GB∕T 12859.1-2012 電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范 壓電陶瓷諧振器 第1部分：總規(guī)范-鑒定批準(zhǔn)

ICS31140

L21.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T128591—2012

代替.

GB/T12859—1991

電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范

壓電陶瓷諧振器

第1部分總規(guī)范———鑒定批準(zhǔn)

:

Piezoelectricceramicresonators—AspecificationintheIECqualityassessment

sstemforelectroniccomonentsIEC—Part1Genericsecification—

yp(Q):p

Qualificationapproval

(IEC61253-1:1993,MOD)

2012-11-05發(fā)布2013-02-15實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T128591—2012

.

目次

前言…………………………

Ⅲ

總則………………………

11

范圍…………………

1.11

規(guī)范性引用文件……………………

1.21

技術(shù)特性…………………

22

單位符號(hào)和術(shù)語(yǔ)……………………

2.1、2

優(yōu)先額定值和特性…………………

2.24

標(biāo)志…………………

2.34

質(zhì)量評(píng)定程序……………

34

鑒定批準(zhǔn)質(zhì)量評(píng)定體系……………

3.1/4

初始制造階段………………………

3.24

結(jié)構(gòu)相似元件………………………

3.34

鑒定批準(zhǔn)程序………………………

3.45

質(zhì)量一致性檢驗(yàn)……………………

3.55

替代的試驗(yàn)方法……………………

3.65

試驗(yàn)和測(cè)量程序…………………………

46

概述…………………

4.16

標(biāo)準(zhǔn)大氣條件………………………

4.26

外觀檢驗(yàn)和尺寸檢查………………

4.37

絕緣電阻……………

4.47

耐電壓………………

4.58

工作頻率……………

4.69

諧振電阻……………

4.79

自由電容……………

4.89

引出端強(qiáng)度…………………………

4.99

耐焊接熱…………………………

4.1010

可焊性……………

4.1111

溫度快速變化……………………

4.1211

振動(dòng)………………

4.1311

碰撞………………

4.1411

沖擊………………

4.1511

密封………………

4.1611

氣候序列…………………………

4.1711

穩(wěn)態(tài)濕熱…………………………

4.1812

耐久性試驗(yàn)………………………

4.1913

Ⅰ

GB/T128591—2012

.

隨溫度變化的工作頻率…………

4.2013

貯存………………

4.2114

附錄資料性附錄本部分與技術(shù)性差異及其原因…………

A()IEC61253-1:199315

Ⅱ

GB/T128591—2012

.

前言

電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范壓電陶瓷諧振器分為如下幾個(gè)部分

GB/T12859《》:

第部分總規(guī)范鑒定批準(zhǔn)

———1:———;

第部分分規(guī)范鑒定批準(zhǔn)

———2:———;

第部分空白詳細(xì)規(guī)范評(píng)定水平

———2-1:———E。

本部分為的第部分

GB/T128591。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替電子設(shè)備用壓電陶瓷諧振器總規(guī)范可供認(rèn)證用與

GB/T12859—1991《()》,

相比主要變化如下

GB/T12859—1991,:

根據(jù)電子元器件質(zhì)量認(rèn)證的通用規(guī)定全面規(guī)定了質(zhì)量評(píng)定程序的細(xì)則

———,;

機(jī)械和環(huán)境試驗(yàn)方法引用對(duì)應(yīng)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

———。

本部分使用重新起草法修改采用電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系壓電陶瓷諧

IEC61253-1:1993《IEC

振器第部分總規(guī)范鑒定批準(zhǔn)

1:———》。

本部分與相比存在技術(shù)性差異這些差異涉及的條款已通過(guò)其外側(cè)頁(yè)邊空白位

IEC61253-1:1993,

置的垂直單線(xiàn)進(jìn)行了標(biāo)示附錄中給出了相應(yīng)技術(shù)性差異及其原因的一覽表

(|)。A。

本部分還作了下列編輯性修改

:

采用的標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)是現(xiàn)行的目錄編號(hào)原標(biāo)準(zhǔn)的編號(hào)按的規(guī)定在前面加

———IEC,“1253”IEC“6”;

用代替計(jì)數(shù)檢查抽樣方案和程序前者與后者在使用

———GB/T2828.1—2003IEC410:1973《》,

中無(wú)技術(shù)性差異

;

用環(huán)境試驗(yàn)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)代替對(duì)應(yīng)的它們?cè)诒静糠值囊弥袩o(wú)技術(shù)性

———GB/T2423IEC60068,

差異

;

浸漬深度0改為0

———4.11.2.1:“20-0.5mm”“2.0-0.5mm”。

本部分由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由全國(guó)頻率控制和選擇用壓電器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC182)。

本部分起草單位中國(guó)電子元件行業(yè)協(xié)會(huì)壓電晶體分會(huì)浙江嘉康電子股份有限公司

:,。

本部分主要起草人章怡姜連生張火榮戴黎明徐圣洲

:、、、、。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T12859—1991。

Ⅲ

GB/T128591—2012

.

電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范

壓電陶瓷諧振器

第1部分總規(guī)范———鑒定批準(zhǔn)

:

1總則

11范圍

.

的本部分規(guī)定了電子設(shè)備中振蕩電路用壓電陶瓷諧振器的術(shù)語(yǔ)和試驗(yàn)方法

GB/T12859。

本部分給出了電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系及其鑒定批準(zhǔn)的分規(guī)范和空白詳細(xì)規(guī)范中使用的標(biāo)準(zhǔn)術(shù)

語(yǔ)檢查程序和試驗(yàn)方法

、。

12規(guī)范性引用文件

.

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

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2:2007,IDT)

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GB/T2423.3—20062:Cab:

(IEC60068-2-78:2001,IDT)

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GB/T2423.4—20082:Db:(12h+

循環(huán)

12h)(IEC60068-2-30:2005,IDT)

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IEC60068-2-27:1987)

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