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集成電路課程設(shè)計(jì)第二章
CMOS集成電路設(shè)計(jì)中的基本概念1、原理圖2、版圖7/29/20232版圖設(shè)計(jì)(物理層設(shè)計(jì))硅芯片上的電阻?電容?電感?晶體管?連線(xiàn)?版圖設(shè)計(jì)的重要性:電路功能和性能的物理實(shí)現(xiàn);布局、布線(xiàn)方案決定著芯片正常工作、面積、速度;經(jīng)驗(yàn)很重要。版圖設(shè)計(jì)的目標(biāo):實(shí)現(xiàn)電路正確物理連接,芯片面積最小,性能優(yōu)化(連線(xiàn)總延遲最小)版圖設(shè)計(jì)包括:基本元器件版圖設(shè)計(jì);布局和布線(xiàn);版圖檢驗(yàn)與分析。7/29/20233N阱BBCMOS集成電路基本工藝流程P型襯底N阱700mm1.2mm200nm6.5nm0.35mm薄氧有源區(qū)GSDGSDcontactvia注:為形成反型層溝道,P襯底通常接電路的最低電位(vss/gnd)。N阱通常接最高電位(vdd)。P襯底N阱單poly工藝7/29/20234CMOS基本工藝中的層次P型襯底N阱導(dǎo)體:多晶硅、N+摻雜區(qū)、P+摻雜區(qū)、阱區(qū);各金屬層;半導(dǎo)體:絕緣介質(zhì):各介質(zhì)層(氧化硅,氮化硅);版圖設(shè)計(jì):充分利用各層特性來(lái)設(shè)計(jì)真實(shí)的元器件。7/29/20235硅芯片上的電子世界--電阻電阻:具有穩(wěn)定的導(dǎo)電能力(半導(dǎo)體、導(dǎo)體);薄膜電阻硅片厚度:百納米寬度:微米芯片上的電阻:薄膜電阻;7/29/20236能與CMOS工藝兼容的電阻主要有四種:擴(kuò)散電阻、多晶硅電阻、阱電阻、MOS電阻(1)多晶硅電阻最常用,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單。在場(chǎng)氧(非薄氧區(qū)域)。P型襯底電阻的版圖設(shè)計(jì)多晶硅電阻(poly)輔助標(biāo)志層:res_dum為什么電阻要做在場(chǎng)氧區(qū)?7/29/20237P型襯底(2)擴(kuò)散電阻在源漏擴(kuò)散時(shí)形成,有N+擴(kuò)散和P+擴(kuò)散電阻。在CMOSN阱工藝下,N+擴(kuò)散電阻是做在PSUB上,P+擴(kuò)散是在N阱里。P型襯底N阱N+擴(kuò)散電阻P+擴(kuò)散電阻P+接地PN結(jié)反型隔離N+接電源PN結(jié)反型隔離7/29/20238P型襯底(3)阱電阻阱電阻就是一N阱條,兩頭進(jìn)行N+擴(kuò)散以進(jìn)行接觸。N阱阱電阻(N-Well)7/29/20239(4)MOS電阻(有源電阻)利用MOS管的溝道電阻。所占的芯片面積要比其他電阻小的多,但它是一個(gè)非線(xiàn)性的電阻(電阻大小與端電壓有關(guān))。柵極連接漏極,MOS管始終處于飽和區(qū)。IDSVTPVVGSIO(b)IDSVTNVVGSIO(a)DSG+-IVDVSGI+-7/29/202310電阻版圖設(shè)計(jì)比例電阻的版圖結(jié)構(gòu)需5K,10K,15K電阻,采用5K單位電阻:各層阻值不同,且電阻有一定的溫度和電壓特性對(duì)稱(chēng)設(shè)計(jì)對(duì)稱(chēng)更好層次方阻(歐/方)金屬60mW/多晶硅幾~上千W/N+/P+diffusion5W/N-well1kW/蛇形,meanderDummyresistor,匹配鄰近效應(yīng)7/29/2023117/29/202312硅片幾十微米硅芯片上的電子世界--電容電容:一對(duì)電極中間夾一層電介質(zhì)的三明治結(jié)構(gòu);硅芯片上的薄膜電容:下電極:金屬或多晶硅氧化硅電介質(zhì)上電極:金屬或多晶硅7/29/202313兩層導(dǎo)體夾一層絕緣體形成平板電容金屬-金屬(多層金屬工藝,MIM)金屬-多晶硅多晶硅-多晶硅(雙層多晶硅工藝,PIP)金屬-擴(kuò)散區(qū)多晶硅-擴(kuò)散區(qū)PN結(jié)電容MOS電容:多晶硅柵極與溝道(源/漏極)7/29/202314比例電容的版圖結(jié)構(gòu)P型襯底C2=8C1平板電容輔助標(biāo)志層:cap_dum7/29/202315平板電容MIM結(jié)構(gòu),使用頂層金屬與其下一層金屬;下極板與襯底的寄生電容?。