ICT入門培訓(xùn)流程規(guī)范

1、ICT 入門培訓(xùn)流程規(guī)范一、目的：建立 ICT 程式優(yōu)化、機器故障排除規(guī)范，作為 PEB 技 工使用操作之依據(jù)。二、范圍：本公司測試技工三、職責(zé)：PE部：技工負責(zé)程式優(yōu)化、ICT在線維護四、ICT 簡介：1、ICT ：在線測試機( In Circuit Tester ) , 電器測試使用的 最基本儀器 .如同一塊功能強大的萬用表 ,但它能對在線電路 板上的元件測試進行有效得隔離 ( Guarding )而萬用表不能。2、ICT 測試內(nèi)容：主要是靠測試探針接觸 PCB layout 出來 的測試點來檢測 PCBA 的開路、短路、零件的焊接狀況?？?分為開路測試、短路測試、電阻測試、電容測試、二極

2、管測 試、三極管測試、場效應(yīng)管測試、 IC 管腳測試等等。3、ICT 的特點：能測試元器件的漏裝、 錯裝、 參數(shù)值偏差、 焊點連焊、線路板開短路等故障，并能將故障是哪個元件或 開短路位于哪個點準確告訴我們。 (對元件的焊接測試有較高 的識別能力 )4、公司 ICT 型號：目前我們用的 ICT 分別是臺灣捷智科技 股份有限公司生產(chǎn)的 JET-300NT 、德律科技股份有限公司生 產(chǎn)的 TR-518FE 。(以下介紹以 JET 為例)五 .ICT 量測原理：1. 電阻量測(1)單個 R (Mode 0,1)Vx=? - 利用 Vx=lsRx (歐姆定律)，則 Rx二Vx/ls.Rx信號源Is取恒流

3、(0.1uA5mA),量回Vx.即可算出Rx值.(2)小電阻(50歐姆以內(nèi))四線量測： 小電阻兩端各下兩支探針，1-4號探針 的接觸阻抗分別 R1-R4, Ra,Rb,Rc,Rd分別為四次測試之量測值Ra=R1+R2Rb=R3+R4Rc=R1+Rx+R4Rd=R2+Rx+R3Rx=( Rc+Rd-Ra-Rb)/2(3) R/C (mode2) 信號源 Vs取恒壓(0.2V )，量回Ix，Rx=Vs/Ix=0.2V/Ix算出Rx值. R/L (mode3,4,5):Vs,用相位法輔助.信號源取交流電壓源2.電容及電感量測|Y ' |C(fis=YRx=1/Rx,并 |Y' |=I

4、 ' x/V故:Rx=1/|Y ' |CosVs(1) 單個 C,L (Mode0,1,2,3):信號源 取恒定交流壓源 Vs, Vs/lx二Zc=1/2 ji fCx 求得：Cx=Ix/2 ji fVsVs/Ix=Zl=2 j fLx ,求得：Lx=Vs/2 j flx(2) C/R 或 L/R (Mode 5,6,7):用相 位法輔助，|Y' |Sin=|Ycx|,即 3 Cx Sir0 = 3 Cx求得：Cx二cx SirB, (Cx' =lx ' J2Vs)|Y ' |SB=|Ycx|,即 Sir 0 / 3 Cx' =13 Cx

5、求得：Lx二Lx' /Sir0, (Lx '二Vs/J fix ')電容極性測試的另一方法是三端測試，須在上方加一探針觸及殼體.在電容 的正負極加載直流電壓，至充飽后測量殼體電壓.由于正負極與殼體間的阻抗差 異，故對于插反的電容所測量到的殼體電壓會與正確時不同 .據(jù)此可判別電容的 極性.（詳見附頁一）3.跳線測試：(UMPER, FUSE, WIRE, CONNECTOR, SWITCH, etc)阻抗值機器內(nèi)識別值熒幕昱示值c1(5,2311(35.5523cm344. 量測 PN結(jié)：(D,Q,IC,FET)(1)信號源0-10V/3mA or 30mA可程式電壓源，

6、量PN結(jié) 導(dǎo)通電壓 ;Zener D的測試原理是量測其崩潰電壓，與二極體的差異是在測試電壓源不同 , 其電壓源為 0V-10V 及 0V-48V 可 程式電壓源 .(3) 電晶體測試需要三步驟測試，其中(1)B-E 和(2)B-C 腳是使用二極體的測試方法 ,(3)E-C 使用 Vcc 的飽和 電壓值及截止值的不同， 來測試電晶體是否插反 . 電晶體反 插測試方法：在 B-E 及 E-C 腳兩端各提供一個可程式電壓源， 量測出電晶體 E-C 正向的 飽和電壓為 Vce=0.2V 左右，若該電晶體反插時，則 Vce 電 壓將會變成截止電壓， 并大于 0.2V ，即可測出電晶體反插的 錯誤.5.

