MiniMicroLEDMIP封裝器件性能規(guī)范

Mini/MicroLEDMIP封裝器件本文件規(guī)定了室內(nèi)顯示用微型LED封裝器件（Mini/MicroLEDin術(shù)語和定義、分類、技術(shù)要求、檢驗方法、檢驗規(guī)則，以及標(biāo)志、包裝、運輸和貯存要求。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T19包裝儲運圖示標(biāo)志GB/T2423.1—2008GB/T2423.2—2008GB/T2423.3—2016GB/T2423.22—2012GB/T2423.28—2016GB/T2423.51—2020GB/T2689.1—1981GB/T2828.1—2012GB/T4937.21—2018GB/T4937.26—2023試人體模型（HBM）電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗T：錫焊環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ke：流動混合氣體腐蝕試驗恒定應(yīng)力壽命試驗和加速壽命試驗方法總則計數(shù)抽樣檢驗程序第1部分：按接收質(zhì)量限（AQL）檢索的逐批檢驗抽樣計半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法第21部分：可焊性半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法第26部分：靜電放電（ESD）敏感度測GB/T11499半導(dǎo)體分立器件文字符號GB/T15651.6半導(dǎo)體器件第5-6部分：光電子器件發(fā)光二極管SJ/T11141發(fā)光二極管(LED)顯示屏通用規(guī)范SJ/T11624發(fā)光二極管（LED）顯示屏用發(fā)光二極管規(guī)范SJ/T11394—2009半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法JEITAED-4701/100半導(dǎo)體器件的環(huán)境和耐久性試驗方法（Environmentalandendurancetest3術(shù)語和定義GB/T11499、GB/T15651.6、SJ/T11141和SJ/T11624界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。3.1MicroLEDmicrolight-emitting-diode單個像素發(fā)光面的邊長（或直徑）小于等于100μm的發(fā)光二極管。MiniLEDminilight-emitting-diode單個像素發(fā)光面的邊長（或直徑）介于100μm~300μm（含300μm）的發(fā)光二極管。3.2MIP器件Mini/MicroLEDinPackagedevice將Mini/MicroLED芯片進行封裝，制成的單像素或多個像素的分立器件。4技術(shù)要求4.1結(jié)構(gòu)和材料相關(guān)產(chǎn)品規(guī)格書應(yīng)給出器件的外形圖，并標(biāo)注外形尺寸和焊盤尺寸等詳細資料，尺寸標(biāo)注見10.1和10.2。應(yīng)充分評估所用LED芯片是否為Mini/MicroLED芯片，芯片選用要求見3.2。4.2外觀質(zhì)量LED在規(guī)定的加電條件和不加電條件下，表面應(yīng)無明顯機械缺陷，無明顯氣泡、劃傷、裂紋及沾污。引出端無脫落松動，無明顯銹蝕、變色。4.3絕對最大額定值（極限參數(shù)）MIP器件的絕對最大額定值見表1。