數(shù)字測試調(diào)試.ppt

1、數(shù)字測試調(diào)試,調(diào)試前了解影響數(shù)字測試的因素,系統(tǒng) 接觸 MINT pin 與 p-pin, 夾具繞線，探針與電路板等 電路板 器件 測試程序,調(diào)試前了解器件基本原理,例如D觸發(fā)器，我們要知道它會有數(shù)據(jù)和時鐘輸入，還會有個輸出，還要知道這個時序邏輯器件是靠時鐘觸發(fā)然后鎖存數(shù)據(jù)的 接下來差不多就可以根據(jù)pin group的名字看懂PB-Debug顯示的波形圖，或者從向量和unit的名稱猜出測試程序的原理 如果電路圖里看不出，研究datasheet,開始調(diào)試,顯示錯誤的向量 display failure 如果錯誤的向量為三態(tài)（不高不低的小方塊），那很可能是因為噪音或者穩(wěn)定時間不夠?；蛘哐h(huán)執(zhí)行測試

2、 recycle to fail, 如果測試fail的向量每次不同，那也說明可能存在噪音。 嘗試方法1：調(diào)整reference high, reference low. E.g. 3.3V器件,設(shè)rh 1.5和rl 1.5. 如果主要想覆蓋開路,這已經(jīng)足夠,除非對輸出電平有特別的測試要求 嘗試方法2：延長向量周期. 對于時鐘不敏感的器件(大部分器件), 我們可以盡量延長向量周期以觀察效果. 例如延長至微妙, 如果確實有效, 通過反復(fù)嘗試尋找一個較短的向量周期以縮短測試時間. 其實一個幾百行的數(shù)字測試對總體測試時間并無太大影響 嘗試方法3：增加一個或幾個穩(wěn)定向量.這些穩(wěn)定向量保持前一個向量的所有

3、輸入狀態(tài),由此觀察器件輸出是否會在幾個向量后趨于穩(wěn)定,開始調(diào)試,顯示錯誤的向量 display failure 如果輸出始終不變（高、低或三態(tài)），或者不正常變化，那就要仔細(xì)閱讀datasheet了。如果輸出始終不變，非?？赡苁瞧骷ぷ鳡顟B(tài)的設(shè)置有問題。多留意datasheet中器件正常工作有哪些條件。 比如MPC860就有一個典型的邊界掃描測試模式設(shè)置。如果在testplan中有外加設(shè)置，比如gp relay，我們可以在測試前放pause并執(zhí)行testplan來迅速完成這些設(shè)置。,開始調(diào)試,挑選一個易于調(diào)試的功能縮小調(diào)試的范圍 所謂易于調(diào)試，是指所需的輸入信號越少越好。 比如挑選4與門中的一個

4、，先調(diào)試Flash器件的ID檢驗 記得對照電路圖，可能你挑選的這個功能在這個電路上根本無法實現(xiàn) 瀏覽測試中的unit部分，了解這個測試大致上的步驟。不一定需要察看向量的定義，從unit和向量的名字，可以猜出大概。大部分時候可以直接從中挑選一段簡單完整的作為調(diào)試的對象，或者只做少量的修改,開始調(diào)試,調(diào)試前先排除接觸問題 一，從頂面連線出來用find pins檢查. 如果將電路板取下后用find pins檢查, 并不能保證實際測試是接觸良好, 因為沒有檢查夾具和電路板之間的接觸, 例如探針偏移或焊盤未開綠油。 二，連線出來用guided probe顯示實際波形。任意選擇一個輸入信號，然后displ

5、ay actual。這時系統(tǒng)會提示用probe連接該信號，可以連接任何一個信號。如果要求display的和實際連接的信號不同，可能會顯示出很多紅色的錯誤向量，但這并不妨礙我們觀察實際的信號 三，用同樣的方法可以不經(jīng)過夾具直接觀察器件的輸出。如果有繞線錯誤或者阻抗匹配的問題，器件的真實輸出和系統(tǒng)通過夾具所接收的信號可能會不同 四，檢查接觸的關(guān)鍵是不要分別檢查各個部分，而是要盡可能地再現(xiàn)實際測試的環(huán)境。在發(fā)現(xiàn)了接觸問題后，才分開去定位故障。通常，系統(tǒng)通過自檢后就應(yīng)該排除系統(tǒng)故障的可能。夾具繞線可以用萬用表測量。如果這也沒有問題，還有電路板和夾具的接觸本身。用膠帶覆蓋測試點后做faon，就可以很容易

6、地發(fā)現(xiàn)探針定位問題。更換不同的針形也能幫助發(fā)現(xiàn)問題,開始調(diào)試,接觸和器件的設(shè)置都沒有問題，就要仔細(xì)研究測試的時序 用guided probe顯示器件的直接輸入和輸出，檢查所有的輸入是否是預(yù)期的。只要用選擇好的那個待調(diào)試功能，以免輸入信號太多。在PB-Debug中你可以設(shè)置guided probe的reference high和reference low。 如果輸入沒有問題，輸出依然不正確，請看一下電路是否有特殊連接。一個常見的問題是器件和相鄰的器件組合成一個工作電路。比如幾個集電極開路的器件把輸出短接在一起形成“線與”電路。這樣電路的邏輯特性就發(fā)生了變化。我們必須根據(jù)實際的電路改寫測試 Dis

7、abling, 3070有很強的backdrivie能力，所以通常不用擔(dān)心輸入管腳上的disabling問題。如果系統(tǒng)沒有辦法overdrive一個上游器件的輸出，會看到一個overpower的錯誤，而且顯示的波形也可能會有問題。但是對于時鐘輸入，即使3070最后能將節(jié)點驅(qū)動到所需的電平，其間產(chǎn)生的毛刺仍然可能使器件無法正常工作。這時可以將上游器件的輸出管腳挑起，以減輕overdrive引起的噪音。,開始調(diào)試,用guided probe看到的波形與實際波形是不同的，因為3070在一個向量周期里只做一次采樣。所以，看到的一個周期的高或低電平，并不保證實際信號在整個周期里確實始終為高或低。實際信號

8、可能存在漸變或毛刺。不過對于大部分電平信號，一次采樣已經(jīng)足夠說明問題。另外，也可以通過改變receive delay來察看一個向量周期內(nèi)不同時刻的實際信號。如果你懷疑振鈴、毛刺和噪音影響了測試，應(yīng)該使用示波器進行觀察。用雙絞線可以顯著減少這些效應(yīng) 輸出管腳上的disabling問題幾乎肯定會影響測試結(jié)果。IPG生成的測試程序前面通常會正確地告訴你哪些管腳存在disabling問題。如果周圍的器件確實可能輸出到同樣的節(jié)點上，一個辦法是將引起沖突的器件取下，讓我們可以集中注意力在目前被調(diào)試的器件上。另外就是為引起沖突的器件添加disabling。如果想暫時回避resource問題，可以先直接在電路板上飛線設(shè)置disabling的控制節(jié)點。,開始調(diào)試,如果采取了以上措施后依然沒有解決問題，請仔細(xì)研究datasheet中的時序說明。測試向量可能存在冒險競爭問題，即兩個輸入在時間上前后不確定，但輸出卻依賴于它們的先后次序。這往往發(fā)生在兩個輸入在同一向量里改變狀態(tài)。如果必要的話，請不要吝惜時間重寫所有的向量。在沒把握的時候避免在一個向量中同時改變兩個輸入信號的狀態(tài)以避免冒險競爭。為了減少不確定的狀態(tài)，請不要用Keep狀態(tài)，包括initialize t