7、量測 Open/Short ：即以阻抗判定，先對待測板上所有Pin點進行學(xué)習(xí)，R<25Q即歸為Short Group，然后Test時進行比較，R<5Q判定為Short , R>55 Q判為Open.凡雨甬之簡霜陽，壬.茁G的軒號配入一個SHORT. GBOUP,反之辦然上.OPEN#v . . SHORT*-'在SHQgT GHHJr內(nèi)進行 i A I A I B I ri I 55-.OPEN-FAILiJ:丄.(Wl PA熾 短路屋t(在gHOMTGfflBP述薩行 ySHORT PAS3.SHORT FftlL6. Guarding(隔離)的實現(xiàn):隔 離 點Hi

8、-PinVaGuarding Point相接元件一相接元件一 一被測元件Low-PinVB電流源Va以電流源當(dāng)信號源輸入時，則在相接元件一的另一 腳加上一等高電位能(Guarding Point)，以防止電流流入與被 測元件相接的旁路元件，確保量測的精準性。此時隔離點的 選擇必須以和被測元件高電位能腳(Hi-Pin)相接之旁路元件為參考範(fàn)圍.以電壓源當(dāng)信號源輸入時，則在相接元件二的另一腳加上一等底電位能(Guarding Point)，以防止與被測元件相接之元件所產(chǎn)生的電流流入，而增加量測的電流，影響量測 的精準性。此時隔離點的選擇必須以和被測元件低電位能腳 (Low-Pin)相接之旁路元件為

9、參考範(fàn)圍 .7、三端電容極性測試：7.1測試點G-P1,?5+JHP'l*1LqP；3j7.2試程式- Act V- - Std V- - Hlim%- - LlimH- - Type- - Hip - Lop- - Dly - G-Plt-CE1- - * ' 0.2- - ' 0.12V* 'J20PX130 創(chuàng)嚙試原理為從懈1送source謠tage然後從電屛讀回量測值，濟由於缺件或反插，其量測值很低(接近0)，所以只比較下限，上限D(zhuǎn)on' t ca。Act_V : Source voltage 建議值為 0.2VStd_V： Sense 6lta

10、ge (Threshold),依實際 Debug 後決定Hlim :固定為-1 (Don,t care)Llim :建議值為20,可依實際Debug後決定Mode :固定為8或18(適用於防爆電容)Type :固定為PXHip :電容負端 (source pin)Lop :電容正端Dly :依實際Debug後決定G-P1 : Sense Pin7. 3除錯規(guī)則將Hip / Lop相同的電容放在一起，例如 CE1,CE2,CE3的HiP及LoP都是1及3,所以測試程式如下：PartName1 j Act VVHlim%- - Llim%ModeType- * HipLopSlyG-Pb'

11、CE10.2- - - 042V 120 8 PX130久CE2 -'0.2-'- 0.12V ' -120 8 PXL 307卩 *CE3 -”0.21h- 0.12V- * -120 8 P%?，L ”31 0 * 9卩CE4 ' f 0.2" l 0.15V 1"208FX 2021 (K，22*'CE11-*0.20.001V- * -120 18 PX 11 13 015 屮-CE12-0.2- 0*001V- -12018- - -PX11 13 0 17屮Debug時可交換HiP及Lop比較量測值，以決定較佳之 Thre

12、shold(Std_V)若交換HiP及Lop量測值差異不大可調(diào)整 Delay time或Source voltage(Act_v)若交換HiP"及 Lop量測值皆很低，可能是第三端接觸問題，可先 檢查第三端是否接觸正?；虼郎y電容有歪斜，可用換針或扶正待 測電容方式解決治具製作時第三端選用測試針，需考慮相同位置待用料的高度差 異，以免造成接觸不良或刺穿待測物的問題三端電容量測是用來檢測缺件及反向，無法檢測錯件可利用量測分析工具(Hot Key F12)決定較佳標準值，Delay time.& IC空焊測試:DIESolder Jolrt(lC L祐d傳統(tǒng)的IC保護二極管測試方

13、弍一股來說能測試IC除VCC 與GND之外的舟如的引 腳的開路問題 > 而T庶肢 術(shù)的應(yīng)用則使這一比例達到 gg爲(wèi)以上并足夠穩(wěn)定口iTT.riT*«rTiTiTi1l1阿咄1口妣amnru.iawii六、ICT調(diào)試(Debug)流程：1、固定治具:將ICT治具架在壓床上，將治具天板固定在壓床 蜂窩板上，鎖緊治具固定螺絲，使其不會松動，將壓床點動調(diào)整 治具上探針行程，使之達到其行程的1/2-2/3左右，然后用排線依 順序?qū)⒅尉吲c開關(guān)板連接起來；2、 程序登錄計算機：將治具的測試程序COPY入計算機， 并調(diào)出；將測試程序檢查一遍，未經(jīng)過排序的，要先排序。要按JP- 電阻-電容-電感

