統(tǒng)計(jì)過程控制課件

1、1,統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control(SPC),2,課程大綱,質(zhì)量管理中的統(tǒng)計(jì)技術(shù) 企業(yè)過程中的SPC 產(chǎn)品質(zhì)量的變異與過程控制 過程能力分析 控制圖概論與原理 控制圖的種類 控制圖的觀察分析 實(shí)務(wù)演練,3,第一章 質(zhì)量管理中的統(tǒng)計(jì)技術(shù),質(zhì)量管理發(fā)展的階段 質(zhì)量管理體系對(duì)統(tǒng)計(jì)技術(shù)的要求 質(zhì)量管理常用的統(tǒng)計(jì)技術(shù) SPC（統(tǒng)計(jì)過程控制）的發(fā)展 SPC與SQC的差別,4,質(zhì)量管理發(fā)展的階段,質(zhì)量檢驗(yàn) 統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理 全面質(zhì)量管理（現(xiàn)代質(zhì)量管理） ISO9000 6 從第二個(gè)階段（統(tǒng)計(jì)質(zhì)量控制SQC）起，由于統(tǒng)計(jì)方法在質(zhì)量管理中的應(yīng)用，逐步形成了一些質(zhì)量管理的基本方法

2、，如SPC、抽樣檢驗(yàn)、“新、老七種工具”等。,5,質(zhì)量管理體系對(duì)統(tǒng)計(jì)技術(shù)的要求,在現(xiàn)代質(zhì)量管理活動(dòng)中，需要應(yīng)用各種數(shù)理統(tǒng)計(jì)技術(shù)和方法。為此，統(tǒng)計(jì)技術(shù)已成為各種質(zhì)量體系的一個(gè)重要的因素： ISO9001 QS9000 VDA6.1 ISO TS16949 TL9000,6,質(zhì)量管理體系對(duì)統(tǒng)計(jì)技術(shù)的要求,ISO9001:1994/QS9000:1998 4.20 統(tǒng)計(jì)技術(shù) 4.20.1 確定要求 對(duì)確定、控制和驗(yàn)證過程能力以及產(chǎn)品特性所需的統(tǒng)計(jì)技術(shù)，供方應(yīng)明確其需求。 4.20.2 程序 供方應(yīng)建立并保持形成文件的程序，以實(shí)施4.20.1中確定的統(tǒng)計(jì)技術(shù)，并控制其應(yīng)用。 以上，為ISO9001:1

3、994的要求。,7,質(zhì)量管理體系對(duì)統(tǒng)計(jì)技術(shù)的要求,ISO9001:1994/QS9000:1998（第三版） 4.20.3 統(tǒng)計(jì)工具的選擇 在質(zhì)量先期策劃中要確定每一過程適用的統(tǒng)計(jì)工具，并必須包括在控制計(jì)劃中。 4.20.4 基礎(chǔ)統(tǒng)計(jì)概念知識(shí) 必要時(shí)，整個(gè)供方組織要了解統(tǒng)計(jì)技術(shù)的基本概念，如變差、控制（穩(wěn)定性）、能力和過度調(diào)整。 參閱統(tǒng)計(jì)過程控制（SPC）參考手冊(cè)。 以上為QS9000增加內(nèi)容。,8,質(zhì)量管理體系對(duì)統(tǒng)計(jì)技術(shù)的要求,VDA6.1:1999(第四版) 22 統(tǒng)計(jì)技術(shù) 22.1 是否了解使用統(tǒng)計(jì)技術(shù)的可能性并對(duì)其應(yīng)用進(jìn)行策劃? 22.2 在開發(fā)階段, 是否將統(tǒng)計(jì)技術(shù)應(yīng)用于試驗(yàn)的策劃和

4、分析評(píng)定, 以及應(yīng)用于產(chǎn)品風(fēng)險(xiǎn)估計(jì)? 22.3 對(duì)外購(gòu)件的質(zhì)量檢驗(yàn)進(jìn)行分析評(píng)定時(shí)是否應(yīng)用統(tǒng)計(jì)技術(shù)? 22.4 統(tǒng)計(jì)技術(shù)是否使用于現(xiàn)場(chǎng)的過程控制和過程優(yōu)化? 22.5 對(duì)最終的質(zhì)量檢驗(yàn)進(jìn)行分析評(píng)定時(shí), 是否應(yīng)用統(tǒng)計(jì)技術(shù)? 22.6 統(tǒng)計(jì)技術(shù)是否使用于產(chǎn)品使用過程中的失效分析評(píng)定?,9,質(zhì)量管理體系對(duì)統(tǒng)計(jì)技術(shù)的要求,VDA6.1:1999(第四版) 22.1 是否了解使用統(tǒng)計(jì)技術(shù)的可能性并對(duì)其應(yīng)用進(jìn)行策劃? 在過程鏈內(nèi), 為了查明、監(jiān)控和檢驗(yàn)過程能力與產(chǎn)品特性值, 必須確定對(duì)統(tǒng)計(jì)技術(shù)的需求. 哪些過程和特性值采用哪些方法進(jìn)行檢驗(yàn)和評(píng)價(jià), 將依據(jù)風(fēng)險(xiǎn)分析的結(jié)果(例如: FMEA)來確定. 必須為應(yīng)用

