ict培訓(xùn)——20111115.ppt

1、上海星河偉業(yè)測(cè)試技術(shù)有限公司,I C T 知識(shí)培訓(xùn),制作人：熊君,培訓(xùn)大綱,上海星河偉業(yè)測(cè)試技術(shù)有限公司,認(rèn)識(shí)了解ICT,ICT的使用,程序調(diào)試要點(diǎn),設(shè)備和針床的保養(yǎng),上海星河偉業(yè)測(cè)試技術(shù)有限公司,1、ICT的概念,第一章，認(rèn)識(shí)了解ICT,何謂ICT？ ICT即在線測(cè)試儀（In Circuit Tester）是眾多高級(jí)萬(wàn)用表表的組合 萬(wàn)用表能測(cè)到，ICT就能測(cè)到，萬(wàn)用表測(cè)不到， ICT可能也測(cè)不到。 ICT能測(cè)些什么？ 基礎(chǔ)類測(cè)試：電路板開(kāi)路/短路,電阻，電感，電容 及PN結(jié)（含二極管，三極管，IC）錯(cuò)裝、漏裝、反裝。 ICT與萬(wàn)用表有何差異？ ICT可對(duì)旁路元件進(jìn)行隔離（Guarding），

2、 而電表不可以。所以電表測(cè)不到，ICT可能測(cè)得到。,上海星河偉業(yè)測(cè)試技術(shù)有限公司,2、ICT的硬件組成,ICT主機(jī)箱 (內(nèi)含電源模塊、信號(hào)板、開(kāi)關(guān)板) PC （電腦主機(jī)、顯示屏、鍵盤、鼠標(biāo)） 氣動(dòng)頭 （氣缸、電磁閥、控制板） 測(cè)試針床 （天板、壓棒、托板、植針板、底架） 測(cè)試桌,上海星河偉業(yè)測(cè)試技術(shù)有限公司,3、關(guān)于針床探針,上海星河偉業(yè)測(cè)試技術(shù)有限公司,上海星河偉業(yè)測(cè)試技術(shù)有限公司,探針選用概述：,1, 根據(jù)貴司的產(chǎn)品特點(diǎn)，選用的探針類型多為100mil和2N. 2、貼片產(chǎn)品設(shè)置了較多的測(cè)試pad點(diǎn)，pad點(diǎn)應(yīng)選用尖針或小爪針。 3，手插元器件管腳比較突出，屬于dip點(diǎn)，測(cè)試必須用大爪針或碗

3、型針。 4、機(jī)插點(diǎn)要根據(jù)焊點(diǎn)實(shí)際情況選用尖針或小爪針。 5、電容極性針選用多爪型針（選用）。,探針類型概述：,1、按直徑主要可分為50mil、75mil和100mil（1mil=0.0254inc） 2、按彈力大小主要分為1N、2N、3N.,上海星河偉業(yè)測(cè)試技術(shù)有限公司,第二章，ICT的使用,1、正確的開(kāi)啟順序,重要!,打開(kāi)總電源,打開(kāi)機(jī)箱電源,開(kāi)啟電腦,開(kāi)機(jī)自檢,全部通過(guò),指示燈亮,電腦正常,開(kāi)始測(cè)試,不通過(guò),請(qǐng)?jiān)O(shè)備人員排除故障，重新開(kāi)啟,指示燈亮,上海星河偉業(yè)測(cè)試技術(shù)有限公司,2、正確的關(guān)閉順序,注意!,保存、關(guān)閉測(cè)試程序,關(guān)閉機(jī)柜電源,關(guān)閉電腦,關(guān)閉總電源,3-4秒之后,ICT嚴(yán)禁異常斷

