專利情報(bào)在企業(yè)競爭戰(zhàn)略中的應(yīng)用

專利情報(bào)在企業(yè)競爭

戰(zhàn)略中的應(yīng)用國家知識產(chǎn)權(quán)局發(fā)展研究中心陳燕2011.3信息情報(bào)分解為Competitivedata（競爭性資料）→Competitiveinformation（競爭信息）→Competitiveintelligence（競爭情報(bào)）→Acompetitorprofile（競爭對手報(bào)告）→Competitivestrategy（競爭戰(zhàn)略）→Competitiveadvantage（競爭優(yōu)勢）哲學(xué)思想：調(diào)查情況、分析問題、研究對策一、培養(yǎng)情報(bào)思維專利情報(bào)在企業(yè)競爭

戰(zhàn)略中的應(yīng)用一.專利文獻(xiàn)二.專利文獻(xiàn)檢索三.專利信息源四.專利信息分析五.企業(yè)決策與專利情報(bào)六.企業(yè)競爭戰(zhàn)略的實(shí)施七.創(chuàng)造有價(jià)值的專利組合

1.1專利文獻(xiàn)概念專利文獻(xiàn)的起源部分國家現(xiàn)存的第一件專利說明書的時(shí)間如下：英國：1617

年法國：1791年；俄國：1814年；美國：1836年德國：1877年；瑞典：1885年；瑞士：1888年；丹麥：1894年；奧地利：1899年；荷蘭：1903年；澳大利亞：1904年；波蘭：1924年；韓國：1948年中國：1985年（中國第一件專利文獻(xiàn)出版于1985年9月10日，是一份發(fā)明專利申請審定說明書）專利文獻(xiàn)知識是企業(yè)開展專利工作的基礎(chǔ)us6260234B1二、專利文獻(xiàn)檢索—專利競爭情報(bào)獲得的關(guān)鍵步驟2.1專利文獻(xiàn)檢索概述2.2專利分類的應(yīng)用2.3檢索系統(tǒng)及主要檢索入口2.4專利檢索的檢索方法2.1專利文獻(xiàn)檢索概述

2.1.2專利檢索模式

檢索模式線索檢索信息情報(bào)科技法律經(jīng)濟(jì)反饋著眼點(diǎn)不同有效信息不同螺旋式上升2.2專利文獻(xiàn)檢索—專利競爭情報(bào)獲得的關(guān)

鍵步驟專利分類的應(yīng)用：國際專利分類法美國專利分類日本專利分類歐洲專利分類Derwent分類及CPI、EPI代碼2.4專利文獻(xiàn)檢索方法2.4.1檢索的基本思路如果已知技術(shù)主題進(jìn)行檢索時(shí)，則檢索的基本思路及方式如下：(1)利用主題詞，初步找出幾篇文獻(xiàn)。(2)確定相關(guān)的國際專利分類號IPC。(3)確定同義詞、近義詞。(4)確定完整的檢索提問式并檢索。(5)根據(jù)檢索結(jié)果，瀏覽其文摘，進(jìn)行篩選。(6)深入分析，以此修改檢索提問式，進(jìn)行擴(kuò)大檢索。專利檢索案例刻蝕中文檢索式刻蝕英文檢索式生物醫(yī)藥項(xiàng)目分解三、專利信息源專利信息源及其利用—專利競爭情報(bào)獲得的基本保證3.1網(wǎng)上專利數(shù)據(jù)庫的特點(diǎn)3.2網(wǎng)上專利數(shù)據(jù)庫查詢途徑3.3中外專利檢索網(wǎng)站介紹3.4商業(yè)數(shù)據(jù)庫3.5各國專利文獻(xiàn)信息源的針對性如何選擇專利檢索的信息源？四、專利信息分析4.1專利信息分析含義：信息分析，又稱情報(bào)研究，是通過系統(tǒng)化的程序?qū)⑿畔⑥D(zhuǎn)化為知識、情報(bào)和謀略的一類科學(xué)勞動的集合。從數(shù)據(jù)挖掘到軟科學(xué)研究，形成了一條很寬的研究譜帶。從專利文獻(xiàn)中提取專利信息，經(jīng)過加工整理、分析形成專利情報(bào)，為企業(yè)乃至國家的科技發(fā)展戰(zhàn)略服務(wù)，這就是專利信息分析。四、專利信息分析專利信息分析的本質(zhì)：專利信息分析的本質(zhì)是對專利信息的內(nèi)容、專利數(shù)量以及數(shù)量的變化或不同范圍內(nèi)各種量的比值（如百分比、增長率等）的研究，對專利文獻(xiàn)中包含的各種信息進(jìn)行定向選擇和科學(xué)抽象的研究，是情報(bào)信息工作和科技工作結(jié)合的產(chǎn)物，是一種科學(xué)勞動的集合。

