壓敏電阻IEEE標(biāo)準(zhǔn)

1、 ansi/ieee c62.33-1982 (ieee 1988年重定) (ansi 1989年重定)美國國家標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于浪涌保護(hù)器壓敏電阻ieee標(biāo)準(zhǔn)測試規(guī)范發(fā)起者浪涌保護(hù)器委員會ieee電源工程協(xié)會1981年9月17日批準(zhǔn)1988年3月10日重定1994年3月17日重定ieee 標(biāo)準(zhǔn)版1983年7月1日批準(zhǔn)1988年3月10日重定美國國家標(biāo)準(zhǔn)機(jī)構(gòu)版權(quán)所有1982年條款 頁數(shù)1. 范圍11.111.211.3.11.4.12.在定義壓敏電阻里術(shù)語和字母符號的描述2.1額定參數(shù)值 .22.2 描述.22.3 基本描述.33.工作條件.53.1 正常工作條件.53.2 非正常工作條件.64. 標(biāo)準(zhǔn)

2、設(shè)計(jì)測試程序.74.1 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)測試標(biāo)準(zhǔn) .74.2 統(tǒng)計(jì)程序74.3 測試標(biāo)準(zhǔn)74.4 限制電壓測試（vc）(見 fig3)74.5 額定峰值單次脈沖瞬時(shí)電流測試（itm）(見圖4).84.6 壽命額定脈沖電流測試（見圖3）.84.7 額定有效值電壓測試（vm(ac)）(見圖5)，額定直流電壓測試（vm(dc)）.104.8 直流功耗電流測試（id）（見圖6）104.9 標(biāo)稱壓敏電壓測試（vn(dc)）和（vn(ac)）（見圖6）.114.10 額定循環(huán)峰值電壓測試（vpm）(見圖5).124.11 電容測試.124.12 交流功耗功率（pd）.125. 失效模式.12短路電路失效模式.12

3、降級失效模式.13高限制電壓失效模式.13“失效-安全”工作.136. 其他參數(shù).13額定瞬變能量.14額定瞬時(shí)平均功率泄放（pt(a v)m）.14電壓過沖擊（vos）(見圖8).15響應(yīng)時(shí)間，過沖持續(xù)時(shí)間（見圖8）.157. 參考書目.151. 總則1.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)適用于浪涌保護(hù)應(yīng)用系統(tǒng)的壓敏電阻，該系統(tǒng)具有從直流到頻率420hz、電壓小于等于1000vrms，或者1200v dc。此標(biāo)準(zhǔn)包含的定義、工作條件和一系列測試準(zhǔn)則用于測定這些壓敏電阻的特性參數(shù)。假如這些參數(shù)隨道導(dǎo)通的方向不同而不同時(shí)，那么就要在正反兩極性條件下測定這些參數(shù)。ansi/ieee c62.1-1984 里覆蓋的避雷器是

4、不在這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)里的。1.2在這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)里的測試旨在和ansi/ieee std100-1984（3）定義的設(shè)計(jì)測試一樣，并提供一種在各種浪涌保護(hù)裝置間比較的方式。1.3壓敏電阻浪涌保護(hù)裝置用于在電氣線路里提供瞬時(shí)過壓保護(hù)。ansi/ieee std100-1984（3）中定義的壓敏電阻，是具有非線性電壓-電流特性的裝置。尤其是，這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)適用于這樣的裝置，這個(gè)裝置在電流增加時(shí)電壓幾乎沒有什么變化。因?yàn)殡S著電壓的增加這個(gè)裝置的阻抗降低，在浪涌發(fā)生的前后，它提供相對低的阻抗通道給浪涌電壓和在正常系統(tǒng)電壓時(shí)相對高的阻抗。在這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)中的定義和準(zhǔn)則提供給用戶和生產(chǎn)浪涌保護(hù)壓敏電阻裝置的廠商一種通用的工程受益的