14、-二極管-IC的順序(即按實際值排序)；然后存盤。3、Open/Short學(xué)習(xí)：學(xué)習(xí)之前，將狀態(tài)參數(shù)里面的測試時基 改為50，OPS DELAY更改為120-200；置良品板于治具上，將壓 床壓下即可開始學(xué)習(xí)；學(xué)習(xí)完畢后要存盤。七、ICT Debug技巧與方法：1、先將待測板測試一遍，然后可進入“ EDIT” DEBUG ；2、對于 JP 的 DEBUG 則比較簡單，只要判定其有無點號，有無 零件，點號正確無誤即可 0K。一般“JP”我們把ACT-VAL定為“2JP” 上限為“ +10% ”，下限為“ -60%”；3、電阻的 DEBUG ，則會比較復(fù)難，可按以下幾步調(diào)試：1）于小電阻，如零歐姆

15、電阻， ACT-VAL 可用 2 歐姆，然后上 限為“ +10% ”下限為“ 99% ”即可，對于幾歐姆或零點歐姆小電阻， 若客戶要求用四線測試，則 需做 四 線測試，未做要求的就可將線 阻及機器內(nèi)阻加零件值作為標準值，上限可放寬；2）于小電阻：（OQ-1K Q）要用定電流的測試方法（D1、D2）;3）電阻 DEBUG 一般有幾種方法： 變換測量模式文件位元的變化， 更改延遲時間，高低 PIN 對調(diào)，加隔離點等幾種方法，可結(jié)合實際 情況，具體分析處理;4）GUARDING 點對于電阻的 DEBUG 尤為重要， 一般有這樣一 個原則： 電阻的兩個點， 其中一點所連組件較少， 則該點所連組件另 外

16、一點作 GUARDING 點;隔離點所連的組件阻抗須為 2O 歐姆以上， 電阻的隔離，加 GND 點很有效果;5）電阻隔離的目的是將量測到的較少的值隔離成大的，使之更接近 于實際值，若該電阻量測的結(jié)果很大，超出實際值，則要提出疑問， 看看是否針點的問題， 還是零件值的錯誤， 或者是由于針點的不準引 起的，等待。6）對于并聯(lián)的電阻，若兩電阻阻抗相差不是很大，則用并聯(lián)值作標 準值，若相差很大， 則大電阻不可測; 電阻沒有針點的？電阻沒有針點的注明“ NP”，沒有組件的注明“ NC”7）電阻并聯(lián)大電容的情況，用定電流的方法測試會不穩(wěn)定且測試時 間長，可用定電壓的方法量測， 并加長延遲時間， 必要時可

17、采用放電；8）對于單項測試穩(wěn)定，整頁測試不穩(wěn)定的組件可移到程序的最前面 測試，電阻的上下限一般設(shè)為 10%，大電阻可適當(dāng)放大一些。八、具體元件程式 Debug 方法： 因編寫好的程式在實測時，因測試信號的選擇，或被測 元件線路影響，有些 Step 會 Fail （即量測值超出± % 限）， 必須經(jīng)過 Debug.1. 電阻在 E 編輯 下， ALT-X 查串聯(lián)元件， ALT-P 查并聯(lián)元件。據(jù)此選好 信號”（Mode）和串聯(lián)最少元件的Hi-P/Lo-P，并ALT-F7選擇 Guardi ng Pin。R/C : Mode2 及 Dly 加大.R/D（or IC 、Q）： Mode1.

18、R/R: Std-V 取并聯(lián)阻值 .R/L : Mode3 4、5,根據(jù) Zl=2 n fL ,故 L 一定時，若 f 越高， 則Zl越大，則對R影響越小.2. 電容在編緝下一般根據(jù)電容值大小，選擇相應(yīng)的 Mode如小電 容（pF級），可選高頻信號（Mode2 3）,大電容（nF級）可選低頻 信號（Mode0 1）,然后ALT-F7選擇隔離。3uF以上大電容，可以 Mode4 8直流測試。C/C ：Std-V 取并聯(lián)容值C/R : Mode5 6、7,由 Zc=1/2 刀 fC,故 C一定時，f 越高， Zc越小，則R的影響越小。C/L : Mode5、 6、 7,并且 f 越高效果越好。3.