5、情況確定合適的方法, 并加以應(yīng)用.,10,質(zhì)量管理體系對(duì)統(tǒng)計(jì)技術(shù)的要求,VDA6.1:1999(第四版) 22.1 是否了解使用統(tǒng)計(jì)技術(shù)的可能性并對(duì)其應(yīng)用進(jìn)行策劃?（續(xù)） 通用的方法有: 統(tǒng)計(jì)抽樣技術(shù) 分析評(píng)定技術(shù) 實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)技術(shù) 風(fēng)險(xiǎn)分析技術(shù),11,質(zhì)量管理體系對(duì)統(tǒng)計(jì)技術(shù)的要求,VDA6.1:1999(第四版) 22.1 是否了解使用統(tǒng)計(jì)技術(shù)的可能性并對(duì)其應(yīng)用進(jìn)行策劃?（續(xù)） 在過程鏈內(nèi), 統(tǒng)計(jì)技術(shù)能夠使應(yīng)用者用經(jīng)濟(jì)觀點(diǎn)評(píng)價(jià)過程. 統(tǒng)計(jì)技術(shù)的策劃在項(xiàng)目策劃的范圍內(nèi)以質(zhì)量預(yù)先策劃的形式進(jìn)行. 在質(zhì)量改進(jìn)計(jì)劃中, 必須考慮統(tǒng)計(jì)技術(shù)分析的結(jié)果. 在對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量結(jié)果進(jìn)行評(píng)價(jià)之前, 優(yōu)先對(duì)過程參數(shù)進(jìn)行統(tǒng)

6、計(jì)評(píng)價(jià), 在有可能和有經(jīng)濟(jì)意義的地方必須這樣實(shí)施.,12,質(zhì)量管理體系對(duì)統(tǒng)計(jì)技術(shù)的要求,VDA6.1:1999(第四版) 22.2 在開發(fā)階段, 是否將統(tǒng)計(jì)技術(shù)應(yīng)用于試驗(yàn)的策劃和分析評(píng)定, 以及應(yīng)用于產(chǎn)品風(fēng)險(xiǎn)估計(jì)? 典型的方法, 例如: 實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)/析因分析 分差分析/回歸分析 顯著性試驗(yàn) 失效概率 FMEA 故障樹分析 系統(tǒng)優(yōu)化,13,質(zhì)量管理體系對(duì)統(tǒng)計(jì)技術(shù)的要求,VDA6.1:1999(第四版) 22.2 在開發(fā)階段, 是否將統(tǒng)計(jì)技術(shù)應(yīng)用于試驗(yàn)的策劃和分析評(píng)定, 以及應(yīng)用于產(chǎn)品風(fēng)險(xiǎn)估計(jì)? (續(xù)) 典型的方法, 例如: 實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)/析因分析 分差分析/回歸分析 顯著性試驗(yàn) 失效概率 FMEA 故

7、障樹分析 系統(tǒng)優(yōu)化 統(tǒng)計(jì)技術(shù)不僅可以用于產(chǎn)品開發(fā), 而且可以用于過程開發(fā)、試驗(yàn)、設(shè)計(jì)和樣品制造.,14,質(zhì)量管理體系對(duì)統(tǒng)計(jì)技術(shù)的要求,VDA6.1:1999(第四版) 22.3 對(duì)外購(gòu)件的質(zhì)量檢驗(yàn)進(jìn)行分析評(píng)定時(shí)是否應(yīng)用統(tǒng)計(jì)技術(shù)? 典型的方法, 例如: 統(tǒng)計(jì)抽樣技術(shù) 缺陷收集卡 排列圖分析 進(jìn)一步還包括質(zhì)量證明的分析評(píng)定 依據(jù)供貨質(zhì)量, 實(shí)施對(duì)供商的評(píng)價(jià).,15,質(zhì)量管理體系對(duì)統(tǒng)計(jì)技術(shù)的要求,VDA6.1:1999(第四版) 22.4 統(tǒng)計(jì)技術(shù)是否使用于現(xiàn)場(chǎng)的過程控制和過程 優(yōu)化? 對(duì)于過程控制和過程優(yōu)化的典型方法有 : 質(zhì)量控制卡/SPC 統(tǒng)計(jì)抽樣技術(shù) 缺陷收集卡 排列圖 能力調(diào)查(Cmk,

