JJF 1728-2018 樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀校準(zhǔn)規(guī)范

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中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范

JF1728—2018

樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀校準(zhǔn)規(guī)范

CalibrationSPecificationforUltrasonicTestingInstrumentsforResinMatrixComPosites

2018-12-25發(fā)布 2019-03-25實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 發(fā)布

JF1728—2018

樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀校準(zhǔn)規(guī)范

CalibrationSPecificationforUltrasonicTestingInstrumentsforResinMatrixComPosites

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JF1728—2018

歸 口 單 位:全國(guó)聲學(xué)計(jì)量技術(shù)委員會(huì)起 草 單 位:中航復(fù)合材料有限責(zé)任公司

中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司基礎(chǔ)技術(shù)研究院中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院

本規(guī)范委托全國(guó)聲學(xué)計(jì)量技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋

本規(guī)范起草人:

劉松平(中航復(fù)合材料有限責(zé)任公司)

劉菲菲(中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司基礎(chǔ)技術(shù)研究院)邊文萍(中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院)

邢廣振(中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院)

傅天航(中航復(fù)合材料有限責(zé)任公司)

李樂(lè)剛(中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司基礎(chǔ)技術(shù)研究院)史俊偉(中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司基礎(chǔ)技術(shù)研究院)

目 錄

引言………………………

(Ⅲ)

1范圍……………………

2引用文件………………

3術(shù)語(yǔ)和計(jì)量單位………………………

3.1縱向分辨力…………

3.2近表面分辨力………………………

3.3近底面分辨力………………………

3.4脈沖回波周期數(shù)……………………

3.5掃描靈敏度…………

4概述……………………

5計(jì)量特性………………

5.1水平線(xiàn)性誤差………………………

5.2垂直線(xiàn)性誤差………………………

5.3縱向分辨力…………

5.4近表面分辨力………………………

5.5近底面分辨力………………………

5.6脈沖回波周期數(shù)……………………

5.7檢測(cè)靈敏度…………

5.8基線(xiàn)電噪聲…………

5.9掃描范圍……………

(1)

(1)

(1)

(1)

(1)

(2)

(2)

(2)

(2)

(4)

(4)

(5)

(5)

(5)

(5)

(5)

(5)

(5)

(5)

5.10掃描靈敏度………………………

(5)

5.1 膠接缺陷檢測(cè)靈敏度……………

(5)

6校準(zhǔn)條件………………

6.1環(huán)境條件……………

6.2測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)及其他設(shè)備………………

7校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)方法…………………

7.1校準(zhǔn)項(xiàng)目……………

7.2校準(zhǔn)方法……………

8校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá)…………

8.1校準(zhǔn)數(shù)據(jù)處理………………………

8.2校準(zhǔn)結(jié)果的測(cè)量不確定度…………

8.3校準(zhǔn)證書(shū)……………

9復(fù)校時(shí)間間隔…………

(5)

(5)

(5)

(6)

(6)

(6)

(16)

(16)

(16)

(16)

(16)

Ⅰ

附錄A 校準(zhǔn)用試塊……………………

(17)

附錄B 校準(zhǔn)證書(shū)的內(nèi)頁(yè)格式…………

(2)

附錄C 測(cè)量不確定度評(píng)定示例

………

(25)

Ⅱ

引 言

本規(guī)范依據(jù)JF1071—2010《國(guó)家計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范編寫(xiě)規(guī)則》的要求編寫(xiě)。

本規(guī)范制定中,在技術(shù)方面主要參考了JG746—204《超聲探傷儀》和ASTME317—16《StandardPracticeforEvaluatingPerformanceCharacteristicsofUltrasonic

Pulse-EchoTestingInstrumentsandSystemswithouttheUseofElectronicMeasurementInstruments》(不借助其他電子測(cè)量?jī)x器的超聲脈沖回波檢測(cè)儀及系統(tǒng)性能特性評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)慣例)中超聲檢測(cè)儀垂直線(xiàn)性、水平線(xiàn)性等性能參數(shù)要求及其測(cè)試方法。

本規(guī)范依據(jù)JF1059.1—2012《測(cè)量不確定度評(píng)定與表示》給出了復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀檢測(cè)靈敏度的測(cè)量不確定度的評(píng)定示例。

本規(guī)范為首次發(fā)布。

Ⅲ

樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀校準(zhǔn)規(guī)范

1范圍

本規(guī)范適用于在不需要借助其他專(zhuān)門(mén)的電子測(cè)量?jī)x器設(shè)備條件下,使用對(duì)比試塊對(duì)樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀可能影響缺陷檢測(cè)、定位與分析等使用性能的校準(zhǔn)。

2引用文件

本規(guī)范引用下列文件:

JG746超聲探傷儀檢定規(guī)程JF101通用計(jì)量術(shù)語(yǔ)及定義JF1059.1測(cè)量不確定度評(píng)定與表示GB/T3102.7聲學(xué)的量和單位

GB/T12604.1無(wú)損檢測(cè) 術(shù)語(yǔ) 超聲檢測(cè)

凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本規(guī)范;凡是不注日期的引用文

件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本規(guī)范。

3術(shù)語(yǔ)和計(jì)量單位

本規(guī)范采用GB/T3102.7中規(guī)定的量和單位。

JF101、JF1059.1和GB/T12604.1中界定的及以下術(shù)語(yǔ)和定義適用于本規(guī)范。

3.1縱向分辨力 depthresolution,rangeresolution

樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀與換能器匹配,其分辨超聲波傳播方向(通常使用中與

復(fù)合材料厚度方向一致)相鄰兩個(gè)不同深度缺陷的能力,按公式(1)或公式(2)計(jì)算。

式中:

ΔhL=hD2-hD1 (1)

ΔhL=Δnp×hp (2)

ΔhL——縱向分辨力,mm;

hD1、hD2——分別為樹(shù)脂基復(fù)合材料中在厚度方向相鄰兩個(gè)缺陷的深度,mm;