4.1分析內(nèi)容：

1、行業(yè)技術(shù)現(xiàn)狀分析1.專利技術(shù)生命周期研究（TechnologyCycleTime，TCT）研究表明：專利技術(shù)在理論上遵循技術(shù)引入期、技術(shù)發(fā)展期、技術(shù)成熟期和技術(shù)淘汰期四個(gè)階段周期性變化。基于專利技術(shù)在理論上存在四個(gè)階段的生命周期，人們引用多種方法來測算專利的技術(shù)生命周期。例如利用數(shù)理統(tǒng)計(jì)中生長模型（珀?duì)柷€、岡柏茲曲線、飽和指數(shù)曲線等）推算技術(shù)生命周期。也可以利用相關(guān)專利要素的變化，來測量技術(shù)的生命周期，例如專利數(shù)量測算法、圖示法和TCT計(jì)算方法，專利數(shù)量測算法和圖示法主要用于研究相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)生命周期，而TCT計(jì)算方法主要用來計(jì)算單件專利的技術(shù)生命周期

基礎(chǔ)研究2.重點(diǎn)專利技術(shù)研究重點(diǎn)技術(shù)領(lǐng)域?qū)＠诸悾ㄈ纾篒PC分類、日本專利分類等）對應(yīng)技術(shù)要素的技術(shù)內(nèi)容分析內(nèi)容：基礎(chǔ)研究表2PVD領(lǐng)域重點(diǎn)技術(shù)排名（中國）排名IPC技術(shù)主題專利申請量1C23C14/34以濺射工藝為特征5382H01L21/00制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備4253C23C14/35以磁控濺射工藝為特征2694H01J37/32充氣放電的電子管2265H01L21/306化學(xué)或電處理改變半導(dǎo)體材料的表面特性或形狀1706H01L21/3065等離子腐蝕1677H01L21/205應(yīng)用氣態(tài)化合物的還原或分解產(chǎn)生固態(tài)凝結(jié)物的，即：化學(xué)沉積1568H01L21/68用于晶片定位、定向、或?qū)?zhǔn)等1519C23C14/06以鍍層材料為特征的真空蒸發(fā)、濺射或離子注入進(jìn)行鍍覆12610H01L21/768利用互連在器件傳輸電流125分析內(nèi)容：基礎(chǔ)研究表4PVD專利的主要技術(shù)領(lǐng)域（EPI代碼）EPI代碼涉及的技術(shù)主題涉及的專利數(shù)占總數(shù)的比例U11-C09A濺射及其他物理沉積裝置414717.50%M13-G02陰極濺射裝置，包括靶材320013.51%V05-F08D1A磁控管、陰極濺射裝置257210.85%L04-D02陰極濺射裝置20158.50%U11-C05C2傳導(dǎo)層的物理沉積技術(shù)19068.04%V05-F05C磁電效應(yīng)進(jìn)行等離子刻蝕、濺射設(shè)備，如磁控管等18447.78%U11-F02A2晶圓加工過程中的夾具固定器設(shè)備17867.54%V05-F05E3濺射裝置，如：防過負(fù)荷、工件冷卻技術(shù)或設(shè)備、工件固定和傳入系統(tǒng)等15486.53%X25-A04陰極濺射中的沉積層12785.39%U11-C09C等離子體、反應(yīng)離子設(shè)備12325.20%M13-G01預(yù)處理技術(shù)12055.09%M13-G陰極濺射10854.58%L03-H04D離子束技術(shù)及微粒加速設(shè)備，包括磁控管10634.49%V05-F05E5有關(guān)管子的電路或檢測8763.70%V05-F04B5C陰極濺射靶材8653.65%基礎(chǔ)研究3.專利技術(shù)發(fā)展趨勢基礎(chǔ)研究3.專利技術(shù)發(fā)展趨勢基礎(chǔ)研究基礎(chǔ)研究基礎(chǔ)研究5.專利技術(shù)分布基礎(chǔ)研究5.專利技術(shù)分布基礎(chǔ)研究6.主要技術(shù)人才基礎(chǔ)研究競爭對手的動向深入分析深入分析強(qiáng)勢國家技術(shù)特征四、專利信息分析4.2專利信息分析方法專利定量分析專利定性分析專利擬定量分析專利圖表分析

