測(cè)井常識(shí)課件

自然電位一測(cè)量方式

井內(nèi)電纜底端不極化電極M,在地面泥漿池內(nèi)放入另一電極N,與地面記錄儀相連,當(dāng)勻速上提M電極時(shí),記錄沿井軸上自然產(chǎn)生的電位變化,但并不記錄實(shí)際數(shù)值.二適用條件1、砂泥巖剖面2、淡水泥漿三定性應(yīng)用

1、劃分儲(chǔ)集層通常用SP異常幅度的半幅點(diǎn)確定儲(chǔ)層(砂體)界面。2、判斷巖性簡(jiǎn)單的區(qū)分砂巖泥巖。

3、判斷油水層一般來(lái)說(shuō)油氣層的SP異常幅度小于水層4、判斷水淹層注入淡水水淹后的油層,被水淹的部位的SP異常明顯小于未水淹部分的SP異常,使該層上、下部泥巖基線發(fā)生明顯偏移，即所謂的“上淹上偏，下淹下偏，全淹不偏”。5、判斷（注水引起）高壓層在注淡水的情況下，由于地層壓力高于泥漿柱壓力，形不成泥餅，產(chǎn)生過(guò)濾電位，SP曲線出現(xiàn)正異常，微電極曲線呈鋸齒狀。（3）SP曲線分層簡(jiǎn)單，便于計(jì)算砂泥巖厚度。、

一個(gè)沉積體的總厚度，沉積體內(nèi)砂巖總厚度、沉積體的砂泥比（砂地比）等參數(shù)，按沉積體繪出等值線圖，也是研究沉積環(huán)境和沉積相的重要資料。沉積體最厚的地方指向盆地中心。泥巖最厚的地方指向沉降中心。砂巖最厚和砂泥比最高的地方指出物源方向。四定量應(yīng)用1、估算泥質(zhì)含量VshVsh=(ssp-sp)/sspVsh-地層泥質(zhì)含量SP-解釋層的SP幅度,mvSSP-解釋井段的靜自然電位。各種資料證明不含油氣的純水層，通常稱為標(biāo)準(zhǔn)水層，其SP異常幅度就是該層（層段）的靜自然電位SSP。2、確定地層水電阻率SSP的確定原則:1）在解釋井段內(nèi)巖性(儲(chǔ)集層)基本相同2）地層水的礦化度基本相同(Rw基本相同)3）巖性純、厚度大（3m以上）4）SP異常幅度最大五SP曲線基線偏移校正

在大比例尺下，與能夠反映該地區(qū)泥質(zhì)含量（泥巖）最好的曲線（如GR、Rt等），在最可靠的泥巖段處進(jìn)行校正Geolog的基線偏移校正最好！2、地層溫度地層溫度升高使得自然電位系數(shù)k增大,從而使sp增大。但溫度變化的影響很有限，一般在有限的解釋井段內(nèi)不考慮溫度的影響，除非存在溫度異常區(qū)！3、儲(chǔ)層厚度儲(chǔ)層厚度是影響sp幅度的常見(jiàn)因素，一般情況下，儲(chǔ)層厚度在4m以下的地層，sp隨其厚度減小而減小。4、儲(chǔ)層含油性含油氣飽和度較高的儲(chǔ)層，其電阻率比它完全含水時(shí)要高3～5倍以上，在測(cè)井圖上，油氣層的sp略小于相鄰的水層。理論上，對(duì)于厚度較大的油水同層，隨著其向下Sw增大時(shí)，Sp異常也逐漸增大，即Sp出現(xiàn)向下“偏頭”的跡象。二、探測(cè)范圍