除非另有規(guī)定，這些值適用于整個工作溫度范圍。表1絕對最大額定值-℃-℃R-V-℃s34.4光、電及色度特性MIP器件的光、電及色度特性見表2。表2光電特性IRVR=V-10-10-10FV3.32.33.5D610520450△λ--38-30IV6-8-2--4.5可靠性要求4.5.1環(huán)境適應(yīng)性除另有規(guī)定外，環(huán)境試驗后應(yīng)符合以下要求：b)正向電壓、反向電流、光強、主波長符合表6中A1組測試要求。4.5.2抗硫化性能（適用時）按5.5進行腐蝕試驗后應(yīng)符合4.3.1要求。不含銀、銀合金及其它易于硫化反應(yīng)的物質(zhì)時，本條不適用。4.5.3靜電放電敏感度（HBM）人體模式應(yīng)符合GB/T4937.26—2023中第8章器件分級規(guī)定。4.5.4可焊性符合GB/T4937.21—2018中4.4的規(guī)定。4.5.5MSL3濕度敏感度等級應(yīng)符合IPC/JEDECJ-STD-020F的相關(guān)規(guī)定。5檢驗方法5.1檢驗條件除另有規(guī)定外，測試標(biāo)準(zhǔn)大氣條件如下：a)溫度：20℃~30℃;b)相對濕度：45%~75%；5.2光電特性測量方法5.2.1正向電壓按SJ/T11394—2009中的方法1001進行。5.2.2反向電流按SJ/T11394-2009中的方法1003進行。5.2.3平均光強按SJ/T11394-2009中的方法2001進行。5.2.4主波長按SJ/T11394—2009中的方法4003進行測量。5.2.5半波寬度按SJ/T11394—2009中的方法2005進行測量。5.2.6半強度角按SJ/T11394—2009中的方法2002進行。5.3環(huán)境試驗環(huán)境試驗按表3規(guī)定進行。試驗后應(yīng)符合4.5.1的要求。表3環(huán)境試驗1234567895.4熱阻如適用，按SJ/T11394—2009方法5003進行測量。5.5抗硫化性能按GB/T2423.51—2020的表1試驗條件進行。5.6靜電放電敏感度人體模式按照SJ/T11394—2009的方法6001進行。5.7可焊性按GB/T4937.21—2018中4.4模擬板級安裝SMDs再流可焊性試驗程序的規(guī)定進行。5.8尺寸使用精度不低于0.01mm的量具進行測量。5.9外觀目檢或借助顯微鏡進行外觀檢查，檢查過程中不通電。6檢驗規(guī)則6.1檢驗分類本文件規(guī)定的檢驗分類為：b)鑒定檢驗；c)質(zhì)量一致性檢驗。6.2篩選在提交鑒定檢驗和質(zhì)量一致性檢驗前,檢驗批的全部器件應(yīng)按表4的規(guī)定進行100%測試篩選，篩選剔除的器件不能作為合格產(chǎn)品交貨。表4篩選12反向電流IR平均光強IV主波長λD5.2.16.3鑒定檢驗6.3.1鑒定檢驗項目鑒定檢驗批應(yīng)由承制方選擇,該檢驗批和每個子批的產(chǎn)品數(shù)量至少應(yīng)是鑒定檢驗所需要樣品數(shù)量的1.5倍。鑒定檢驗項目按表5規(guī)定進行，所選用樣品必須首先通過1組和2組的檢驗。表5鑒定檢驗試驗項目1組5.2.1LSLLSLLSLLSLLSLLSL USLUSLUSLUSLUSLUSLUSLUSL4.14.15.2.1---USLUSLLSLLSLLSL LSLLSLUSLUSLLSL USLUSLUSLUSL MSL3- 11組（D） -6.3.2不合格一個或多個樣品存在任意一組檢驗參數(shù)不合格或外觀不合格，則鑒定檢驗不合格。6.3.3鑒定批準(zhǔn)應(yīng)按本文件和相關(guān)產(chǎn)品規(guī)格書規(guī)定的檢驗要求進行鑒定檢驗。樣品可由結(jié)構(gòu)相似的組件組成。