標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 12859.1-2012 電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范 壓電陶瓷諧振器 第1部分:總規(guī)范——鑒定批準(zhǔn)》相比于《GB/T 12859-1991》,主要在以下幾個方面進行了調(diào)整和更新:
-
標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)變化:最顯著的變化是從單一的標(biāo)準(zhǔn)拆分成了系列標(biāo)準(zhǔn),增加了“第1部分”的標(biāo)識,這表明后續(xù)可能還會有其他部分來詳細規(guī)定不同方面的內(nèi)容,提高了標(biāo)準(zhǔn)的系統(tǒng)性和針對性。
-
技術(shù)內(nèi)容更新:新標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)近二十年來壓電陶瓷諧振器技術(shù)的發(fā)展,對產(chǎn)品的性能指標(biāo)、測試方法及合格判定準(zhǔn)則進行了修訂和完善,以適應(yīng)當(dāng)前行業(yè)技術(shù)水平和市場需求。例如,可能包含了對頻率穩(wěn)定性、溫度特性、老化特性等關(guān)鍵參數(shù)更嚴(yán)格或更具體的定義與要求。
-
質(zhì)量評定體系優(yōu)化:新標(biāo)準(zhǔn)對電子元器件的質(zhì)量評定體系進行了重新構(gòu)建,引入了更為科學(xué)、系統(tǒng)的評價方法和流程,強調(diào)了從設(shè)計、生產(chǎn)到檢驗全過程的質(zhì)量控制,有助于提升產(chǎn)品質(zhì)量和市場競爭力。
-
國際接軌性增強:為了促進國際貿(mào)易和交流,新標(biāo)準(zhǔn)在制定過程中參考了更多的國際標(biāo)準(zhǔn)和先進國家的標(biāo)準(zhǔn),增強了其國際兼容性和互認性,有助于中國電子產(chǎn)品更好地進入國際市場。
-
術(shù)語和定義明確化:隨著技術(shù)進步,相關(guān)術(shù)語和定義得到了更新和明確,以消除理解上的歧義,確保標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行的一致性和準(zhǔn)確性。
-
環(huán)保與安全要求:考慮到環(huán)境保護和用戶安全的重要性,新標(biāo)準(zhǔn)可能加入了關(guān)于材料、制造過程及產(chǎn)品使用中環(huán)保和安全的相關(guān)要求,符合國際上日益增長的綠色生產(chǎn)和消費趨勢。
-
可追溯性和標(biāo)識要求:為了提高產(chǎn)品質(zhì)量追溯性,新標(biāo)準(zhǔn)可能對產(chǎn)品標(biāo)識、批次管理及質(zhì)量證明文件等方面提出了更具體的要求,便于在出現(xiàn)問題時快速定位并解決。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2012-11-05 頒布
- 2013-02-15 實施





下載本文檔
GB∕T 12859.1-2012 電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范 壓電陶瓷諧振器 第1部分:總規(guī)范-鑒定批準(zhǔn)-免費下載試讀頁文檔簡介
ICS31140
L21.
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T128591—2012
代替.
GB/T12859—1991
電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范
壓電陶瓷諧振器
第1部分總規(guī)范———鑒定批準(zhǔn)
:
Piezoelectricceramicresonators—AspecificationintheIECqualityassessment
sstemforelectroniccomonentsIEC—Part1Genericsecification—
yp(Q):p
Qualificationapproval
(IEC61253-1:1993,MOD)
2012-11-05發(fā)布2013-02-15實施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
GB/T128591—2012
.
目次
前言…………………………
Ⅲ
總則………………………
11
范圍…………………
1.11
規(guī)范性引用文件……………………
1.21
技術(shù)特性…………………
22
單位符號和術(shù)語……………………
2.1、2
優(yōu)先額定值和特性…………………
2.24
標(biāo)志…………………
2.34
質(zhì)量評定程序……………
34
鑒定批準(zhǔn)質(zhì)量評定體系……………
3.1/4
初始制造階段………………………
3.24
結(jié)構(gòu)相似元件………………………
3.34
鑒定批準(zhǔn)程序………………………
3.45
質(zhì)量一致性檢驗……………………
3.55
替代的試驗方法……………………
3.65
試驗和測量程序…………………………
46
概述…………………
4.16
標(biāo)準(zhǔn)大氣條件………………………
4.26
外觀檢驗和尺寸檢查………………
4.37
絕緣電阻……………
4.47
耐電壓………………
4.58
工作頻率……………
4.69
諧振電阻……………
4.79
自由電容……………
4.89
引出端強度…………………………
4.99
耐焊接熱…………………………
4.1010
可焊性……………
4.1111
溫度快速變化……………………
4.1211
振動………………
4.1311
碰撞………………
4.1411
沖擊………………
4.1511
密封………………
4.1611
氣候序列…………………………
4.1711
穩(wěn)態(tài)濕熱…………………………
4.1812
耐久性試驗………………………
4.1913
Ⅰ
GB/T128591—2012
.