浑娙輩^(qū)的下方不要走線(xiàn);精度好;PIP、MIP結(jié)構(gòu),傳統(tǒng)結(jié)構(gòu);第n-1層金屬M(fèi)IM上電級(jí)第n層金屬鈍化層常見(jiàn)結(jié)構(gòu):MIM,PIP,MIP;7/29/202316多層平板電容(MIM)增加單位面積電容;精度高,匹配性好;側(cè)壁電容:?jiǎn)挝幻娣e電容值可比左邊的大;精度較高,匹配性較好;多層金屬制作的平板電容和側(cè)壁電容7/29/202317MOS電容n+n+p-typebodyWLtoxpolysilicongateVGVS利用柵氧電容;面積??;非線(xiàn)性;有極性。旁路電容。0VTHVGSCGS強(qiáng)反型累積區(qū)7/29/202318硅芯片上的電子世界--電感電感:纏繞的線(xiàn)圈;硅芯片上的薄膜電感:硅片幾十微米7/29/202319電感版圖設(shè)計(jì)單匝線(xiàn)圈多匝螺旋型線(xiàn)圈多匝直角型線(xiàn)圈平面上的螺旋設(shè)計(jì):直角螺旋電感的等效電路(忽略電阻時(shí))耦合電容是嚴(yán)重的寄生參量,高頻下可能使電感呈容性。7/29/202320關(guān)鍵尺寸與剖面圖D:邊長(zhǎng)/直徑diameterW:線(xiàn)條寬度widthS:線(xiàn)條間隔spacing
betweenN:匝數(shù)numberofturnsP-siliconSubstrateOxideViaM1M2M2M3WSDN常采用頂層金屬作為線(xiàn)圈,因?yàn)樗姆阶枳钚?;中心由下一層金屬(或多晶硅)引出?/29/202321硅芯片上的電子世界—晶體管二級(jí)管:pn結(jié)硅芯片上的二極管:P型襯底N阱7/29/202322CMOSN阱工藝中二極管結(jié)構(gòu)有兩種,一是psub-nwell,另一個(gè)是sp-nwellP型襯底N阱P+P+N+PNpsub-nwellDiode直接做在襯底上P型端為襯底電位(vss/gnd)P型襯底N阱N+N+P+NPsp-nwellDiode做在阱里7/29/202323硅芯片上的電子世界—晶體管三級(jí)管:pnp,npn硅芯片上的三極管:…….
P型襯底N阱P+P+N+7/29/202324P型襯底三極管的設(shè)計(jì)PNPN阱薄氧P+P+N+CMOS工藝下可以做雙極晶體管。以N阱工藝為例說(shuō)明PNP,NPN如何形成。VPNP垂直P(pán)NP注:由于P襯底接最低電位vss/gnd因此,VPNP集電極也必須接vss/gnd
。CBE7/29/202325三極管的設(shè)計(jì)LPNP橫向PNP7/29/202326P型襯底三極管的設(shè)計(jì)NPNN阱薄氧N+N+P+在基本N阱CMOS工藝的基礎(chǔ)上再加一道工序,即在源漏擴(kuò)散前加一摻雜的P型擴(kuò)散層BP,就可以制作縱向NPN管,即VNPN。BPCBEVNPN垂直NPN7/29/202327硅芯片上的電子世界—MOS管MOS管:金屬氧化物半導(dǎo)體硅芯片上的MOS管:幾十到幾百納米柵源漏基7/29/202328CMOS的設(shè)計(jì)注:為形成反型層溝道,P襯底通常接電路的最低電位(vss/gnd)。N阱通常接最高電位(vdd)。P襯底柵極漏極源極基極柵極nmos漏極源極基極pmos7/29/202329硅芯片上的電子世界—引線(xiàn)引線(xiàn):良好導(dǎo)電的線(xiàn);硅芯片上的導(dǎo)線(xiàn):鋁或銅薄膜;多晶硅薄膜。7/29/202330硅芯片上的電子世界—引線(xiàn)引線(xiàn):良好導(dǎo)電的線(xiàn);硅芯片上的導(dǎo)線(xiàn):鋁或銅薄膜;N阱P襯底淀積介質(zhì)層開(kāi)接觸孔淀積第一層金屬7/29/202331硅芯片上的電子世界—引線(xiàn)硅芯片上的導(dǎo)線(xiàn):鋁或銅薄膜;N阱P襯底淀積介質(zhì)層開(kāi)過(guò)孔淀積第二層金屬7/29/202332版圖:描述電子元件以及引線(xiàn)的形狀、位置層次化;方塊圖形;與芯片加工工藝密切相關(guān);芯片加工廠(chǎng)只需要版圖文件,不需要任何電路原理圖文件。