一般認(rèn)為伽馬射線在沉積巖中平均穿透深度約30cm,再考慮到井內(nèi)泥漿的吸收作用,對(duì)實(shí)際地層的探測(cè)深度不超過(guò)20cm,只在儲(chǔ)集層沖洗帶范圍內(nèi)。三、主要應(yīng)用1、區(qū)分巖性具有高放射性:泥巖、泥灰?guī)r、凝灰?guī)r、變質(zhì)花崗等。具有低放射性：砂巖、灰?guī)r、白云巖、石膏巖、煤等。一般來(lái)說(shuō)，火成巖的放射性比沉積巖的放射性高。2、劃分儲(chǔ)集層在砂泥巖剖面中，低伽馬異常一般就是砂巖儲(chǔ)集層，可以根據(jù)半幅點(diǎn)來(lái)劃分儲(chǔ)集層界面。在碳酸鹽巖剖面中低伽馬異常只反映泥質(zhì)含量較低，確定儲(chǔ)集層還需要聯(lián)合其他資料一起判斷。3、判斷水淹層由于水淹的影響使得放射性物質(zhì)局部富集，導(dǎo)致伽馬值產(chǎn)生異常高值，這點(diǎn)可以判斷水淹層。4、計(jì)算泥質(zhì)含量利用公式：SHI=GR-GRmin/GRmax-GRmin

計(jì)算泥質(zhì)含量。GRmin為純泥巖的自然伽馬記數(shù)。GRmax為

泥質(zhì)含量為零的純巖石的自然伽馬記數(shù)。GR-為解釋層的自然伽馬記數(shù)。5、計(jì)算粒度中值自然伽馬曲線的變化與粒度中值曲線的變化有較好的對(duì)應(yīng)性,因此,可以利用自然伽馬來(lái)計(jì)算粒度中值。6、可以過(guò)套管測(cè)井由于套管對(duì)巖層中的伽馬射線沒(méi)有太大的影響,所以可以利用自然伽馬進(jìn)行過(guò)套管測(cè)井,可以代替自然電位曲線。一、基本原理

放射性同位素測(cè)井(radioisotopelog)又稱放射性同位素示蹤測(cè)井,是利用人工放射性同位素作為示蹤劑來(lái)研究注水動(dòng)態(tài)和油井技術(shù)情況的一種測(cè)井方法.放射性同位素測(cè)井

二、測(cè)量方式

在施工時(shí),向井內(nèi)注入被放射性同位素活化的溶液或固體懸浮物質(zhì),并將它壓入套管外的通道或進(jìn)入地層或?yàn)V積在射孔孔道附近的地層面上。在施工前后各測(cè)一條伽馬曲線，將兩者對(duì)比可評(píng)價(jià)地層或油井技術(shù)狀況及施工效果。2.檢查管外竄槽將含有同位素的活化液壓入預(yù)期的找竄層段，將施工前后測(cè)量的伽馬曲線相重疊，凡未射孔層段出現(xiàn)明顯曲線異常即為竄槽層位3.檢查封堵效果將同位素混入封堵層所用的火油水泥，對(duì)比施工前后的伽馬曲線，高伽馬異常表明封堵效果好，反之封堵效果差。

4.檢查壓裂效果將吸附有半衰期較短的放射性同位素的活化砂混入壓裂砂作為指示劑，比較壓裂前后測(cè)量的伽馬曲線可以判斷壓裂效果。四、同位素選擇注意事項(xiàng)1.應(yīng)能放出較高能量的伽馬射線2.要有合適的半衰期3.應(yīng)容易配成鹽溶液，且施工方便和安全4.應(yīng)具備適宜吸附的能力一、電極的分類和基本參數(shù)1.梯度電極系電極系的單電極到靠近它的成對(duì)電極的距離大于成對(duì)電極間的距離時(shí)，稱為梯度電極系。成對(duì)電極間的距離趨于零的梯度電極系，稱為理想梯度電極系。梯度電極系成對(duì)電極間的中點(diǎn)為深度記錄點(diǎn)，記為O。探測(cè)半徑是以單電極為球心，電極距為半徑的球體。根據(jù)單電極在成對(duì)電極的上方或下方，梯度電極系又分為頂部梯度電極系和頂部梯度電極系。普通電阻率測(cè)井

2.電位電極系電極系的單電極到相鄰成對(duì)電極間的距離小于成對(duì)電極間的距離時(shí)，稱為電位電極系。當(dāng)成對(duì)電極間的距離趨向無(wú)限大時(shí)，稱為理想電位電極系。電位電極系的探測(cè)范圍是以單電極為球心，2倍電極距為半徑的球體。3.曲線特點(diǎn)梯度電極系視電阻率曲線是非對(duì)稱性的，底部梯度在高阻層底面出現(xiàn)極大值，頂部梯度在高阻層頂面出現(xiàn)極大值，這是梯度曲線劃分地層界面的依據(jù)。電位電極系視電阻率曲線對(duì)稱于地層中點(diǎn)，高阻層極大值也在地層中點(diǎn)。地層界面曲線上沒(méi)有明顯的特征，高阻層界面大約在高阻異常的底部。微電極測(cè)井

