焊縫超聲波作業(yè)指導(dǎo)書(shū)

1、超聲波探傷作業(yè)指導(dǎo)書(shū)1適用范圍本作業(yè)指導(dǎo)書(shū)母材厚度在6mm200mm的風(fēng)力發(fā)電機(jī)組塔架全熔化焊對(duì)接焊接接頭的超聲檢測(cè)。2引用標(biāo)準(zhǔn)NB/T47013.3-2015承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)-第3部分：超聲檢測(cè)NB/T47013.3-2015承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)-第1部分：通用要求GB/T11259-2008超聲波檢測(cè)用鋼制對(duì)比試塊的制作與校驗(yàn)方法JB/T9214-2010A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法JB/T10061-1999A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件JB/T10062-1999超聲波探傷用探頭性能測(cè)試方法3 試驗(yàn)項(xiàng)及質(zhì)量要求3.1試驗(yàn)項(xiàng)目:風(fēng)力發(fā)電機(jī)塔筒，塔架焊縫6mm-200mm內(nèi)

2、部缺陷超聲波探傷。3.2質(zhì)量要求3.2.1檢驗(yàn)等級(jí)的分級(jí)焊縫質(zhì)量分級(jí)：評(píng)定指標(biāo)根據(jù)由缺陷引起的反射波幅（所在區(qū)域I區(qū)、U區(qū)、DI區(qū)）、單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度、多個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度；根據(jù)質(zhì)量要求檢驗(yàn)等級(jí)分I、U、HI三個(gè)級(jí)，I級(jí)最高。3-2.2焊縫質(zhì)量等級(jí)及缺陷分級(jí)如下表所示:等級(jí)工件厚度反 序在區(qū)域允許的單個(gè)快陷插禾長(zhǎng)度冬個(gè)訣陷察計(jì)長(zhǎng)度Jt大允許值/InooI 1006-100U3. 小可為1041大不Mil 30莊任100町J*大不OH50U6-100i 1006-100n 10040. *2-53.262 K 值的選用般情況可參照表中規(guī)定選擇，在條件允許時(shí)，應(yīng)盡量采用較大K值工件度折財(cái)介(K)6-2

3、5(10-3.04525-40AS40SV (i.0*2X)b 、采用一次反射法檢測(cè)時(shí)，K值的選取應(yīng)盡可能使主聲束與檢測(cè)面向?qū)Φ牡酌娣ň€夾角在35 70 之間,當(dāng)選用兩種以上K值探頭檢測(cè)時(shí)，應(yīng)至少有一個(gè)探頭滿(mǎn)足要求。4儀器、試塊、耦合劑、探頭4.1探傷儀 4-1.1探傷儀性能采用A型脈沖反射式超聲波型探傷儀，其工作頻率范圍為0.5-10MHZ儀器 至少在熒光屏滿(mǎn)刻度的80%的范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB,其精度為任意相鄰12dB的誤差在士 1dB以?xún)?nèi)，最大累計(jì)誤差不超過(guò)B。水平線性誤差不大于1%,垂直線性誤差不大于5%。本公司采用的是TUD

4、9100超聲波探傷儀4-1.2數(shù)字式超聲波探傷儀TUD9100主要技術(shù)參數(shù)：檢測(cè)范圍0 25000mm、聲速范圍40020000m/ss增益范圍OdBOdB工作頻率0.515MHz、電噪聲水平 10%探頭阻俺）Q、1500、2000、5000、重復(fù)頻率 10 2000Hz靈敏度余量 62dB （深200mm, 0 2平底孔）、分 辨力40dB （5P14）線性抑制080% （數(shù)字抑制）、垂直線性誤差3%水平線性誤差0.1%、動(dòng)范圍 32dB脈沖類(lèi)型 方波、脈沖強(qiáng)度 多級(jí)可調(diào)、脈沖處 自動(dòng)匹酚-1000ns4.1.3TUD9100超聲波探傷儀操作方法將儀器探頭線連接在探傷儀上，使用單探頭時(shí)，探頭