8、Ppk, Cpk) 實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì) 原因分析 方差分析/回歸分析 顯著性試驗(yàn) 缺陷收集卡 排列圖分析,16,質(zhì)量管理體系對(duì)統(tǒng)計(jì)技術(shù)的要求,VDA6.1:1999(第四版) 22.5對(duì)最終的質(zhì)量檢驗(yàn)進(jìn)行分析評(píng)定時(shí), 是否應(yīng)用統(tǒng)計(jì)技術(shù)? 典型的方法, 例如: 抽樣計(jì)劃 缺陷收集卡 排列圖 抽樣計(jì)劃應(yīng)根據(jù)統(tǒng)計(jì)觀點(diǎn)進(jìn)行選擇, 在此必須考慮零缺陷戰(zhàn)略,17,質(zhì)量管理體系對(duì)統(tǒng)計(jì)技術(shù)的要求,VDA6.1:1999(第四版) 22.6統(tǒng)計(jì)技術(shù)是否使用于產(chǎn)品使用過程中的失效分析評(píng)定? 典型的方法, 例如: 缺陷收集卡 排列圖 概率紙 與生產(chǎn)相結(jié)合的統(tǒng)計(jì)技術(shù)的采用, 在許多情況下具有更大的意義. 例如: 在售后服務(wù)和開

9、展保修工作時(shí)運(yùn)用.,18,質(zhì)量管理體系對(duì)統(tǒng)計(jì)技術(shù)的要求,ISO9001:2000/ISO TS16949:2002 8 測(cè)量、分析和改造 8.1 總則 組織必須計(jì)劃并實(shí)施以下方面所需的監(jiān)控、測(cè)量、分析和改進(jìn)的過程： a) 證實(shí)產(chǎn)品的符合性； b) 確保品質(zhì)管理系統(tǒng)的符合性； c) 持續(xù)改進(jìn)品質(zhì)管理系統(tǒng)的有效性。 這必須包括對(duì)統(tǒng)計(jì)技術(shù)在內(nèi)的適用方法及其必須使用范圍的確定。 以上為ISO9001:2000的要求；,19,質(zhì)量管理體系對(duì)統(tǒng)計(jì)技術(shù)的要求,ISO9001:2000/ISO TS16949:2002 8 測(cè)量、分析和改造 8.1 總則 8.1.1 統(tǒng)計(jì)工具的確定 在先期品質(zhì)規(guī)劃中必須確定每

10、一過程適用的統(tǒng)計(jì)工具，并包含于控制計(jì)劃中。 8.1.2 基本統(tǒng)計(jì)概念的知識(shí) 整個(gè)組織必須了解和使用基本的統(tǒng)計(jì)概念，如變差、受控（穩(wěn)定性）、過程能力和過度調(diào)整。 以上為ISO/TS16949:2002增加的要求；,20,質(zhì)量管理體系對(duì)統(tǒng)計(jì)技術(shù)的要求,基本統(tǒng)計(jì)圖、統(tǒng)計(jì)表，如；百分比圖、趨勢(shì)圖等； 品管七大手法，如：直方圖、因果圖、柏拉圖、層別法、檢查表、散布圖、控制圖； 新品管七大手法，如：關(guān)聯(lián)圖法、KJ法、系統(tǒng)法、 矩陣圖法、矩陣資料解析法、過程決定計(jì)劃圖法、箭形圖解法； SPC，包含：控制圖和過程能力分析； 抽樣檢驗(yàn)； 實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)(DOE)與田口三次設(shè)計(jì) ； 質(zhì)量功能展開(QFD); 方差分析與

11、回歸分析 可靠性,21,SPC（統(tǒng)計(jì)過程控制）的發(fā)展-1,在SPC中常用的基本統(tǒng)計(jì)方法包括：與統(tǒng)計(jì)過程控制和過程能力分析有關(guān)的方法。 二十世紀(jì)二十年代，美國(guó)貝爾實(shí)驗(yàn)室（Bell Telephone Laboratory）就成立兩個(gè)小組： 以休哈特（W. A. Shewhart）博士為學(xué)術(shù)領(lǐng)導(dǎo)人的過程控制(Process Control)研究組 以道奇（H. F. Dodge）為學(xué)術(shù)領(lǐng)導(dǎo)人的產(chǎn)品控制（Production Control）研究組。,22,SPC（統(tǒng)計(jì)過程控制）的發(fā)展-2,休哈特研究組的成果： 經(jīng)過研究，休哈特提出了過程控制理論以及監(jiān)控過程的工具控制圖（Control Chart）

12、。 1924年5月16日，休哈特提出世界上第一張控制圖p圖。 其中有關(guān)過程控制理論及控制圖標(biāo)志著著名的SPC理論的誕生。 1931年休哈特對(duì)其理論進(jìn)行了總結(jié)，寫出了一本劃時(shí)代的名著產(chǎn)品制造質(zhì)量的經(jīng)濟(jì)控制（Economic Control of Quality of Manufactured Productions）。這本著作可以稱得上一代名著，因?yàn)樵谒霭姘雮€(gè)世紀(jì)以后的八十年代仍能在美國(guó)再版，由此可見其學(xué)術(shù)價(jià)值。 休哈特的貢獻(xiàn)就在于：應(yīng)用他所提出的過程控制理論能夠在生產(chǎn)線上科學(xué)地保證預(yù)防原則的實(shí)現(xiàn)。,23,SPC（統(tǒng)計(jì)過程控制）的發(fā)展-3,道奇研究組的成果： 道奇與羅米格（H. F. Dodg

