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文檔簡介

1、斷層解剖學,電子課件,顱腦連續(xù)橫斷層解剖,頭部斷層解剖學(二),橫斷層面分為上、中、下三部分。 上部為胼胝體干和尾狀核體出現(xiàn)以上的層面,大腦半球被大腦鐮分隔為左、右兩部分,以中央溝和頂枕溝將端腦斷面分為額葉、頂葉和枕葉;,中部為基底核區(qū)和腦室等所在的層面,由胼胝體等連合纖維將左、右側大腦半球連成一整體,不同層面的中央區(qū)之間的差異主要為基底核區(qū)、側腦室和第三腦室等的位置、形態(tài)的變化,層面周邊以中央溝和外側溝將端腦分為額葉、頂葉和顳葉;,下部是自鞍上池以下的層面,腦組織被大腦外側窩池和小腦幕等分為數(shù)塊,隨層面下移則腦組織逐漸縮少,不同層面的中央區(qū)之間的差異主要為腦池、腦干和第四腦室等的位置、形態(tài)的

2、變化。,3. 經頂枕溝上份的顱腦橫斷層解剖特點 首現(xiàn)斷面:額上溝、額中回、扣帶溝和回、頂下溝、楔葉; 中線及內側面結構:上矢狀竇、大腦鐮及大腦縱裂池、額內側回、中央旁小葉、扣帶溝、扣帶回、頂下溝、楔前葉、頂枕溝和楔葉; 外側面結構:額上回、額上溝、額 中回、中央前溝、中央前回、中央溝、 中央后回、中央后溝、頂下小葉; 影像解剖學特征:頂內溝的變化較 大,但多起自中央后溝;頂內溝與大 腦半球上緣平行且彎向后方;頂內溝 將頂葉分為頂上小葉和頂下小葉,也 是語言區(qū)即Wernicke區(qū)的上界。,4. 經頂枕溝中份的顱腦橫斷層解剖特點 斷面變化:中央旁小葉消失,顳肌斷面出現(xiàn); 中線及內側面結構:額內側回

3、、扣帶溝、扣帶回、頂下溝、楔前葉、頂枕溝和楔葉; 外側面結構:額上回、額上溝、額中回、中央前溝、中央前回、中央溝、中央后回、中央后溝、頂下小葉; 影像解剖學特征:髓質連成片狀, 腦溝移向四周且縮短;中央旁小葉 消失,尚可見起自中央后溝的頂內溝; 頂枕溝呈直線或S形走行,多于距 狀溝前、中1/3交界處與距狀溝匯合, 如兩溝分離則期間常有一過渡腦回存 在。,5. 經半卵圓中心的顱腦橫斷層解剖特點 首現(xiàn)斷面:頂內溝消失,半卵圓中心及緣上回斷面出現(xiàn); 中線及內側面結構:額內側回、扣帶溝、扣帶回、頂下溝、楔前葉、頂枕溝和楔葉; 外側面結構:額上回、額上溝、額中回、中央前溝、中央前回、中央溝、中央后回、中

4、央后溝、緣上回和頂下小葉; 影像解剖學特征:大腦髓質增至最 大,大致呈卵圓形;半卵圓中心在CT 圖像上呈低密度暗區(qū),MRI T1加權像上 呈高信號亮區(qū);腦內脫髓鞘病變,如 多發(fā)性硬化、腎上腺腦白質營養(yǎng)不良和 腦結節(jié)硬化癥等,常在該區(qū)出現(xiàn)單發(fā)或 多發(fā)病灶。,6. 經胼胝體干部的顱腦橫斷層解剖特點 首現(xiàn)斷面:半卵圓中心及頂下溝消失,額下回、胼胝體、側腦室、角回、外側溝斷面出現(xiàn); 中線及內側面結構:額內側回、扣帶溝及回(胼胝體干額鉗之前);扣帶回峽、距狀溝前部、舌回、距狀溝后部和楔葉(胼胝體枕鉗之后); 外側面結構:額上回、額上溝、額中回、額下溝、額下回、中央前溝、中央前回、中央溝、中央后回、外側溝

5、、緣上回、角回和枕外側回; 影像解剖學特征:胼胝體干出現(xiàn)于層面中央,呈X形,并向前外、后外分別延伸形成額鉗和枕鉗;側腦室位于胼胝體干外側,其前外側的灰質團塊為尾狀核;中線上的大腦鐮被分為前后兩部分,近顱骨處有上矢狀竇,后部大腦鐮的前方有大腦大靜脈池及其后的下矢狀竇;一般情況下,外側溝后支與側腦室在橫斷層面上同時出現(xiàn),故側腦室的出現(xiàn)是識別外側溝后支的標志;緣上回包繞外側溝后支末端,角回包繞于顳上溝末端,故外側溝后支是識別緣上回和角回的解剖標志。,18,1,2,3,4,5,6,7,8,10,11,12,13,14,15,16,17,19,20,7. 經胼胝體壓部的顱腦橫斷層解剖特點 首現(xiàn)斷面:緣上