5、線可以直接到儀器頂部任何一個(gè)探頭插座上。開(kāi)機(jī)啟動(dòng)儀器。按“基本”鍵進(jìn)入到基本鋁第單,并調(diào)節(jié)“儀器檢測(cè)范圍等參數(shù)在“調(diào)?！辨I,進(jìn)入到調(diào)校能鮮調(diào)節(jié)“探頭類(lèi)型”、“探頭頻率”、“探頭前沿”、“晶片尺寸”，等參數(shù)在校 準(zhǔn)中調(diào)節(jié)“材料聲速”、探頭零偏、一點(diǎn)聲程、二點(diǎn)聲程，等參數(shù)。待畚數(shù) 調(diào)節(jié)，調(diào)校準(zhǔn)確無(wú)誤后即可進(jìn)檢測(cè)工作。4.1.4超聲波設(shè)備的使用與保養(yǎng)4.1.4.1超聲波設(shè)備時(shí)用意顛a、一起關(guān)機(jī)后必須劇以上方可再次開(kāi)機(jī)，不可重復(fù)開(kāi)關(guān)機(jī)b、避免強(qiáng)力震動(dòng)、沖擊強(qiáng)範(fàn)捉c、不要長(zhǎng)期放置于高溫、高濕、有腐蝕氣體的璨d、按鍵操作不宜用力過(guò)猛，不宜用沾有油污、泥水的手直接操按鍵、儀器出現(xiàn)故障時(shí)，不要輕易拆卸，應(yīng)以設(shè)

6、備彖璇聯(lián)4.1.4.2超聲波設(shè)備的保莠推、設(shè)備使用完畢，應(yīng)對(duì)設(shè)備的外表進(jìn)行清潔，然后放置與室內(nèi)干 燥通風(fēng)處。b、探頭連接接線切忌扭曲重壓，在插撥連接線時(shí)應(yīng)抓住插頭根部C電、為保護(hù)設(shè)備及電池，每個(gè)月至少開(kāi)機(jī)通電15h,并給電池充以免設(shè)備中重要元件受潮、電池過(guò)放電影響電池的使用壽命。d、設(shè)備在搬動(dòng)過(guò)程中，應(yīng)避免摔跌，強(qiáng)烈震動(dòng)、強(qiáng)烈撞擊和雨、 雪等淋濕。e、禁止用具有溶解性的物質(zhì)擦拭設(shè)備外殼。4.2試塊4.2.1標(biāo)準(zhǔn)試塊4.2.1.1標(biāo)準(zhǔn)試塊的基本要求標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢工件聲學(xué)性能相同或相近的材料制成，制作時(shí)應(yīng)確 認(rèn)材質(zhì)均勻，無(wú)雜質(zhì)，無(wú)影響使用的缺陷。標(biāo)準(zhǔn)試塊外形加工的平行度，垂直度與尺寸精度均應(yīng)

7、經(jīng)過(guò)嚴(yán)格檢驗(yàn)并符合 JB/T7913-1995超聲波檢測(cè)用鋼制對(duì)比試塊的制作與校驗(yàn)方法中的相關(guān)規(guī)定。本條采用的標(biāo)準(zhǔn)是試塊為 CSK- I民421.2標(biāo)準(zhǔn)試塊的用途乳校驗(yàn)超聲波探傷儀的水平線性，垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍：用 25mm或WOmm尺 寸b、調(diào)節(jié)基線比例和探測(cè)范圍：用 25mm和100mm尺寸c、測(cè)定直探頭與超聲波探傷儀組合的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)分辨力：用 85mm, 91mm, 100mm尺寸。d、測(cè)定直探頭與超聲波探傷組合的盲區(qū)：用 50mm有機(jī)玻璃圓弧至兩側(cè)的距 離5mm和10mm的位置測(cè)定e、測(cè)定直探頭與超聲波探傷儀組合的最大穿透能力：用 50mm有機(jī)玻璃底面 的多次反射波測(cè)定f、測(cè)定斜探頭的入射

