(yīng)為終止事件Urms的后沿時間,Urms由閾值與遲滯電壓之差來確定?！妷簳荷某掷m(xù)時間是指從電壓暫升起始到結(jié)束的時間差。注1:對于多相系統(tǒng)測量,電壓暫升持續(xù)時間的測量通常開始于其中一個通道,而結(jié)束于另一個通道。注2:電壓暫升的包絡(luò)曲線并不一定是矩形。因此,對于一個給定的電壓暫升,測得的持續(xù)時間取決于暫升閾值。注3:遲滯電壓通常為Udin的2%。15GB/T17626.30—2023注4:暫升閾值通常大于Udin的110%。注5:在電壓暫升過程中也會出現(xiàn)相位移。注6:當(dāng)穿越閾值時,一般記錄一個時間標(biāo)記。5.4.4滑模參考電壓的計算滑模參考電壓是可選項(xiàng),不作強(qiáng)制性要求。如果滑模參考電壓用于檢測電壓暫降或暫升,應(yīng)采用時間常量為1min的一階濾波器計算滑模參考電壓。濾波器計算公式如公式(1)所示:Usr(n)=0.9967×Usr(n-1)+0.0033×U(10)rms………………(1)式中:Usr(n)—滑模參考電壓的當(dāng)前值;Usr(n-1)—滑模參考電壓的前一個值;U(10)rms—最近一個10周波的方均根值。測量開始時,滑模參考電壓的初始值設(shè)置為公稱輸入電壓?；⒖茧妷褐得?0個周波更新一次。如果某10周波帶有標(biāo)記,則滑動參考電壓值不會更新,仍使用滑動參考電壓的前一個值。5.4.5測量不確定度和測量范圍5.4.5.1殘余電壓和暫升電壓幅值的測量不確定度對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類(A類和S類)。a)A類測量不確定度不應(yīng)超過Udin的±0.2%。b)S類測量不確定度不應(yīng)超過Udin的±1.0%。5.4.5.2持續(xù)時間的測量不確定度對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類(A類和S類)。a)A類電壓暫降或暫升持續(xù)時間的不確定度等于暫降或暫升起始點(diǎn)不確定度(半個周波)加上結(jié)束點(diǎn)不確定度(半個周波)。b)S類如果使用Urms(1/2),電壓暫降或暫升持續(xù)時間的不確定度等于暫降或暫升起始點(diǎn)不確定度(半個周波)加上結(jié)束點(diǎn)不確定度(半個周波)。如果使用Urms(1),則電壓暫降或暫升持續(xù)時間的不確定度等于暫降或暫升起始點(diǎn)不確定度(一個周波)加上結(jié)束點(diǎn)不確定度(一個周波)。5.4.5.3聚合聚合不適用于觸發(fā)事件。5.5電壓中斷5.5.1測量方法電壓的各類基本測量方法應(yīng)按照5.4.1中的規(guī)定進(jìn)行。5.5.2電壓中斷的評估電壓中斷的閾值為Udin的百分比。16GB/T17626.30—2023在單相系統(tǒng)中,當(dāng)Urms電壓下降到低于中斷閾值時,記作電壓中斷的起始;當(dāng)Urms電壓上升到等于或大于中斷閾值與遲滯電壓之和時,記作電壓中斷的結(jié)束。在多相系統(tǒng)中,當(dāng)所有通道的Urms電壓都下降到低于中斷閾值以下時,記作電壓中斷的起始;當(dāng)任一通道的Urms電壓上升到等于或大于中斷閾值與遲滯電壓之和時,記作電壓中斷的結(jié)束。電壓中斷閾值和遲滯電壓大小均由用戶根據(jù)用途設(shè)定。電壓中斷閾值不應(yīng)小于殘余電壓測量不確定度與遲滯電壓之和。遲滯電壓通常為Udin的2%。電壓中斷的開始時間應(yīng)為記錄啟動中斷事件通道的Urms的后沿時間,電壓中斷的終止時間應(yīng)為記錄中斷過程結(jié)束Urms的后沿時間,Urms由閾值和遲滯電壓之和確定。電壓中斷的持續(xù)時間是指從電壓中斷起始到結(jié)束的時間差。注1:例如,電壓中斷閾值一般設(shè)為Udin的5%或10%。注2:GB/T4365—2003的定義161-08-20將電壓幅值降低到標(biāo)稱電壓的1%以下的情況稱為電壓中斷。但是當(dāng)電壓降低到標(biāo)稱電壓的1%以下時很難準(zhǔn)確測量。因此,用戶能夠考慮設(shè)置一個適當(dāng)?shù)碾妷褐袛嚅撝?。?:在多相系統(tǒng)中,其中一個或多個相電壓的中斷對于連接到該系統(tǒng)的單相用戶來說意味著一次中斷,即使這種情況并不能歸為多相系統(tǒng)的中斷。5.5.3測量不確定度和測量范圍持續(xù)時間的測量不確定度見5.4.5.2。5.5.4聚合聚合不適用于觸發(fā)事件。5.6瞬態(tài)電壓A.3提供了表征瞬態(tài)電壓重要參數(shù)的豐富信息。瞬態(tài)電壓的測量是有用的,但不是強(qiáng)制性的。5.7供電電壓不平衡5.7.1測量方法不平衡測量僅適用于三相系統(tǒng)。對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類(A類和S類)。a)A類使用對稱分量法評估供電電壓不平衡度。在不平衡條件下,除正序分量U1外,至少還存在以下分量之一:負(fù)序分量U2和/或零序分量U0。測量10個周波時間段內(nèi)輸入電壓的基波分量。注1:通過使用濾波器或DFT(離散傅里葉變換)算法來減小諧波的影響。注2:僅使用方均根值計算不平衡度無法考慮相角位移對不平衡的影響;存在諧波電壓時,將導(dǎo)致無法預(yù)料的結(jié)果。使用負(fù)序不平衡度和零序不平衡度獲得更精確且更直接的結(jié)果。負(fù)序不平衡度u2可用百分?jǐn)?shù)表示,由公式(2)計算:×100%=×100%……零序不平衡度u0可用百分?jǐn)?shù)表示,由公式(3)計算:×100%=×100%……注3:根據(jù)定義,測量相電壓時,零序不平衡度為零。但在該情況下,相對中性點(diǎn)或相對地電壓仍可包括零序分量。注4:能夠證明在數(shù)學(xué)上等效于公式(2)和公式(3)的任何其他方法都能接受。17GB/T17626.30—2023b)S類制造商應(yīng)規(guī)定用于計算負(fù)序不平衡度u2的算法及方法?？蓪α阈虿黄胶舛萿0進(jìn)行評估,但不作為強(qiáng)制性規(guī)定。5.7.2測量不確定度和測量范圍對每一個待測參數(shù)定義為常用的兩類