4.2專利信息分析方法專利定量分析專利信息定量分析是研究專利文獻(xiàn)的重要方法之一，它是建立在數(shù)學(xué)、統(tǒng)計(jì)、運(yùn)籌學(xué)、計(jì)量學(xué)、計(jì)算機(jī)等學(xué)科的基礎(chǔ)之上，通過數(shù)學(xué)模型和圖表等方式，從不同角度研究專利文獻(xiàn)中所記載的技術(shù)、法律和經(jīng)濟(jì)等信息。定量分析方法是在對大量專利信息加工整理的基礎(chǔ)上,對專利分類、申請人、發(fā)明人、申請人所在國家、專利引文等某些特征進(jìn)行科學(xué)計(jì)量，將信息轉(zhuǎn)化成系統(tǒng)的、完整的有價(jià)情報(bào)。

4.2專利信息分析方法定量分析是通過量和量的變化，反映事物之間的相互關(guān)系。隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，事物之間的聯(lián)系高度復(fù)雜化，它越來越成為專利信息分析中一種重要方法，同樣具有不可替代的作用。專利定量分析方法主要有:專利技術(shù)生命周期法、統(tǒng)計(jì)頻次排序法、布拉福德文獻(xiàn)離散定律、時(shí)間序列法和趨勢回歸法

4.2專利信息分析方法專利定性分析專利信息的定性分析是指通過對專利文獻(xiàn)的內(nèi)在特征，即對專利技術(shù)內(nèi)容進(jìn)行歸納和演繹、分析與綜合以及抽象與概括等，以達(dá)到把握某一技術(shù)發(fā)展?fàn)顩r的目的。具體地說，根據(jù)專利文獻(xiàn)提供的技術(shù)主題、專利國別、專利發(fā)明人、專利受讓人、專利分類號、專利申請日、專利授權(quán)日、專利引證文獻(xiàn)等技術(shù)內(nèi)容，廣泛進(jìn)行信息搜集，對搜集的內(nèi)容進(jìn)行閱讀、摘記等，在此基礎(chǔ)上，進(jìn)一步對這些信息進(jìn)行分類、比較和分析等研究活動，形成有機(jī)的信息集合。進(jìn)而有重點(diǎn)地研究那些有代表性、關(guān)鍵性、典型性的專利文獻(xiàn)，最終找出專利信息之間的內(nèi)在的甚至是潛在的相互關(guān)系，從而形成一個(gè)比較完整的認(rèn)識。

4.2專利信息分析方法專利定性分析專利信息的定性分析，著重于對技術(shù)內(nèi)容的分析，是一種基礎(chǔ)的分析方法，在專利信息分析中有重要作用和不可替代的地位。常見的定性分析方法包括:專利技術(shù)定性描述分析專利文獻(xiàn)的對比研究

4.2專利信息分析方法專利擬定量分析專利擬定量分析通常由數(shù)理統(tǒng)計(jì)人手，然后進(jìn)行全面、系統(tǒng)的技術(shù)分類和比較研究，再進(jìn)行有針對性的量化分析，最后進(jìn)行高度科學(xué)抽象的定性描述，使整個(gè)分析過程由宏觀到微觀，逐步深入進(jìn)行。常見的擬定量分析方法有:專利引文分析和專利數(shù)據(jù)挖掘等。它們是對專利信息進(jìn)行深層次分析的方法。4.3專利分析流程專利分析項(xiàng)目實(shí)施流程包括：1.前期準(zhǔn)備階段2.數(shù)據(jù)采集階段3.專利分析階段4.完成報(bào)告階段5.成果利用階段

4.4專利信息分析報(bào)告主要內(nèi)容包括：目標(biāo)與背景檢索方案分析方法與工具專利指標(biāo)定義圖表與解析建議等

五、企業(yè)決策與專利情報(bào)5.1專利情報(bào)的功能與作用5.2企業(yè)決策中專利情報(bào)的應(yīng)用5.3案例五、企業(yè)決策與專利情報(bào)專利不僅是企業(yè)用來保護(hù)自己發(fā)明創(chuàng)造的一種途徑，也是開展競爭情報(bào)的重要信息源之一。據(jù)報(bào)道：專利文獻(xiàn)中含有90%─95%的研發(fā)成果；企業(yè)有效運(yùn)用已