5、語言。1.4由于這里描述的大多數(shù)測試采用的電壓和能量等級，所有測試都要考慮到危險(xiǎn)性和在左試驗(yàn)的時(shí)候應(yīng)特別注意。2. 術(shù)語的描述和在定義壓敏電阻的字母符號2.1額定參數(shù)值此標(biāo)準(zhǔn)的目的是，廠商根據(jù)在4.2指出的統(tǒng)計(jì)接受準(zhǔn)則建立額定的參數(shù)值。2.2描述這部分的描述適用于具有有對稱的或非對稱v-i 特性曲線壓敏電阻。假如v-i 特性隨著導(dǎo)通的方向不同而不同的話，那么他們就是非對稱的并且對每個(gè)方向都要核實(shí)它的特性值。圖1表示了術(shù)語之間的關(guān)系。一些術(shù)語是基于脈沖響應(yīng)特性的。對于定義脈沖波形的方法見ansi/ieee std 4-1978和這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的圖2. vx=壓敏電壓ix vn（dc）=標(biāo)稱壓敏電壓指定

6、電流in（dc） vc=壓敏電阻的限制電壓峰值電流ip vpm =對于指定波形的峰值電壓最大值 vm（dc）=施加的直流電壓的最大值 圖1- 圖表說明符號和定義 （a）線性坐標(biāo)（沒有縮放） （b）對數(shù)坐標(biāo)（典型）o1=波形實(shí)際原點(diǎn) t=從峰值的10%到90%的時(shí)間 t1=實(shí)際的波前時(shí)間=1.25*t t2=實(shí)際時(shí)間到半波峰值時(shí)間（脈沖持續(xù)時(shí)間）例如：對于8/20s電流波形：8s= t1=實(shí)際波前時(shí)間20s= t2=實(shí)際時(shí)間到半波峰值時(shí)間注意：（1）這個(gè)波形時(shí)針對電流波形的。在ansi/ieee std 4-1978（2）中定義的電壓波形時(shí)不同的。 （2）對于詳細(xì)的波形誤差和失真見ansi/ie

7、ee std 4-1978（2）. 圖2 沖擊電流波形2.3基本描述2.3.1部分到2.3.6給出了術(shù)語的描述和用來定義壓敏電阻的字母符號，和最少的必需用來表征這個(gè)裝置的描述。術(shù)語和描述 符號 參考2.3.1限制電壓.：指定波形和沖擊電流跨接在 vc 看4.4 和圖3 壓敏電阻上測量得到的峰值電壓2.3.2額定峰值單次脈沖瞬時(shí)電流（壓敏電阻）施加8/20波形脈沖，也施加額定線電壓，沒有促使 itm 看4.5和圖4裝置失效的最大峰值電流2.3.3壽命額定脈沖電流（壓敏電阻）對于脈沖持續(xù)時(shí)間超過8/20波形時(shí)間，itm的降級 - 看4.6和圖3值且對于應(yīng)用多重脈沖可能超過該裝置的額定壽命2.3.4

8、額定有效電壓（壓敏電阻） vm（ac） 看4.7和圖5施加的最大持續(xù)正旋有效電壓2.3.5額定直流電壓（壓敏電阻） vm（dc） 看4.7和圖5施加的最大持續(xù)直流電壓2.3.6直流功耗電流（壓敏電阻）在額定電壓vm（dc）下的壓敏電阻的電流 id 看4.8和圖62.4附加描述. 對于某種應(yīng)用，下列術(shù)語可能有用.2.4.1標(biāo)稱壓敏電壓. 在指定脈沖直流電流，in（dc）和指定耐受時(shí)間下測量壓敏電阻兩端的電壓。in（dc） vn（dc） 看4.9，5.2和圖6in（dc）由壓敏電阻廠商指定 . 2.4.2峰值標(biāo)稱壓敏電壓在. 在指定峰值交流電流， vn（ac）和指定耐受時(shí)間下測量壓敏電阻兩端的電壓