Δnp——樹(shù)脂基復(fù)合材料中在厚度方向相鄰兩個(gè)缺陷的鋪層數(shù)差,Δnp=1,2,3,…,n;

hp——1個(gè)樹(shù)脂基復(fù)合材料鋪層的標(biāo)稱(chēng)厚度,mm。

3.2近表面分辨力 near-surfaceresolution,entry-surfaceresolution

樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀與換能器匹配,其分辨超聲波在樹(shù)脂基復(fù)合材料入射表

面一側(cè)近表面缺陷的能力,按公式(3)或公式(4)計(jì)算。

ΔhE=hD

(3)

ΔhE=nE×hp (4)

1

式中:

ΔhE——近表面分辨力,mm;

hD——樹(shù)脂基復(fù)合材料中缺陷的深度,mm;

nE——樹(shù)脂基復(fù)合材料中缺陷距表面的鋪層數(shù),nE=1,2,3,4,…,n。

3.3近底面分辨力far-surfaceresolution

樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀與換能器匹配

,其分辨超聲波在樹(shù)脂基復(fù)合材料底面反

射一側(cè)近底面缺陷的能力,按公式(5)或公式(6)計(jì)算。

ΔhF=h-hD

(5)

式中:

ΔhF=nF×hp (6)

ΔhF——近底面分辨力,mm;

h——樹(shù)脂基復(fù)合材料厚度,mm;

nF——樹(shù)脂基復(fù)合材料中缺陷距近底面的鋪層數(shù),nF=1,2,3,4,…,n。

3.4脈沖回波周期數(shù) pulse-echoperiod , 、 , ,

檢測(cè)儀屏幕顯示的脈沖信號(hào)的周期數(shù)nT所示。

如nT≈1

nT≈2

nT≈2.5等

如圖1

圖1脈沖回波周期數(shù)示意圖

3.5掃描靈敏度scaningsensitivity

換能器在自動(dòng)掃描過(guò)程中,根據(jù)其連接的樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)設(shè)備屏幕指示的

信號(hào)或圖像能夠清晰確定的最小缺陷大小。通常用可檢出最小缺陷的直徑表示,單位為mm。

4概述

樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀是指用于樹(shù)脂基復(fù)合材料和膠接結(jié)構(gòu)缺陷無(wú)損檢測(cè)的專(zhuān)門(mén)的超聲檢測(cè)儀器,包括帶自動(dòng)掃描功能的超聲檢測(cè)設(shè)備、膠接檢測(cè)儀器及其換能器。樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀由超聲波激勵(lì)單元、發(fā)射/接收單元、信號(hào)處理單元、信號(hào)顯示單元等主要部分組成,它利用來(lái)自樹(shù)脂基復(fù)合材料中的聲波信號(hào)進(jìn)行缺陷的檢測(cè)、定位、定量或定性分析,如圖2所示;樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)設(shè)備是在樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀基礎(chǔ)上,增加了A/D轉(zhuǎn)換單元、掃描單元、成像單元,它利用來(lái)自樹(shù)脂基復(fù)合材料中的聲波信號(hào)和換能器的位置信號(hào),通過(guò)圖像和聲波信號(hào)進(jìn)行缺陷的檢測(cè)、定位、定量或定性分析,如圖3所示;膠接檢測(cè)儀器由聲波發(fā)射/接收單元、信號(hào)處理2

單元、信號(hào)顯示單元等主要部分組成,它利用來(lái)自聲波在膠接結(jié)構(gòu)中產(chǎn)生的振動(dòng)特性及其變換進(jìn)行缺陷的檢測(cè),如圖4所示;換能器由壓電晶片和阻尼塊等主要部分組成,它用于超聲波的發(fā)射和接收。當(dāng)樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀、樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)設(shè)備和膠接檢測(cè)儀器的檢測(cè)結(jié)果出現(xiàn)不同時(shí),以樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀的檢測(cè)結(jié)果為準(zhǔn)。

圖2樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀原理框圖

3

圖3樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)設(shè)備原理框圖

圖4膠接檢測(cè)儀原理框圖

5計(jì)量特性

5.1水平線(xiàn)性誤差

利用來(lái)自給定反射體的多次底波在樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀屏幕水平方向顯示的刻度數(shù)與其理論刻度數(shù)的偏差來(lái)描述水平線(xiàn)性誤差(ΔL)。使用試塊A(見(jiàn)附錄A.1)進(jìn)行水平線(xiàn)性誤差校準(zhǔn),校準(zhǔn)結(jié)果不大于3.0%。

4

5.2垂直線(xiàn)性誤差

利用來(lái)自給定反射體的反射回波信號(hào)在樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀屏幕垂直方向顯示的刻度數(shù)與其理論刻度數(shù)的偏差來(lái)描述垂直線(xiàn)性誤差(Δ)。使用試塊C(見(jiàn)附錄A.3)進(jìn)行垂直線(xiàn)性誤差(Δ)校準(zhǔn),校準(zhǔn)結(jié)果不大于6.0%。

5.3縱向分辨力

使用試塊B(見(jiàn)附錄A.2)進(jìn)行縱向分辨力(ΔhL)校準(zhǔn),校準(zhǔn)結(jié)果不大于2hp。

5.4近表面分辨力

使用試塊C進(jìn)行近表面分辨力

(ΔhE)

校準(zhǔn),

校準(zhǔn)結(jié)果不大于2hp。

5.5近底面分辨力

( ) , 。

使用試塊C進(jìn)行近底面分辨力

ΔhF 校準(zhǔn)

校準(zhǔn)結(jié)果不大于2hp

5.6脈沖回波周期數(shù)

使用試塊A進(jìn)行脈沖回波周期數(shù)

5.7檢測(cè)靈敏度

(nT)

校準(zhǔn),

校準(zhǔn)結(jié)果不大于2。

。

樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀可檢出的最小缺陷尺寸通常用最小缺陷的直徑表示 使

用試塊D(見(jiàn)附錄A.4)進(jìn)行檢測(cè)靈敏度校準(zhǔn),校準(zhǔn)結(jié)果不大于?3.0mm。

5.8基線(xiàn)電噪聲

樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀掃描基線(xiàn)上的雜亂信號(hào)。

校準(zhǔn),校準(zhǔn)結(jié)果不大于垂直滿(mǎn)屏刻度的20%。

5.9掃描范圍

使用試塊D進(jìn)行基線(xiàn)電噪聲

。

樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀屏幕水平方向的顯示范圍校準(zhǔn),校準(zhǔn)結(jié)果不小于20.0mm。