相關(guān)產(chǎn)品規(guī)格書中應(yīng)規(guī)定試驗結(jié)束后進行終點測試的所有變化量要求，應(yīng)記錄變化量數(shù)據(jù)。鑒定報告應(yīng)包括一份各組所進行的所有試驗結(jié)果的摘要，包括被試樣品數(shù)和失效樣品數(shù)。摘要由變化量和/或計數(shù)數(shù)據(jù)給出。應(yīng)保留所有數(shù)據(jù)，以便查詢原始數(shù)據(jù)時提供。6.4質(zhì)量一致性檢驗6.4.1通則產(chǎn)品在交付前應(yīng)按本文件的規(guī)定進行質(zhì)量一致性檢驗，質(zhì)量一致性檢驗由A組檢驗、B組檢驗和C組檢驗組成。C組周期檢驗的樣品應(yīng)從通過A組和B組檢驗的一批或幾批中抽取。每個樣品都應(yīng)通過按相關(guān)產(chǎn)品規(guī)格書要求的A組檢驗。質(zhì)量一致性檢驗的抽樣應(yīng)按GB/T2828.1—2012的規(guī)定進行。除另有規(guī)定外，質(zhì)量一致性檢驗中A組檢驗的A1分組為全檢，A2分組按GB/T2828.1—2012一般檢驗水平Ⅱ正常檢驗二次抽樣方案，接收質(zhì)量限（AQL）值為0.065進行。6.4.2A組檢驗（逐批）A組檢驗逐批進行，按表6的規(guī)定進行A組檢驗。表6A組檢驗（逐批）檢驗項目方法章條號條件抽樣方案要求a最小最大A1組光、電及色度特性5.2.15.2.25.2.35.2.45.2.5 LSLLSLLSLLSLLSLLSL USLUSLUSLUSLUSLUSLUSLUSLA2組尺寸外觀4.14.24.14.2A3組（D）高溫高濕存貯耐焊接熱溫度循環(huán)終點測試反向電流IR平均光強IV5.35.35.35.2.15.2.25.2.35.2.45.2.55.35.35.3 USLUSL平均0.7IVD單個0.5IVDLSLLSLLSLUSLUSLUSLUSLUSLUSL6.4.3B組和C組檢驗（周期）B組和C組檢驗周期進行。在連續(xù)生產(chǎn)一定周期情況下進行一次。關(guān)鍵材料、設(shè)計方案、生產(chǎn)工藝、生產(chǎn)設(shè)備和生產(chǎn)場地變更時也應(yīng)進行一次。除另有規(guī)定外，B組檢驗應(yīng)1個月進行1次，C組檢驗應(yīng)1年進行1次。表7B組檢驗（周期）檢驗項目方法章條號條件抽樣方案要求a最小最大B1組（D）高溫高濕存貯耐焊接熱溫度循環(huán)終點測試反向電流IR平均光強IV藍Blue藍Blue5.35.35.35.2.15.2.25.2.35.2.45.2.55.35.35.3USLUSL平均0.7IVD單個0.5IVD- USLUSLUSLUSLUSLUSLB2組（D）高壓蒸汽終點測試按A3組5.35.3按A3組B3組（D）貼板高溫高濕反偏終點測試按A3組5.35.3 按A3組B4組（D）高溫高濕貯存溫度循環(huán)終點測試按A3組5.35.35.35.3 按A3組B5組（D）貼片高溫高濕貯存終點測試5.35.3按A3組按A3組表8C組檢驗（周期）檢驗項目方法章條號條件抽樣方案要求a最小最大C1組光、電及色度特性正向電壓VF反向電流IR平均光強IV5.2.15.2.25.2.35.2.45.2.5IF按規(guī)格書要求IF按規(guī)格書要求IF按規(guī)格書要求IF按規(guī)格書要求IF按規(guī)格書要求IF按規(guī)格書要求IF按規(guī)格書要求IF按規(guī)格書要求IF按規(guī)格書要求IF按規(guī)格書要求LSLLSLLSLLSLLSLLSL