13、e and H. G. Romig）則提出了抽樣檢驗(yàn)理論和抽樣檢驗(yàn)表。,24,SPC（統(tǒng)計(jì)過程控制）的發(fā)展-4,1941-1942年,有關(guān)SPC的內(nèi)容制定成美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)： Z1-1-1941 Guide for Quality Control Z1-2-1941 Control Chart Method for analyzing Data Z1-3-1942 Control Chart Method for Control Quality During Production,25,SPC（統(tǒng)計(jì)過程控制）的發(fā)展-5,控制圖在英國(guó)及日本的歷史 英國(guó)在1932年，邀請(qǐng)W.A. Shewhart博士到倫

14、敦，主講統(tǒng)計(jì)品質(zhì)管制，而提高了英國(guó)人將統(tǒng)計(jì)方法應(yīng)用到工業(yè)方面之氣氛。 就控制圖在工廠中實(shí)施來說，英國(guó)比美國(guó)為早 1950年由W.E. Deming博士引到日本。 同年日本規(guī)格協(xié)會(huì)成立了品質(zhì)管制委員會(huì)，制定了相關(guān)的JIS標(biāo)準(zhǔn)。,26,SPC（統(tǒng)計(jì)過程控制）的發(fā)展-6,在休哈特提出他的控制圖（我們稱之為“休哈特控制圖” ）之后，又有人陸續(xù)提出數(shù)十種控制圖，其中比較重要的有如下幾種： 累積和控制圖（CUSUM，Cumulative Sum Control Chart）：1954年佩基（E. S. Page）最早提出,它可以將一系列點(diǎn)子的微弱信息累積起來，所以對(duì)過程的小變動(dòng)靈敏。隨后又有許多學(xué)者對(duì)此作

15、了研究。 指數(shù)加權(quán)移動(dòng)平均控制圖（EWMA，Exponentially Weighted Moving Average Control Chart）：它最早由羅伯茨（S. W. Roberts）在1959年提出。它是另一個(gè)檢出過程小波動(dòng)的控制圖，其性能幾乎與累積和圖相同，而且在某些情況之下較之CUSUM圖更容易建立與操作。 一元CUSUM圖和一元EWMA圖在工序控制中得到了日益廣泛的應(yīng)用。,27,SPC（統(tǒng)計(jì)過程控制）的發(fā)展-7,田口控制圖： 運(yùn)用田口質(zhì)量控制思想建立的控制圖，它注重工序控制的經(jīng)濟(jì)性。 小批量生產(chǎn)控制圖（Control Chart for Low Volume Manufact

16、uring）：小批量控制圖主要有： 無先驗(yàn)信息小批量生產(chǎn)的控制圖：1969年希利爾（F. S. Hillier）與新加坡楊中浩提出了小樣本控制圖，1991-1995年久森伯瑞（C. P. Qusenberry）提出了Q控制圖。 有歷史信息小批量生產(chǎn)的控制圖：1997年我國(guó)著名質(zhì)量管理專家張公緒教授的學(xué)生卜祥民博士應(yīng)用貝葉斯（Bayes）分析方法，充分利用已知信息，彌補(bǔ)了小批量生產(chǎn)樣本少的缺點(diǎn)。,28,SPC（統(tǒng)計(jì)過程控制）的發(fā)展-8,將相似工序同類分布的產(chǎn)品質(zhì)量特征值數(shù)據(jù)，通過數(shù)學(xué)方法變換程同一分布，從而可以累積起來稱為大樣本進(jìn)行處理。主要有：通用圖法、相對(duì)公差法及美軍固定樣本容量法。 選控控

17、制圖（Cause-Selecting Control Chart）：前述控制圖都是全控圖，及對(duì)所有異因都加以控制。而選控圖是選擇部分異因加以控制，它由我國(guó)張公緒教授1980年提出。它對(duì)統(tǒng)計(jì)診斷理論起到重要的作用。 多元控制圖：1947年侯鐵林（H. Hotelling）提出多元T2圖控制圖，從此開辟了多元質(zhì)量控制的時(shí)代。 彩虹圖,29,SPC與SQC的差別,針對(duì)產(chǎn)品所做的仍只是在做SQC,針對(duì)重要過程的重要控制參數(shù)所做的才是SPC,實(shí)時(shí)響應(yīng),30,第二章 產(chǎn)品質(zhì)量的變異與過程控制,產(chǎn)品質(zhì)量的統(tǒng)計(jì)觀點(diǎn) 影響產(chǎn)品質(zhì)量的原因 現(xiàn)場(chǎng)主管/作業(yè)經(jīng)理的兩種任務(wù) 局部措施和對(duì)系統(tǒng)采取措施,過程控制 過程控制