使用試塊D進(jìn)行掃描范圍

5.10掃描靈敏度

使用試塊D進(jìn)行掃描靈敏度校準(zhǔn),

校準(zhǔn)結(jié)果不大于?3.0mm。

只適合帶自動(dòng)掃描

功能的樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)設(shè)備。

5.1 膠接缺陷檢測(cè)靈敏度

膠接檢測(cè)儀可檢出的最小缺陷尺寸

,通常用圓形缺陷直徑或矩形缺陷邊長(zhǎng)或蜂窩格

數(shù)表示。使用試塊E1~E3(見(jiàn)附錄A.5~A.7)進(jìn)行膠接缺陷檢測(cè)靈敏度校準(zhǔn),校準(zhǔn)結(jié)果不大于?12mm或12mm×12mm或不大于3個(gè)蜂窩格。只適合膠接結(jié)構(gòu)檢測(cè)儀器。

6校準(zhǔn)條件

6.1環(huán)境條件

a)氣壓:(86~106)kPa。

b)溫度:15℃~35℃。

c)相對(duì)濕度:30%~90%。

6.2測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)及其他設(shè)備

a)千分尺:量程(0~25)mm,最大允許誤差±0.08mm。

b)對(duì)比試塊:試塊A~E。

5

7校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)方法

7.1校準(zhǔn)項(xiàng)目 。

校準(zhǔn)項(xiàng)目見(jiàn)表1

表1校準(zhǔn)項(xiàng)目一覽表

序號(hào)

項(xiàng)目名稱(chēng)

計(jì)量特性條款號(hào)

校準(zhǔn)方法條款號(hào)

1

外觀檢查

7.2.1

7.2.1

2

水平線(xiàn)性誤差

5.1

7.2.2

3

垂直線(xiàn)性誤差

5.2

7.2.3

4

縱向分辨力+

5.3

7.2.4

5

近表面分辨力+

5.4

7.2.5

6

近底面分辨力+

5.5

7.2.6

7

脈沖回波周期數(shù)+

5.6

7.2.7

8

檢測(cè)靈敏度

5.7

7.2.8

9

基線(xiàn)電噪聲

5.8

7.2.9

10

掃描范圍

5.9

7.2.10

1

掃描靈敏度

5.10

7.2.1

12

膠接缺陷檢測(cè)靈敏度

5.1

7.2.12

注:“+”表示采用脈沖超聲穿透法檢測(cè)的樹(shù)脂基復(fù)合材料檢測(cè)儀可不作要求。

7.2校準(zhǔn)方法

7.2.1外觀檢查

a)目視樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀、換能器等外表、顯示等部分應(yīng)無(wú)表面明顯的磕碰、裂痕等;

b)目視和手工檢查各連接座、旋鈕、鍵盤(pán)等應(yīng)無(wú)松動(dòng)、壞損,各種連接線(xiàn)纜等應(yīng)完好;

c)對(duì)于樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)設(shè)備各軸應(yīng)運(yùn)動(dòng)平滑、無(wú)異響或卡殼現(xiàn)象,極限位置保護(hù)等應(yīng)完好,電機(jī)應(yīng)無(wú)過(guò)熱現(xiàn)象;

d)應(yīng)具有完好標(biāo)識(shí)、準(zhǔn)用標(biāo)識(shí)、型號(hào)和出廠編號(hào)標(biāo)識(shí);

e)顯示屏幕信號(hào)顯示跡線(xiàn)穩(wěn)定,無(wú)影響檢測(cè)信號(hào)顯示的跳動(dòng);

f)樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)設(shè)備應(yīng)能進(jìn)行信號(hào)閘門(mén)位置與寬度、掃描參數(shù)等正常設(shè)置,圖像顯示正常,當(dāng)采用噴水或水膜或水浸耦合時(shí),應(yīng)保證良好的耦合;

g)檢測(cè)參數(shù)設(shè)置、信號(hào)顯示、報(bào)警、存儲(chǔ)等功能正常。

7.2.2水平線(xiàn)性誤差

a)將換能器置于試塊A表面上,并保持良好的耦合,如圖5所示;

6

圖5水平線(xiàn)性誤差校準(zhǔn)方法示意圖

b)調(diào)節(jié)樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀增益、掃描延遲和掃描范圍等控制器,以顯示

3個(gè)無(wú)干擾的底面反射回波信號(hào),如圖6所示;

c)調(diào)節(jié)樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀增益,將第1個(gè)底面反射回波信號(hào)(B1)調(diào)至50%滿(mǎn)屏刻度,記錄此時(shí)第1個(gè)底面回波信號(hào)波峰的水平刻度x1;

d)調(diào)節(jié)樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀增益,將第2個(gè)底面反射回波信號(hào)(B2)調(diào)至

50%滿(mǎn)屏刻度,記錄此時(shí)第2個(gè)底面回波信號(hào)波峰的水平刻度x2;

e)調(diào)節(jié)樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀增益,將第3個(gè)底面反射回波信號(hào)(B3)調(diào)至50%滿(mǎn)屏刻度,記錄此時(shí)第3個(gè)底面回波信號(hào)波峰的水平刻度x3;

f)按公式(7)計(jì)算水平線(xiàn)性誤差:

H

|x2-x1+x3|

式中:

ΔL=

2 ×10% (7)

s

ΔL——水平線(xiàn)性誤差,%;

Hs——水平滿(mǎn)屏刻度數(shù);

x1——第1個(gè)底面回波波峰B1的水平刻度數(shù);x2——第2個(gè)底面回波波峰B2的水平刻度數(shù);x3——第3個(gè)底面回波波峰B3的水平刻度數(shù)。

