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文檔簡介

1、集成電路測試技術指標協(xié)議書集成電路設計研究中心（甲方）和公司（乙方）經(jīng)友好協(xié)商，對項目的有關測試技術指標問題達成如下協(xié)議：一、乙方應在本協(xié)議簽定_天內將芯片資料，測試碼提供給甲方。二、甲方在乙方提供封裝好的芯片后_天內，將測試分析結果提交給乙方。三、具體測試要求：甲方按乙方要求，在測試時將pa4 、pa5 、pa6 、pa7 端經(jīng) 3.3k 電阻上拉至5 伏。甲方在測試分析時，應讓_芯片工作在 5v 。乙方提供 _功能測試碼文件（ t_t格式）兩份。甲方使用乙方提供的功能測試碼文件，在1mhz 下對樣品進行測試分析。乙方認為正常情況下， 樣品的功能測試應全部通過， 參數(shù)測試結果應在下表給定的范

2、圍內。測試參數(shù)（常溫）測試條件最大值典型值最大值單位靜態(tài)工作電流 vdd=5v ua動態(tài)工作電流 vdd=5v ua輸入高電平電壓 vdd=5v v輸入低電平電壓 vdd=5v v輸入高電平電流 vdd=5v ， vih=5v ua輸入低電平電流 vdd=5v ， vil=0v ua輸出高電平電壓 vdd=5v v輸出低電平電壓 vdd=5v v輸出高電平電流 vdd=5v ， voh=4.2v ma輸出低電平電流 vdd=5v ， vol=0.4v ma如乙方提供的樣品中有 _%滿足以上要求，甲方應向乙方出具一份測試分析報告，并以附件形式（磁盤文件，t_t格式）提供詳細的測試數(shù)據(jù)。乙方若對甲方出具的測試分析報告及測試數(shù)據(jù)有任何疑問，必須在甲方測試分析工作完成之日起的兩個月內向甲

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