USLUSLUSLUSLUSLUSLUSLUSLC2組尺寸外觀4.14.24.14.2C3組（D）高溫高濕存貯耐焊接熱溫度循環(huán)終點測試反向電流IR平均光強IV5.35.35.35.2.15.2.25.2.35.2.45.2.55.35.35.3IF按規(guī)格書要求IF按規(guī)格書要求IF按規(guī)格書要求IF按規(guī)格書要求IF按規(guī)格書要求IF按規(guī)格書要求USLUSL平均0.7IVD-LSLLSLLSLUSLUSLUSLUSL藍BlueIF按規(guī)格書要求IF按規(guī)格書要求USLUSLC4組（D）高壓蒸汽終點測試按A3組5.3 按A3組C5組（D）貼板高溫高濕反偏終點測試按A3組5.35.3按A3組C6組（D）高溫高濕貯存溫度循環(huán)終點測試按A3組5.35.35.35.3按A3組C7組（D）貼片溫度循環(huán)終點測試按A3組5.35.3按A3組C8組（D）終點測試按A3組5.35.3按A3組C9組（D）常溫壽命試驗終點測試按A3組5.35.3按A3組C10組（D）高溫高濕工作終點測試按A3組5.35.3 按A3組C11組（D）高溫貯存終點測試按A3組5.35.3 按A3組C12組（D）低溫貯存終點測試5.35.3按A3組按A3組C13組（D）耐焊接熱終點測試按A3組5.35.3按A3組C14組（D）靜電放電敏感度終點測試反向漏電5.2.2USLaa6.5重新提交當(dāng)質(zhì)量一致性檢驗的任一檢驗批不符合要求時，應(yīng)進行失效分析并確定失效機理。如確認(rèn)該失效是可以通過對全部生產(chǎn)批重新篩選而有效剔除的缺陷或者該失效并不反映基本設(shè)計或基本生產(chǎn)工藝題的缺陷，則允許對該分組采用加嚴(yán)檢驗（按雙倍樣品批及合格判定數(shù)為零的方案）重新提交一次。重新提交的批不得與其他的批相混。如果失效分析表明失效是由于基本工藝程序不良、基本設(shè)計缺陷或是無法通過篩選剔除的缺陷，則該批不得重新提交。6.6樣品處理經(jīng)過A1組檢驗合格的樣品可以按合格產(chǎn)品交付，經(jīng)過A2組、A3組、B組和C組檢驗的樣品不能交付。6.7不合格不符合A組、B組或C組檢驗中任一分組要求，且不再提交或者不能再次提交時，或者重新提交不合格時，則判該批產(chǎn)品不合格。6.8檢驗記錄檢驗記錄以及失效分析報告、不合格、重新提交及其他問題的處理記錄至少保存6年。7典型特性曲線相關(guān)文件應(yīng)給出以下特性曲線：a)伏安特性曲線；b)相對光強與正向電流特性曲線；c)正向電流降額曲線；d)光強與環(huán)境溫度曲線；e)光強空間分布曲線；f)光譜分布特性曲線。8標(biāo)志、包裝、運輸、貯存8.1器件內(nèi)層包裝袋應(yīng)有標(biāo)志器件最內(nèi)層包裝袋應(yīng)有如下的標(biāo)志：a)器件型號、包裝數(shù)量、生產(chǎn)批號；c)檢驗批識別代碼；8.2器件外包裝盒應(yīng)有標(biāo)志8.2.1包裝要求a)包裝應(yīng)符合以下要求：1)采用編帶和卷盤包裝。編帶的要求是：將器件置于載帶中，保持極性一致，并覆上蓋帶；2)包裝采用具有防潮、防靜電功能的靜電袋密封包裝，靜電袋內(nèi)放置干燥劑；3)外包裝采用包裝盒、包裝箱。保護產(chǎn)品不受外界機械應(yīng)力，防止儲存、運輸過程造成損4)包裝箱圖形標(biāo)志應(yīng)符合GB/T191的相關(guān)規(guī)定。b)包裝應(yīng)包含以下信息：2)制造廠名稱、地址、商標(biāo)；3)包裝數(shù)量、生產(chǎn)批號。8.2.2內(nèi)附文件（適用時）包裝內(nèi)應(yīng)有檢驗合格證、產(chǎn)品說明書等文件。說明書包括但不限于以下內(nèi)容：c)光電參數(shù)；d)光電特性曲線圖；e)使用注意事項。8