8、點(diǎn)：用R50, R100圓弧面g、測(cè)定斜探頭的折射角度或K值：用50mm或1.5mm孔測(cè)h、測(cè)定斜探頭的聲束偏斜角：用直角棱邊測(cè)定i、測(cè)定斜探頭在深度方向的分辨力，用 （I）40mm,44mm,50mm臺(tái)階園柱 孔。4.2.2對(duì)比試塊4.2.2.1對(duì)比試塊的基本要求在不同的標(biāo)準(zhǔn)下選擇相應(yīng)的對(duì)比試塊，其制作與標(biāo)準(zhǔn)試塊的要求保持一致。 本條采用的對(duì)比試塊為CSK-UA和CSK-DIA試塊。4.2.3試塊使用原則4.2.3.1 CSK- I A, CSK-HA和CSK-IHA試塊適用于檢測(cè)面曲率半徑大于等于 250mm的焊接接頭超聲波檢測(cè)。423.2 CSK- I A CSK- II A試塊試用工件

9、壁厚范圍6mm200mm的焊接接頭423.3 對(duì)于工件厚度范圍在8mm- 120mm的焊接接頭超聲波檢測(cè)可采用CSK- DIA試塊，但應(yīng)對(duì)靈敏度進(jìn)行適當(dāng)調(diào)整予以CSK- n A試塊保持一致。423.4 對(duì)于不同工件厚度的對(duì)接接頭進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，試塊厚度的懸著應(yīng)有較大工件厚度確定，掃查靈敏度和質(zhì)量分級(jí)由薄側(cè)工件厚度確定。4.2.4試塊的維護(hù)4.2.4.1相同型號(hào)的試塊應(yīng)有適當(dāng)?shù)牟课痪幪?hào)，以防混淆。4.242試塊在使用和搬運(yùn)過(guò)程中注意保護(hù)，防止測(cè)試面損傷。424.3使用試塊應(yīng)注意清除反射體內(nèi)的油污和銹蝕。常用沾油布將銹蝕部位 拋光，或用適合的去銹劑處理。424.4注意防止試塊銹蝕，使用后停放時(shí)間較長(zhǎng)是

10、，要涂適當(dāng)?shù)姆冷P劑。424.5注意防止試塊變形，避免火烤，較薄的試塊防止重壓 4.3.耦合劑4.3.1 耦合劑的作用應(yīng)選用適當(dāng)?shù)囊后w或模糊狀物作耦合劑。耦合劑應(yīng)具備有良好透聲性和適 宜流動(dòng)性，不應(yīng)對(duì)材料和人體有損傷作用。同時(shí)應(yīng)便于檢驗(yàn)后清理。4.3.2典型耦合劑典型耦合劑為水、機(jī)油、甘油和化學(xué)漿糊。在試塊上調(diào)節(jié)儀器和產(chǎn)品檢驗(yàn) 應(yīng)采用相同的耦合劑。4.3.3耦合劑滿(mǎn)足的要求4.3.3.1能潤(rùn)濕工件和探頭表面，流動(dòng)性，黏度和附著力適當(dāng)，不難清洗4.3.3.2聲阻抗高，透聲性能好。4.3.3.3來(lái)源廣，價(jià)格便宜。4.3.3.4對(duì)工件無(wú)腐蝕，對(duì)人體無(wú)害，不污染環(huán)境。4.3.3.5性能穩(wěn)定，不易變質(zhì)，保