7.2.3垂直線(xiàn)性誤差

圖6水平線(xiàn)性誤差校準(zhǔn)信號(hào)示意圖

a)將換能器置于試塊C表面上,并保持良好的耦合,如圖7所示。

7

圖7垂直線(xiàn)性誤差校準(zhǔn)方法示意圖

b)移動(dòng)換能器在試塊C中缺陷F2的位置,調(diào)節(jié)樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀增益、

掃描延遲和掃描范圍等控制器,使來(lái)自試塊C中缺陷F2回波信號(hào)D的幅度和底面回波信號(hào)B的幅度比目測(cè)為H1:H2=2∶1,如圖8所示。

c)調(diào)整樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀增益,使D以“一大格”的增量從滿(mǎn)屏刻度的一個(gè)大格變化至滿(mǎn)屏刻度的10%,讀出并記錄D和B的幅度值,D和B的理論值見(jiàn)表2。

d)垂直線(xiàn)性誤差用回波信號(hào)B的理論值與實(shí)測(cè)值的最大正偏差與最大負(fù)偏差之和

表示。按公式(8)計(jì)算垂直線(xiàn)性誤差:

Δ=ΔH+max+ΔH-max

(8)

式中:——

Hv Hv

,;

Δ 垂直線(xiàn)性誤差%

—— ,

Hv 滿(mǎn)屏幕的垂直大刻度數(shù)Div由樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀顯示屏幕

——決定,通常Div=8或10個(gè)大刻度格; ;

ΔH+max

回波信號(hào)B的理論值與實(shí)測(cè)值的最大正偏差

ΔH-max——回波信號(hào)B的理論值與實(shí)測(cè)值的最大負(fù)偏差。

圖8垂直線(xiàn)性誤差校準(zhǔn)信號(hào)示意圖

8

表2D和B理論值與實(shí)測(cè)記錄信息

D的幅值H1

(用屏幕大格數(shù)表示)

B的理論幅值H2

(用屏幕大格數(shù)表示)

B的實(shí)測(cè)幅值H'2

(用屏幕大格數(shù)表示)

ΔH=H2-H'2

1

0.5

2

1

3

1.5

4

2

5

2.5

6

3

7

3.5

8

4

9

4.5

10

5

7.2.4縱向分辨力

a)將換能器連接至樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀,選擇反射模式,接通儀器電源;

b)將換能器置于試塊B表面上,并保持良好的耦合;

c)調(diào)節(jié)樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀增益/衰減,使來(lái)自試塊B的表面回波信號(hào)F、底面回波信號(hào)B位于樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀屏幕適合觀察的位置,底面回波信號(hào)B的幅值處于儀器滿(mǎn)屏的50%~10%范圍內(nèi);

d)移動(dòng)換能器找到試塊B中最邊緣缺陷F1或F4的回波信號(hào)D,如圖9所示;

圖9縱向分辯力校準(zhǔn)方法示意圖

e)向缺陷內(nèi)側(cè)移動(dòng)換能器至出現(xiàn)相鄰深度缺陷回波信號(hào)

(圖10中所示的回波信號(hào)

D2或D1),緩慢移動(dòng)換能器,使兩個(gè)相鄰深度缺陷回波信號(hào)D1和D2幅值相近且達(dá)到最高;

f)兩相鄰深度缺陷回波信號(hào)D1、D2若目視清晰可辨,此時(shí)hD2=hD1+hp,則縱向分辨力按公式(1)或公式(2)計(jì)算;

g)若D1、D2重疊不可分辨,則需選用Δnp更大的試塊,按照此節(jié)b)~f)重新進(jìn)行校準(zhǔn)。

9

(a)特征波形1 (b)特征波形2

圖10縱向分辯力校準(zhǔn)信號(hào)示意圖

7.2.5近表面分辨力

a)將換能器置于試塊C的無(wú)缺陷區(qū),并保持良好的耦合,如圖1所示;

圖1 近表面分辨力校準(zhǔn)方法示意圖

b)調(diào)整樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀增益、掃描延遲和掃描范圍等控制器,使試塊

底面回波信號(hào)幅度達(dá)到滿(mǎn)屏刻度的50%;

c)移動(dòng)換能器在試塊C上的位置,使換能器位于試塊缺陷F1處;

d)記錄換能器位于缺陷F1處的缺陷回波信號(hào)D,如此時(shí)能清晰地顯示出表面回波信號(hào)F和缺陷回波信號(hào)D的波峰,如圖12所示,此時(shí)hD=hp、nE=1,按公式(3)或公式(4)計(jì)算近表面分辨力;

e)如此時(shí)表面回波信號(hào)F和缺陷回波信號(hào)D的波峰重疊不可分辨,則需選用nE更大的試塊,按照此節(jié)a)~d)重新進(jìn)行校準(zhǔn)。

10

7.2.6近底面分辨力

圖12近表面分辨力校準(zhǔn)信號(hào)示意圖

a)使用千分尺測(cè)量試塊C的厚度h,并將換能器置于試塊C無(wú)缺陷區(qū),并保持良好的耦合,如圖1所示;

b)調(diào)整樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀增益、掃描延遲和掃描范圍等控制器,使試塊

底面回波信號(hào)幅度達(dá)到滿(mǎn)屏刻度的50%;

c)移動(dòng)換能器在試塊C上的位置,使換能器位于試塊缺陷F3處;

d)記錄換能器位于缺陷F3處的缺陷回波信號(hào)D,如此時(shí)能清晰地顯示出底面回波信號(hào)B和缺陷回波信號(hào)D的波峰,如圖13所示,此時(shí)hD=h-hp、nF=1,按公式(5)或公式(6)計(jì)算近底面分辨力;

e)如此時(shí)底面回波信號(hào)B和缺陷回波信號(hào)D的波峰重疊不可分辨,則需選用nF更

大的試塊,按照此節(jié)a)~d)重新進(jìn)行校準(zhǔn)。

圖13近底面分辨力校準(zhǔn)信號(hào)示意圖

1

7.2.7脈沖回波周期數(shù)

a)將換能器連接至樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀,選擇反射模式,接通樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀電源;

b)將換能器置于試塊A表面,并保持良好的耦合,如圖14所示;