18、的概念 預(yù)防還是容忍? 帶反饋系統(tǒng)的過程控制模型,31,每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同 范圍 范圍 范圍 范圍 但它們形成一個(gè)模型，若穩(wěn)定，可以描述為一個(gè)分布 范圍 范圍 范圍 分布可以通過以下因素來加以區(qū)分 位置 分布寬度 形狀 或這些因素的組合,32,產(chǎn)品質(zhì)量的統(tǒng)計(jì)觀點(diǎn),產(chǎn)品的質(zhì)量特性值是波動(dòng)的： 產(chǎn)品質(zhì)量特性值的波動(dòng)具有統(tǒng)計(jì)規(guī)律性：產(chǎn)品的質(zhì)量特性值是波動(dòng)的，但這種波動(dòng)符合統(tǒng)計(jì)規(guī)律性，即從數(shù)學(xué)的角度它服從某種分布。常用的分布有以下幾種：正態(tài)分布（計(jì)量值）、超幾何分布（計(jì)件值）、二項(xiàng)分布（計(jì)件值）、泊松分布（計(jì)點(diǎn)值）、指數(shù)分布；,33,影響產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)的原因,產(chǎn)品質(zhì)量的波動(dòng),5M1E,34,Th

19、e Sources of Process/System Variation,Process,35,影響產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)的原因,變異（變差，波動(dòng)，Variation）的概念 產(chǎn)品/過程的實(shí)際指標(biāo)在規(guī)定值附近的變化情況 引起變異的原因, 通常有兩種： 普通原因 特殊原因,36,影響產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)的原因,引起變異的原因普通原因和特殊原因 普通原因（Common Cause）：又稱機(jī)遇原因（Chance Cause），偶然原因，不可避免原因，非人為原因等。 此種原因所引起的變異（波動(dòng)）稱為正常波動(dòng)（Natural Variations）；,37,影響產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)的原因,引起變異的原因普通原因和特殊原因 特殊

20、原因(Special Cause)：又稱非機(jī)遇原因（Assignable Cause），系統(tǒng)原因，可避免原因，人為原因等。 此種原因所引起的變異（波動(dòng)）稱為異常波動(dòng)（Assignable Variations）,38,局部措施和對(duì)系統(tǒng)采取措施,局部措施 通常用來消除變差的特殊原因 通常由于過程直接相關(guān)的人員實(shí)施 大約可糾正15%的過程問題 對(duì)系統(tǒng)采取措施 通常用來消除變差的普通原因 幾乎總是要求管理措施，以便糾正 大約可糾正85%的過程問題,采取的措施類型如不正確將給組織帶來大的損失，不但勞而無功，而且會(huì)延誤問題的解決甚至使問題惡化。 無論如何，為了更好的減少過程變差的普通原因需要管理人員和與

21、操作直接相關(guān)的人員的密切的配合。也就是說，過程的控制，是管理和技術(shù)的結(jié)合。,39,現(xiàn)場(chǎng)主管/作業(yè)經(jīng)理的兩種任務(wù),正常與異常波動(dòng)為生產(chǎn)/作業(yè)經(jīng)理區(qū)分了兩種任務(wù)： 首先是確保生產(chǎn)過程中只有正常波動(dòng), 從而操作處于控制之下。 其次當(dāng)然是查出并消除異常波動(dòng)以使工序處于控制之下。,40,過程控制和過程能力,統(tǒng)計(jì)受控的概念 統(tǒng)計(jì)受控（統(tǒng)計(jì)穩(wěn)定、過程是穩(wěn)定的、過程是受控的）： 統(tǒng)計(jì)非受控（統(tǒng)計(jì)不穩(wěn)定、過程是不穩(wěn)定的、過程是不受控的）： 見下頁,41,過程控制和過程能力,42,過程控制和過程能力持續(xù)改進(jìn),43,過程控制和過程能力,技術(shù)受控的概念 技術(shù)受控（產(chǎn)品都是合格的）： 技術(shù)非受控（產(chǎn)品不都是合格的）：,

22、44,過程控制和過程能力,統(tǒng)計(jì)受控和過程受控的關(guān)系 通過檢查并消除變差的特殊原因使過程處于受統(tǒng)計(jì)控制的狀態(tài)，使其性能可預(yù)測(cè)； 通過比較過程變差與產(chǎn)品公差的關(guān)系，可了解過程能力；,45,過程控制基本概念,過程控制系統(tǒng)的目的是對(duì)影響過程的原因采取經(jīng)濟(jì)合理的措施，也就是說：對(duì)“不需控制時(shí)而采取了措施（過渡調(diào)整和擅自改變）”和“需要控制時(shí)而未采取措施（控制不足）” 兩種狀況進(jìn)行平衡（綜合考慮）。必須在變差的兩種原因的關(guān)系下處理好這些風(fēng)險(xiǎn) 。 過程在統(tǒng)計(jì)控制下運(yùn)行（通常稱為：受控狀態(tài)和穩(wěn)定狀態(tài)）指的是：僅存在造成變差的普通原因。這樣，過程控制系統(tǒng)的一個(gè)作用是當(dāng)出現(xiàn)變差的特殊原因時(shí)提供統(tǒng)計(jì)信號(hào)，并且當(dāng)不出