9、。vn（ac） vn（ac） 看4.9和圖6in（dc）由壓敏電阻廠商指定 . 2.4.3 額定循環(huán)峰值電壓（壓敏電阻）.對于一個(gè)指定的負(fù)載周期和波形，施加的最大循環(huán)峰 vpm 看4.10和圖5值電壓. 2.4.4 額定單次脈沖瞬時(shí)能量（壓敏電阻）.對于一個(gè)單次最大脈沖額定電流在指定波形和施加額定 wtm 通過評價(jià)，看圖6.2 有效電壓或額定直流電壓沒有促使裝置失效的能量功率. 2.4.5 額定瞬時(shí)平均功率瀉放（壓敏電阻）對于一個(gè)單次最大脈沖額定電流在指定波形和施加額定 pt（av）m 通過評價(jià)，看圖6.2 有效電壓或額定直流電壓沒有促使裝置失效的最大平均瀉放功率.2.4.6壓敏電阻的電壓.

10、在給定電流ix下測量 vx 看圖1壓敏電阻的電壓. 術(shù)語和描述 符號 參考2.4.7電壓限制比率（壓敏電阻）.測量壓敏電阻限制的 vc/vpm 由計(jì)算得出效果的一個(gè)品質(zhì)特征，由符號vc/vm（dc），vc/vm（dc）定義2.4.8 非線性指數(shù).在兩個(gè)給定的工作電流i1和i2之間測量壓敏電阻的非線性，由i=kv，這里的k是常數(shù)， 由計(jì)算得出i1ii2,并且=（logi2/i1）/（logv2/v1）2.4.9 動態(tài)阻抗（壓敏電阻）在指定的工作點(diǎn)上測量一個(gè) zx 由計(jì)算得出小的信號阻抗，由下定義:zx=(dvx)/(dix)2.4.10電阻值（壓敏電阻）壓敏電阻在給定工作點(diǎn)的靜態(tài) rx 由計(jì)算得

11、出 電阻，由下定義：rx=(dvx)/(dix)2.4.11電容（壓敏電阻）在指定頻率和偏置電壓下壓敏電 c 見4.11阻兩端測得的電容.2.4.11交流耗散功率（壓敏電阻）在額定有效值電壓vm（ac） pd 見4.12和圖7下壓敏電阻功率瀉放的測量。2.4.13 電壓過沖擊（壓敏電阻）.當(dāng)施加波前持續(xù)時(shí)間低于8s的電流波形時(shí)超出裝置的限制電壓的那部分電壓。這個(gè)電壓可以 vos 見6.3和圖8定義用限制電壓vc的a%來表示。（對于8/20s波形）2.4.14響應(yīng)時(shí)間（壓敏電阻）.在波形超出限制電壓水平和電壓過沖擊峰值之間的點(diǎn)的時(shí)間。這個(gè)定義的目的是， 用同樣峰值電流幅值的8/20波形定義限制電

12、壓作為這個(gè)響應(yīng)時(shí)間 - - 見6.4和圖8定義的使用波形。 2.4.15過沖擊持續(xù)時(shí)間（壓敏電阻）.在波形超出限制電壓水平（vc）點(diǎn)和電壓過沖擊下降到峰值的50%點(diǎn)之間的時(shí)間。對于定義的目的是，用同樣峰值電流幅值的8/20波形定義限制電壓作為過 - -沖擊持續(xù)時(shí)間的使用波形。3. 工作條件3.1正常工作條件沒有特別要求，下列項(xiàng)目應(yīng)該由廠家指定。3.1.1環(huán)境條件（1） 工作和存儲溫度范圍（2） 海拔或空氣壓力（3） 濕度（4） 機(jī)械振動和沖擊3.1.2 壓敏電阻無力特性（1）耐溶解性（2）焊接性能（3）可燃性（4）過載時(shí)包裝破裂3.1.3 系統(tǒng)條件（1） 標(biāo)稱系統(tǒng)頻率（2） 最大持續(xù)系統(tǒng)電壓3