11、質(zhì)期長(zhǎng)。4.4探頭4.4.1對(duì)接接頭焊縫檢測(cè)時(shí)采用單晶橫波斜探頭其頻率和K值應(yīng)滿(mǎn)足3.2.6.1和3.262 中的要求，其基本性能應(yīng)滿(mǎn)足下表要求，列表如下：序號(hào)性能 F 9 *1基本性能中心頻車(chē)賓測(cè)的中心狽專(zhuān)與標(biāo)的蓋標(biāo)稱(chēng)極率的10*OWX1實(shí)欄的-6dB帶寛與標(biāo)專(zhuān)債的標(biāo)賽偵的其中沖探 頭：實(shí)的電電轉(zhuǎn)賓灌的阻抗旅或竹電容與標(biāo)稱(chēng)值的標(biāo)稱(chēng)值的20%實(shí)測(cè)的相對(duì)脈沖度與標(biāo)稼值的他差3dBNc沖K度冥淹的脈沖寬度與標(biāo)你值值的25%.其中9H沖按 頭直通滾按峰值下律20dB測(cè)量的1沖鮒繽時(shí)m皮不超過(guò)兩個(gè)用期2東擴(kuò)角實(shí)SI的聲束擴(kuò)散角與標(biāo)稱(chēng)值的標(biāo)稱(chēng)值的10*或2犬 #)(加向角和俊務(wù)偵向角2距採(cǎi)頭中心點(diǎn)4.4

12、.2探頭K值選用原則44.2.1使聲束能掃查到整個(gè)焊縫截面 442.2使聲束中心線盡量與主要缺陷垂直442.3保證有足夠的檢測(cè)靈敏度5儀器、探頭、曲線的調(diào)校5.1儀器與探頭的調(diào)節(jié)5.1.1 垂直線性?xún)x器的垂直線性是指儀器顯示屏上的波幅與探頭接收的信號(hào)之間成 正比的程度。垂直線性的好壞影響缺陷定量的精度。垂直線性好壞常以 垂直線性誤差來(lái)判斷。5.1.2垂直線性誤差測(cè)試步驟1 將超聲波探傷儀的“抑制”調(diào)節(jié)到“ 0”， “衰減器”保留一定余量(30db)2 直探頭置于CSK- I A試塊上，對(duì)準(zhǔn)25rmi底面，并用壓塊恒定壓力3 調(diào)節(jié)儀器室試塊上某次底波位于顯示屏中間位置，并達(dá)到滿(mǎn)波幅100%,但不

13、飽和，記為“0” db4 調(diào)節(jié)“衰減器，每次衰減2db,并記下相應(yīng)波高，知道底波消失5 運(yùn)用公式計(jì)算垂直線性誤差，公式如下：D=(|d1Hd2| ) % 式中d1:實(shí)測(cè)值與理想值得最大正偏差d2:實(shí)測(cè)值與理想值得最大負(fù)偏差6將說(shuō)的數(shù)值填入下表,衰減#Adb02468101214168 202224反射 波咼 度實(shí) 測(cè)絕對(duì)H相對(duì)理想波高%10079.463.150.139.83I.625/19.915.82.6 107.96.3偏差注：表中1-絕對(duì)H:絕對(duì)波高H2. 相對(duì)：相對(duì)波高,其計(jì)算公式為：實(shí)測(cè)相對(duì)波咼=Hi（最減db后波咼）/Ho（最減Odb是波咼）X 100%3. 理想相對(duì)波高計(jì)算公式

14、：理想相對(duì)波咼%=10-20lg （Hi（最減db后波咼）/Ho（最減Odb是波咼）X 100%5.1.3 水平線性?xún)x器的水平線性是指儀器顯示屏上時(shí)基線顯示的水平刻度與實(shí)際聲程 之間成正比的程度，或者說(shuō)是顯示屏上多次底波等距離的程度。水平線性主要 取決掃描鋸齒波的線性。水平線性好壞直接影響定位準(zhǔn)確性。水平線性的好壞 常用水平線性誤差來(lái)表示。5.1.4 水平線性誤差測(cè)試1將直探頭置于CSK-IA上，對(duì)準(zhǔn)25mm厚的大平底面2調(diào)“微調(diào)，“水平”，“脈沖位移”旋鈕，是顯示屏出現(xiàn)五次底波，B1-B5,且是B1前沿對(duì)準(zhǔn)屏幕2.0基線，B5前沿對(duì)準(zhǔn)10.0基 線。3記錄B2.B3.B4與水平刻度基線4.0