23、現(xiàn)特殊原因時(shí)避免提供錯(cuò)誤信息，從而對(duì)這些特殊原因采取適當(dāng)?shù)拇胧ɑ蚴窍鼈儯蚴怯谰玫乇Ａ羲鼈儯?46,預(yù)防還是容忍?,不要等產(chǎn)品做出來后再去看它好不好，而是在制造的時(shí)候就要把它制造好; 檢測(cè)容忍浪費(fèi) 預(yù)防避免浪費(fèi),47,PROCESS CONTROL SYSTEM MODEL WITH FEEDBACK帶反饋系統(tǒng)的過程控制模型,48,第三章 過程能力分析,統(tǒng)計(jì)學(xué)基本概念 總體、樣本、個(gè)體 平均值和標(biāo)準(zhǔn)差 常見的統(tǒng)計(jì)學(xué)分布 過程能力分析 過程分析,49,統(tǒng)計(jì)學(xué)基本概念,總體、樣本、個(gè)體,(xi ) ,n,S,50,統(tǒng)計(jì)學(xué)基本概念,總 體 N 平均值= 標(biāo)準(zhǔn)差=,計(jì)算公式,平均值和標(biāo)準(zhǔn)差,5

24、1,計(jì)算公式,統(tǒng)計(jì)學(xué)基本概念,樣 本 n 平均值= 標(biāo)準(zhǔn)差=S,平均值和標(biāo)準(zhǔn)差,52,統(tǒng)計(jì)學(xué)基本概念,正態(tài)分布 偏態(tài)分布 二項(xiàng)分布 泊松分布 超幾何分布 ,常見的統(tǒng)計(jì)學(xué)規(guī)律分布,無論何種分布，若連續(xù)取幾個(gè)樣本，其平均值均近似符合正態(tài)分布,53,正態(tài)分布(Normal Distribution),統(tǒng)計(jì)學(xué)基本概念,54,統(tǒng)計(jì)學(xué)基本概念,正態(tài)分布(Normal Distribution),55,Sigma=Deviation (Square root of variance),-7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7,Axis grach in Sigma,正態(tài)分布(

25、Normal Distribution)高斯曲線,56,過程（工序）能力分析,過程分析 過程分析分為兩部分(如下圖所示) 批量生產(chǎn)前的過程分析 批量生產(chǎn)后的過程分析 所有類型的能力分析基本上遵循相同程序，質(zhì)量能力指數(shù)也依據(jù)同一方法計(jì)算。 不同點(diǎn)仍在于分析產(chǎn)品的數(shù)量，分析的期間和在分析時(shí)間點(diǎn)，與最終生產(chǎn)條件符合的程序。,57,58,標(biāo)準(zhǔn)差,公 差,標(biāo)準(zhǔn)差,公 差,過程潛能,過程能力,質(zhì)量能力指數(shù),短期過程能力,初始過程能力,長(zhǎng)期過程能力,Cm 機(jī)器能力,Cmk 機(jī)器能力指數(shù),Cmk,Ppk,Cpk 機(jī)器能力指數(shù)、初始能力指數(shù)、過程能力指數(shù),Cpk 過程能力指數(shù),Cp 過程能力,Cm,Pp,Cp

26、機(jī)器能力、初始能力、過程能力,59,過程（工序）能力分析,所有類型的能力分析基本上遵循相同程序，質(zhì)量能力指數(shù)也依據(jù)同一方法計(jì)算： 不同點(diǎn)仍在于分析產(chǎn)品的數(shù)量，分析的期間和在分析時(shí)間點(diǎn)，與最終生產(chǎn)條件符合的程序。,取樣方法及 的計(jì)算公式不同，則對(duì)應(yīng)不同的質(zhì)量能力指數(shù)。,60,過程（工序）能力分析,過程（工序）能力指數(shù)： Cp（過程/工序能力、過程精密度，Accuracy）,61,過程（工序）能力分析,過程（工序）能力指數(shù)： Cp（過程/工序能力、過程準(zhǔn)確度，Accuracy）,62,過程（工序）能力分析,過程（工序）能力指數(shù)： Cpk（過程/工序能力指數(shù)）,63,過程（工序）能力分析,過程（工序

27、）能力指數(shù)： Cpk（過程/工序能力指數(shù)） Cpk Cp （1Ca）；,64,過程（工序）能力分析,過程（工序）能力指數(shù)： Ca（過程準(zhǔn)確度，Accuracy）,65,制程能力指數(shù)處置建議,66,制程能力指數(shù)處置建議,67,制程能力指數(shù)處置建議,68,制程能力等級(jí)判斷及處置建議P%,69,制程能力分析,制程能力指數(shù)Cp與制程不良率P（ppm）對(duì)照表（平均值不偏移）。,70,制程能力指數(shù)Cp與制程不良率P（ppm）對(duì)照表,規(guī)格界限寬度 規(guī)格界限寬度,71,標(biāo)準(zhǔn)差與ppm制品質(zhì)水準(zhǔn)對(duì)照表,（規(guī)格中心往左、右移動(dòng)1.5）,72,標(biāo)準(zhǔn)差與ppm制品質(zhì)水準(zhǔn)對(duì)照表(續(xù)),73,聯(lián)合應(yīng)用Cp與Cpk所代表的