) 圖14脈沖回波周期數(shù)校準(zhǔn)方法示意圖 、

c調(diào)節(jié)樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀使得來(lái)自試塊A表面回波信號(hào)F 底面回波信

號(hào)B位于檢測(cè)儀屏幕適合觀察的位置;

d)調(diào)節(jié)樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀衰減或增益,使底波信號(hào)B波幅值處于樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀滿(mǎn)屏的80%,典型波形如圖15(a)、圖15(b)所示;

e)底波信號(hào)B中以正向幅值最高波峰為主波峰Vp,負(fù)向最低波谷為主波谷Vm。

f)底面回波信號(hào)B中除了主波峰Vp外,若還有正向波峰V'p,當(dāng)V'p幅值大于Vp

幅值的20%,則V'p作為1個(gè)副波峰,確定底面回波信號(hào)B中主、副波峰總個(gè)數(shù)nx;

(a)典型波形1 (b)典型波形2

圖15脈沖回波周期數(shù)校準(zhǔn)波形示意圖

g)底面回波信號(hào)B除了主波谷Vm,若還有波谷V'm負(fù)向幅值大于Vm負(fù)向幅值的20%,則V'm作為1個(gè)副波谷,確定底面回波信號(hào)B中主、副波谷總個(gè)數(shù)ny;

h)脈沖回波周期數(shù)按公式(9)計(jì)算。

式中:

2

nT——脈沖回波周期數(shù),個(gè);

nT=nx+ny

(9)

nx——底面回波信號(hào)B中主、副波峰總個(gè)數(shù),個(gè);ny——底面回波信號(hào)B中主、副波谷總個(gè)數(shù),個(gè)。

7.2.8檢測(cè)靈敏度

12

a)將換能器置于試塊D無(wú)缺陷區(qū),并形成良好的耦合,如圖16所示;

圖16檢測(cè)靈敏度校準(zhǔn)方法示意

b)調(diào)整樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀增益、掃描延遲和掃描范圍等控制器,使試塊

底面回波信號(hào)B幅度達(dá)到滿(mǎn)屏刻度的50%;

c)調(diào)整換能器在試塊上的位置,使換能器位于試塊D中某一平底孔(如F6)上方,并使平底孔回波信號(hào)D達(dá)到最大,如圖17所示;

d)如此時(shí)平底孔回波信號(hào)幅值達(dá)到滿(mǎn)屏刻度的30%或以上,記錄此時(shí)的平底孔回波信

HN

)e)如不滿(mǎn)足d)中要求,則需選用包含有更大直徑平底孔的試塊,按照此節(jié)a)~

號(hào)幅值HD和基線(xiàn)信號(hào)的幅值HN,當(dāng)20lgHD≥6dB時(shí),檢測(cè)靈敏度達(dá)到?3.0mm;

d重新進(jìn)行校驗(yàn),此時(shí)檢測(cè)靈敏度為相應(yīng)平底孔直徑。

7.2.9基線(xiàn)電噪聲

圖17檢測(cè)靈敏度校準(zhǔn)信號(hào)示意圖

a)將換能器置于試塊D中缺陷F6上方的位置,保持適當(dāng)?shù)鸟詈?如圖16所示,在缺陷F6位置附近移動(dòng)換能器,使來(lái)自試塊D中缺陷F6的回波信號(hào)幅值最大,并保持此時(shí)換能器所在的位置;

b)調(diào)整樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀增益,使來(lái)自試塊D中缺陷F6的回波信號(hào)幅

值達(dá)到滿(mǎn)屏10%;

13

c)保持樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀增益、掃描延遲和掃描范圍等檢測(cè)參數(shù)不變,取下?lián)Q能器及其連接線(xiàn),此時(shí)屏幕上基線(xiàn)上電噪聲幅度占滿(mǎn)屏刻度的百分比,即為被校準(zhǔn)樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀的基線(xiàn)電噪聲,參見(jiàn)圖18。

7.2.10掃描范圍

圖18基線(xiàn)電噪聲校準(zhǔn)信號(hào)示意圖

b

a)將換能器置于試塊D無(wú)缺陷區(qū),并保持良好的耦合,如圖16所示;

)調(diào)整樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀增益、掃描延遲和掃描深度等控制器,使樹(shù)脂

基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀屏幕上多次底面回波信號(hào)中的最后一次底面回波信號(hào)幅度超過(guò)基

線(xiàn)噪聲一倍以上,如圖19所示;

c)讀出此時(shí)屏幕內(nèi)的底面回波信號(hào)次數(shù)N,按公式(10)計(jì)算掃描范圍。 ()

式中:

Sr=N×h 10

Sr——掃描范圍,mm;

N——屏幕上顯示的底面回波信號(hào)次數(shù)。

圖19掃描范圍校準(zhǔn)信號(hào)示意圖

14

7.2.1掃描靈敏度

a)接通設(shè)備電源,開(kāi)啟設(shè)備計(jì)算機(jī)及水耦合系統(tǒng);

b)進(jìn)入樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)設(shè)備工作界面,將換能器移至試塊D處,觀察A-