15、, 6.0, 8.0的偏差值&2, a3, a44運(yùn)用公式計(jì)算水平線性誤差3 = amax|/o.8b x 100%式中：Qmax a2 , a3, a4中的最大值b顯示屏水平滿(mǎn)刻度值5.1.5衰減器精度調(diào)節(jié)衰減器精度影響著缺陷定量的準(zhǔn)確性，準(zhǔn)確測(cè)定衰減器精度應(yīng)采用標(biāo)準(zhǔn) 衰減器進(jìn)行比較，但是現(xiàn)場(chǎng)難以實(shí)現(xiàn)，檢測(cè)人員可以用簡(jiǎn)易方法，大致測(cè)出衰 減器的精度。5.1.6衰減器精度測(cè)試1 使2平底孔的最大反射波高為適當(dāng)高度（如：80%），記為H12 使同聲程的4的平底孔的最大反射波出現(xiàn)在屏幕上，最減 12db,記為H2.3 運(yùn)用公式估算衰減器誤差，公式如下：N（db） =20lg（H1/H2）JB/T9

16、214-1999A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法中規(guī)定，任意相鄰飲b誤差小于等于1db05.2橫波探頭的校準(zhǔn)5.2.1橫波斜探頭入射點(diǎn)L。的校準(zhǔn)1 在CSK- I A試塊25mm寬的檢測(cè)面上涂上耦合劑，然后再 R100弧面的圓心附近前后平穩(wěn)移動(dòng)，找到圓弧面的最高反射波。用尺測(cè)量探頭段部至R100端面的距離L,則入射點(diǎn)至探頭前端的距離Lo2 運(yùn)用公式Lo=100-L計(jì)算求得3入射點(diǎn)測(cè)量應(yīng)進(jìn)行三次，取平均值，誤差小于0.5mm5.2.2橫波斜探頭K值的校準(zhǔn)a 、將探頭對(duì)準(zhǔn) 50,仁5孔的圓弧面平穩(wěn)的前后移動(dòng)，當(dāng)主聲束掃查至 圓弧面且其延長(zhǎng)線通過(guò)圓心時(shí)，找到 50,1.5孔的圓弧面的最高反

17、 射波，此時(shí)測(cè)量探頭前端部至試塊段部距離L。b 、運(yùn)用公式K=（L + L 0 -35）/30 計(jì)算求得c 、不同折射角（K值）選取測(cè)量面當(dāng)折射角為34。時(shí)，探頭放在距50遠(yuǎn)面處，使用50mm孔進(jìn)行; 當(dāng)折射角為60。 75。時(shí)，探頭放在距50近面處使 用50mm孔進(jìn)行測(cè) 當(dāng)折射角為74。80。時(shí)，探頭放在距0 1.5近面處 使用1.5mm孔進(jìn)行測(cè)5.3基線掃描的確定5.3掃描基線 熒光屏?xí)r基線刻度可按比例調(diào)節(jié)為代表缺陷的水平距離J瘞h或聲程So5.3.2基線掃描的調(diào)節(jié)根據(jù)下列調(diào)節(jié)1探傷面為平面時(shí)，可在對(duì)比試塊上進(jìn)行時(shí)基線掃描調(diào)節(jié)，掃描比例茅 工作厚度和選用的探頭角度來(lái)確定，最大檢驗(yàn)范圍應(yīng)調(diào)阿