19、 電感F8測試，選擇ModeO 1、2中測試值最接近Std-V.L/R : Mode 5、 6、 7。4. PN吉F7自動調(diào)整，一般PN正向0.7V （Si ）,反向（2V以上）。D/C : Mode1 及加 Delay。D/D （正向）：除正向?qū)y試，還須測反向截止（2V以上）以 免 D 反插時誤判。Zener : Nat-V 選不低于 Zener 崩潰電壓,若仍無法測出崩潰電 壓，可選Mode1 （30mA）,另10-48V zener管，可以HV模式測試。5. 電晶體be、 bc 之 PN 吉電壓兩步測試可判斷 Q 之類型（ PNP or NPN）, Hi-P 一樣（NPN）, Lo-

20、P 一樣（PNP）,并可 Debug ce飽和電壓（0.2V 以下），注意 Nat-V 為 be 偏置電壓 ,越大 Q 越易進入飽和，但須做 ce 反向判斷 （須為截止 0.2V 以上 ），否則應(yīng)調(diào)小 Nat-V 。八、常見 ICT 誤判及維護:1、 ICT 盲點: 特殊IC （個別IC對GND、VCC無保護二極體）單點測試（如排插、插座、個別單個測試點的元件）并聯(lián) 10 個以上的電容并聯(lián)（示電容的精密度作調(diào)整）并聯(lián) 15倍 以上小電阻的大電阻 D/L或D/25 Q以下，D不可測跳線 并聯(lián) IC 內(nèi)部功能測試 2壓床行程不足， 探針壓入量程為 2/33 PCB 板定位柱松動，造成探針偏離焊盤4

21、PCB 上測試點或過穿孔綠油未打開、吃錫不良5PCB 制程不良：如未洗板導(dǎo)致 PCB 上松香過多探針接觸不良 6探針不良 （如 針頭鈍化、老化、阻抗過高7、元件廠商變更（如小電容、IC之TESTJET可加大土 % 更改TESTJET值8、未 Debug 良好9、ICT 自身故障10、硬體問題：10.1開關(guān)板：診斷（D）-切換電路板（B）-系統(tǒng)自我診斷（S）-切換電路板診斷（S） 若有B* C*表示SWB有Fail，請記錄并通知 TRI。C* 有可能為治具針點有 Short 造成。10.2 系統(tǒng)自我檢測：診斷（d ）-硬體診斷（S）-系統(tǒng)自我檢測（S）有 R、D 項 Fail 可能為 DC 板故

22、障 .有 C、L 項 Fail 可能 AC 板 Fail.有Power項Fail可能Power Fail，也請記錄并通知供應(yīng)商。日常維護一般GUAR點不超過3個，最好1、2個即可 無用之GUARD點需去除 可GUARDINGS元件為電阻、電容，一般大電 容 GUARDING效 電阻GUARDINGT般對地70%有效 電容GUARDINGT般對 VCC 70殖效 GUARDING般找串聯(lián)小電阻（大于20 Q）、串聯(lián)大電容 若GUARDING件時，串聯(lián)跳線或電感可視為 同點 大電容并聯(lián)測試偏大解決方式：ACTUAX 70% > STANDARX 下限值九、注意事項：1、小電容的測試通常用“

23、A4 ”或“ A5 ”模式，若量測結(jié)果過大，則需加 GUARDING 點使 OFFSET 值不要太大，否則量測沒有 意義另外電容隔離 VCC 效果明顯。倘若小電容與大電空并聯(lián)，則小電容可 SKIP 掉，不需測試，即 便測試也會不穩(wěn)定，又找不出問題；2、大電容的量測，若用“ DC ”模式不穩(wěn)定，可考慮用 RANGE“ +1 ”去試，或加長延遲時間；3、電容的上下限一般為 30% ，小電容的上限可適當(dāng)放寬，下限要小一些；4、電容極性測試可用兩種方法： 其一，二端測試法即用漏電流的 方法，實際值送 0-9.9V 電壓 ,標準值送電流 ,則模式會變?yōu)?CM, 適當(dāng)加長 DELAY, 并調(diào)整實際值電壓 ,使正反電流偏差較大 ; 其 二 , 三端測試法 ,即在電解電容頂部加多一根針 ,高 PIN 為頂部 針點,低PIN為負極針點，隔離點為正極針點實際值送0.2V電壓, 標準值為 0.05V 左右,并適當(dāng)加長 DELAY, 使反向時接近于 0.2V;5、電感的測試最好用兩種方法：其一 ,當(dāng)作跳線測試 ,其二測其感量,這樣既可測出電感的缺件錯件,也可測到短路 ,上下限可放寬；6、二極管除了用“DT” （2.2V,20MA ）模式外,還可用” LV”（0OV）模式。當(dāng)二極管并聯(lián)大電容時可將 RANGE “+1”，加延遲時間， 還