顯示窗口中來(lái)自試塊D的超聲信號(hào);

c)調(diào)節(jié)增益/衰減,使來(lái)自試塊D的透射信號(hào)或底面反射信號(hào)幅值不低于A-顯示窗口滿(mǎn)屏的50%;

d)根據(jù)樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)設(shè)備操作說(shuō)明書(shū)設(shè)置信號(hào)閘門(mén),使所選擇信號(hào)位于閘門(mén)內(nèi);

e)設(shè)置掃描范圍,且覆蓋整個(gè)試塊;

f)對(duì)試塊D進(jìn)行超聲C-掃描成像檢測(cè),檢測(cè)完畢,保存掃描數(shù)據(jù)文件;

g)利用統(tǒng)計(jì)分析軟件對(duì)試塊D中缺陷F6的成像檢測(cè)結(jié)果的長(zhǎng)度L和寬度W進(jìn)行測(cè)量,參見(jiàn)圖20;

h)利用試塊D中F6缺陷的實(shí)際尺寸減去缺陷測(cè)量尺寸獲得二者的尺寸偏差,若二者偏差在-1.0mm~+1.0mm,則樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)設(shè)備掃描靈敏度為?3.0mm;

i)如不滿(mǎn)足h)中的要求,則需選用包含有更大直徑平底孔的試塊,按照此節(jié)

a)~h)重新進(jìn)行校驗(yàn),此時(shí)靈敏度為相應(yīng)平底孔直徑。

圖20缺陷長(zhǎng)度L和寬度W測(cè)量示意圖

7.2.12膠接缺陷檢測(cè)靈敏度

a)將膠接檢測(cè)儀器與其匹配的換能器連接。

b)開(kāi)機(jī),進(jìn)入儀器工作界面。

c)按照操作說(shuō)明書(shū)操作,進(jìn)入調(diào)諧工作界面,將換能器置于試塊E1、E2、E3無(wú)缺陷區(qū),獲取并此時(shí)對(duì)應(yīng)好區(qū)信號(hào)幅值:A1。

d)將換能器置于試塊E1、E2、E3缺陷區(qū),獲取并此時(shí)對(duì)應(yīng)缺陷區(qū)信號(hào)幅值:A2。

e)計(jì)算ΔA=|A1-A2|,如果ΔA>15,則膠接缺陷檢測(cè)靈敏度為?12mm(試塊E1)或12mm×12mm(試塊E2)或3個(gè)蜂窩格大小(試塊E3)。

f)如不滿(mǎn)足e)中的要求,則需選用包含有更大尺寸缺陷的試塊,按照此節(jié)a)~

15

e)重新進(jìn)行校驗(yàn),此時(shí)靈敏度為相應(yīng)缺陷的尺寸。

8校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá)

8.1校準(zhǔn)數(shù)據(jù)處理

所有的數(shù)據(jù)應(yīng)先計(jì)算

,后修約。

所有的數(shù)據(jù)修約到小數(shù)點(diǎn)后一位。

8.2校準(zhǔn)結(jié)果的測(cè)量不確定度

樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀測(cè)量不確定度按JF1059.1的要求評(píng)定,定的示例見(jiàn)本校準(zhǔn)規(guī)范中的附錄C。

不確定度評(píng)

8.3校準(zhǔn)證書(shū)

經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)后出具校準(zhǔn)證書(shū)

,推薦的樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀校準(zhǔn)證書(shū)的內(nèi)頁(yè)格式

見(jiàn)附錄B。校準(zhǔn)證書(shū)應(yīng)至少包括以下信息:

a)標(biāo)題:“校準(zhǔn)證書(shū)”。

b)實(shí)驗(yàn)室名稱(chēng)和地址。

c)進(jìn)行校準(zhǔn)的地點(diǎn)(如果與實(shí)驗(yàn)室的地址不同)。

d)證書(shū)的唯一性標(biāo)識(shí)(如編號(hào)),每頁(yè)及總頁(yè)數(shù)的標(biāo)識(shí)。

e)客戶(hù)的名稱(chēng)和地址。

f)被校對(duì)象的描述和明確標(biāo)識(shí)。

g)進(jìn)行校準(zhǔn)的日期,如果與校準(zhǔn)結(jié)果的有效性和應(yīng)用有關(guān)時(shí),應(yīng)說(shuō)明被校準(zhǔn)對(duì)象的接收日期。

h)校準(zhǔn)所依據(jù)的技術(shù)規(guī)范的標(biāo)識(shí),包括名稱(chēng)及代碼。

i)本次校準(zhǔn)所用測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)溯源性及有效性說(shuō)明。

j)校準(zhǔn)環(huán)境的描述。

k)校準(zhǔn)結(jié)果及其測(cè)量不確定度的說(shuō)明。

l)對(duì)校準(zhǔn)規(guī)范的偏離的說(shuō)明。

m)校準(zhǔn)證書(shū)或校準(zhǔn)報(bào)告簽發(fā)人的簽名、職務(wù)或等效標(biāo)識(shí)。

n)校準(zhǔn)結(jié)果僅對(duì)被校對(duì)象有效的聲明。

o)未經(jīng)實(shí)驗(yàn)室書(shū)面批準(zhǔn),不得部分復(fù)制證書(shū)的聲明。

9復(fù)校時(shí)間間隔

樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀的復(fù)校時(shí)間間隔建議為一年。復(fù)校時(shí)間間隔的長(zhǎng)短取決于其使用情況,如環(huán)境條件、使用頻率及測(cè)量對(duì)象等,使用單位可根據(jù)實(shí)際使用情況自主決定復(fù)校的時(shí)間間隔。

16

附錄A

A.1試塊A

校準(zhǔn)用試塊

a)使用范圍:用于水平線(xiàn)性誤差、脈沖回波周期數(shù)的校準(zhǔn)。

b)試塊材料:樹(shù)脂基復(fù)合材料。

c)結(jié)構(gòu)類(lèi)型:層壓結(jié)構(gòu)。

d)試塊尺寸:230mm×145mm×1.8mm(可不限于此尺寸),參見(jiàn)圖A.1

所示。

e)內(nèi)部質(zhì)量:在與聲波垂直平面內(nèi)不能含有3個(gè)以上、大于1mm×1mm的自然缺陷。

單位為毫米

A.2試塊B

圖A.1試塊A

a)使用范圍:用于縱向分辨力的校準(zhǔn)。

b)試塊材料:樹(shù)脂基復(fù)合材料。

c)結(jié)構(gòu)類(lèi)型:層壓結(jié)構(gòu)。

d)試塊參考尺寸:10mm×80mm×5.3mm,參見(jiàn)圖A.2所示。

e)缺陷大小:?10mm。

f)缺陷模擬:1層聚四氟乙烯膜。

g)缺陷深度:F1~F4缺陷深約試塊三分之一厚度,缺陷深度依次間隔Δnp=1。

h)相鄰兩缺陷覆蓋寬度約5mm。

i)試塊內(nèi)部缺陷采用超聲C-掃描成像或X-射線(xiàn)檢測(cè),檢出缺陷的等效面積與缺陷的設(shè)計(jì)等效面積偏差不超過(guò)25%。