18、基線溺度的2/3以上。2 探傷面曲率半徑W2 / 4時(shí)，可在平面對(duì)比試塊上或探傷面曲率相近 的曲面對(duì)比試塊上，進(jìn)行時(shí)基線掃描調(diào)節(jié)。3 探傷面曲面半徑W2/4時(shí)，探頭楔塊應(yīng)磨成與工件曲面相廚按 NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)要求在對(duì)比試塊上作時(shí)基線掃描調(diào)節(jié)。5.4距離-波幅曲線（DAC曲線）的繪制5.4.1距離-波幅曲線（DAC曲線）應(yīng)按所用探頭和器鈕塊的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評(píng)定線、定量線和判廢線魏。評(píng)定線與定量線（包括平定線）為I區(qū)，定量線與判廢線之間（包含定量線）為區(qū)，判廢線 及以上區(qū)域?yàn)閕n區(qū)如下圖所示5.4.2距離-波幅曲線（DAC曲線）靈敏度選擇5.4.2.1工件厚度為6mm

19、-200mm的焊接接頭，斜探頭或直探頭檢測(cè)時(shí)，用CSK- fl A試塊制作距離-波幅曲線（DAC曲線）的靈敏度如下 表所示：試塊S1式工件厚度,.：評(píng)定R定判廢蜒CSK4IA6-40 40-100 100-200/2x4O-l8dB #2x6O-14dB 2x6O-IOdB,2x40H2dB 2x60 8dB * 2 x 6O4dB,2 x 40-44B .2 x 6O2dB #2x6OdB541.2工件厚度為8mm-120mm的焊接接頭 斜探頭檢測(cè)時(shí)，用 CSK-mA試塊制作距離波幅曲線（DAC曲線）的靈敏度如下表所示：7*04 Wk，試塊奧式T件事度r/mm定(料廢線CSK III A8-

20、15 15-40 40-120 1 x6T2dB 1 m 6-9dB 1 m 66dB #lx6-3dB1x6* 1 x6*2dB 1 m65dB 1 x610dB5.4.1.3 CSK-HA與CSK-HI A試塊之間靈敏度轉(zhuǎn)化5.4.3 距離-波幅曲線（DAC曲線）的繪制按照521 , 5.2.2 , 5.2.3 , 5.2.4調(diào)校好儀器和探頭的參數(shù)后，就可以制 作DAC曲線。依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)NB/T47013.3-2015選取試塊CSK- II A或者CSK-皿民5.4.1.彳選擇儀器制作DAC按鈕，激活DAC曲線制作功能。5.4.1.2依據(jù)探傷需要選取試塊上深度10mm的2X 40孔或者1X 6

21、孑L,雙手移 動(dòng)探頭找到其最高反射波，調(diào)節(jié)增益按鈕使波高穩(wěn)定于屏幕 80%高度 ,按確定按鈕（凍結(jié)鍵），這時(shí)就選好了第一點(diǎn)。541.3按照步驟1的方法，依次選擇不同深度其他兩點(diǎn)的，找到最高波確定各 占/W o5.4.1.4 最后選擇確定鍵（回車(chē)鍵），激活DAC母線曲線。按照 522.2或522.3中列表分別確定判廢線、定量線、評(píng)定線。544 探測(cè)橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將各線靈敏度均提高 6dB545 探傷面曲率半徑R小于等于MW/4時(shí)，距離一波幅曲線的繪制應(yīng)在曲 線面對(duì)比試塊上進(jìn)行。5.4.6受檢工件的表面耦合損失及材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同，否則應(yīng)進(jìn)行傳輸損失修整，在1跨距聲程內(nèi)最大傳輸損差在2陽(yáng)以?xún)?nèi)可不