微電極測(cè)井是在普通電阻率測(cè)井基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的一種探測(cè)沖洗帶電阻率的測(cè)井方法，儲(chǔ)集層與非儲(chǔ)集層劃分是提出微電極測(cè)井的依據(jù)。在泥漿的作用下，儲(chǔ)集層由內(nèi)到外形成泥餅、沖洗帶、侵入帶和原狀地層，泥餅厚度大約為0.1到2cm，電阻率大約為泥漿電阻率的1-3倍。而沖洗帶電阻率大約是泥餅電阻率3-5倍以上，這取決于儲(chǔ)集層孔隙度。泥餅電阻率與沖洗帶電阻率的明顯差別為微電極測(cè)井提供了地質(zhì)依據(jù)。一、微電極測(cè)井應(yīng)用

1.劃分儲(chǔ)層，利用產(chǎn)生正幅度差的交叉點(diǎn)可以劃分儲(chǔ)集層。2.劃分巖性，泥巖為低值，一般無(wú)幅度差，滲透性。聲波速度測(cè)井

聲速速度測(cè)井(acousticvelocitylogging)主要測(cè)的是滑行縱波在井壁地層中傳播速度的測(cè)井方法，簡(jiǎn)稱聲速測(cè)井。

主要應(yīng)用1、劃分巖性聲波時(shí)差與巖石的硬度有關(guān),一般硬度越大,聲波時(shí)差值越低。反之,聲波時(shí)差值越高。（砂巖的聲波時(shí)差一般低，泥巖一般高）3、識(shí)別裂縫和氣層（聲波測(cè)井對(duì)于高角度的裂縫和氣層不具有識(shí)別性）1)時(shí)差一般性增大,一般可認(rèn)為同類地層中孔隙更發(fā)育一些。2）如果時(shí)差明顯增大或有周波跳躍，當(dāng)?shù)刭|(zhì)上可能含氣，并且電阻率測(cè)井一明顯高電阻率顯示證明地層含油時(shí)，可判斷氣層；當(dāng)?shù)刭|(zhì)上不可能含氣時(shí)可判斷為裂縫異常發(fā)育；如果本地區(qū)存在裂縫發(fā)育的氣層，也應(yīng)從電阻率測(cè)井等資料得到證實(shí)。3）注意井眼嚴(yán)重?cái)U(kuò)大的鹽巖層或泥漿嚴(yán)重混氣的井段，也可能產(chǎn)生時(shí)差明顯增大或周波跳躍。4）合成地震記錄地震與測(cè)井間的聯(lián)系，表現(xiàn)為由聲速測(cè)井制作合成地震記錄和有地震資料制作合成聲速測(cè)井曲線。5）檢測(cè)壓力異常、斷層一般情況下，地層空隙內(nèi)的流體壓力等于地層靜水柱壓力，稱為正常地層壓力，其大小隨地層埋藏深度增加而增加。在正常地層壓力作用下，地層孔隙度和聲波時(shí)差均按指數(shù)減小。因此，正常壓力地區(qū)的聲波時(shí)差與深度的關(guān)系，在半對(duì)數(shù)坐標(biāo)圖上為一直線，稱為正常趨勢(shì)線。一般用泥巖聲波時(shí)差，在小比例尺圖中確定正常趨勢(shì)線。當(dāng)實(shí)際聲波時(shí)差明顯偏離正常趨勢(shì)線時(shí)，可能是超壓層或斷層的顯示。聲幅測(cè)井

聲波幅度測(cè)井（acousticamplitudelogging),廣義上說(shuō)是通過(guò)測(cè)量聲波幅度來(lái)研究地層或井眼工程性質(zhì)的一類測(cè)井方法，狹義上說(shuō)是在套管井內(nèi)測(cè)量套管波幅度，用以判斷固井水泥膠結(jié)質(zhì)量的一種測(cè)井方法，后者又稱水泥膠結(jié)測(cè)井或固井聲波。一、主要應(yīng)用1、確定水泥面和套管接箍位置水泥面指固井后水泥上返的頂面，其上為自由套管。水泥面上聲幅為最大值，并有間隔相等的聲幅降低的尖峰（負(fù)尖峰）。聲幅最高點(diǎn)至聲幅最低點(diǎn)之間的半幅點(diǎn)為水泥面。