j)若需選用Δnp更大的試塊,建議Δnp按單個(gè)鋪層數(shù)遞增。

17

單位為毫米

A.3試塊C

圖A.2試塊B

a)使用范圍:用于垂直線(xiàn)性誤差、近表面分辨力、近底面分辨力的校準(zhǔn)。

b)試塊材料:樹(shù)脂基復(fù)合材料。

c)結(jié)構(gòu)類(lèi)型:層壓結(jié)構(gòu)。

d)試塊參考尺寸:125mm×80mm×5.0mm,參見(jiàn)圖A.3所示。

單位為毫米

) : 。

圖A.3試塊C

e缺陷大小

?3mm

f)缺陷模擬:1層聚四氟乙烯膜。

18

g)缺陷深度:F1缺陷深度hF1=nE×hp=hp,F2缺陷深度hF2≈1h,F3缺陷深度

2

hF3=h-nF×hp=h-hp。

h)試塊內(nèi)部缺陷采用超聲C-掃描成像或X-射線(xiàn)檢測(cè),檢出缺陷等效面積與缺陷設(shè)計(jì)的等效面積偏差不大于25%;

i)若需選用nE、nF更大的試塊,建議nE、nF按單個(gè)鋪層數(shù)遞增。

A.4試塊D

a)使用范圍:用于檢測(cè)靈敏度、掃描范圍、掃描靈敏度、基線(xiàn)電噪聲的校準(zhǔn)。

b)試塊材料:樹(shù)脂基復(fù)合材料。

c)結(jié)構(gòu)類(lèi)型:層壓結(jié)構(gòu)。

d)試塊參考尺寸:120mm×50mm×12mm。

e)缺陷大小:?3mm。

f)缺陷模擬:機(jī)械加工成盲孔,孔底銑平。

g)缺陷深度:孔深如圖A.4中hD所示。F1深約6.0mm;F2深約5.0mm;F3深約4.0mm;F4深約3.0mm;F5深約2.0mm;F6深約1.0mm;F7深約1.0mm;F8深約10.0mm;F9深約9.0mm;F10深約8.0mm;F1深約7.0mm。

h)試塊內(nèi)部缺陷采用超聲C-掃描成像或X-射線(xiàn)校驗(yàn),檢出缺陷與設(shè)計(jì)偏差

≤25%。

i)若需選用更大直徑平底孔的試塊,建議平底孔直徑按相應(yīng)缺陷驗(yàn)收級(jí)差的一半遞增。

A.5試塊E1

圖A.4試塊D

a)使用范圍:用于膠接缺陷檢測(cè)靈敏度的校準(zhǔn)。

b)試塊材料:有機(jī)玻璃或樹(shù)脂。

c)結(jié)構(gòu)類(lèi)型:實(shí)心板。

d)試塊參考大小:150mm×150mm×7.0mm,參見(jiàn)圖A.5。

19

e)缺陷大小:?12mm,參見(jiàn)圖A.5。

f)缺陷深度:1.0mm。

g)缺陷模擬:加工成?12mm的平底孔,孔距離試塊表面1.0mm,參考圖A.5。

h)若需選用更大直徑平底孔的試塊,建議平底孔直徑按相應(yīng)缺陷驗(yàn)收級(jí)差的一半

遞增。

單位為毫米

A.6試塊E2

圖A.5試塊E1

a)使用范圍:用于膠接缺陷檢測(cè)靈敏度的校準(zhǔn)。

b)試塊材料:有機(jī)玻璃或樹(shù)脂。

c)結(jié)構(gòu)類(lèi)型:實(shí)心板。

d)試塊參考尺寸:150mm×150mm×7.0mm,參見(jiàn)圖A.6。

e)缺陷大小:12mm×12mm,參見(jiàn)圖A.6。

f)缺陷深度:1.0mm。

g)缺陷模擬:加工成12mm×12mm的矩形平底孔,孔距離試塊表面1.0mm,參考圖A.6。

h)若需選用更大直徑平底孔的試塊,建議矩形平底孔尺寸按相應(yīng)缺陷驗(yàn)收級(jí)差的一半遞增。

20

單位為毫米

A.7試塊E3

圖A.6試塊E2

a)使用范圍:用于膠接缺陷檢測(cè)靈敏度的校準(zhǔn)。

b)試塊材料:樹(shù)脂基復(fù)合材料+蜂窩芯。

c)結(jié)構(gòu)類(lèi)型:蜂窩膠接結(jié)構(gòu)。

d)試塊參考尺寸:150mm×150mm×7.0mm,參見(jiàn)圖A.7。

e)缺陷大小:3個(gè)蜂窩格,參見(jiàn)圖A.7。

f)蒙皮厚度在(0.5~1.0)mm選擇,缺陷為蜂窩芯下陷+去膠膜+一層聚四氟乙烯薄膜,缺陷大小為3個(gè)蜂窩芯區(qū)的面積,蜂窩芯高度可在(10~20)mm選擇,參見(jiàn)圖A.6。

g)若需選用更大缺陷的試塊,建議蜂窩格數(shù)按相應(yīng)缺陷驗(yàn)收級(jí)差的一半遞增。

圖A.7蜂窩結(jié)構(gòu)試塊中缺陷示意圖

21

附錄B

校準(zhǔn)證書(shū)的內(nèi)頁(yè)格式

B.1樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀校準(zhǔn)證書(shū)的內(nèi)頁(yè)格式

證書(shū)編號(hào)××××××—××××

校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)授權(quán)說(shuō)明

校準(zhǔn)的技術(shù)依據(jù)

JF1728—2018樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀校準(zhǔn)規(guī)范

校準(zhǔn)環(huán)境條件及地點(diǎn)

地點(diǎn)