隨溫度變化的工作頻率…………
4.2013
貯存………………
4.2114
附錄資料性附錄本部分與技術(shù)性差異及其原因…………
A()IEC61253-1:199315
Ⅱ
GB/T128591—2012
.
前言
電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范壓電陶瓷諧振器分為如下幾個部分
GB/T12859《》:
第部分總規(guī)范鑒定批準(zhǔn)
———1:———;
第部分分規(guī)范鑒定批準(zhǔn)
———2:———;
第部分空白詳細規(guī)范評定水平
———2-1:———E。
本部分為的第部分
GB/T128591。
本部分按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本部分代替電子設(shè)備用壓電陶瓷諧振器總規(guī)范可供認證用與
GB/T12859—1991《()》,
相比主要變化如下
GB/T12859—1991,:
根據(jù)電子元器件質(zhì)量認證的通用規(guī)定全面規(guī)定了質(zhì)量評定程序的細則
———,;
機械和環(huán)境試驗方法引用對應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn)
———。
本部分使用重新起草法修改采用電子元器件質(zhì)量評定體系壓電陶瓷諧
IEC61253-1:1993《IEC
振器第部分總規(guī)范鑒定批準(zhǔn)
1:———》。
本部分與相比存在技術(shù)性差異這些差異涉及的條款已通過其外側(cè)頁邊空白位
IEC61253-1:1993,
置的垂直單線進行了標(biāo)示附錄中給出了相應(yīng)技術(shù)性差異及其原因的一覽表
(|)。A。
本部分還作了下列編輯性修改
:
采用的標(biāo)準(zhǔn)編號是現(xiàn)行的目錄編號原標(biāo)準(zhǔn)的編號按的規(guī)定在前面加
———IEC,“1253”IEC“6”;
用代替計數(shù)檢查抽樣方案和程序前者與后者在使用
———GB/T2828.1—2003IEC410:1973《》,
中無技術(shù)性差異
;
用環(huán)境試驗國家標(biāo)準(zhǔn)代替對應(yīng)的它們在本部分的引用中無技術(shù)性
———GB/T2423IEC60068,
差異
;
浸漬深度0改為0
———4.11.2.1:“20-0.5mm”“2.0-0.5mm”。
本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出
。
本部分由全國頻率控制和選擇用壓電器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口
(SAC/TC182)。
本部分起草單位中國電子元件行業(yè)協(xié)會壓電晶體分會浙江嘉康電子股份有限公司
:,。
本部分主要起草人章怡姜連生張火榮戴黎明徐圣洲
:、、、、。
本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為
:
———GB/T12859—1991。
Ⅲ
GB/T128591—2012
.
電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范
壓電陶瓷諧振器
第1部分總規(guī)范———鑒定批準(zhǔn)
:
1總則
11范圍
.
的本部分規(guī)定了電子設(shè)備中振蕩電路用壓電陶瓷諧振器的術(shù)語和試驗方法
GB/T12859。
本部分給出了電子元器件質(zhì)量評定體系及其鑒定批準(zhǔn)的分規(guī)范和空白詳細規(guī)范中使用的標(biāo)準(zhǔn)術(shù)
語檢查程序和試驗方法
、。
12規(guī)范性引用文件
.
下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗概述和指南
GB/T2421.1—2008(IEC60068-1:1988,IDT)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗低溫
GB/T2423.1—20082:A:(IEC60068-2-
1:2007,IDT)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗高溫
GB/T2423.2—20082:B:(IEC60068-2-
2:2007,IDT)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗恒定濕熱試驗
GB/T2423.3—20062:Cab:
(IEC60068-2-78:2001,IDT)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗交變濕熱
GB/T2423.4—20082:Db:(12h+
循環(huán)
12h)(IEC60068-2-30:2005,IDT)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗和導(dǎo)則沖擊
GB/T2423.5—19952:Ea:(idt
IEC60068-2-27:1987)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗
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