13、.1.4 在系統(tǒng)條件下的浪涌值（1） 峰值單次瞬時(shí)電流（itm）(2 ) 壽命額定沖擊電流（3） 額定單次沖擊瞬時(shí)能量（wtm）（4） 額定瞬時(shí)平均功率瀉放（pt(av)m）3.2非正常工作條件下列工作條件在設(shè)計(jì)上或者壓敏電阻應(yīng)用上可能需要特別考慮，應(yīng)該引起廠商的注意。3.2.1環(huán)境條件1） 環(huán)境溫度超過標(biāo)準(zhǔn)工作條件2） 海拔超過廠商規(guī)定3） 暴露于下列情況a) 有害煙霧或水汽b) 過量灰塵或水流傳到累積；過分漕濕，水汽和滴水，水流或者鹽噴；爆炸性氣體；不正常振動或沖擊c) 輻射4） 非正常運(yùn)輸或儲存條件5） 嚴(yán)重可燃3.2.2物理?xiàng)l件在空間或重量上的限制，包括傳導(dǎo)物體的清晰，尤其是海拔超過廠

14、商指定的。3.2.3系統(tǒng)條件1） 系統(tǒng)電壓，電流或工頻條件超過裝置的值（看section 5 失效模式）2） 系統(tǒng)浪涌電流超過裝置的值（看section 5 失效模式）3） 任何其他用戶已知的非正常條件4. 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)測試程序4.1標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)測試準(zhǔn)則在4.4到4.12 描述的設(shè)計(jì)測試為簡單觀察壓敏電阻裝置的特定屬性提供標(biāo)準(zhǔn)化的方法。裝置和裝置的不同，這些屬性可能不同，因此有必要提供統(tǒng)計(jì)的屬性描述以便比較產(chǎn)品。4.2統(tǒng)計(jì)程序應(yīng)使用下列程序來描述任何屬性，這些測定的屬性有重要的統(tǒng)計(jì)方面。選擇產(chǎn)品樣品應(yīng)采用和設(shè)計(jì)的測試定義一致，測試時(shí)由ansi/ieee std 100-1977（3）提供。測試足夠多數(shù)

15、量裝置，并且按照在適用的設(shè)計(jì)測試中的描述測量有疑問的特性參數(shù)值，直到測定下面的統(tǒng)計(jì)分布參數(shù)在廠家指定的信心限度內(nèi)。相關(guān)的產(chǎn)品樣品值（沒有限定）諸如意思，中值，最大最小值和標(biāo)準(zhǔn)偏差能被陳述出。4.3測試條件4.4到4.12的測試應(yīng)該按要求在裝置上進(jìn)行。沒有特別指定，環(huán)境測試條件應(yīng)該如下：溫度255相對濕度：小于85%海拔：低于2000m（6562）4.4限制電壓測試4.4.1這個(gè)測試的目的是在通過浪涌電流時(shí)測定壓敏電阻提供的電壓保護(hù)。限制電壓應(yīng)該是在脈沖波形8/20us電流，指定峰值下測量的。線路在功能上等效于圖3。沒有特別指定這個(gè)裝置在兩極上都要測試。 r3 =電流傳感電阻cro=觀察電流和電

16、壓的示波鏡vut=測試下的壓敏電阻注意：對于大電流高頻率測試中測量技術(shù)應(yīng)該注意到，諸如卡爾文連接（四點(diǎn)探頭）和短引腳.p1 =充電網(wǎng)絡(luò)或電源s1 =充電開關(guān)s2 =沖擊放電開關(guān) l =沖擊整形電感 c =沖擊發(fā)生器電容 r1=沖擊整形電阻 r2=沖擊整形和限流電阻 圖3-限制電壓的測試電路4.4.2為了建立電壓-電流特性曲線圖，限制電壓應(yīng)該在兩個(gè)電流等級下測量。這兩等級應(yīng)該一個(gè)中間值和一個(gè)是很高值，參照額定浪涌電流容量。（4.9每段中的標(biāo)稱壓敏電壓的測量提供一個(gè)低電流觀察點(diǎn)）沒有指定要求對于中間等級測試，使用的峰值電流測試建議的范圍為5a-300a。對于高等級測試限制電壓的測量，在壽命額定沖擊