28、合格率,74,制程能力指數(shù)范例,例：某產(chǎn)品的尺寸規(guī)格是56010 m/m，經(jīng)檢驗(yàn)一批后求出 3為5619 m/m。 求：(1) Ca (2) Cp (3) Cpk (4) P%,75,SPC的導(dǎo)入流程,76,第四章 控制圖概論與原理,77,控制圖的原理,正態(tài)分布與控制圖,78,控制圖的原理,正態(tài)分布與控制圖,79,控制圖的原理,正態(tài)分布與控制圖 控制圖就是以正態(tài)分布為基礎(chǔ)，換句話說，只要群體符合正態(tài)分布，從群體中抽樣時(shí)，每1000次中約有3次機(jī)會(huì)超出范圍。我們認(rèn)為，此三次是因?yàn)榕既辉蚺艹鼋缦?，在?shí)際中屬小概率事件，發(fā)生的可能性極小與文獻(xiàn)3有差別。,80,控制圖的原理,控制限的確定（經(jīng)濟(jì)原則）

29、,81,控制圖的原理,控制圖的兩類錯(cuò)誤 對(duì)于僅僅存在偶然因素的情況下, 由于點(diǎn)子越出控制界限外而判斷過程發(fā)生變化的錯(cuò)誤, 即將正常判斷為異常的錯(cuò)誤是可能發(fā)生的. 這種錯(cuò)誤稱為第一種錯(cuò)誤. “拒絕真實(shí)”的錯(cuò)誤 當(dāng)過程具有某種非偶然因素影響, 致使過程發(fā)生程度不同的變化. 但由于此變化相應(yīng)的一些點(diǎn)子落在控制界限內(nèi), 從而有可能發(fā)生判斷過程未發(fā)生變化的錯(cuò)誤, 這種錯(cuò)誤稱為第二種錯(cuò)誤.,82,控制圖的作用,合理使用控制圖能： 供正在進(jìn)行過程控制的操作者使用； 有助于過程在質(zhì)量上和成本上持續(xù)地、可預(yù)測(cè)地保持下去； 使過程達(dá)到： 更高的質(zhì)量 更低的單件成本 更高的有效的能力,83,控制圖的作用,合理使用控

30、制圖能： 為討論過程的性能提供共同的語言； 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因, 作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南 ；,84,使用控制圖的基本步驟,決定管制工序和項(xiàng)目,決定管制標(biāo)準(zhǔn),決定抽樣方法,選用管制圖的格式,記入管制界限,繪點(diǎn)、實(shí)施,重新檢討管制圖,處置措施,OK,OK,NG,收集數(shù)據(jù),85,管制圖的應(yīng)用,決定管制工序和項(xiàng)目,決定管制標(biāo)準(zhǔn),決定抽樣方法,選用管制圖的格式,記入管制界限,繪點(diǎn)、實(shí)施,重新檢討管制圖,處置措施,OK,OK,NG,穩(wěn)定？,能力高？,收集數(shù)據(jù),Ppk,Cpk,分析原因采取措施,Y,N,N,Y,86,第五章 控制圖的種類,87,控制圖的種類和選擇,88,控制圖的種類

31、和選擇,按著使用的階段/用途分： 分析用的控制圖 控制用的控制圖,89,計(jì)量值計(jì)數(shù)值管制圖公式匯總,90,數(shù)據(jù)分組時(shí)的重要考慮,91,R管制圖（平均值與全距）,1.公式： (1)管制圖 CL= UCL= A2 LCL= A2 2.實(shí)例： 某工廠制造一批紫銅管，應(yīng)用 -R管制圖來控制其內(nèi)徑，尺寸單位為m/m，利用下頁數(shù)據(jù)表之資料，求得其管制界限并繪圖。（n=5）,(2) R 管制圖 CL= UCL=D4 LCL=D3,92,R管制圖用數(shù)據(jù)表,制品名稱：紫銅管 機(jī)械號(hào)碼：XXX 品質(zhì)特性：內(nèi)徑 操 作 者：XXX 測(cè)定單位：m/m 測(cè) 定 者：XXX 制造場(chǎng)所：XXX 抽樣期限：自年月日至年月日,

32、93,R管制圖用數(shù)據(jù)表（續(xù)）,94,R繪圖步驟（一）,1.將每樣組之 與算出記入數(shù)據(jù)表內(nèi)。 2.求 與 50.16 4.8 3.查系數(shù) A2，D4，D3 A20.58，D42.11，D3負(fù)值（以0代表） p35,95,R繪圖步驟 （二）,4.求管制界限。 (1) 管制圖 CL 50.16 UCL A2 50.16(0.58) (4.8)52.93 LCL A2 50.16(0.58) (4.8)47.39,96,R繪圖步驟 （三）,4.求管制界限。 (2) 管制圖 CL 4.8 UCLD4 (0.11) (4.8)10.13 LCLD3 (0) (4.8)0 5.將管制界限繪入管制圖 6.點(diǎn)圖