2、檢查固井質(zhì)量把無(wú)水泥處自由套管最大聲幅作為100%，解釋層段的聲幅與它的比值為相對(duì)聲幅。膠結(jié)質(zhì)量良好——相對(duì)幅度小于10%膠結(jié)質(zhì)量中等——相對(duì)幅度10%～30%膠結(jié)質(zhì)量差——相對(duì)幅度大于30%3、判斷高壓層在高壓層段由于高壓的作用，水泥不可能膠結(jié)良好，所以水泥膠結(jié)測(cè)井幅度很高，由此可判斷高壓層，氣層更明顯。4、判斷套管斷裂位置在無(wú)水泥的井段，套管斷裂顯示與套管接箍顯示相同，斷裂處有負(fù)尖峰。聲波變密度測(cè)井

為了全面的評(píng)價(jià)水泥環(huán)與套管和地層兩個(gè)界面的膠結(jié)質(zhì)量，發(fā)展了測(cè)量套管波前12～14個(gè)波的幅度和到達(dá)時(shí)間的聲波變密度測(cè)井。1）確定第一個(gè)界面套管與水泥環(huán)膠結(jié)面質(zhì)量（依靠套管波）2）確定第二個(gè)界面固井水泥和地層膠結(jié)面質(zhì)量（依靠地層波）當(dāng)?shù)谝唤缑婺z結(jié)質(zhì)量良好時(shí)，而第二界面不好時(shí)，整個(gè)變密度圖顯示為：左邊不清晰，右邊不清晰當(dāng)?shù)谝唤缑婺z結(jié)質(zhì)量不好時(shí)，而第二界面良好時(shí)，整個(gè)變密度圖顯示為：左邊清晰，右邊不清晰當(dāng)?shù)谝唤缑婺z結(jié)質(zhì)量良好時(shí)，而第二界面也良好時(shí)，整個(gè)變密度圖顯示為：左邊不清晰，右邊清晰當(dāng)?shù)谝唤缑婺z結(jié)質(zhì)量不好時(shí)，而第二界面也不好時(shí)，整個(gè)變密度圖顯示為：左邊清晰，右邊不清晰超聲電視測(cè)井

超聲電視測(cè)井（seisviewer,BHTV）又稱井下聲波電視，是一種利用聲波反射原理獲得井壁圖象的測(cè)井方法，可用于裸眼井和套管井。一、主要應(yīng)用1、判斷地層巖性泥巖和煤層波阻抗小，反射系數(shù)也小，圖象為暗的顯示；致密砂巖和白云巖波阻抗大，反射系數(shù)大，圖象為亮的顯示；空隙性巖石界于兩者之間。2、判斷地層面或裂縫面明顯的地層界面或裂縫面與井壁的交線形態(tài)取決于這些面的傾斜方向和傾角大小。一般傾斜面的交線呈“S”形，水平界面或水平裂縫的交線呈水平線，垂直裂縫的交線呈鉛直線。地層界面交線兩側(cè)的亮度不同，其差別取決于界面上下的巖性；裂縫面的交線則是在亮度大體上均勻的同一巖性中成明顯暗色，交線的寬度反映裂縫寬度；大的孔洞或洞穴則顯示明顯的暗點(diǎn)，暗點(diǎn)面積愈大孔洞愈大。3、判斷射孔質(zhì)量套管上的射孔孔眼成像為明顯的黑點(diǎn)，黑點(diǎn)面積反映孔眼的大小，黑點(diǎn)的分布反映孔眼組合方式，若黑點(diǎn)互相連接則表示射孔是套管破裂。根據(jù)孔眼深度、孔眼密度、孔眼清晰度及套管破裂情況，可評(píng)價(jià)射孔質(zhì)量。密度測(cè)井

密度測(cè)井（DEN)(RHOB)是用伽馬源發(fā)射的伽馬射線照射地層,根據(jù)康普頓效應(yīng)測(cè)量地層體積密度的測(cè)井方法。密度測(cè)井為居中測(cè)井，探測(cè)半徑約為13cm，因此，井眼影響較大。