17、電流測試期間限制電壓的測量建議使用表1中的對應(yīng)兩種脈沖條件的電流 ，和8/20us測試波形的這種脈沖在正負(fù)兩級性上都要施加。對于特別的應(yīng)用，可以指定其他測試波形。4.5 額定峰值單次脈沖瞬時(shí)電流測試（itm）(見圖4)4.5.1這個(gè)測試的目的是證實(shí)壓敏電阻在額定通流量下當(dāng)受到單次浪涌，它的設(shè)計(jì)符合可靠性的統(tǒng)計(jì)表達(dá)水平。采用失效準(zhǔn)則章節(jié)5。4.5.2對于每種極性在額定峰值幅度下壓敏電阻受到一個(gè)8/20s電流脈沖沖擊。合適的額定電壓vm(ac)或vm(dc) 應(yīng)該在沖擊前持續(xù)施加最少兩秒和沖擊后最少30秒后。4.6壽命額定脈沖電流測試（見圖3）4.6.1這個(gè)測試的目的是為了證實(shí)，當(dāng)受到復(fù)合脈沖或不

18、同波形，或兩者，相對應(yīng)于廠家指定的任何壽命額定沖擊電流，一個(gè)壓敏電阻的設(shè)計(jì)滿足可靠性的統(tǒng)計(jì)表達(dá)水平。沒有特殊要求，測試采用推薦的表1 列舉的沖擊次數(shù)和波形。章節(jié)5失效準(zhǔn)則應(yīng)該在每組多次沖擊測試的總結(jié)下應(yīng)用。4.6.2對于每種電流水平和測試的波形都應(yīng)該采用新的樣品來完成表1。沒有特殊要求，應(yīng)該施加正反極性方向交互式的浪涌。在脈沖之間的時(shí)間段應(yīng)該選擇以便不超過在2.4.5 定義下裝置的瞬時(shí)平均功率瀉放值。這些測試（不包括itm）不要求應(yīng)用線電壓。p1 =充電網(wǎng)絡(luò)或電源s1 =充電開關(guān)s2 =沖擊放電開關(guān) l =沖擊整形電感 c =沖擊發(fā)生器電容 r1=沖擊整形電阻 r2=沖擊整形和限流電阻 r3=

19、電流感應(yīng)分流cro=觀察電流和電壓的示波鏡vut=測試下的壓敏電阻p2= vm（ac）或vm（dc）獨(dú)立源l2=低通濾波電感（見注2和3）注：（1）對于大電流高頻率測試中測量技術(shù)應(yīng)該注意到，諸如卡爾文連接（四點(diǎn)探頭）和短引腳.（2）短路時(shí)p2和l2 串聯(lián)應(yīng)能傳送最小0.5a.（3）l2的值有很高的阻抗能夠使浪涌和電源p2分開.圖4 確定額定峰值單次脈沖瞬時(shí)電流（itm）的測試電路 p1=已整流的ac，dc，vpm電源 fu=熔斷絲 vut=測試下的壓敏電壓圖5-確定額定有效值，dc和峰值電壓（vm（ac），vm（dc），vpm）的測試電路4.7額定有效電壓測試（vm(ac)）見圖5，額定直流電

20、壓測試（vm(ac)）見圖5壓敏電阻的額定有效電壓或直流電壓是建立在裝置的有限壽命基礎(chǔ)上，如章5定義。對于最大的環(huán)境溫度，期望在這個(gè)溫度下這個(gè)裝置工作的失效模式，實(shí)際的考慮規(guī)定通過在更高的溫度下施加全部的額定電壓以加速這個(gè)測試。沒有簡單的測試能夠測定電壓值，考慮裝置的期望壽命，期望環(huán)境溫度，高能量脈沖沖擊和壽命終結(jié)（失效）準(zhǔn)則的選擇。這些考慮在廠家和用戶應(yīng)用工程功能領(lǐng)域內(nèi)。為了說明這個(gè)評估的過程，下列程序典型的描述參考圖5. 電源（交流和直流取決于應(yīng)用）必須接近整流（2%最大值），同時(shí)測試箱的溫度（3）。在測試期間假如升高溫度以加速測試到發(fā)生崩潰（失效）時(shí)，建議給壓敏電阻使用熔斷裝置。壓敏電阻