33、 7.檢討管制界限,97,R管制圖,98,R范例,某產(chǎn)品制成后，經(jīng)常發(fā)現(xiàn)不良品，今利用R管制圖控制其品質(zhì)特性，每天取樣2次，每次樣本大小n=5，下表是10天內(nèi)所收集之?dāng)?shù)據(jù)（由同一作業(yè)員操作同一部機(jī)器所得之?dāng)?shù)據(jù)），試計(jì)算R管制圖之管制界限，并繪成管制圖。,99,R范例(管制圖）,100,P管制圖(不良率),1.公式 (1) 公組樣本大小n相等時(shí)： CL UCL 3 LCL 3 (2) n不等，且相差小于20%時(shí)： CL UCL 3 LCL 3,101,P管制圖(不良率),1.公式 (3) n不等，且相差大于20%時(shí)： CL UCL 3 LCL 3,102,P管制圖(不良率),2. 實(shí)例 某工廠制

34、造外銷產(chǎn)品，每2小時(shí)抽取100件來檢查，將檢查所得之不良品數(shù)據(jù)，列于下表，利用此項(xiàng)數(shù)據(jù)，繪制不良率(p)管制圖，控制其品質(zhì)。,103,P管制圖繪圖步驟,1.求管制界限 CL 0.05 5% UCL 3 =11.54% LCL 3 （為負(fù)值，視為0）,104,P管制圖繪圖步驟,2.點(diǎn)繪管制圖,105,P 范例,某工廠之生產(chǎn)線，每分鐘制造產(chǎn)品200個(gè)，今為控制其焊錫不良，采用不良率管制圖加以管制，每2小時(shí)抽查200個(gè)，試根據(jù)下列資料計(jì)算不良率管制圖之中心線及管制界限，并繪制其管制圖。,106,計(jì)量值管制圖常用之系數(shù)表,107,常態(tài)分配統(tǒng)計(jì)量抽樣分配常數(shù)表,108,第五章 控制圖的觀察分析,109,

35、控制讀判讀方法,點(diǎn)子正常分布 動(dòng)態(tài)的管制圖，如圖1 1 多數(shù)的點(diǎn)子，集中在中心線附近，且兩邊對(duì)稱。 2 少數(shù)的點(diǎn)子，落在管制界限附近。 3 點(diǎn)子之分布呈隨機(jī)狀態(tài)，無任何規(guī)則可尋。 4 沒有點(diǎn)子超出管制界限外(就是有也很少)。,110,控制圖判讀方法,點(diǎn)子不正常分布 動(dòng)態(tài)的管制圖 1.在中心線附近無點(diǎn)子。 此種型態(tài)我們稱之為”混合型”，因樣本中可能包括兩種群體，其中一種偏大，另一種偏小，如圖二。 2.在管制界限附近無點(diǎn)子。 此種型態(tài)我們稱之為”層別型”，因?yàn)樵后w可能已經(jīng)加以檢剔過，如圖三。 3.有點(diǎn)子逸出管制界限之現(xiàn)象。 此種形態(tài)我們稱之為”不穩(wěn)定型”如圖四。,111,控制圖判讀方法,112,

36、控制圖判讀方法,不正常點(diǎn)的判斷方法： 控制圖之不正常型態(tài)之鑒別是根據(jù)或然率之理論而加以判定的，出現(xiàn)下述之一項(xiàng)者，即為不正常之型態(tài)，應(yīng)調(diào)查可能原因。,113,控制圖判讀方法,檢定規(guī)則1： 3點(diǎn)中有2點(diǎn)在A區(qū)或A 區(qū)以外者(口訣:3分之2A) 檢定規(guī)則2： 5點(diǎn)中有4點(diǎn)在B區(qū)或B區(qū)以外者。(口訣：5分之B),114,控制圖判讀方法,檢定規(guī)則3： 有8點(diǎn)在中心線之兩側(cè)，但C區(qū)并無點(diǎn)子者。 （口訣：8缺C）,115,控制圖判讀方法,檢定規(guī)則4： a 連續(xù)五點(diǎn)繼續(xù)上升(或下降)注意以后動(dòng)態(tài)。b 連續(xù)六點(diǎn)繼續(xù)上升(或下降)開始調(diào)查原因。 c 連續(xù)七點(diǎn)繼續(xù)上升(或下降)必有原因，應(yīng)立 即采取措施。,116,控制圖的判讀方法,定規(guī)則5：連續(xù)7點(diǎn)在同一側(cè) 檢定規(guī)則6：點(diǎn)子出現(xiàn)在中心線的單側(cè)較多時(shí)，有下列狀況者 a. 連續(xù)11點(diǎn)中至少有10點(diǎn) b. 連續(xù)14點(diǎn)中至少有12點(diǎn) c. 連續(xù)17點(diǎn)中至少有14點(diǎn) d. 連續(xù)20點(diǎn)中至