溫度

℃

相對(duì)濕度

%

其他

校準(zhǔn)使用的計(jì)量(基)標(biāo)準(zhǔn)裝置

名稱(chēng)

測(cè)量范圍

不確定度/準(zhǔn)確度等級(jí)/最大允許誤差

計(jì)量(基)標(biāo)準(zhǔn)證書(shū)編號(hào)

有效期至

樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀校準(zhǔn)結(jié)果

序號(hào)

項(xiàng)目

測(cè)得值

標(biāo)準(zhǔn)不確定度

1

水平線(xiàn)性誤差

2

垂直線(xiàn)性誤差

3

縱向分辨力

4

近表面分辨力

5

近底面分辨力

6

脈沖回波周期數(shù)

7

檢測(cè)靈敏度

8

基線(xiàn)電噪聲

9

通用技術(shù)要求

2

B.2樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)證書(shū)的內(nèi)頁(yè)格式

證書(shū)編號(hào)××××××—××××

校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)授權(quán)說(shuō)明

校準(zhǔn)的技術(shù)依據(jù)

JF1728—2018樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀校準(zhǔn)規(guī)范

校準(zhǔn)環(huán)境條件及地點(diǎn)

地點(diǎn)

溫度

℃

相對(duì)濕度

%

其他

校準(zhǔn)使用的計(jì)量(基)標(biāo)準(zhǔn)裝置

名稱(chēng)

測(cè)量范圍

不確定度/準(zhǔn)確度等級(jí)/最大允許誤差

計(jì)量(基)標(biāo)準(zhǔn)證書(shū)編號(hào)

有效期至

樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)設(shè)備校準(zhǔn)結(jié)果

序號(hào)

項(xiàng)目

測(cè)得值

標(biāo)準(zhǔn)不確定度

1

水平線(xiàn)性誤差

2

垂直線(xiàn)性誤差

3

縱向分辨力

4

近表面分辨力

5

近底面分辨力

6

脈沖回波周期數(shù)

7

檢測(cè)靈敏度

8

基線(xiàn)電噪聲

9

掃描范圍

10

掃描靈敏度

1

通用技術(shù)要求

第×頁(yè) 共×頁(yè)

23

B.3樹(shù)脂基復(fù)合材料膠接檢測(cè)儀校準(zhǔn)證書(shū)的內(nèi)頁(yè)格式

證書(shū)編號(hào)××××××—××××

校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)授權(quán)說(shuō)明

校準(zhǔn)的技術(shù)依據(jù)

JF1728—2018樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀校準(zhǔn)規(guī)范

校準(zhǔn)環(huán)境條件及地點(diǎn)

地點(diǎn)

溫度

℃

相對(duì)濕度

%

其他

校準(zhǔn)使用的計(jì)量(基)標(biāo)準(zhǔn)裝置

名稱(chēng)

測(cè)量范圍

不確定度/準(zhǔn)確度等級(jí)/最大允許誤差

計(jì)量(基)標(biāo)準(zhǔn)證書(shū)編號(hào)

有效期至

樹(shù)脂基復(fù)合材料膠接檢測(cè)儀校準(zhǔn)結(jié)果

序號(hào)

項(xiàng)目

測(cè)得值

相對(duì)擴(kuò)展不確定度

1

膠接缺陷檢測(cè)靈敏度

2

通用技術(shù)要求

第×頁(yè) 共×頁(yè)

24

附錄C

測(cè)量不確定度評(píng)定示例

本附錄以檢測(cè)靈敏度為例,說(shuō)明樹(shù)脂基復(fù)合材料超聲檢測(cè)儀各校準(zhǔn)項(xiàng)目的不確定度評(píng)定過(guò)程。

C.1測(cè)量模型

檢測(cè)靈敏度采用?3mm平底孔缺陷位置處缺陷信號(hào)與基線(xiàn)信號(hào)幅值比進(jìn)行評(píng)定,

當(dāng)幅值比ΔdB大于6dB時(shí),評(píng)定為?3mm平底孔缺陷可檢出,即檢測(cè)靈敏度達(dá)到?3mm平底孔缺陷,而檢測(cè)靈敏度的評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)由公式(C.1)給出,檢測(cè)靈敏度的不確定度是基于其評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)的。

HN

式中:

ΔdB=20lgHD

(C.1)

ΔdB——換能器置于?3mm平底孔缺陷位置處時(shí),缺陷信號(hào)與基線(xiàn)信號(hào)幅值

——比,dB;

, , ;

HD——換能器置于?3mm平底孔缺陷位置處時(shí),缺陷信號(hào)的幅值 小格

HN 換能器置于?3mm平底孔缺陷位置處時(shí) 基線(xiàn)信號(hào)的幅值,小格。

C.2標(biāo)準(zhǔn)不確定度的評(píng)定

C.2.1檢測(cè)靈敏度重復(fù)性

檢測(cè)靈敏度測(cè)量實(shí)施過(guò)程中

,評(píng)定方法的不確定度主要來(lái)源于缺陷信號(hào)幅值與基線(xiàn)

信號(hào)幅值的檢測(cè)重復(fù)性。在相同條件下(即人員相同、儀器相同、方法相同、試塊相同等),對(duì)?3mm平底孔缺陷的檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行重復(fù)測(cè)量10次(n=10),得到的結(jié)果見(jiàn)表C.1。

表C.1檢測(cè)靈敏度的測(cè)量數(shù)據(jù)

缺陷信號(hào)幅值/小格

基線(xiàn)信號(hào)幅值/小格

檢測(cè)靈敏度/dB

1

71.3

4.5

24.0

2

71.5

4.5

24.0

3

71.2

4.6

23.8

4

71.3

4.5

24.0

5

71.3

4.5

24.0

6

71.4

4.6

23.8

7

71.4

4.5

24.0

8

71.3

4.5

24.0

25

表C.1(續(xù))

缺陷信號(hào)幅值/小格

基線(xiàn)信號(hào)幅值/小格

檢測(cè)靈敏度/dB

9

71.3

4.5

24.0

10

71.4

4.6

23.8

平均值

HD=71.34

HN=4.53

2