21、特性的初始讀出數(shù)值，特別是壓敏電阻標(biāo)稱電壓，應(yīng)和在設(shè)置間隔測試后相比較，例如，168，500和1000小時(shí)。裝置在控制室溫（255）下，做出初始的和中間的讀出數(shù)值。沒有特殊要求，這些測試推薦環(huán)境溫度85，持續(xù)時(shí)間1000小時(shí)。4.8 直流功耗電流測試（id）壓敏電阻應(yīng)該用電路在功能上等效于圖6的電路。一個(gè)好的整流直流電源是有必要的。在施加電壓（vm(dc)）最大10ms后電流應(yīng)該測量。這個(gè)時(shí)間延遲允許導(dǎo)通穩(wěn)定以后的接近長時(shí)間直流值。沒有個(gè)別指定這個(gè)裝置應(yīng)該使用正反兩極性測試。4.9 標(biāo)稱壓敏電壓測試（vn（dc） 和 vn（ac）見圖64.9.1壓敏電阻測試應(yīng)該使用已知或測量過的直流或交流源。

22、施加的時(shí)間在10ms和10s之間，或者足夠的持續(xù)時(shí)間和上升時(shí)間以致壓敏電壓在10s 值的2%。采用在功能上線路等效于圖6. 沒有個(gè)別指定這個(gè)裝置應(yīng)該使用正反兩極性測試.4.9.2假如需要交流測試，峰值標(biāo)稱壓敏電壓，vn（ac），應(yīng)使用頻率50-60hz的正弦電壓源測量。采用電路在功能上等效于圖6.4.10 額定循環(huán)峰值電壓測試（vpm）（見圖5）壓敏循環(huán)峰值電壓值和非正弦應(yīng)用電壓有關(guān)。4.7描述的評估過程是可適用的，除此以外正弦電源將應(yīng)該用指定的波形來代替。 p1=可調(diào)整地dc電源（如果是ac測試則采用ac電源） r1=模擬電流源達(dá)到足夠大的值（例如，100k in（dc）=1.0ma） r2

23、=模擬電壓源達(dá)到足夠大的值（例如，10k id=10a） 圖6-dc功耗電流和標(biāo)稱電流和標(biāo)稱壓敏電阻電壓測試（id，vn（dc）, vn（dc）的測試電路 p1=60hz電源可變電壓 注：有關(guān)功率表參數(shù)信息看4.12 vut=測試下的壓敏電阻 圖7-交流功耗功率（pd）的測試電路4.11 電容測試在指定的頻率和偏置電壓下測試電容。注意沒有相關(guān)特殊應(yīng)用的要求，這個(gè)測試建議用1.0 mhz的頻率和偏置電壓為零。信號水平應(yīng)該是這樣，加倍幅值變化不要多于5%。4.12 交流功耗功率（pd）（見圖7）壓敏電阻測試應(yīng)該使用在功能上電路等效于圖7. 壓敏電阻在它的額定有效電壓vm(ac)下測試。vm(ac)

24、的精度應(yīng)該在2%。使用的瓦特計(jì)應(yīng)該隨非正弦電流的平方準(zhǔn)確的工作。壓敏電阻必須保持在測試下直到它達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)。測試結(jié)果取決于環(huán)境溫度和在壓敏電阻周圍的空氣循環(huán)。必須注意對于這測試要創(chuàng)造相同的期望的條件。5 失效模式?jīng)]有特殊要求，建議使用下列準(zhǔn)則。在此裝置溫度回到255后，測定失效的測試應(yīng)該進(jìn)行.5.1 短路失效模式在這個(gè)模式里，此裝置電阻在1v dc下永久減少并低于100.5.2 降級失效模式在這個(gè)模式里，裝置的壓敏電壓低于測試前的90%。 注意因?yàn)槭褂脴?biāo)稱壓敏電壓作為失效的準(zhǔn)則，選擇電流密度在這個(gè)電流密度下進(jìn)行的這個(gè)測試會影響失效評估的結(jié)果。另外，對于選擇的電流密度減少，降級失效模式準(zhǔn)則的靈敏