4、電，否則會(huì)造成程序及測(cè)試板卡的損壞！,上海星河偉業(yè)測(cè)試技術(shù)有限公司,第三章，設(shè)備及針床的保養(yǎng)要點(diǎn),1、設(shè)備保養(yǎng),上海星河偉業(yè)測(cè)試技術(shù)有限公司,2、針床保養(yǎng)（根據(jù)頻率適當(dāng)調(diào)節(jié)）,上海星河偉業(yè)測(cè)試技術(shù)有限公司,第四章，程序調(diào)試要點(diǎn),一名合格的ICT操作員應(yīng)有較強(qiáng)的學(xué)習(xí)精神，敢于挑戰(zhàn)自己，掌握簡(jiǎn)單的程序調(diào)試常識(shí)。獨(dú)立解決ICT常見(jiàn)故障。,讓我學(xué)習(xí)一些程序調(diào)試常識(shí),上海星河偉業(yè)測(cè)試技術(shù)有限公司,首先記住ICT快捷鍵,Alt+Tab 活動(dòng)程序之間轉(zhuǎn)化 F2 查找故障元件 F4 學(xué)習(xí)選中行 F5 對(duì)選中行進(jìn)行測(cè)試 F6 置標(biāo)準(zhǔn)值 F7 交換1、2針 F8 設(shè)置隔離針學(xué)習(xí) F9 顯示并聯(lián)關(guān)系 F10 手動(dòng)調(diào)

5、整參數(shù) F11 探針查找 F12 切換到測(cè)試程序,Ctrl+del 刪除選中行 Ctrl+A 全部選中 Ctrl+F8 清隔離針 Ctrl+N 新建程序文件 Ctrl+O 打開(kāi)程序文件 Ctrl+S保存程序文件 Ctrl+X剪切數(shù)據(jù) Ctrl+V粘貼數(shù)據(jù) Ctrl+C復(fù)制數(shù)據(jù) Ctrl+Z回退一步 Insert插入一行新元件,上海星河偉業(yè)測(cè)試技術(shù)有限公司,關(guān)于元器件測(cè)量值公差合理范圍,電阻 20-100ko 10% -10% 100ko-1M 10% -10% 20以下 及 1M以上 30% -30%,電容 0-100pf 30% -30% 100pf-1uf 10% -10% 1u-40mf

6、 30% -30%,電感 0-20uH 30% -30% 20uH-20H 10% -10%,PN結(jié) 公差1設(shè)為：30% -30% ，公差2設(shè)為： 50% -50%,上海星河偉業(yè)測(cè)試技術(shù)有限公司,關(guān)于元器件一般調(diào)試方法,元件類型 元件標(biāo)稱值 調(diào)試方法號(hào) 電阻R 0.1o-40M 0 電容C 1pf-10nf 1 10n-10uf 0 10u-40mf 2 電感L 1uH-400H 0 跳線jp 0 晶體管 0 光耦 0 集成電路IC 0 PN結(jié) 0 電壓值Z 0,*電容極性測(cè)試用方法3 *部分特殊元器件測(cè)試不穩(wěn)可巧妙利用JP法調(diào)試，但是此方法只能測(cè)不到位，不能測(cè)錯(cuò)裝，例如變壓器測(cè)試不穩(wěn)可改用J

7、P0,上海星河偉業(yè)測(cè)試技術(shù)有限公司,關(guān)于不可測(cè)元器件的說(shuō)明,不可測(cè)情況,電路板元器件的漏焊虛焊，如元器件已經(jīng)構(gòu)成回路，故不可測(cè)。需目檢。 待測(cè)板上開(kāi)路按鍵、卡線端槽，因?yàn)槭菃喂苣_元器件或多管腳開(kāi)路元器件，無(wú)法測(cè)量其參數(shù)，僅可測(cè)試管腳間是否短路，故不可測(cè)。 大電容與小電容并聯(lián)時(shí)，小電容無(wú)法測(cè)試。 大電阻與小電阻并聯(lián)時(shí)，大電阻無(wú)法測(cè)試。 二極管與小電感并聯(lián)時(shí) 二極管無(wú)法測(cè)出. 二極管與小電阻并聯(lián)時(shí) 二極管無(wú)法測(cè)出. 二極管與保險(xiǎn)絲并聯(lián)時(shí) 二極管不能測(cè),上海星河偉業(yè)測(cè)試技術(shù)有限公司,不穩(wěn)定情況,有極性的電容無(wú)法設(shè)極性針時(shí)，其極性無(wú)法測(cè)量.（只有極性電容位置固定，無(wú)歪斜，方可設(shè)極性針）。 并聯(lián)電阻數(shù)量多,電阻無(wú)法測(cè)試. X1（晶振）其頻率不可測(cè)，故使用C1方法測(cè)試其容值，可檢測(cè)晶振漏裝； VR（壓敏電阻）不可測(cè)； NTC（熱敏電阻）測(cè)試不穩(wěn)定。標(biāo)準(zhǔn)值變