22、進(jìn)行修整。5.5儀器調(diào)整的校驗(yàn)551每次檢驗(yàn)前應(yīng)在對(duì)比試塊上對(duì)時(shí)基線掃描比例和距離一波幅曲線靈敏度進(jìn)行調(diào)整或校驗(yàn)。校驗(yàn)點(diǎn)不少于兩點(diǎn)。5.5.2在檢驗(yàn)過(guò)程中每4h之內(nèi)檢驗(yàn)工作結(jié)束后應(yīng)對(duì)時(shí)基線掃描和靈敏度進(jìn)行校驗(yàn)，校驗(yàn)可在對(duì)比試塊或其他等效試塊上進(jìn)行。553掃描調(diào)節(jié)校驗(yàn)時(shí)，如發(fā)現(xiàn)校驗(yàn)點(diǎn)反射波在掃描線上偏移超過(guò)原校驗(yàn)點(diǎn)刻度讀數(shù)的2%或滿(mǎn)刻度5%（兩者取較小值），則掃描比例應(yīng) 重新調(diào)整，前次校驗(yàn)后已經(jīng)記錄的缺點(diǎn)，位置參數(shù)應(yīng)重新測(cè)定，并 予以更正。5.5.4 靈敏度校驗(yàn)時(shí)，如校驗(yàn)點(diǎn)的反射波幅比距離一波幅曲線降低20%或2dB以上，則儀器靈敏度應(yīng)重新調(diào)整，而前次校驗(yàn)后，已經(jīng)記錄 的缺陷，應(yīng)對(duì)缺陷尺寸參數(shù)重

23、新測(cè)定并予以評(píng)定。6焊縫的檢驗(yàn)6.1檢驗(yàn)技術(shù)等級(jí)要求6.1.1超聲波檢測(cè)技術(shù)等級(jí)超聲波檢測(cè)的技術(shù)等級(jí)分為A、& C級(jí)，對(duì)于實(shí)際檢測(cè)檢測(cè)項(xiàng)目, 選取A或者B級(jí)，一般采用B級(jí)超聲波檢測(cè)。6.1.2超聲波檢測(cè)等級(jí)的要求6.1.2.1 A 級(jí)檢測(cè)：適用于工件厚度為6mm-40mm焊接接頭的檢測(cè)?？捎梅N折射角（K值）斜探頭采用那個(gè)直射波法和一次 反射波法在焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。如果條 件限制，也可以選擇雙面單側(cè)或者單面單側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。 般不對(duì)橫向缺陷進(jìn)行檢測(cè)。6.1.2.2 B級(jí)檢測(cè)：a、B級(jí)檢測(cè)適用于工件厚度6mm-200mm焊接接頭檢測(cè)b、一般焊接接頭進(jìn)行橫向檢測(cè)c、對(duì)于要求進(jìn)行栓面雙側(cè)的焊接接

24、頭，如受幾何限制只能采用單面雙側(cè)檢測(cè)時(shí)，還應(yīng)補(bǔ)充斜探頭作 近表面缺陷檢測(cè)。要求如下表所示：技術(shù)工件岸度 Xnn不RKM(fl)kmWKkS不A1125PB1 140rl001*ijor12單IOOr2OO2TV16.2檢測(cè)面要求621超聲波檢驗(yàn)應(yīng)在焊縫及探傷表面經(jīng)外觀檢驗(yàn)合格并滿(mǎn)足325.2和325.3要求檢驗(yàn)前探傷人員應(yīng)了解受檢工件的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、曲 率、厚度、焊接方法、焊縫種類(lèi)、坡口形式、焊縫余高及背面襯 墊、溝槽等情況。6.3平板焊縫掃查6.3.1縱向焊縫的掃查6.3.1.1探測(cè)縱向缺陷，斜探頭垂直于焊縫中心線放置在探傷面上，作鋸齒型掃查。掃查速度不應(yīng)大于150mm / S,相鄰兩次探 頭