地層常見(jiàn)礦物密度數(shù)石

英

2.648方解石

2.712白云石

2.876硬石膏

2.977石

膏

2.351鉀

鹽

1.863巖

鹽

2.032一、主要應(yīng)用1.確定巖性根據(jù)不同巖性所含礦物密度數(shù)的差異可以判斷巖性2.確定孔隙度根據(jù)巖石體積物理模型得：ρb=(1-Φ)ρma+Φρt其中ρb為含流體純巖石體積密度；ρma為骨架密度；Φ為孔隙度；ρt為孔隙流體密度

3.劃分裂縫帶和氣層根據(jù)體積密度的相對(duì)降低可以探測(cè)裂縫帶和氣層，但由于常用的補(bǔ)償密度測(cè)井可以屏蔽掉異常值，所以一般綜合聲速和中子聯(lián)合判斷。4.確定泥質(zhì)含量根據(jù)巖石體積密度于縱波時(shí)差交會(huì)圖可以計(jì)算泥質(zhì)含量。中子孔隙度測(cè)井中子孔隙度測(cè)井（CNL）（NPHI）是用點(diǎn)狀同位素中子源照射地層,用中子探測(cè)器測(cè)量熱中子或超熱中子記數(shù)率,并將記數(shù)率轉(zhuǎn)換為視石灰?guī)r孔隙度的一類中子測(cè)井法。中子孔隙度測(cè)井為貼井壁測(cè)井。一、含氫指數(shù)

熱中子和超熱中子計(jì)數(shù)率決定與地層的減速能力,也主要決定于地層含氫量。而巖石含氫量主要分布在流體中，因此熱中子和超熱中子主要與孔隙流體性質(zhì)有關(guān)。我們將任何物質(zhì)單位體積的氫核數(shù)與同樣體積淡水氫核數(shù)的比值，稱為該物質(zhì)的含氫指數(shù)。一般來(lái)說(shuō)液態(tài)烴的含氫指數(shù)與水相近，而天然氣的含氫指數(shù)很低。二、挖掘效應(yīng)

由于天然氣孔隙體積對(duì)中子的減速能力比石灰?guī)r骨架還低，將顯示為負(fù)的含氫指數(shù)。我們把油氣對(duì)中子孔隙度測(cè)井的影響稱為中子孔隙度測(cè)井的挖掘效應(yīng)。三、主要應(yīng)用

1.劃分巖性利用含氫指數(shù)不同可以判斷巖性，但需要和其他曲線配合判斷。2.計(jì)算孔隙度利用公式：ΦSNP=(1-Φ)ΦNma+ΦΦNfΦSNP為井壁中子孔隙度；ΦNma巖石骨架含氫指數(shù)。ΦNf孔隙流體含氫指數(shù)。一般中子密度測(cè)的是總孔隙度，而聲速測(cè)井主要測(cè)的是基質(zhì)孔隙，兩者之差為縫洞孔隙3.識(shí)別氣層因?yàn)闅鈱拥暮瑲渲笖?shù)較低，聯(lián)合密度測(cè)井可以判斷氣層。一般中子密度測(cè)的是總孔隙度，而聲速測(cè)井主要測(cè)的是基質(zhì)孔隙，兩者之差為縫洞孔隙3.識(shí)別氣層因?yàn)闅鈱拥暮瑲渲笖?shù)較低，聯(lián)合密度測(cè)井曲線可以判斷氣層。

側(cè)向測(cè)井

側(cè)向測(cè)井(laterolog)特點(diǎn)是在供電電極A上、下方各加了兩個(gè)同極性的電流屏蔽電極，使供電電流聚焦成薄板狀垂直流向地層，再1適當(dāng)發(fā)散然后流向回路電極B，因此，側(cè)向測(cè)井又叫聚焦測(cè)井，是目前在鹽水泥漿、高阻薄層地區(qū)或碳酸鹽巖地區(qū)廣泛使用的電阻率測(cè)井法。適用條件1.鹽水泥漿2.高阻薄層3.碳酸鹽巖地層

雙測(cè)向測(cè)井雙測(cè)向測(cè)井（dua