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1、From :重插專案 Team報告人 : 凌衛(wèi)日 期:Sep-15-11改善ReduceDefect目標說明節(jié)儉品質(zhì)失敗費用標準防呆效果430150r 開發(fā)防呆及最優(yōu)結(jié)構(gòu)的 PINr 建立Lesson learn,優(yōu)化Design guider 對供應(yīng)鏈品質(zhì)控制的模型管理r 畫異不良處理流程的標準步驟說明改善前目標目前狀況目標*目標:Down61Unit :PPM改善前不良率取:11年13月平均值Unit : RMB/年市場廠內(nèi)廠內(nèi):7 USD/臺 市場:18USD/臺635,688243,000目 標定訂說明:1、工廠重插不良最穩(wěn)定的機種(LA1951G)不良 率在130 DPPM (Pan

2、el 型號單一,Conn優(yōu))2、同行業(yè)(L公司)不良率約300 Dppm,為了趕 超對手,我們要做到優(yōu)于2倍的品質(zhì)水準 3、通過穩(wěn)定機種的統(tǒng)計分析,我們認為目標是可以 達成的 !節(jié)約:392688Page 2不良原因不良數(shù)不良比率Panel端異物3532%重插不良1917%未插好1514%主板端異物1312%Pin針彎55%Scalar不良44%Panel不良22%NTF22%Pin異物22%PIN脫出22%CON形變內(nèi)部破損22%Other87%總計10910048039140201002003004005006001月2月3月不良數(shù)不良率Dppm改 善前不良趨勢狀況如下:Panel端異物,

3、 32%重插不良, 17%未插好, 14%主板端異物, 12%為了 真實確認畫異不良的所造成的真正的原因,Team決定從4月1日開始,所有的畫異不良機器,全數(shù)送PE進行分析確認,由PE-金明為主導(dǎo)窗口,RD/QC/IE 共同確認并確定因子歸屬,以期掌握不良真實情況,對癥分析和解決 !截止 4月30號 共確認畫異不良109臺,其分布如圖所示!不 良機器狀況確認:重插不良原因?qū)觿e表:重插不良原因 Distribution chartPage 3一、異物不良分析及對策Format Design heroweilingPage 45異物檢討:異物纖維物塑膠物手套纖維Page 5EPE 泡棉屑塑膠屑EP

4、E屑汽泡袋屑Page 67塑膠雜質(zhì)黑膠布纖維黑膠布纖維纖維物Page 7改善前的異物來源改善后的狀況料盒內(nèi)有泡泡袋/EPE屑料盒是用紙盒做成,然后貼上黑膠帶,脫膠后形成許多死角,藏匿異物,不易清理Page 8改善前的異物來源改善后的狀況改善說明 :4月21號起禁止戴手套 / 緾黑膠布作業(yè) , 全部啟用治具進行作業(yè),全包鐵盤戴手指套作業(yè),長袖衣服須穿無塵服上站 。Page 9改 善說明:因發(fā)現(xiàn)Conn 內(nèi)及金手指表面有異物(纖維/毛屑/泡泡袋等)不良,故每條線在插PIN 前追加離子吹風槍,將附著在Panel Conn 及線材金手指上的異物進行吹除 - 6月完成L5/L6/L7線L2/L3 線L1

5、 線離 子 吹 風Page 10二、重插不良構(gòu)面結(jié)構(gòu)分析及對策Format Design heroweiling1. Panel 凸臺問題2. 超薄Connector問題3. FFC/LVDS與Conn尺寸匹配問題4. FFC 基材弱,下塌造成重插不良Page 111. Panel 凸臺問題通過 對不良品的模擬發(fā)現(xiàn):將LVDS 向Panel面向下按壓時,畫異現(xiàn)象可再現(xiàn),當相反的方向,往上面抬起時 不良現(xiàn)象立即消失,故此原因分析如下:GAP原因分析:LVDS 在插入Connector 之后,與Panel 面之間有2mm的間隙(如左圖中所描的GAP圖示),這將導(dǎo)致LVDS 在插入Connector

6、之后,后部端子是懸空的,始終有個應(yīng)力會影響Conn內(nèi)部的咬合接觸點,導(dǎo)致發(fā)生不良 。深入分析:Connector 內(nèi)部結(jié)構(gòu)(如左邊解剖圖),接觸點設(shè)計在前端,如左圖描述的“接觸區(qū)”,所以LVDS 如果沒有實臺階的支撐力,接觸點會受端子的擺動影響很大,向下壓時接觸點的分離度要大而導(dǎo)致接觸性能低,而向上抬起時,剛好緊貼 ,接觸性能自然要高。接觸區(qū)接觸區(qū)伸入?yún)^(qū)伸入?yún)^(qū)Page 12端子作用相關(guān)理論:1、正向力與產(chǎn)品的可靠性有絕對的關(guān)系;2、正向力與接觸電阻有密切的關(guān)系;(見圖)050100150200250Normal Force ( gf )0.010.020.030.040.050.0LLCR (