25、移動(dòng)間隔保證至少有探頭寬度10%的重疊。6.322如果焊接接頭余高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查，如下圖所示：7焊縫的缺陷的評(píng)定7.1缺陷的位置6.3.1.2探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊縫截面及熱影響區(qū)o在保持垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作 10 15左 右移動(dòng)。為探測(cè)焊縫及熱影響區(qū)的橫向缺陷應(yīng)進(jìn)行平行和斜 平行掃查。為確定缺陷的位置、方向、形狀、觀察缺陷動(dòng)態(tài) 波形或區(qū)分缺陷訊號(hào)與偽訊號(hào)，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、 環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式如下圖所示：6.3.2.1 檢測(cè)焊接接頭的橫向缺陷時(shí)，可在焊接接頭的兩側(cè)邊緣時(shí)斜探 頭與焊接接頭中心線成不大于10作兩個(gè)方

26、向的斜平行掃查 如下圖所示：6.4曲面焊縫掃查6.4.1探傷面為曲面時(shí)，按規(guī)定選用對(duì)比試塊，并采用6.3.1條的方法進(jìn)行檢驗(yàn)。受工件幾何形狀限制，橫向缺陷探測(cè)無(wú)法 實(shí)施時(shí)，應(yīng)在檢驗(yàn)記錄中予以注明。6.4.2環(huán)縫檢驗(yàn)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑為探傷面曲率0.9-1.5倍的對(duì)比試塊，均可采用，對(duì)比試塊的采用。探測(cè)橫向缺陷時(shí) 按6.3.3條的方法進(jìn)行。6.4.3縱縫檢驗(yàn)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑與探傷面曲率半徑之差 應(yīng)小于10%o6.4.3.1根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭角度，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊 縫厚度；條件允許時(shí)，聲束在曲底面的入射角度 不應(yīng)超過(guò)70。6.4.3.2探頭接觸

27、面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和折射點(diǎn)角 或K值的變化，并用曲面試塊作實(shí)際測(cè)定。如果焊接接頭余高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查，如下圖所示：6.3226.4曲面焊縫掃查6.4.1探傷面為曲面時(shí)，按規(guī)定選用對(duì)比試塊，并采用6.3.1條的方法進(jìn)行檢驗(yàn)。受工件幾何形狀限制，橫向缺陷探測(cè)無(wú)法 實(shí)施時(shí)，應(yīng)在檢驗(yàn)記錄中予以注明。6.4.2環(huán)縫檢驗(yàn)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑為探傷面曲率0.9-1.5倍的對(duì)比試塊，均可采用，對(duì)比試塊的采用。探測(cè)橫向缺陷時(shí) 按6.3.3條的方法進(jìn)行。6.4.3縱縫檢驗(yàn)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑與探傷面曲率半徑之差 應(yīng)小于10%o6.4.3.1根據(jù)工件的曲率和材料厚度

28、選擇探頭角度，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊 縫厚度；條件允許時(shí)，聲束在曲底面的入射角度 不應(yīng)超過(guò)70。6.4.3.2探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和折射點(diǎn)角 或K值的變化，并用曲面試塊作實(shí)際測(cè)定。6.4曲面焊縫掃查6.4.1探傷面為曲面時(shí)，按規(guī)定選用對(duì)比試塊，并采用6.3.1條的方法進(jìn)行檢驗(yàn)。受工件幾何形狀限制，橫向缺陷探測(cè)無(wú)法 實(shí)施時(shí)，應(yīng)在檢驗(yàn)記錄中予以注明。6.4.2環(huán)縫檢驗(yàn)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑為探傷面曲率0.9-1.5倍的對(duì)比試塊，均可采用，對(duì)比試塊的采用。探測(cè)橫向缺陷時(shí) 按6.3.3條的方法進(jìn)行。6.4.3縱縫檢驗(yàn)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑與探傷面曲率半徑之差 應(yīng)小于10%o6.4.3.1根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭角度，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊 縫厚度；條件允許時(shí)，聲束在曲底面的入射角度 不應(yīng)超過(guò)70。6.4.3.2探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和折射點(diǎn)角 或K值的變化，并用曲面試塊作實(shí)際測(cè)定。6.4曲面焊縫掃查6.4.1探傷面為曲面時(shí)，按規(guī)定選用對(duì)比試塊，并采用6.