6、回和楔葉消失,內囊、第三腦室、透明腔、穹窿、禽距和島葉的斷面出現(xiàn); 中線及內側面結構:大腦鐮、額內側回、扣帶溝和回、胼胝體膝、透明隔、穹窿、第三腦室、帆間池、胼胝體壓部、大腦大靜脈池、直竇、距狀溝、舌回和楔葉; 外側面結構:額上回、額上溝、額中回、額下溝、額下回、中央前回、中央溝、中央后回、外側溝、顳橫回、顳上回、顳上溝、顳中回和枕葉; 深面結構:尾狀核頭、側腦室前角、內囊、豆狀核、外囊、屏狀核、最外囊、島葉皮質、背側丘腦、側腦室后角、禽距和尾狀核尾。,影像解剖學特征:第三腦室:呈正中矢狀位,后方的三角形腔隙為帆間池,前方有透明隔和穹窿,兩側灰質團塊為背側丘腦;內囊和基底核:背側丘腦與豆狀核和

7、尾狀核之間為內囊,豆狀核與屏狀核之間為外囊,屏狀核與島葉皮質之間為最外囊;側腦室:在胼胝體膝后方,與尾狀核頭、透明隔和穹窿間的腔隙為側腦室前角,向后經室間孔與第三腦室相通;在胼胝體壓部的兩側,有側腦室后角,其內側可見隆起的禽距;距狀溝:自胼胝體壓部下方向后走向枕極,深1.5-2.0cm,以頂枕溝與其匯合點為界分為前、后兩部分;距狀溝前部的位置及形態(tài)較恒定;距狀溝前部推頂腦回突入側腦室后角形成一隆起的禽距,因此,側腦室后角內側壁上的禽距是識別距狀溝的重要標志。,8. 經上丘和前連合的顱腦橫斷層解剖特點 首現(xiàn)斷面:角回、距狀溝、禽距及帆間池消失,小腦幕、上丘、海馬、側副隆起和內、外側膝狀體的斷面出

8、現(xiàn); 中線、內側面及底面結構:大腦鐮、額內側回、扣帶溝和回、胼胝體膝、透明隔、穹窿、丘腦間粘合、第三腦室、上丘、小腦、直竇、竇匯、海馬旁回、側副溝、枕顳內側回、枕顳溝、枕顳外側回; 外側面結構:額上回、額上溝、額中回、額下溝、額下回、外側溝、顳上回、顳上溝、顳中回、顳下溝、顳下回; 深面結構:基底節(jié)、內囊、外囊、最外囊、島葉皮質、背側丘腦、側腦室前角和后角、側副隆起、內外側膝狀體等。 影像解剖學特征:海馬、尾狀核尾及側副隆起:側腦室下角前外側壁的灰質團塊為尾狀核尾,內側有海馬溝推頂腦回形成的海馬;后壁上有側副溝推頂腦回形成的側副隆起;小腦及小腦幕:上丘的后方有呈“八”形的小腦幕,其間為小腦蚓的

9、上部;竇匯:枕骨的前方為竇匯,竇匯與小腦之間為直竇;島葉皮質:自前向后分為額蓋(運動性語言中樞)、頂蓋(軀體運動和感覺中樞)和顳蓋(多為緣上回,聽覺性語言中樞)。,5,1,3,4,6,7,8,9,10,11,12,13,14,15,16,17,18,19,20,9. 經下丘的顱腦橫斷層解剖特點 首現(xiàn)斷面:內囊、胼胝體、透明隔、上丘及側副隆起消失,小腦半球、中腦水管、下丘、紅核、黑質、杏仁體的斷面出現(xiàn); 中線、內側面及底面結構:大腦鐮、額內側回、扣帶溝和回、大腦前動脈、第三腦室、中腦水管、四疊體池、小腦幕、小腦蚓部、竇匯、小腦幕、海馬旁回、側副溝、枕顳內側回、枕顳溝、枕顳外側回; 外側面結構:額

10、上回、額上溝、額中回、額下溝、額下回、外側溝、顳上回、顳上溝、顳中回、顳下溝、顳下回; 深面結構:基底節(jié)、外囊、最外囊、島葉皮質、背側丘腦、側腦室前角和后角、側副隆起、內外側膝狀體等。 影像學特征:中腦斷面:位于斷層中央,自前向后分為大腦腳底、黑質、中腦被蓋和頂蓋;腦池:下丘腦后方為四疊體池,向兩側環(huán)繞中腦與環(huán)池相續(xù);外側溝呈“”形,內有大腦外側窩池(側裂池)和大腦中動脈;外側溝:由一干五支組成。外側溝干起自前穿質,經額葉眶面與顳極之間向外側延伸,達大腦半球上外側面分為前支、升支和后支;前支和升支連成、或形向上深入額下回。后支向后上走行分為后升支和后降支;后升支終于緣上回,后降支升入顳上回。,

11、10. 經小腦上腳的顱腦橫斷層解剖特點 首現(xiàn)斷面:第三腦室、中腦、下丘、殼和尾狀核頭消失,鞍上池、視交叉、腦橋、小腦上腳和第四腦室的斷面出現(xiàn); 影像學特征:層面內的結構分四部分,即外側溝前方的額葉:外側面額葉可見額上回、額中回、額下回和額內側回;在底面,額葉被中間的嗅束溝分為內側的直回和外側的眶回。外側溝與小腦幕之間為顳葉:顳葉外側面自前而后為顳上回、顳中回和顳下回;顳葉內的腔隙為側腦室下角,其前內側的灰質團塊為杏仁體,內側卷曲的結構是海馬。兩側小腦幕之間為腦橋和小腦:腦橋經小腦上角與后方的小腦相連,小腦由小腦半球和小腦蚓組成。小腦髓質內較大的灰質團塊為齒狀核。額葉、顳葉和腦橋之間的空隙為鞍上池:鞍上池呈五角形,由交叉池和橋池組成。內有視交叉(視束)、下丘

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