7、 mOhm )T:0.15 R:0.30 Au: 1Sample 1Sample 2Sample 3Sample 4Sample 5當正向壓力小于50gf 時,接觸阻抗變化較大當正向壓力大于100gf時,接觸阻抗趨于穩(wěn)定有凸臺無凸臺接觸點緊貼接觸點分離Page 1320347115614078616500246810121416180501001502002503003504004505001月2月3月4月6月7月8月9月貼墊片對策追蹤不良數(shù)不良率改善前(AVG:216Dppm)改善后(AVG:66Dppm) Down 69Page 14 紅框內(nèi)放大后見紅箭頭標注處,端子相對旁邊要高Conne

8、ctor 鼓起 2. 超薄Connector問題Page 15 TPV需要厚度為2.25mm的Connector: 增加圖片1? 不需要厚度為1.55mm的Connector: Page 16接 插后的模型圖:根 據(jù)線性傳遞函數(shù):Gap(P-TWO) = d - b - T(TFFC & LVDS厚度) Gap(UJU) = f - a - b - TConnector 部份 FFC/LVDS 部份 fabdTGAP 3. FFC/LVDS與Conn尺寸匹配問題Page 17 根 據(jù)公差設(shè)計原理求符合3 標準,即:N4;精密度P=99.73%; 信賴度C=95%的統(tǒng)計公差界限。 根據(jù)公

9、差界限公式: L= KS (查表K8.299,F(xiàn)rom:Factors(K)for twosided population limits for normal distributions) FFC 公差為:0.62 8.299*0.0033 = 0.62 +/- 0.0273 LVDS 公差為:0.61 8.299*0.0033 = 0.61 +/- 0.0273 xPage 18 結(jié)論說明: 考慮FFC與LVDS的實際過程能力及制程差異(FFC 為PET絕緣材料和鍍錫扁平銅線,通過自動化設(shè)備生產(chǎn)線壓合而成的數(shù)據(jù)線纜;LVDS 是采用電子線,鉚接端子,再人工穿Housing,工藝控制精度相對低

10、)故需結(jié)合制程能力及標準差的情況合理制定Tolerance,測試厚度Data如下: v 以制程能力(自然能力界限)及參考公差設(shè)計理論,制定LVDS/FFC 的公差如下: 以3 界限求得公差為: FFC 0.00472*3 0.014; LVDS 0.00848*3 0.025; (0.0273 OK ) 取取 最終公差為最終公差為: FFC 公差公差 : 0.62 +/- 0.015 LVDS 公差公差 : 0.61 +/- 0.025 Page 192880050100150200250300350未加厚加厚LVDS線材加厚前后不良對比不良率說明:武漢已開發(fā)錦潤的Hosing,LVDS 接插

11、厚度在0.61mm,8月份已試跑1.5K 無不良,已發(fā)大量試跑單10K,待工單上線 ! Page 20改善前理論值: 0.05mm導(dǎo)體+0.06mm薄膜+0.08mm雙面膠+0.41mm面板厚度=0.60mm改善后理論值: 0.05mm導(dǎo)體+0.1mm補強板+ 0.045mm雙面膠+0.43mm面板厚度=0.625mm 4. FFC 基材弱,下塌造成重插不良484349305241018416813605010015001002003004005006001月2月3月4月6月7月8月9月補強板對策追蹤不良數(shù)不良率改善前(AVG:349 Dppm)改善后(AVG:151 Dppm) Down 5

12、7Page 21現(xiàn)有結(jié)構(gòu)創(chuàng)新結(jié)構(gòu)(暫未開發(fā))接觸點在上部接觸點在下部優(yōu)點:下部Connector焊于PCB并緊貼,有效防止LVDS/FFC 插漲后的形變力端子單臂結(jié)構(gòu)端子上下連體結(jié)構(gòu)優(yōu)點:能有效保持對金手指的夾持力,接觸性能優(yōu)越單臂結(jié)結(jié)的缺陷:夾持力會受LVDS/FFC 的應(yīng)力而形變,從而接觸性能降低,品質(zhì)信賴性差結(jié)論:改善重插不良,我們總是在線材端下對策,想辦法,其實重要的因素是由Panel 端的Connector 所決定的,如主板端FFC同樣的線材結(jié)構(gòu),不良率卻在30 DPPM 以內(nèi),不同的就是Connector,如果能推動Conn 端的設(shè)變,將是革命性的改善 !創(chuàng)新想法Page 224803914022932781431602440306090120150180210240270300330360390420450480510540570600JanFebMarAprMayJunJulAugFFC/LVDS 重插不良率趨勢改善 前

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