25、度也增加。對于電流密度推薦典型的值是1ma/cm2.5.3 高的限制電壓失效模式在這個(gè)模式里，裝置的限制電壓高于測試前的限制電壓的120%（在中等電流值）.5.4 “失效-安全”工作使用“失效-安全”來描述壓敏電阻的失效模式因?yàn)橄铝性蛄钊藲怵H的：裝置的失效會發(fā)生在以上描述的任何模式下。一些用戶可能考慮對于此裝置大部分期望的模式是仍具有保護(hù)功能；例如，在短路失效模式失敗后。然后，其他用戶的系統(tǒng)目標(biāo)能要求單個(gè)裝置應(yīng)該在高限制失效模式下失效以便獲得系統(tǒng)描述的性能。這樣，當(dāng)很多用戶考慮“失效-安全”時(shí)，短路模式失效實(shí)際可能和其他用戶的期望（安全）模式相反。因而，這個(gè)推薦的實(shí)驗(yàn)是來描述5.1到5.3定

26、義的失效模式其中之一。6. 其他參數(shù) 6.1 額定瞬時(shí)能量當(dāng)產(chǎn)品實(shí)時(shí)處理或波形的連續(xù)數(shù)字化或加倍時(shí)，在一個(gè)脈沖期間能量瀉放的測定需要同時(shí)記錄電流和電壓。這些工作是耗時(shí)的或要求特殊使用儀器，這些儀器是不容易獲得的。通過一個(gè)簡單波一個(gè)非常好的總的大概的能量瀉放可以從峰值估算出來。例如，在電流脈沖（下降時(shí)間與波前持續(xù)時(shí)間相比具有長的時(shí)間）的情況下，能量接近1.4 vcipt ，這里vc是限制電壓，ip是峰值電流，t是ip/2電流波形的時(shí)間，這三個(gè)參數(shù)通過傳統(tǒng)的使用儀器都可以測量得到。進(jìn)一步而言，這些數(shù)據(jù)就可以從壽命額定脈沖測試（4.6）的結(jié)果中獲得。對于一個(gè)8/20us電流波，通過沖擊瀉放的能量等于

27、0.91.4 vcipt。對于其他的波形，這些估算值可能不是很準(zhǔn)確，用戶僅僅要進(jìn)行峰值電流估算，除非有嚴(yán)格要求才使用特殊的測試程序。用戶應(yīng)該意識到，用能量作為比較不同的壓敏電阻設(shè)計(jì)的品質(zhì)的標(biāo)志是容易讓人誤解的。通過瞬時(shí)電流積累的能量取決于壓敏電阻的限制電壓。因而，較低的能量值不是意味著在瞬變環(huán)境里耐受能力也較低。相反，單次和壽命沖擊電流值是壓敏電阻浪涌耐受能力的合適的測試。沒有特殊要求，能量值推薦作為主要考慮的電流值的補(bǔ)充，并且對于應(yīng)用問題在能量方面更方便處理。設(shè)立的單次脈沖能量值是來自額定峰值電流測試的數(shù)據(jù)。對于批次接受，使用相同的統(tǒng)計(jì)方法。對于多次脈沖，這里壓敏電阻的老化是要考慮的一個(gè)參數(shù)，沖擊壽命因素可以得到。對于實(shí)際目的，當(dāng)在原理上能量不等效時(shí)，在電流值中使用的相同的因素可以應(yīng)用在單次脈沖能量值上.6.2 額定瞬時(shí)平均功率瀉放（pt（a v）壓敏電阻的額定瞬時(shí)浪涌平均功瀉