7/29/202333如下的電路版圖設(shè)計(jì),每層的版圖圖形?CMOS標(biāo)準(zhǔn)工藝的主要層次與掩膜版N阱P襯底7/29/202334P襯底N阱Mask1Nwell7/29/202335P襯底N阱Mask1Nwell7/29/202336N阱P襯底二氧化硅隔離Mask2Oxide7/29/202337N阱P襯底二氧化硅隔離Mask2Oxide7/29/202338N阱P襯底MOS器件的柵極柵極電介質(zhì)層Mask3PolyG7/29/202339N阱P襯底MOS器件的柵極柵極電介質(zhì)層Mask3PolyG7/29/202340N阱P襯底N+Mask4nplusN+N+7/29/202341N阱P襯底N+Mask4nplusN+N+7/29/202342N阱P襯底P+N+漏極源極基極柵極Mask5pplusN+7/29/202343N阱P襯底P+N+漏極源極基極柵極Mask5pplusN+7/29/202344N阱P襯底Mask6contact7/29/202345N阱P襯底Mask6contact7/29/202346N阱P襯底Mask7met17/29/202347N阱P襯底Mask7met17/29/202348N阱P襯底Mask8via17/29/202349N阱P襯底Mask8via17/29/202350N阱P襯底Mask9met27/29/202351N阱P襯底Mask9met27/29/202352Mask10pad鈍化層開(kāi)焊盤(pán)孔7/29/202353Mask10pad鈍化層7/29/202354版圖設(shè)計(jì)電子設(shè)計(jì)+繪圖藝術(shù)仔細(xì)設(shè)計(jì),確保質(zhì)量7/29/202355MOS管的版圖設(shè)計(jì)溝道長(zhǎng)溝道寬當(dāng)多晶硅穿過(guò)有源區(qū)時(shí),就形成了一個(gè)管子。在圖中當(dāng)多晶硅穿過(guò)N型有源區(qū)時(shí),形成NMOS,當(dāng)多晶硅穿過(guò)P型有源區(qū)時(shí),形成PMOS。7/29/202356MOS管的版圖設(shè)計(jì)N型有源區(qū):P型有源區(qū):薄氧區(qū)(oxide,TO,active)+N擴(kuò)散區(qū)(Nimp,Ndiff)薄氧區(qū)+P擴(kuò)散區(qū)(Pimp,Pdiff)+N阱(Nwell)當(dāng)多晶硅穿過(guò)有源區(qū)時(shí),就形成了一個(gè)管子。在圖中當(dāng)多晶硅穿過(guò)N型有源區(qū)時(shí),形成NMOS,當(dāng)多晶硅穿過(guò)P型有源區(qū)時(shí),形成PMOS。7/29/202357大尺寸MOS管的版圖設(shè)計(jì)
大尺寸MOS管用于提供大電流或大功率的輸出,在集成電路的設(shè)計(jì)中使用非常廣泛。它們的版圖一般采用并聯(lián)晶體管結(jié)構(gòu)。3um0.6um管子溝道長(zhǎng):溝道寬:0.6um9um管子溝道長(zhǎng):溝道寬:0.6um12um7/29/202358一個(gè)寬溝道的MOS兩個(gè)短溝道的MOS折疊簡(jiǎn)單的充分接觸的MOS寄生電容減小1/2寄生電阻RG減小到1/47/29/202359漏區(qū)電容最小的“O”型晶體管7/29/202360靈活的版面設(shè)計(jì)7/29/202361看版圖畫(huà)原理圖:NWellInOutVDDGNDInOutvddgnd倒相器7/29/202362大寬長(zhǎng)比的非門(mén)7/29/202363OutAOutVDDGNDBAvddgndOutBvddPMOS并聯(lián)NMOS串聯(lián)Out=A?
B共用有源區(qū)7/29/202364VDDGNDAgndBvddgndOutOut=A?
B7/29/202365X=C?(A+B)CABvddgndXvddABXCgnd7/29/202366看下圖,它是什么器件,關(guān)鍵尺寸是多少?多晶硅薄氧4um25umN+金屬7/29/202367多晶硅
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